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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > surface electronに関連した英語例文

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surface electronの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1898



例文

An electron source is positioned on the surface of the wafer for an oxygen ion beam to be irradiated and outside a line of the ion beam, so that an electron beam is irradiated thereon by the same amount as an ion beam current value or less, with electron energy set at 50 eV or more.例文帳に追加

酸素イオンビームが照射されるウエハ面側に有ってイオンビームライン外に電子源を設置し、イオンビーム電流値と同量、それ以下の電子ビームを照射し、電子エネルギーが50eV以上である。 - 特許庁

To form a large electron source substrate which has a number of surface conducting type electron emission elements stably with good yield, and enables to manufacture an image formation apparatus using this electron source substrate at low cost.例文帳に追加

多数の表面伝導型電子放出素子を配置した大面積の電子源基板を安定的に歩留まり良く形成し、この電子源基板を用いる画像形成装置を低価格で製造できるようにする。 - 特許庁

To provide a surface conduction electron emitting element including carbon nanotubes in particular, and an electron source utilizing the electron emitting element.例文帳に追加

本発明は、表面伝導型電子放出素子及び該電子放出素子を利用する電子源に関し、特にカーボンナノチューブを含む表面伝導型電子放出素子及び該電子放出素子を利用する電子源に関する。 - 特許庁

To provide a method for forming a uniform coated film in an inner surface of a tubule such as a uniform electron release film in an inner wall surface of a slender gas discharge tube.例文帳に追加

細管の内面に均一な塗膜、例えば細長いガス放電管の内壁面に電子放出膜を均一に形成する。 - 特許庁

例文

SUBSTRATE FRONT AND BACK SURFACE MARK POSITION MEASURING METHOD, SUBSTRATE FRONT AND BACK SURFACE MARK POSITION MEASURING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF RETICLE FOR ELECTRON BEAM PROJECTION EXPOSURE例文帳に追加

基板表裏面マーク位置測定方法、基板表裏面マーク位置測定装置及び電子線投影露光用レチクルの製造方法 - 特許庁


例文

To provide a surface treatment apparatus that can protect windows of an electron beam irradiation section and offer appropriate surface treatment results.例文帳に追加

電子ビーム照射部の窓を保護するとともに良好な表面処理結果を得ることができる表面処理装置を提供する。 - 特許庁

SURFACE FLAW EVALUATION DEVICE OF ROUND BAR STEEL BY SUBMERGED ULTRASONIC FLAW DETECTION USING ELECTRON SCANNING TYPE ARRAY PROB,E AND SURFACE FLAW EVALUATION METHOD OF ROUND BAR STEEL例文帳に追加

電子走査式アレイ探触子を用いた水浸超音波探傷による丸棒鋼の表面欠陥評価装置及びその方法 - 特許庁

To substantially increase an electron beam spot diameter on a phosphor screen surface, and to especially reduce moire at the periphery section of the phosphor screen surface.例文帳に追加

蛍光体スクリーン面上の電子ビームスポット径を実質的に大きくし、特に蛍光体スクリーン面周辺部でのモアレを低減する。 - 特許庁

The surface of each of the oxide particles 16 is coated with an insulating thin film 18, and an organic electron acceptor is carried on the surface.例文帳に追加

酸化物微粒子16の表面は絶縁性薄膜18で被覆され、さらに、その表面に有機電子アクセプターが担持される。 - 特許庁

例文

The field emission type electron source device includes: an electron source array in which a plurality of emitters for emitting electrons are provided; a photoelectric conversion film in which a predetermined operation is performed by electron beams emitted from the electron source array; and an electrode having a plurality of through holes each of which inner wall surface is covered with a film of a secondary electron radiating material between the electron source array and the photoelectric conversion film.例文帳に追加

電子を放出するエミッタが複数設けられた電子源アレイと、前記電子源アレイから放出された電子ビームにより所定の動作を行う光電変換膜と、前記電子源アレイと前記光電変換膜との間に内壁表面が二次電子放射物質の膜で被覆された複数の貫通孔を持つ電極と、を備えた電界放出型電子源装置。 - 特許庁

例文

The surface of the steel sheet is irradiated with an electron beam prior to primary recrystallization annealing, and the surface of the steel sheet is made a flat surface having arithmetic average roughness RA of ≤0.15 μm.例文帳に追加

一次再結晶焼鈍に先立ち、鋼板の表面に電子線を照射することにより、鋼板の表面を算術平均粗さRaで0.15μm以下の平滑面とする。 - 特許庁

To lay an element wire for electron emission in the air, in a non-contacting manner with the inner surface in the inside of an anode tube.例文帳に追加

