「surface defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

SURFACE COATED CEMENTED CARBIDE CUTTING TOOL HAVING HARD COATED LAYER OF GOOD DEFECT RESISTANCE例文帳に追加

硬質被覆層がすぐれた耐欠損性を発揮する表面被覆超硬合金製切削工具 - 特許庁

The existence of a painting defect is determined, based on the derived temperature difference of the substrate 1 surface.例文帳に追加

この導出された基材１表面の温度差に基づいて塗装不良の有無を判定する。 - 特許庁

To provide an inspection tool capable of determining the size of a defect of a painted surface speedily and correctly.例文帳に追加

迅速に且つ正確に塗装面の欠陥の大きさを判定できる検査冶具を提供する。 - 特許庁

To provide a hot rolled steel strip of special steel free from a scale defect pattern and having less surface roughness.例文帳に追加

スケール欠陥模様のない、表面粗さの小さい特殊鋼熱延鋼帯を提供する。 - 特許庁

INSPECTING METHOD OF SURFACE DEFECT IN METAL COMPONENT, AND INSPECTING DEVICE FOR ELECTRON GUN OF CATHODE-RAY TUBE例文帳に追加

金属部品の表面欠陥検査方法および陰極線管用電子銃の検査装置 - 特許庁

To provide a bipolar semiconductor element which can reduce surface defect and can suppress on voltage drift.例文帳に追加

表面欠陥を低減でき、オン電圧ドリフトを抑制できるバイポーラ半導体素子を提供する。 - 特許庁

The display section 25 displays the image of a wafer surface that includes the defect, based on the display image data.例文帳に追加

表示部２５は、表示画像データに基づいて、欠陥を含むウェハ表面の画像を表示する。 - 特許庁

Each defect on two or more spots on the surface of the press formed article 70 is imaged.例文帳に追加

またプレス成形品７０の表面の２箇所以上の部位それぞれの欠陥が撮像される。 - 特許庁

To extract a minute original defect with high precision without being affected by the surface pattern of a steel plate.例文帳に追加

鋼板の地肌模様に影響されずに微小な本来の欠陥を高精度に抽出する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device capable of detecting easily a large-scale defect of a wafer.例文帳に追加

ウェハにおける大規模な欠陥を容易に検出可能な表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device making correct defect inspection even when the inspection surface is tilted greatly.例文帳に追加

被検面の傾きが大きくても正しい欠陥検査を行える検査装置を提供する。 - 特許庁

The defect in layer structure as in the tire faithfully appears as the relative change in a surface temperature.例文帳に追加

タイヤのような層構造の欠陥は、忠実に表面温度の相対的変化になって現れる。 - 特許庁

A defect inspection device 1 is equipped with a camera 3 for obtaining a surface image of the workpiece W.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、ワークＷの表面画像を取得するカメラ３を備えている。 - 特許庁

To provide a defect inspection device constituted so as not to photograph a rolling streak by devising the illumination way of a shearing surface.例文帳に追加

せん断加工面の照明の仕方を工夫して圧延スジを撮影しないようにする。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR SELECTING DEFECT OCCURRING ON OR NEAR SURFACE OF FLAT AND SMOOTH SUBSTRATE例文帳に追加

平滑な基板の表面またはその近傍に生じる欠陥を選定する方法および装置 - 特許庁

A smooth layer 32d without a surface defect but superior in flatness is made on the product forming area A2.例文帳に追加

製品形成エリアＡ２に、表面欠陥がなく平滑性に優れた平滑層３２ｄとする。 - 特許庁

To prevent film deposition defect due to plating by controlling the surface potential of a seed film.例文帳に追加

シード膜の表面電位を高精度に制御してメッキ処理による成膜不良を防止する。 - 特許庁

To eliminate an effect on a surface defect meter by improving a method for applying oil to a trimmer knife.例文帳に追加

トリマナイフへの塗油方法を改善することによって表面欠陥計への影響をなくす。 - 特許庁

To speedily detect a defect in a surface of an inspected object with simple and compact constitution.例文帳に追加

簡単でコンパクトな構成で、被検査対象の表面の欠陥の高速検出を可能にする。 - 特許庁

To provide a method for smoothing the optical surface having a concave defect of an optical component for EUVL.例文帳に追加

ＥＵＶＬ用光学部材の凹欠点を有する光学面を平滑化する方法の提供。 - 特許庁

Thereby, a charge defect portion of corona discharge is formed on the surface of a photosensitive drum 24.例文帳に追加

