「surface defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

To detect only the projected defect of an inspection surface, on which a fine recessed part is present or can be present, with high accuracy and to avoid the damage of a master or magnetic transfer defectiveness caused by the projected defect of a disk to enable magnetic transfer.例文帳に追加

微細な凹部があるか凹部があり得る検査面を凸欠陥のみを高精度に検出できるようにし、併せてディスクの凸欠陥によるマスタのダメージや磁気転写不良を回避して磁気転写できるようにする。 - 特許庁

To provide a method for detecting a surface defect of an object to be inspected and determining the type of the defect easily and accurately even when the variation of height is significant.例文帳に追加

高さ変動量が大きい場合等にも容易に対応でき、被検査物の表面欠陥を正確に検出できると共に、その欠陥の種類をも正確に判定できる表面欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

As a result, the developer or the resist component is suppressed from being residual on the surface of the substrate to obtain a pattern in which the development defect is reduced.例文帳に追加

このため基板の表面に現像液やレジスト成分が残るのを抑えられて現像欠陥の少ないパターンを得ることができる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an optical film with a low phase difference, a low residual solvent and a less surface defect by a simple manner at a low cost.例文帳に追加

低位相差・低残存溶剤量で、かつ表面欠陥の少ない光学フィルムを簡便、かつ低コストな方法で製造する。 - 特許庁

The semiconductor device with a defect on the flip-chip bonded surface detected is determined to be a defective product by a determination section 103.例文帳に追加

フリップチップ接合面に存在する欠陥が検出された半導体装置は、判定部１０３によって不良品と判定される。 - 特許庁

To provide a chamfering device of plate glass hard to cause a defect on a surface of the plate glass and favorable in working precision and a chamfering method.例文帳に追加

ガラス板の表面に欠陥が発生し難く、加工精度の良いガラス板の面取り装置及び面取り方法を提供する。 - 特許庁

As a result, the machining accuracy is improved because the large diameter cylindrical portion 103 does not deform in chucking, and no defect is produced on the inner peripheral surface of the thin cylindrical portion.例文帳に追加

チャック時に、大径筒部１０３には変形もなく、薄肉筒部の内周面に傷も付かないから、加工精度が高められる。 - 特許庁

To easily manufacture a mineral plate having a film including no defect such as foam, foam breakage or the like on a surface without using a special facility.例文帳に追加

表面に発泡、破泡等の欠陥のない塗膜を有する無機質板を特別な設備を用いることなく容易に製造する。 - 特許庁

To scan the whole surface of a sample in a short period of time and enable any minute defect to be detected without inflicting thermal damage on the sample.例文帳に追加

試料全面を短時間で走査し、試料に熱ダメージを与えることなく微小な欠陥を検出することができるようにする。 - 特許庁

The first insulating layer 13 is formed so as to cover the high-defect region 10a on the principal surface 10c of the GaN layer 10.例文帳に追加

第１の絶縁層１３は、ＧａＮ層１０の主表面１０ｃにおける高欠陥領域１０ａを覆うように形成される。 - 特許庁

To optimize the surface layer film material of an electrifying member and to effectively prevent an electrification ghost and an image quality defect such as a spotty mark.例文帳に追加

帯電部材の表層フィルム材料の最適化を図り、斑点状の画質欠陥及び帯電ゴーストの発生を有効に防止する。 - 特許庁

To obtain a carbon fiber having a radial structure in at least a part of its cross sectional constitution without substantially presenting a defect on a fiber surface.例文帳に追加

断面組織の少なくとも一部がラジアル構造であり、繊維表面に実質的に欠損が存在しない炭素繊維を得ること。 - 特許庁

To provide a method for forming a protective film which protects the surface of a mold and does not generate residue or defect when peeled.例文帳に追加

モールドの表面を保護する保護膜の形成において、剥離した時に残渣欠陥が生じない保護膜の形成を可能とする。 - 特許庁

Because droplets are not spread even when coming into contact with a surface of the nozzle, liquid retaining in a tip of the nozzle does not occur and a discharge defect do not occur.例文帳に追加

液滴がノズルの表面に接触しても拡がらないので、ノズル先端に液溜まりが生じず、吐出不良が生じない。 - 特許庁

Thus the initial surface pressure is increased to reduce the gap and the weld part 9 without a defect such as void due to the entraining of air can be obtained.例文帳に追加