陽極管内にその内面に非接触で電子放出用の素線を空中架設すること。 - 特許庁

If a channel is formed along the upper surface of the channel formation part 121, mobility of electron becomes smaller.例文帳に追加

このため、チャネル形成部121の上面に沿ってチャネルを形成すると、電子の移動度が小さくなる。 - 特許庁

A surface formed in a direction crossing an extrusion direction A for the extruded material b is an electron emission area.例文帳に追加

押出材bの押出方向Aと交差する方向に形成された面が電子放出領域である。 - 特許庁

The deflection part deflects the electron beam so that the beam is incident on a target surface 35b in a third direction d3.例文帳に追加

偏向部は、電子ビームを偏向させ、ターゲット面35bに、第3方向d3に向けて入射させる。 - 特許庁

The direction of the welding surface and the irradiation direction of the electron beam can be set in various directions.例文帳に追加

溶接面の方向および電子ビームの照射方向は、種々の方向に設定することができる。 - 特許庁

To provide an electron spin analyzer for analysis of a spin state distribution of a sample surface with high accuracy.例文帳に追加

試料表面のスピン状態分布を高精度に分析するための電子スピン分析器を提供する。 - 特許庁

Each of the electron emission electrodes 18 consists of a electrode base 20 and an emitter 22 fixed to the surface thereof.例文帳に追加

電子放出電極18は、電極ベース20と、その表面に固定されたエミッタ22とからなる。 - 特許庁

In the electron lens 35, the gas adsorption part 351 is formed on the surface of a grid electrode G1.例文帳に追加

電子レンズ35においては、グリッド電極G1の表面にガス吸着部351が形成されている。 - 特許庁

An insulating film 2 and an electron beam resist film 3 are formed in this order on the surface of a conductive substrate 1.例文帳に追加

導電性基板1の表面に、絶縁膜2をおよび電子ビームレジスト膜3を順に形成する。 - 特許庁

By irradiating laser beam, the surface of the electron emission metal 2 is heat fused locally.例文帳に追加

レーザ光を照射することにより、電子放出金属2の表面を局部的に熱溶融させる。 - 特許庁

The elastic modulus of the surface part 12 is adjusted within the range by irradiation with an electron beam.例文帳に追加

表面部12の弾性率は、電子線が照射することにより上記範囲に調整されている。 - 特許庁

The substrate 17 is a semiconductor wafer having an EB resist material formed on the electron beam irradiation surface, for example.例文帳に追加

基材17は、例えば電子線照射表面にEBレジスト材が形成された半導体ウェハである。 - 特許庁

The electron element includes a substrate and a transparent conductive structural body installed on the surface of the substrate.例文帳に追加

本発明の電子素子は、基板と、該基板の表面に設置された透明な導電構造体と、を含む。 - 特許庁

To provide an electron emission element, using a nano carbon material for actualizing easy electric field concentration, improved in electron emission performance and its uniformity and stability, and produced in simple and high-controllable processes, and also to provide a method of manufacturing the electron emission element and a surface light emitting element using the electron emission element.例文帳に追加

電界集中が容易で、電子放出能及びその均一性、安定性に優れ、かつ簡便で制御性が高いプロセスで作製できるナノ炭素材料を用いた電子放出素子、その製造方法、電子放出素子を用いた面発光素子を提供する。 - 特許庁

In the method, an electron source is used for generating incident electron beams; the sample is biased to the electron source so that incident electrons are decelerated, as they approach the surface of the sample; and one portion of the sample is irradiated with inclined incident electron beams.例文帳に追加

この方法には、電子源を用いて入射電子ビームを生成すること、試料の表面に近づくにつれて入射電子が減速するように、電子源に対して試料にバイアスをかけること、および傾いた入射電子ビームでもって試料の一部を照射することが含まれる。 - 特許庁

To provide a field emission type electron source element, an electron gun and a cathode-ray tube device each capable of generating an electron beam having small distortion on a display surface and capable of keeping a stable electron emission characteristic regardless of the length of a driving period, and to provide a manufacturing method for a cathode-ray tube.例文帳に追加

表示面における電子ビームの歪みが小さく、駆動時間の長短に関わらず安定した電子出射特性を維持できる電界放出型電子源素子、および電子銃、および陰極線管装置、および陰極線管の製造方法を提供する。 - 特許庁

The sample processing and observing method includes: irradiating a sample 5 with a focused ion beam 3 to form an observed surface; irradiating the observed surface with an electron beam 4 to form an observed image; removing the surface opposite to the observed surface of the sample 5 to form a lamella 5t including the observed surface; and obtaining a transmission electron image of the lamella 5t.例文帳に追加