これにより感光ドラム２４の表面上にコロナ放電の帯電不良部分が形成される。 - 特許庁

To provide a grinding composition capable of obtaining a high quality ground surface while maintaining a high grinding speed and also having no surface defect.例文帳に追加

高い研磨速度を維持しつつ、しかも表面欠陥のない高品質な研磨面が得られる研磨用組成物を提供する。 - 特許庁

Further, even when there is the void defect on the wafer surface, the epitaxial film having high surface flatness is obtained by fusing.例文帳に追加

しかも、仮にウェーハ表面にボイド欠陥が存在しても、溶融により、表面の平坦度が高いエピタキシャル膜が得られる。 - 特許庁

To perform surface treatment free from defect having both corrosion resistance and conductivity, and to eliminate the treatment of unnecessary portions in surface treatment.例文帳に追加

耐食性と導電性を兼ね備えた、欠陥のない表面処理を行い、また、表面処理の不要な箇所の処理を省く。 - 特許庁

Therefore, no ESD current flows to the surface layer S23 with reduced surge resistance due to a surface defect.例文帳に追加

よって、表面欠陥の影響によってサージ耐量が低くなっている表層部Ｓ２３には、ＥＳＤ電流が流れ込まない。 - 特許庁

To provide a surface inspection apparatus capable of easily changing the detection sensitivity of the defect or the like on the surface of a substrate.例文帳に追加

基板の表面の欠陥などを検出する感度を容易に変えることができる表面検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect detection optical system and a defect inspection device that can detect a defect at a high accuracy and have a simple structure without being affected by scratch in a substrate surface or directivity of scattered light on a chip defect.例文帳に追加

基板表面のスクラッチやカケ欠陥の散乱光の指向性に影響されることなく、欠陥検出が高い精度で検出でき、かつ構造が簡単な欠陥検出光学系欠陥検出光学系および欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a production method for a mask blank-use translucent substrate, a mask blank and an exposing mask to prevent occurrence of a transfer pattern defect and a mask pattern defect by correcting a recessed defect on the surface of a translucent substrate, and to provide a method of correcting a defect in an exposing mask.例文帳に追加

透光性基板表面にある凹欠陥を修正して転写パターン欠陥やマスクパターン欠陥の発生を防止するマスクブランク用透光性基板、マスクブランク及び露光用マスクの製造方法、並びに露光用マスクの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

This surface defect inspection device is equipped with an imaging part 2 for imaging a surface 1a of an inspected object 1 and a processing part 4 for detecting a defect in the surface 1a of the inspected object 1, based on an image acquired by the imaging part 2.例文帳に追加

表面欠陥検査装置は、被検査物１の表面１ａを撮像する撮像部２と、撮像部２により得られた画像に基づいて被検査物１の表面１ａの欠陥を検出する処理部４と、を備える。 - 特許庁

After depositing a metal onto the surface of a semiconductor crystal which is to become come a sample, an electron beam is irradiated on the crystal surface to precipitate the metal on the crystal defect surface, thereby making it clear, and then the crystal defect is detected.例文帳に追加

試料となる半導体結晶表面に金属を付着させた後、前記結晶表面に電子線を照射して、前記金属を結晶欠陥表面に析出顕在化させ、結晶欠陥の検出を行う。 - 特許庁

To provide a new cell structure which can be reduced in an optical defect resulting from a reflection surface formed into a rough surface and a defect on a cell structure in a liquid crystal device provided with a reflection layer having a conventional reflection surface formed into the rough surface.例文帳に追加

従来の粗面化された反射面を備えた反射層を有する液晶装置において、粗面化された反射面に起因する光学的な不良及びセル構造上の不良の発生を低減することのできる新規のセル構造を提供する。 - 特許庁

In particular, to provide a formed part, in which a surface defect part is perfectly hidden by pile decoration even if a surface defect of blow hole, etc., is generated, and having excellent external appearance quality.例文帳に追加

とくに、巣穴などの表面欠陥が発生していたとしても、パイル加飾により表面欠陥の箇所が完全に隠蔽され、大変優れた外観品質を有する成形品を提供する。 - 特許庁

At defect detection through the use of a defect review SEM, an XY coordinate system is set in the overall surface (except curved faces) of a product wafer 20 to generally inspect the surface of the product wafer 20.例文帳に追加

欠陥レビューＳＥＭを用いた欠陥検出に際し、製品ウェーハ２０の全面（Ｒ端面を除く。）にＸＹ座標系を設定し、製品ウェーハ２０表面を全体的に検査できるようにする。 - 特許庁

