「surface electron」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a photoelectric surface with high quantum efficiency, and to provide an electron tube provided with it.例文帳に追加

量子効率の高い光電面及びそれを備える電子管を提供する。 - 特許庁

SURFACE-TREATED ELECTRON-EMITTING MATERIAL AND ITS MANUFACTURING METHOD AS WELL AS ELECTRODE例文帳に追加

表面処理された電子放出材料及びその製造方法並びに電極 - 特許庁

Then, the resin cured object 1 is irradiated with an electron beam B to cure the surface of the resin cured object 1 and the electron beam-curing type resin 3 permeated from the surface.例文帳に追加

この後、樹脂硬化物２に電子線Ｂを照射することによって、樹脂硬化物１の表面及び表面から浸透した電子線硬化型樹脂３を硬化させる。 - 特許庁

The cells 100 is a dye-sensitized solar cell that causes an electron to be generated from an action electrode at a lighting surface side and takes in the electron from a counter electrode of a non-lighting surface side.例文帳に追加

セル１００は、採光面側の作用極から電子を発生させ、非採光面側の対極から電子を取り込む色素増感型太陽電池である。 - 特許庁

An electron passing layer 6 is provided between a lower electrode 2 and a surface electrode 7.例文帳に追加

下部電極２と表面電極７との間に電子通過層６を備える。 - 特許庁

To reduce the surface roughness of lands of an electron beam resist.例文帳に追加

電子線レジストのランド部分の面粗さを低減することを提供することにある。 - 特許庁

The electron density around the surface required for electron emission can be increased by adding a donor impurity around the surface of the aluminum boron gallium nitride.例文帳に追加

このように、窒化アルミニウムボロンガリウムの表面近くにドナー不純物を添加することにより、電界放出に必要な表面近傍の電子濃度を増加させることができる。 - 特許庁

A groove hole is formed on the head surface and the groove hole contains an electron discharging filament.例文帳に追加

溝穴がヘッド表面に画成され、溝穴には電子放射フィラメントが含まれる。 - 特許庁

SURFACE-CONDUCTION-TYPE ELECTRON EMISSION ELEMENT AND FLAT-BOARD DISPLAY DEVICE HAVING THE SAME例文帳に追加

表面伝導形の電子放出素子及びそれを有する平板ディスプレイ装置 - 特許庁

The electron-beam processing is previously performed on the polyimide film surface so as to be activated.例文帳に追加

ポリイミドフィルム表面にはあらかじめ電子線処理を施して活性化しておく。 - 特許庁

DETERMINATION OF SAMPLE SHAPE BY MEASUREMENT OF SURFACE GRADIENT WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡での表面勾配の測定によるサンプル形状決定 - 特許庁

A required section on the surface of the collector prepared by the electron tube is covered with a carbon nanotube layer.例文帳に追加

電子管が備えるコレクタ表面の所要の部位をカーボンナノチューブ層で覆う。 - 特許庁

To provide a container sterilizer capable of performing conveyance while keeping the predetermined distance between a surface of irradiation and a resin bottle in the section of irradiation for irradiating electron beams from the surface of irradiation of an electron beam irradiation device.例文帳に追加

電子線照射装置の照射面から電子線を照射する照射区間において、照射面と樹脂製ボトルとの距離を一定に保って搬送する。 - 特許庁

To provide a surface treatment apparatus that suppresses the deterioration of a surface of a body to be treated caused by an electron beam.例文帳に追加

電子ビームによる処理対象物の表面の劣化を抑制可能な表面処理装置を提供する。 - 特許庁

An electron extraction electrode 2 is arranged while facing a surface of a cathode electrode 1 and being separated by a distance L1 from the surface.例文帳に追加

カソード電極１の表面に対向して距離Ｌ１を隔てて、電子引出し電極２が配置されている。 - 特許庁

The electron reflection suppressing material 10 has a substrate 12 and a surface film covering the surface of of the substrate 12.例文帳に追加

この電子反射抑制材１０は、基板１２と、基板１２の表面に被覆された表面皮膜とを有する。 - 特許庁

SUBSTRATE SURFACE TREATMENT DEVICE AND METHOD, SURFACE CONDUCTION TYPE ELECTRON SOURCE SUBSTRATE AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加

基板表面処理装置、基板表面処理方法、表面伝導型電子源基板および画像形成装置 - 特許庁

A surface of an electron emission material 5 is formed in a deeper part than a boundary surface of the cathode electrode 2 and an insulating layer 3.例文帳に追加

電子放出材５の表面は、カソード電極２—絶縁層３の境界面より深部に形成される。 - 特許庁

To provide a proper shape of fluorescence surface of a cathode ray tube or a panel inner surface with plural electron guns.例文帳に追加