集束イオンビーム3を試料5に照射し観察面を形成し、電子ビーム4を観察面に照射し、観察像を形成し、試料5の観察面と反対側の面を除去し、観察面を含む薄片部5tを形成し、薄片部5tの透過電子像を取得する試料加工観察方法を提供する。 - 特許庁

A structure of a surface-emitting element using an electron-emitting element can be simplified since a gate is unnecessary in the electron-emitting element using the above synthesized carbon nanotube and thus can be manufactured at a low cost.例文帳に追加

合成されたカーボンナノチューブを用いた電子放出素子は、ゲートが不要であるためこれを用いた面発光素子の構造を簡略化でき低コスト化が実現できる。 - 特許庁

To provide electron beam equipment for detecting and calibrating telecentricity, i. e. perpendicularity to the wafer surface, of an electron beam with high precision.例文帳に追加

電子ビームのウエハ面への垂直性であるテレセントリック度を高精度に検出して校正する電子ビーム装置およびその電子ビーム装置を用いるデバイス製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron-beam exposure system that secures lighting uniformity and is practically free of a problem even if an electron beam emitted from a cathode surface is not uniform.例文帳に追加

照明一様性が確保され、かつ、カソード面から放出される電子ビームに不均一性があっても、実用上問題とならないような電子線露光装置を提供する。 - 特許庁

An electron optical lens barrel 3 is mounted on an upper end part of a specimen chamber 2, and electron beam EB is irradiated on an observed surface S1 of a specimen S put on a driving stage 4.例文帳に追加

試料室2の上端部には電子光学鏡筒3が配置され、駆動ステージ4上に載置された試料Sの被観察面S1に電子ビームEBが照射される。 - 特許庁

Since an electric resistance at the surface part is lower than that inside the spacer, it is easier to remove static charge at electron irradiation, and a deflection quantity of the electron beams can be reduced.例文帳に追加

スペーサ内部よりも表面部分の電気抵抗が低くなるため、電子照射時の帯電を除去し易くなり、電子ビームの偏向量を低減できる。 - 特許庁

The voltage application unit 5 emits electrons from the electron emitter 2 by applying drive voltage between a surface electrode 22 and a lower electrode 21 of the electron emitter 2.例文帳に追加

電圧印加部5は、電子エミッタ2の表面電極22−下部電極21間に駆動電圧を印加することにより、電子エミッタ2から電子を放出させる。 - 特許庁

After the electron source is formed at the electron source forming surface MS of the first base circuit board MG, the half through-hole HOL is made to be the through-hole by breaking and removing the bottom part BT of the half through-hole HOL.例文帳に追加

第1の母基板MGの電子源形成面MSに電子源を形成後、半貫通孔HOLの底部BTを破断除去して貫通孔とする。 - 特許庁

The carbon nanotube layer is formed by using a suspension filtering method, and electron emission density is increased by a succeeding surface treatment on the electron emission substance layer.例文帳に追加

カーボンナノチューブ層は、懸濁液フィルタリング法を利用して形成され、後続する電子放出物質層の表面処理によって電子放出密度が上昇する。 - 特許庁

To provide an electron beam dimension measuring device and an electron beam dimension measuring means which can keep potential on a sample surface constant to measure the sample with greater accuracy.例文帳に追加

試料表面の電位を一定にして精度よく試料を測定することのできる電子ビーム寸法測定装置及び電子ビーム寸法測定方法を提供すること。 - 特許庁

The cathode part comprises a pellet 161a impregnated with an electron emission material and a metallic cup 161b mounted on the inside so as to expose the electron emission surface.例文帳に追加

カソード部は、電子放射物質が含浸するペレット161aと、このペレット161aの電子放射面が露出するように内部に挿着する金属カップ161bとからなる。 - 特許庁

The first insulating film 9 has action for dividing a 2DEG layer 13 that occurs along a hetero-junction surface between the electron transit layer 4 and the electron supply layer 5.例文帳に追加

第1の絶縁膜9は電子走行層4と電子供給層5とのヘテロ接合面に沿って生じる2DEG層13を分断する働きを有する。 - 特許庁

To realize an electron microscope having a simple structure and being low cost, where the electron microscope can provide observation of a three-dimensional image of the ruggedness on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の凸凹の立体的な画像を観察することができる電子顕微鏡において、構成が簡単で低コストで得ることができるようにする。 - 特許庁

To provide an electric field radiation electron source for enhancing the electron emission efficiency by eliminating the portion oxidized during forming the surface electrode.例文帳に追加