これにより、初期面圧を向上させ、隙間を低減でき、エアの巻き込みによるボイド等の欠陥のない溶着部９が得られる。 - 特許庁

To prevent defect caused by water remaining on a surface where it is difficult to move water while water is not preferable, in a lithographic apparatus.例文帳に追加

リソグラフィ装置おいて、水は望ましくないが水を移動するのが困難な表面に水が残ることによる不具合を防止する。 - 特許庁

To provide a smooth surface inspection apparatus for avoiding a damage in an object to be measured and a slider, and detecting a minute defect.例文帳に追加

測定対象物及びスライダの損傷を回避して、微小な欠陥を検出することが可能な平滑面検査装置を提供する。 - 特許庁

To suppress the occurrence of image quality defect on the rear side (second surface side) of a recording material when forming images on both sides of the recording material.例文帳に追加

記録材の両面に画像を形成する際に、記録材の裏面側(第二の面側)における画質欠陥の発生を抑制する。 - 特許庁

By this anisotropic dry etching, a conical etching residue 6 having an apex made of the crystal defect 4 is left on the surface of the wafer 2.例文帳に追加

この異方性ドライエッチングにより、ウェーハ２の表面には結晶欠陥４を頂点とする円錐状のエッチング残渣６が残される。 - 特許庁

To produce an SiC single crystal reduced in micropipes exposed on the surface and lamination defect and provide a method for growing the single crystal.例文帳に追加

表面に露出するマイクロパイプおよび積層欠陥が低減されたＳｉＣ単結晶およびその成長方法を提供すること。 - 特許庁

The organic optical crystal is characterized in that no linear defect exists on a cleavage surface of an inner part of the crystal.例文帳に追加

本発明の有機光学結晶は、前記結晶内部の劈開面上に直線状欠陥が存在しないことを特徴とする。 - 特許庁

Before a CMP processing process, a substrate defect present on a surface of an SiC substrate 1 is exposed by executing a heat treatment process.例文帳に追加

ＣＭＰ加工工程に先立ち、熱処理工程を行うことでＳｉＣ基板１の表面に存在する基板欠陥を顕在化させる。 - 特許庁

To solve the problem wherein irregularity in a lubricant applied on the surface of an image carrier by a minute gap of a brush hair occurs to generate image irregularity and image defect.例文帳に追加

ブラシ毛の微細な間隙により像担持体表面に塗布される潤滑剤にムラが発生し、画像ムラ、画像欠陥が生じる。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer where there is no occurrence of grown-in defect such as COP and besides which is very small in surface roughness.例文帳に追加

ＣＯＰのようなｇｒｏｗｎ−ｉｎ欠陥の発生がなく、かつ、表面ラフネスが非常に小さい半導体ウェハを提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a magnesium-alloy coil hardly causing surface defect by improving thin sheet manufacturing technology of a magnesium alloy.例文帳に追加

マグネシウム合金の薄板製造技術を改良し、表面欠陥が少ないマグネシウム合金のコイルを製造する方法を提供する。 - 特許庁

Then, the layer is thermally treated in nitrogen radical to recover nitrogen electron hole defect in the surface layer of the AlGaN electron donor layer 14.例文帳に追加

その後，窒素ラジカル中で熱処理を行い，ＡｌＧａＮ電子供給層１４の表層の窒素空孔欠陥を回復させる。 - 特許庁

As a result, a Grown-in defect present on the surface layer of the silicon wafer and caused by crystal pulling can be extinguished.例文帳に追加

その結果、シリコンウェーハの表層に存在する結晶引上げに起因したＧｒｏｗｎ−ｉｎ欠陥を消滅させることができる。 - 特許庁

The light reflected on the steel sheet 1 surface is received by a light receiver 5, defect detection is done by a data processing unit 6.例文帳に追加

薄鋼板１表面で反射された光は、受光器５で受光され、データ処理装置６によって欠陥の検出が行われる。 - 特許庁

To provide a CMP slurry capable of forming damascene wiring having high flatness and reduced defect density and a surface impurity concentration.例文帳に追加

平坦性が高く、欠陥密度や表面不純物濃度が低減されたダマシン配線を形成可能なＣＭＰ用スラリーを提供する。 - 特許庁

A defect in the strong field drift layer 6' is passivated, by applying a hydrogen radical on a surface of the strong field drift layer 6'.例文帳に追加

次に、強電界ドリフト層６’の表面に水素ラジカルを照射することで強電界ドリフト層６’中の欠陥をパッシベーションする。 - 特許庁

To provide a high-quality semiconductor film that is reduced in surface unevenness and crystal defect, and to provide a method of manufacturing the film.例文帳に追加

