「surface defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

COATING METHOD OF METAL MATERIAL HAVING SURFACE DEFECT AND COATED PRODUCT例文帳に追加

表面欠陥を有する金属材料の塗装方法および塗装物 - 特許庁

REPAIRING METHOD AND DEVICE FOR SURFACE DEFECT OF SINGLE CRYSTAL WAFER例文帳に追加

単結晶ウエハーの表面欠陥の修復方法及び修復装置 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING FINE PATTERN DEFECT OF FLAT SURFACE SUBSTRATE AND CORRECTING DEVICE例文帳に追加

平面基板の微細パターン欠陥修正方法および修正装置 - 特許庁

To detect a defect in the front surface of a specimen (glass plate) more accurately than that inside or in the rear surface of the specimen.例文帳に追加

被検体（ガラス板）の表面の欠陥を内部や裏面よりも高精度に検出する。 - 特許庁

The epitaxial wafer 110 includes a high defect region 111 and a low defect region 112 having lower defect density than the high defect region 111, and has a main surface 113 and a backside 114 on the opposite side from the main surface 113.例文帳に追加

エピウエハ１１０は、高欠陥領域１１１と、高欠陥領域１１１よりも欠陥密度の低い低欠陥領域１１２とを含み、主表面１１３と、主表面１１３と反対側の裏面１１４とを有する。 - 特許庁

In the small surface irregularity defect detection method detecting the small surface irregularity defect of a magnetic metal object to be inspected, physical quantity resulting from a distortion of the defect part in the object to be inspected is measured, then using the measured value, the surface defect is detected.例文帳に追加

磁性金属被検体の微小凹凸表面欠陥を検出する微小凹凸表面欠陥の検出方法において、前記被検体の欠陥部の歪に起因する物理量を測定し、その測定値を利用して前記表面欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a device for detecting a surface defect and a defect under the surface skin, and a method for detecting the same wherein an ultrasonic surface wave can carry out flaw detection of a whole surface by going around a width direction of an inspection object, and reflected waves from other than a defect are reduced.例文帳に追加

超音波の表面波が被検査体の幅方向を一周して全面探傷することができ、欠陥以外からの反射波を低減する表面欠陥及び表面皮下欠陥の検出装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

A defect detecting means 2 detects a defect on the surface of a sample at a predetermined inspection sensitivity, a false defect specifying means 4 specifies a false defect from defect information acquired by the defect detection, and a non-inspected region setting means 5 sets the detection part of the specified false defect in a non-inspected region.例文帳に追加

欠陥検出手段２は、所定の検査感度で試料表面の欠陥検出を行い、擬似欠陥特定手段４は、欠陥検出により得られた欠陥情報から擬似欠陥を特定し、非検査領域設定手段５は、特定した擬似欠陥の検出箇所を非検査領域に設定する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting device of a cathode ray tube capable of easily specifying on which device a defect is developed from information about the defect when the defect is developed on a surface.例文帳に追加

表面に欠陥が生じた場合、その欠陥に関する情報からどの装置によって欠陥が生じたかを容易に特定することができる陰極線管の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To accurately detect the defect of the surface of a spherical transparent body, such as a glass ball, regardless of the shape of the defect.例文帳に追加

例えばガラス玉などの球状透明体表面の欠陥を、その欠陥の形状によらず正確に検出する。 - 特許庁

Further, when the operator conducts it inputting with visually checking existence of a surface defect, defect marking is done to a corresponding position.例文帳に追加

そして、オペレータが表面欠陥の存在を目視確認して入力すると、対応する位置に欠陥マーキングがなされる。 - 特許庁

To well examine a surface defect near a weld line retaining marginal welding.例文帳に追加

余盛りを残す溶接線近傍の表面欠陥を良好に検査する。 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF FORGED RING-SHAPED MATERIAL SURFACE DEFECT USING EDDY CURRENT例文帳に追加

渦電流を用いた鍛造リング状素材の表面欠陥の検査方法 - 特許庁

Further, a defect layer 2 which getters the contaminating substance is provided on the reverse surface.例文帳に追加

更に、その裏面に汚染物質をゲッタリングする欠陥層２を設ける。 - 特許庁

To provide an optical reader capable of suppressing variations in height of glass surface with respect to a conveying surface, and preventing read defect and conveying defect of a medium.例文帳に追加

搬送面に対するガラス面の高さのバラつきを抑え、媒体の読取不良及び搬送不良を防止できる光学読取装置を提供すること。 - 特許庁

SAMPLE FOR OBSERVING SEMICONDUCTOR WAFER SURFACE CRYSTAL DEFECT AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体ウェーハ表層結晶欠陥観察用試料とその作製方法 - 特許庁

