「test and acceptance」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The WWW server 20 for a test decides the acceptance/ rejection of a test for a security hole test object, on the basis test contents from the terminal 1, performs a security hole test, when there is a system where a security hole test can be performed and generates security hole test results.例文帳に追加

検査用ＷＷＷサーバ２０は、端末１からの検査内容に基づいて、セキュリティホール検査対象に対する検査の可否を判断し、セキュリティホール検査が実施可能なシステムであれば、セキュリティホール検査を実施し、セキュリティホール検査結果を生成する。 - 特許庁

To improve test efficiency by facilitating association between test items and communication logs which become the basis for acceptance/rejection determination of test items when a communication test is performed.例文帳に追加

通信テストを行う際に、テスト項目と、そのテスト項目の合否判定の根拠となる通信ログとの対応付けを容易にして、テスト効率を向上させる。 - 特許庁

A test performer associates test items and the communication log by collating the date and time of the acceptance/rejection determination with the date and time of the communication log which are controlled by the test item management section 11.例文帳に追加

テスト実施者は、テスト項目管理部１１により管理されている合否判定の日時と通信ログの日時とを照合することによって、テスト項目と通信ログとの対応付けを行う。 - 特許庁

The test item management section 11 gives the date and time of acceptance/rejection determination by obtaining it from a clock generation section 9 when an operator inputs the acceptance/rejection determination.例文帳に追加

合否判定の日時は、操作者により合否判定が入力された際に、テスト項目管理部１１がクロック生成部９から取得して付与する。 - 特許庁

A decision part 507 decides the acceptance or non-acceptance of the test result based on information supplied from the score calculation part 503, the position specification part 504 and the point of difference detection part 506.例文帳に追加

判定部５０７は、スコア算出部５０３、位置特定部５０４、および相違点検出部５０６から供給される情報に基づいて、テスト結果のOKまたはNGの判定を行う。 - 特許庁

The determination section obtains an inherent resistance value specific to the mounting test board, and determines the acceptance and based on the inherent resistance value.例文帳に追加

前記判定部は、前記装着テストボードに対して固有である固有抵抗値を取得し、前記固有抵抗値に基づいて、合否を判定する。 - 特許庁

(11) May 1, 2001, PMSB/ELD Notification No. 568. Test Procedures and Acceptance Criteria for New Drug Substances and New Drug Products (ICH Q6A)例文帳に追加

⑪ 平成13年5月1日 医薬審発第568号 新医薬品の規格及び試験方法の設定について（ICH Q6A ガイドライン） - 厚生労働省

Thus, it is highly possible that the fault candidate in which acceptance/rejection of the test result of the actual measurement and magnitude of the delay time follow the above is the true fault.例文帳に追加

そのため、実測のテスト結果の合格／不合格と遅延時間の大小が上記に従う故障候補は、真の故障である可能性が高い。 - 特許庁

In the acceptance inspection method, a container for an object 12 to be treated from a treatment client 11 is drilled by a drilling treatment apparatus 13 and a test liquid 14 is taken thereout.例文帳に追加

処理依頼者１１からの被処理物１２の容器に穴あけ処理装置１３で穴をあけ、試験液１４を取り出す。 - 特許庁

Prepare test cases based on user manuals and simulate the live processes in the user-acceptance tests.例文帳に追加

ユーザ受入れテストは、ユーザマニュアルに従い、本番運用を想定したテストケースを設定して実施すること。 - 経済産業省

The test system 6 includes a monitor run mask processing part for controlling a reception acceptance/rejection of test data when the communication data transferred from the gate way device 5 is input as the test data and a test is executed, to improve a test organization.例文帳に追加

試験系システム６には、ゲートウェイ装置５から転送される通信データを試験データとして入力して試験を実施するときに、試験データの受信可否を制御するモニタランマスク処理部を備えることで、試験の制度を向上させる。 - 特許庁

Thereafter, the test output data in the FIFO memory 2 are read out after returning to the test mode A, and outputted from an output terminal 12, and the data are compared with expected value data, to thereby determine acceptance.例文帳に追加

その後、テストモードＡに戻し、ＦＩＦＯメモリ２のテスト出力データを読み出して出力端子１２から出力し、これを期待値データと比較して合否を判定する。 - 特許庁

Acceptance or rejection discrimination fuse circuits 13a to 13n are provided on memory cell arrays 11a to 11n respectively, and a high temperature test result of the high temperature test of the corresponding memory cell arrays 11a to 11n is written.例文帳に追加

合否判定ヒューズ回路１３ａ，１３ｂ，〜，１３ｎは、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎのそれぞれに設けられ、対応するメモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎの高温試験の高温試験結果が書き込まれる。 - 特許庁

The scholastic ability indices by each subject are computed by an arithmetic section 3 using the coefficients of a coefficient DB 7 from the test results and the acceptance achievement indices by each subject are computed by the arithmetic section 3 according to the target scores of a target score DB 9 and the scholastic ability indices, and are registered into an acceptance achievement index DB 11.例文帳に追加

試験結果から係数ＤＢ７の係数を用いて科目毎の学力指数が演算部３により演算され、目標得点ＤＢ９の目標得点と学力指数に基づいて演算部３により科目毎の合格達成指数が演算され、合格達成指数ＤＢ１１に登録される。 - 特許庁

In the semiconductor device, at first, the high temperature test is performed, and the high temperature test result of the high temperature test of the memory cell arrays 11a to 11n is written on the acceptance or rejection discrimination fuse circuits 13a to 13n provided respectively of the memory cell arrays 11a to 11n.例文帳に追加