To obtain a surface inspection apparatus by which a defect is detected with high accuracy by detecting a patternlike scab defect having no remarkable uneven property such as a crack, a twist or a burr on a surface on a face to be inspected surely.例文帳に追加

被検査面における表面の割れや捩れやめくれ上がりのような顕著な凹凸性を持たない模様状ヘゲ欠陥を確実に検出して、高精度に欠陥を検出する。 - 特許庁

When the surface defect inspecting device detects the surface defect of the wafer and it is decided through the evaluation of the sensor data that the sensor data are abnormal, it is decided that the coating development processing equipment is abnormal.例文帳に追加

そして、表面欠陥検査装置によりウェハの表面欠陥が検出され、なおかつセンサデータの評価によりセンサデータが異常と判定された場合に、塗布現像処理装置を異常と判定する。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting a surface, capable of inspecting a defect on the surface of a substrate under the most suitable condition for a device to extract the defect by picture processing.例文帳に追加

画像処理により欠陥を抽出する装置にとって最適な装置条件の下で、基板の表面の欠陥検査を行える表面検査装置、および表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device for suppressing oxygen permeated into the surface defect of a silicon carbide substrate and restoring the surface defect, when oxidizing the silicon carbide substrate (SiC).例文帳に追加

炭化珪素基板（ＳｉＣ）の酸化時に、炭化珪素基板の表面欠陥中に浸入する酸素を抑制し、当該表面欠陥を回復することができる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for penetrant inspection that make a flaw detecting liquid penetrate into a fine defect in the surface layer of a specimen to detect a surface defect easily, in penetrant inspection.例文帳に追加

浸透探傷検査において、被検査物の微細な表層欠陥中にも探傷液を浸透させ、表層欠陥の検出を容易にする浸透探傷検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a surface inspection apparatus by which a defect is detected with high accuracy by detecting a patternlike scab defect having no remarkable uneven property such as a crack, a twist or a burr on a surface as a face to be inspected surely.例文帳に追加

被検査面における表面の割れや捩れやめくれ上がりのような顕著な凹凸性を持たない模様状ヘゲ欠陥を確実に検出して高精度に欠陥を検出する。 - 特許庁

The method for detecting the external surface defect is used for detecting the external surface defect of the tubular material in the production equipment of the tubular material P in which the sizer M2 is installed downstream of the elongator M1.例文帳に追加

本発明に係る外面疵検出方法は、延伸圧延機Ｍ１の下流に定径圧延機Ｍ２を設置した管材Ｐの製造設備において管材の外面疵を検出する方法である。 - 特許庁

To provide a technique that allows a sample surface with an insulation region and a conduction region formed thereon to be observed under high contrast, and that facilitates detection of a deletion defect and an open defect and classification of the defect types.例文帳に追加

絶縁領域と導電領域が形成されている試料面の観察を高コントラストで行い、且つ、欠落欠陥や開放欠陥の検出と欠陥種類の分類を容易なものとする技術を提供すること。 - 特許庁

To provide a phase difference defect inspection device which easily discriminates and detects the residual defect of a phase shifter and the surface flaw defect of a glass substrate from another defects, such as foreign matter (light shielding) defects.例文帳に追加

位相シフターの残存欠陥及びガラス基板の表面傷欠陥を異物（遮光）欠陥等の他の欠陥と区別して検出することを簡便に行なう位相差欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and device for inspecting a surface defect constituted to surely detect a fatal defect, and capable of selecting optionally a degree of unevenness detected as the defect in response to an inspected object.例文帳に追加

致命的な欠陥を確実に検出できるように構成するとともに、検査対象物に応じて欠陥として検知する凹凸の程度を任意に選択することができる表面検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the defect detection device 100 has a defect determining portion 65 for detecting a defect (for example, a resin peeling portion 9) on a boundary surface 12 between the layers of the semiconductor device 11.例文帳に追加

欠陥検出装置１００は、更に、撮像部による撮像結果に基づいて、少なくとも、半導体装置１１の層間の界面１２における欠陥（例えば、樹脂剥離部９）を検出する欠陥判定部６５を有する。 - 特許庁

A surface echo reflected on the specimen 2 to be returned is removed thereby, and only a defect echo reflected by the defect to be returned is contained in the difference waveform data, when the defect exists in the vicinity of the surface of the specimen 2.例文帳に追加

これにより、差分波形データには、被検査体２の表面近傍に欠陥が存在する場合、被検査体２の表面で反射して戻ってきた表面エコーが取り除かれて、当該欠陥で反射して戻ってきた欠陥エコーだけが含まれることになる。 - 特許庁