JUDGING METHOD OF SURFACE DEFECT EVALUATION ON CAST SLAB IN CONTINUOUS CASTING PROCESS例文帳に追加

連続鋳造プロセスにおける鋳片の表面欠陥評点判定方法 - 特許庁

OPTICAL SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

光学式表面欠陥検査装置及び光学式表面欠陥検査方法 - 特許庁

PERIPHERAL LENGTH CORRECTING DEVICE, PERIPHERAL LENGTH MEASURING DEVICE AND SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

周長補正装置、周長測定装置及び表面欠陥検査装置 - 特許庁

To manufacture a film of high quality having no surface defect with good productivity.例文帳に追加

表面欠点のない、高品質なフィルムを生産性良く製造すること。 - 特許庁

The low-defect crystal region 52 and the defect-concentrated region 51 extend from the main surface to a backside located on the opposite side of the main surface.例文帳に追加

低欠陥結晶領域５２と欠陥集合領域５１とは主表面から当該主表面と反対側に位置する裏面にまで延在する。 - 特許庁

A surface defect detecting device 3 is provided for an inspection line, and detects a surface defect on a cold rolled steel sheet 1 for an input to a marking control device 5.例文帳に追加

検査ラインには表面欠陥検出器３が設けられ、冷延鋼板１の表面欠陥を検出してマーキング制御装置５に入力する。 - 特許庁

QUALITY INSPECTION METHOD AND DEVICE FOR MICRO SURFACE DEFECT IN MAGNETIC METAL ZONE例文帳に追加

磁性金属帯の微小表面欠陥の品質検査方法及び装置 - 特許庁

In the defect detecting method, the defect is detected by processing an image on a display surface of an LCD panel 1 or the like where bright spots 2 are regularly arranged on the display surface.例文帳に追加

表示面に輝点２が規則的に並んだＬＣＤパネル１等の表示面の画像を処理して欠陥を検出する欠陥検出方法である。 - 特許庁

To enable a surface defect inspection device to automatically, easily and surely inspect a surface defect regardless of an annular object of a large diameter to be inspected.例文帳に追加

表面欠陥検査装置によって、大径の環状被検査体であっても自動で表面欠陥を簡単且つ確実に検査できるようにする。 - 特許庁

IMAGE INPUT METHOD, IMAGE INPUT DEVICE AND SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像入力方法、画像入力装置及び表面欠陥検査装置 - 特許庁

As a result, even if a void defect is present on the wafer surface, the void defect is eliminated at a temperature lower than the wafer, thereby suppressing surface roughness thereof.例文帳に追加

その結果、仮にウェーハ表面にボイド欠陥が存在しても、ウェーハより低温でボイド欠陥を消滅させ、その表面粗さを小さくできる。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF DETECTING SURFACE DEFECT OF SLAB例文帳に追加

スラブの表面欠陥検出方法およびスラブ表面欠陥検出装置 - 特許庁

PERIPHERAL LENGTH CORRECTING DEVICE, PERIPHERAL LENGTH MEASURING DEVICE, AND SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

周長補正装置、周長測定装置及び表面欠陥検査装置 - 特許庁

After the principal surface is subjected to precision processing and to defect inspection, to specify a defect on the principal surface, the polishing process is carried out on the specified defect.例文帳に追加

上記主表面の研磨加工は、当該主表面を精密加工した後欠陥検査を行って当該主表面上の欠陥を特定し、この特定された欠陥に対して実施するものである。 - 特許庁

To provide a steel sheet defect inspection device capable of identifying the kinds of defects generated on a surface and in a surface layer, a defect generated in an inside, and a hole defect.例文帳に追加

本発明は、表面及び表層に発生する欠陥、内部に発生する欠陥、及び穴欠陥の種類を識別することが可能な鋼板欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To decide whether the defect generated on the surface of a substrate is the defect that arises from the defect existing on a prescribed pattern or not, in the substrate which is manufactured so that a repeated pattern is transferred on the major surface.例文帳に追加

主面に、繰り返しパターンが転写されて製造される基板において、その表面に生じる欠陥が、所定パターンに存在する欠陥に起因した欠陥であるか否かを確定する。 - 特許庁

To provide a coated bar surface defect detecting method and device obtained by incorporating a coated bar surface defect detecting optical technique for detecting the surface defect precisely and automatically by an image and an optical system to perform the technique.例文帳に追加