複数の電子銃を備えた陰極線管の蛍光面形状、即ちパネル内面形状の適正化を図る。 - 特許庁

To provide an electron source which is used for a semiconductor wafer inspection device such as a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer like an Auger electron spectroscopic analyzer, an electron beam exposure apparatus, especially a scanning electron microscope using an electron beam accelerated with low voltage of 1 kV or less, a CD SEM, or a DRSEM.例文帳に追加

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。 - 特許庁

To provide an electron source used for a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer such as an Auger electron spectroscope, an electron beam exposure machine, in particular, a scanning electron microscope used at low acceleration where an acceleration voltage of an electron beam is not higer than 1kV, or a semiconductor wafer inspection device such as a CD SEM or a DRSEM.例文帳に追加

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。 - 特許庁

The substrate for forming the electron source is provided with an insulated material film on the surface of the substrate itself on which electron emitting elements are laid.例文帳に追加

そこで、Ｎａの拡散を抑制する基板コート層を形成し、Ｎａの拡散を抑制した電子源形成用基板を提供する。 - 特許庁

A sample surface of the sample 4 is irradiated with an electron beam from an electron beam irradiation section 1 through a hole 30 in an ellipsoidal mirror 3.例文帳に追加

電子線照射部１から楕円面鏡３の孔部３０を通過して試料４の試料面に電子線が照射される。 - 特許庁

The surface potential Vs of the photoreceptor sample S is measured by discriminating a boundary (|Vacc|=|Vs|) between a secondary electron image and an inverted electron image.例文帳に追加

２次電子像と反転電子像の境界（｜Ｖａｃｃ｜＝｜Ｖｓ｜）を識別することにより感光体試料Ｓの表面電位Ｖｓを計測する。 - 特許庁

To provide an electron beam source of which adjusting performance is improved so as to obtain desired electron beam intensity, and which operates at low source surface temperatures.例文帳に追加

所望のビーム強度になるよう調整性能が改善され、低いソース表面温度で動作する電子ビーム源を提供する。 - 特許庁

For the electron beam device irradiating an electron beam emitted from an electron gun on the surface of a sample, and estimating the surface of a sample by detecting a secondary electron emitted from the surface of the sample, the electron gun has a plurality of thermionic cathodes arranged in a single electrode, and the top end of the plurality of thermionic cathodes are adjusted so as to locate at an electron emission hole of the electrode.例文帳に追加

電子銃から放出された電子線を試料表面に照射し、該試料表面から放出された二次電子を検出することにより試料表面の評価を行う電子線装置において、上記電子銃は単一の電極の内部に複数の熱陰極を配置し、上記電極の電子放出穴位置に上記複数の熱陰極の陰極先端を合わせた構造からなる。 - 特許庁

Then, the layer is thermally treated in nitrogen radical to recover nitrogen electron hole defect in the surface layer of the AlGaN electron donor layer 14.例文帳に追加

その後，窒素ラジカル中で熱処理を行い，ＡｌＧａＮ電子供給層１４の表層の窒素空孔欠陥を回復させる。 - 特許庁

To attain alignment without using electron beams in a detecting apparatus which detects the images of a sample surface using the electron beams.例文帳に追加

電子線を使用して試料表面の画像を検出する検出装置において、電子線を使用しないアライメントを可能にする。 - 特許庁

A 2DEG layer 8 is formed along a hetero-junction surface between the electron travelling layer 3 and the electron supply layer (second semiconductor layer) 6.例文帳に追加

電子走行層３と電子供給層（第２の半導体層）６とのヘテロ接合面に沿って２ＤＥＧ層８が形成される。 - 特許庁

The manufacturing method of the surface-treated electron-emitting material comprises a process of obtaining an electron-emitting material in which carbon nano-fiber is dispersed in matrix metal, a process of flattening the surface of the electron-emitting material, and a surface treatment process forming fine indentation on the surface of the flattened electron-emitting material.例文帳に追加

本発明にかかる表面処理された電子放出材料の製造方法は、マトリクス金属中にカーボンナノファイバーが分散された電子放出材料を得る工程と、電子放出材料の表面を平坦化する工程と、平坦化された電子放出材料の表面に微細な凹凸を形成する表面処理工程と、を有する。 - 特許庁

To provide an electron beam plotting system and an electron beam plotting method capable of accurately setting out a position in the direction of radiation of an electron beam with respect to a substrate having a three-dimensional plotting surface.例文帳に追加

３次元の描画面を有する基材に対して、電子ビームの照射方向の位置を精度良く測定できる電子ビーム描画装置及び電子ビーム描画方法を提供する。 - 特許庁

ELECTRON BEAM VAPOR DEPOSITION SYSTEM, METHOD FOR DEPOSITING VAPOR DEPOSITED FILM ON THE SURFACE OF SUBSTRATE USING THE SYSTEM, PIERCE TYPE ELECTRON GUN, AND METHOD FOR MONITORING BEAM STATE OF PIERCE TYPE ELECTRON GUN例文帳に追加