表面凹凸が低減され、且つ、結晶欠陥が低減された高品質な半導体膜及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate electric contact defect due to the deflection or distortion of a prober frame and to prevent the adhesion of dust to the surface of a substrate.例文帳に追加

プローバフレームの撓みや歪みによる電気的な接触不良を解消すること、また、基板面へのダストの付着を防ぐこと。 - 特許庁

The coating liquid for repairing the lens surface defect includes at least one kind of the polyisocyanate compound and at least one kind of the polythiol compound.例文帳に追加

少なくとも一種のポリイソシアナート化合物と少なくとも一種のポリチオール化合物を含むレンズ表面欠陥補修用塗布液。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR IDENTIFYING DEFECT IN SUBSTRATE SURFACE USING DITHERING FOR RECONSTRUCTING IMAGE OF INSUFFICIENT SAMPLING例文帳に追加

サンプリング不足の画像を再構築するためにディザリングを用いることによって基板表面内の欠陥を識別する方法および装置 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a laminate having an aluminum nitride monocrystalline layer reduced in crystal defect density and smooth in surface.例文帳に追加

結晶欠陥密度が低減され、表面が平滑な窒化アルミニウム単結晶層を有する積層体の製造方法を提供する。 - 特許庁

Accordingly, the local irregularity defect on the surface of the silicon wafer caused by the polishing can be reduced or eliminated.例文帳に追加

これにより、研磨に起因して発生したシリコンウェーハの表面の局所的な凹凸欠陥を縮小または消滅させることができる。 - 特許庁

To provide a reducing method of dross in a galvanizing bath causing a dross defect damaging the outward appearance of a surface, and a device therefor.例文帳に追加

表面外観を損なうドロス欠陥を引き起こすめっき浴中のドロスの低減方法、およびそのための装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting a defect by a surface wave, capable of speedily carrying out inspection with high measurement accuracy.例文帳に追加

測定精度が高く迅速に実施することの可能な表面波による欠陥の検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁

To prevent reprojection (surface defect) from occurring on a work, to contrive the discontinuance of deburring work and the improvement of mold life and to reduce the manufacturing cost of a die provided with a projecting part on its upper surface.例文帳に追加

ワークに再突起（表傷）を生じさせず、バリ取り作業の廃止と金型寿命の向上を図るようにし、また、上面に突起部を設けたダイの製造コストを安価にする。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method and a surface detect inspecting apparatus of a plate that can also detect hairline-like, shallow scratches existing in the radial shape from the focus of a camera.例文帳に追加

カメラの焦点から放射状に存在するヘアライン状の浅い疵をも検出できる板材の表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The presence of the defect such as the surface flaw 102 is determined by an information processing part 3, based on the surface temperature distribution detected by the infrared detector 2.例文帳に追加

したがって、情報処理部３において、上記赤外線検知装置２により検知された表面温度分布に基づいて、表面疵１０２等の欠陥の有無を判定することができる。 - 特許庁

To prevent picture quality deterioration due to a bright defect caused by disordered alignment of liquid crystal molecules in the vicinity of a protruding pattern resulting from surface energy interaction between the surface of the protruding pattern and the liquid crystal molecules.例文帳に追加

突起パターン近傍の液晶分子が、突起パターン表面と液晶分子との表面エネルギーの作用により配向が乱れ、光抜けをおこすことによる、画質劣化を防止する。 - 特許庁

To provide a method and device for inspecting a substrate surface for easily and accurately detecting a defect existing on the substrate surface using cell inspection.例文帳に追加

本発明は、セル検査を用いて、基板表面に存在する欠陥を容易かつ高精度に検出することができる基板表面の検査方法及び検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Thus, the share fracture, cracks of the clay block, the defect of the corner part and the like can be prevented because a surface friction force does not generate between the lower die frame plate 22 and the surface of the clay block.例文帳に追加

従って、下部型枠板２２と粘土ブロック表面との間に表面摩擦力が生じないので、粘土ブロックに剪断破壊やひび割れ、角部の欠損等を防止できる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a high quality and high performance single crystal silicon carbide which has a micropipe defect density in the surface of ≤1 piece/cm^2, a broad terrace, and a surface with a high flatness.例文帳に追加

表面のマイクロパイプ欠陥密度が１／ｃｍ^2以下で、幅広なテラスを有し表面の平坦度の高い、高品質、高性能な単結晶ＳｉＣの製造方法を提供する。 - 特許庁