この半導体装置において、まず、高温試験を行い、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎのそれぞれに設けられた合否判定ヒューズ回路１３ａ，１３ｂ，〜，１３ｎに、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎの高温試験の高温試験結果を書き込む。 - 特許庁

The tester comprises: a measurement section for applying a current to an apparatus under test through a mounting test board for mounting the apparatus under test, and measuring a voltage at a predetermined region in the apparatus under test; and a determination section for obtaining a measurement result from the measurement section, and for determining the acceptance of the apparatus under test by comparing the measurement result with a standard value.例文帳に追加

被測定装置が装着された装着テストボードを介して前記被測定装置に電流を印加し、前記被測定装置の所定部位の電圧を測定する測定部と、前記測定部による測定結果を取得し、規格値と比較することにより、前記被測定装置の合否を判定する判定部と、を具備する。 - 特許庁

To provide a wafer-inspecting apparatus and a wafer-inspecting method that perform quality decision tests for deciding the acceptance and rejection of semiconductor chips, and a characteristic measurement test for checking more detailed electrical characteristics in the same wafer inspection apparatus.例文帳に追加

同一ウエハ検査装置で、半導体チップの合否判定を行う合否判定テストと、より詳細な電気的特性をチェックする特性測定テストとを実施するウエハ検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

This method is inputted with the time for carrying out a tests, the time for final learning, test ranges and acceptance conditions as initial information and provides the learners with the necessary number of learning times for the test ranges by using such initial information and the oblivion function held therein.例文帳に追加

本発明は、テストの実施時期、最終学習時期、テスト範囲、及び合格条件を初期情報として入力し、これらの初期情報と内部に保持する忘却関数を用いて当該テスト範囲に対する必要学習回数を学習者に提示する。 - 特許庁

To obtain a printed circuit board which has a plurality of regions to serve as a mutually independent mounted board and can be suitably subjected to an acceptance test which can be completed within a short period of time once an electric and electronic components are mounted.例文帳に追加

互いに別個の実装済基板となる複数の領域を有し、電気・電子部品実装後に製品検査を短時間で行い易いプリント配線板を得ること。 - 特許庁

To provide a hardness tester capable of performing acceptance determination to a test result suitably through visual sensation, and determining easily a cause of an unacceptable case.例文帳に追加

試験した結果に対する合否判断を、視覚を通じて好適に行うことができ、不合格の場合の原因を判断しやすい硬さ試験機を提供することである。 - 特許庁

(7) May 1, 2001, PMSB/ELD Notification No. 571. Test Procedures and Acceptance Criteria for Biotechnological/Biological Products (ICH Q6B)例文帳に追加

⑦ 平成13年5月1日 医薬審発第571号 生物薬品（バイオテクノロジー応用医薬品／生物起源由来医薬品）の規格及び試験方法の設定について （ICH Q6B ガイドライン） - 厚生労働省

To shorten a test time by automatically performing examination and preparation of a redundancy analyzing and verifying program and to prevent dispersion of a verified quality level owing to difference of recognition levels by automating examination of verifying contents and a relieving code expected value and discrimination of acceptance or rejection.例文帳に追加

冗長解析検証プログラムの検討及び作成を自動で行なうことにより、テスト時間を短縮するとともに、検証内容、救済コード期待値の検討、及び合否判定を自動化することにより、認識レベルの差による検証品質レベルのばらつきを防止する。 - 特許庁

The balancing machine is provided with a centrifugal force generating device 3 on a bearing stand 2 supporting a rotor 6, which is structured that detects the vibration of the bearing stand 2 generated by rotating a weight 3c as known unbalance by the centrifugal force generating device 3 and judges the acceptance of a hard beaming type of balancing test.例文帳に追加

釣合い試験機において、ロータ６を支持する軸受架台２に遠心力発生装置３を備え、その遠心力発生装置３が既知の不釣合いとしての重り３ｃを回転させたことにより生ずる軸受架台２の振動を検知し、ハードタイプの釣合い試験の可否を判定する構成にした。 - 特許庁

When the inquiry is properly responded, the existence/absence of middle area expansion, the acceptance/rejection of recording of the disk, the recordable capacity and the recordable start position can properly be recognized so that it can be determined that the test object drive can perform a recording operation from a proper recording position when the DRAW type HD DVD is recordable.例文帳に追加

この問い合わせに適正に応答した場合、検査対象ドライブは、ミドルエリアの拡張の有無、当該ディスクの追記の可否、追記可能容量および追記開始位置を適正に認識でき、追記型ＨＤＤＶＤが追記可能な場合に適正な記録位置から記録動作を行い得ると判定される。 - 特許庁

A curable adhesive composition for anchoring material in or to concrete or brick includes: at least one polymerizable epoxy compound; and a curing agent comprising at least one aliphatic amine and at least one tertiary amine, wherein the epoxy compound and the curing agent are present by amounts effective in producing the adhesive composition which passes ICBO Heat Creep Test (ICBO acceptance criteria AC58) at 110°F and passes ICBO Damp Hole Test at 75°F.例文帳に追加

コンクリートもしくはレンガに材料を固定するための硬化性接着剤組成物であって、少なくとも１種の重合性エポキシ化合物、及び少なくとも１種の脂肪族アミン及び少なくとも１種の３級アミンを含む硬化剤を含み、前記エポキシ化合物及び前記硬化剤が、110°ＦにおけるＩＣＢＯヒートクリープテスト（ＩＣＢＯ許容基準ＡＣ５８）に合格しかつ75°ＦにおけるＩＣＢＯダンプホールテストに合格する接着剤組成物を与えるに有効な量存在する接着剤組成物。 - 特許庁