電子ビーム蒸着装置、当該装置を用いて行う基板の表面への蒸着被膜の形成方法、ピアス式電子銃、および、ピアス式電子銃のビーム状態のモニタ方法 - 特許庁

The electron emission source includes a substrate and an electron emitting layer formed on a substrate surface, and the electron emitting layer includes a plurality of DLC compositions of thin piece structure of micron unit.例文帳に追加

その中、電子放出源には、基板、基板表面に形成した電子放出層が含まれており、また、電子放出層は複数のミクロ単位の薄片構造のＤＬＣ組成物を含める。 - 特許庁

Furthermore, on the surface of the ferroelectric layer 2 of the electron beam source, MgO films or aluminum nitride films or the like are laminated which have high secondary electron discharge ability, and electron beam discharge density is enhanced.例文帳に追加

さらに、電子ビーム源である強誘電体層２の表面に、二次電子放出能力の高いＭgＯ膜や窒化アルミニウム膜等を積層して、電子ビーム放出密度を高める。 - 特許庁

To improve electron emission characteristics by putting carbon matter material used for field electron emission member of a field electron emission element under surface reforming treatment through electrolysis.例文帳に追加

電界電子放出素子の電界電子放出部材に用いる炭素物質材料を電解処理によって表面改質処理を行い、より電子放出特性を向上させる。 - 特許庁

In the electron beam irradiation device, a shielding plate with a slit through which the electron beam passes, is arranged on the side of a metallic strip surface to which the electron beam is radiated, when electronic beam scanning is performed by the electron gun successively in the width direction of the running metallic strip.例文帳に追加

電子銃により、走行する金属ストリップの幅方向に連続して電子ビーム走査を行う場合に、該金属ストリップの電子ビームの照射面側に、電子ビームが通過するスリットを有する遮蔽板を配置する。 - 特許庁

The modifying apparatus is equipped with a plane radiation type electron source 1 made of a cold electron emission element, and by radiating the electron rays emitted by this plane radiation type electron source 1 to an object, the property or the surface of the object is modified.例文帳に追加

改質装置は、冷電子放出素子からなる面放射型電子源１を備え、この面放射型電子源１から放射される電子線を物体に照射することにより、その物体の特性や表面の改質を行う。 - 特許庁

The electron emission negative electrode 2 is provided with an electron emission part 4 emitting electrons from its surface 4a, and an insulating part 5 set at the rear of the electron emission part electrically insulating the heater part and 3 and the electron emission part 4.例文帳に追加

電子放出陰極２は、表面４ａから電子が放出される電子放出部４と、この電子放出部４の裏側に設けられ、ヒーター部３と電子放出部４とを電気的に絶縁させる絶縁部５とを有している。 - 特許庁

An electron beam 3 from a first electron gun 2 is scanned on a specimen 7, and a means of detecting a secondary electron 13 detects the secondary electron 12 discharged from the specimen 7 to display the surface shape of the specimen 7 on a CRT 17.例文帳に追加

第１の電子銃２から電子ビーム３を試料７に走査し、試料７から放出された２次電子１２を２次電子検出手段１３が検出し試料７の表面形状をＣＲＴ１７に表示する。 - 特許庁

At least one surface of the polarizing plate protecting film is processed by electron-beam irradiation.例文帳に追加

偏光板保護フィルムの少なくとも一方の表面を電子線照射処理を行う。 - 特許庁

At first, a film 12 forming a part of the electron device is formed on the surface 10a of the substrate.例文帳に追加

まず、電子デバイスの一部を成す膜１２を基板の表面１０ａに形成する。 - 特許庁

SUBSTRATE SURFACE TREATING APPARATUS, PRODUCTION OF ELECTRON SOURCE AND PRODUCTION OF IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加

基板表面処理装置、電子源の製造方法及び画像形成装置の製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF ELECTRON-EMITTING ELEMENT, AND FORMING METHOD AND LIGHTING APPARATUS OF SURFACE-EMITTING ELEMENT例文帳に追加

電子放出素子の製造方法、平面発光素子の形成方法および照明装置 - 特許庁

Next the surface of resist layer 130 is irradiated with electron beam A and exposed (Fig.2(b)).例文帳に追加

次に、レジスト層１３０の表面に電子ビームＡを照射し、露光する（図２（ｂ））。 - 特許庁

TFT INSPECTION DEVICE UTILIZING SURFACE ELECTRON EMISSION DEVICE ARRAY, AND ITS INSPECTION METHOD例文帳に追加

表面電子放出素子アレイを利用したＴＦＴ検査装置、及びその検査方法 - 特許庁