表面電極の形成時に生じる酸化部位を除去して電子放出の効率を向上させた電界放射型電子源及びその製造方法を提供することにある。 - 特許庁

To make distances between a draw out electrode and a negative electrode uniform, and obtain an electron source having a uniform electron emission by suppressing unevennesses and projection on the negative electrode surface.例文帳に追加

陰極表面の凹凸や突起を抑制することにより、引き出し電極と陰極とのあいだの間隔を一様にし、電子放出の均一な電子源を得る。 - 特許庁

The method of modifying the surface exhibits not only structural surface modification giving change on the structure of the surface but also chemical surface modification giving change on chemical composition of the surface by irradiating electron beams, wherein the surface of the fluoropolymer material exhibits superhydrophobicity by adjusting the irradiation amount of the electron beams.例文帳に追加

本発明による表面を改質する方法は、電子ビームを照射することによって表面の構造に変化を与える構造的表面改質だけでなく、表面の化学組成に変化を与える化学的表面改質を示し、電子ビームの照射量を調節することによってフッ素系高分子材料の表面が超疎水性を示す。 - 特許庁

The cathode-ray tube is composed of an in-line configuration electron gun and a dot fluorescent screen; the external panel surface is almost flat, and the internal surface has a curved surface; the shadow mask has round holes with convex curved surface toward the panel.例文帳に追加

インライン配置の電子銃とドットタイプの蛍光面の組み合わせのブラウン管で、パネル外面はほぼフラットで内面は曲面を有し、シャドーマスクは丸孔で、パネルに向かって凸な曲面を有している。 - 特許庁

A projection part formation step for forming a projection part on a rear side face of the substrate, and an electron element forming step for forming the electron element on the surface of the substrate while the substrate is supported by the projection part are included in a process for forming the semiconductor device, in which the electron element is formed on the surface of the substrate.例文帳に追加

基板の表面上に電子素子が設けられた半導体装置を製造する工程中に、基板の裏面側に凸部を形成する凸部形成ステップと、凸部により基板を支持した状態で、基板の表面上に電子素子を形成する電子素子形成ステップとを設けた。 - 特許庁

When at least a target is arranged in a room and the incident angle of an electron beam to the surface of the target is β, the surface of the target is irradiated with an electron beam from an electron beam source disposed in the room or on the outside of the room to satisfy a relation β≤60 degrees.例文帳に追加

室内に少なくともターゲットを配置し、前記ターゲットの表面に対する電子線の入射角をβとした場合に、前記ターゲットの表面に、前記室内又は前記室外に配置された電子線源よりβ≦60度を満足するようにして電子線を照射する。 - 特許庁

The surface of the sample is shaven off by ion milling and the scanning image by the scanning electron microscope is observed while the surface of the sample is removed by chemical etching and the scanning image by the scanning electron microscope is again observed to prepare the sample for the scanning electron microscope.例文帳に追加

イオンミリングによって試料の表面を削り取り、走査電子顕微鏡による走査像を観察し、ケミカルエッチングによって試料の表面を除去し、再度、走査電子顕微鏡による走査像を観察することによって、走査顕微鏡用の試料を作製する。 - 特許庁

The video display device is equipped with a display panel 14 equipped with; a plurality of electron discharge elements 42 arranged on a surface ; and a screen 51 which is installed by being opposed to the arrangement surface of the plurality of the electron discharge elements 42 and which emits light with luminance corresponding to the time length of a voltage applied on each electron discharge element 42.例文帳に追加

平面的に配列された複数の電子放出素子42と、複数の電子放出素子42の配列面に対向して設置され、各電子放出素子42に印加する電圧の時間長に応じた輝度で発光するスクリーン51とを備えた表示パネル14を備える。 - 特許庁

The support substrate has the first surface 24a contacted with the first substrate, the second surface 24b opposed at a gap to the second substrate, and the plurality of electron beam passing holes 26 opposed to the electron discharge source.例文帳に追加

支持基板は、第1基板に当接した第1表面24a、第2基板と隙間を置いて対向した第2表面24b、およびそれぞれ電子放出源に対向した複数の電子ビーム通過孔26を有している。 - 特許庁

例文

An electron beam is generated by applying a direct current pulse voltage to electrodes provided in a chamber, and reforming of the surface of a carbon-based material is carried out by irradiating the surface of the carbon-based material with the electron beam.例文帳に追加

チャンバー内に設置された電極に対して直流パルス電圧を印加することによって電子ビームを発生させ、この電子ビームを炭素系材料の表面に照射することで改質を行う。 - 特許庁




  
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