表面欠陥を正確かつ自動的に画像によって検出する、塗布バーの表面欠陥検出光学的手法と、そのような光学系を組み込んだ、塗布バーの表面欠陥検出方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

When the thickness of the surface non-defect layer of the annealing wafer is evaluated, the surface of the annealing wafer is etched by an etchant, and an etching allowance up to the observation of a defect on a wafer surface is evaluated as the thickness of the non-defect layer.例文帳に追加

アニールウエーハの表面無欠陥層の厚さを評価するに際し、該アニールウエーハの表面をエッチング液によりエッチングし、ウエーハ表面に欠陥が観察されるまでのエッチング代を無欠陥層の厚さとして評価するようにした。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting a surface defect of steel capable of inspecting precisely the surface defect of steel, in particular, the surface defect in an edge part (angled part) of the steel, irrespective of a slight displacement in the edge part.例文帳に追加

鋼材の表面欠陥、特に鋼材のエッジ部(角部)における表面欠陥をエッジ部の多少の変位にかかわらず精度良く検査することが可能な鋼材表面欠陥の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

The inspection part 3 specifics a defect becoming an inspection target from the defect on the inspection target surface 4a of a substrate 4 so that the inspection coverage related to the defect of the defect size becomes the target inspection coverage of the defect size at each defect size and outputs data related to the specified defect as the inspection result related to the whole of the inspection target surface 4a.例文帳に追加

検査部３は、欠陥サイズごとに、その欠陥サイズの欠陥についての検査カバレッジが、その欠陥サイズの目標検査カバレッジとなるように、基板４の検査対象面４ａ上の欠陥の中から検査対象となる欠陥を特定し、その特定された欠陥についての情報を、検査対象面４ａの全体についての検査結果として出力する。 - 特許庁

To provide manufacturing methods for a glass substrate for an electronic device and a mask blank with which no fine uneven surface defect occurs on a substrate surface or a failure rate is low, and a manufacturing method for a transfer mask free from a phase defect or a pattern defect caused by the fine uneven surface defect on the substrate surface.例文帳に追加

基板表面に微小な凸状、凹状の表面欠陥が発生しないか又は発生率の低い電子デバイス用ガラス基板及びマスクブランクスの製造方法、並びに基板表面に微小な凸状、凹状の表面欠陥が起因する位相欠陥やパターン欠陥のない転写マスクの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of outputting the inspection result of the defect related to the whole of an inspection target surface even if there are many defects, and a defect inspection method.例文帳に追加

欠陥が多くても検査対象面の全体についての欠陥の検査結果を出力可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

A mark M indicating existence of the defect 4 is provided by laying it on top of the defect 4 existing on the surface of or in the inside of the thin band-like sheet material 20, or in the vicinity of the defect.例文帳に追加

薄い帯状のシート材料２０の表面または内部に存在する欠陥４に重ねてまたはその近傍に欠陥４の存在を示すマークＭを設けた。 - 特許庁

A GaN substrate 1 has a main surface, and includes a low-defect crystal region 52 and a defect-concentrated region 51 adjacent to the low-defect crystal region 52.例文帳に追加

主表面を有するＧａＮ基板１であって、低欠陥結晶領域５２と、当該低欠陥結晶領域５２に隣接する欠陥集合領域５１とを備える。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detection device capable of detecting a defect of the surface state of an inspection object with extremely high accuracy.例文帳に追加

検査対象物の表面状態の欠陥を極めて高精度に検出することが可能な欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁

Then, a surface detect inspecting device inspects a defect on a surface of a wafer after wafer processing.例文帳に追加

その後ウェハ処理が終了したウェハの表面の欠陥を表面欠陥検査装置により検査する。 - 特許庁

To provide a method for detecting a metal defect and a defect detection device, which allow clear detection of a defect portion by improving the uniformity, and increasing the brightness, of a non-defect portion of an imaged image of an inspecting surface when etching the inspecting surface of a metal sample to cause the defect to appear and imaging an image of the inspecting surface using an imaging device to detect the defect.例文帳に追加

金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

The soft film or evaporation coating of an aluminum foil is used for correcting the surface defect of the MOV surface by covering the MOV surface.例文帳に追加

ＭＯＶ表面を覆って表面欠陥を矯正するためにアルミニウム箔の軟質膜又は蒸着被膜が使用される。 - 特許庁

The wire surface defect detector radiates light to the surface of the wire 1 and searches for a flaw K in the wire surface 1a with a camera 2.例文帳に追加

線材１の表面に光りを照射してカメラ２で線材表面１ａの傷Ｋを探す線材表面探傷装置。 - 特許庁