「test patterns」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A plurality of test resist patterns are formed (S2, S6) by transferring the test patterns by a lithographic process including pattern exposure using the test mask.例文帳に追加

テストマスクを用いたパターン露光を含むリソグラフィー処理により、テストパターンを転写した複数のテスト用レジストパターンを形成する（Ｓ２，Ｓ６）。 - 特許庁

The same process is repeated to a test pattern set of merged test patterns.例文帳に追加

テストパタンの併合されたテストパタンセットに対しても、同様の処理を繰り返す。 - 特許庁

In addition, contrasts between the backgrounds and the respective contrast areas in the test patterns coincide among the test patterns 21 to 24.例文帳に追加

また、テストパタン内でのバックグランドと各コントラスト領域とのコントラストは、テストパタン２１乃至２４間で一致している。 - 特許庁

To minimize the capacity of a test area and to record test patterns taking crosstalks into consideration.例文帳に追加

テストエリアの容量を最小限にとどめ、クロストークを考慮したテストパターンを記録する。 - 特許庁

The plural test patterns are read from a compile data storage part by a test pattern generating part 17.例文帳に追加

テストパタン生成部１７は、コンパイルデータ記憶部２３から複数のテストパタンを読み込む。 - 特許庁

A fourth process acquires the test pattern closest to the test conditions in the third process among the prescribed test patterns.例文帳に追加

第４の工程は、所定のテストパターンのうち第３の工程のテスト条件に最も近いテストパターンを求める。 - 特許庁

Random test patterns generated by a PRPG 210 are corrected to test patterns for test by a pattern corrector 220 and inputted to shift registers 200.例文帳に追加

ＰＲＰＧ２１０によって生成したランダムなテストパターンをパターン修正器２２０によって試験用のテストパターンに修正して、シフトレジスタ２００に入力させる。 - 特許庁

The test print includes a plurality of sets of horizontal stripe test patterns comprising a plurality of horizontal lines extending in a main scanning direction formed by laser scanning exposure and a plurality of sets of vertical stripe test patterns comprising a plurality of vertical lines extending in a sub scanning direction formed by laser scanning exposure, wherein the horizontal stripe test patterns and the vertical stripe test patterns are alternately arranged.例文帳に追加

レーザ走査露光によって形成される主走査方向に延びる複数本の横ラインからなる横縞テストパターンと、レーザ走査露光によって形成される副走査方向に延びる複数本の縦ラインからなる縦縞テストパターンとが互いに複数組配置されているテストプリント。 - 特許庁

To provide a device for generating data including many test patterns.例文帳に追加

多くのテストパターンを含むデータを生成する装置を提供する。 - 特許庁

To reduce test patterns used in testing a decoding processor.例文帳に追加

復号処理装置をテストする際のテストパターンの量を削減する。 - 特許庁

An inkjet printer forms first and second test patterns on a paper and detects the density values of both of the first and second test patterns by an image sensor.例文帳に追加

インクジェットプリンタは、用紙に第１及び第２テストパターンを形成し、画像センサで両テストパターンの濃度値を検出する。 - 特許庁

To provide a built-in self-test circuit capable of conducting a test having high quality by various test patterns without decreasing the number of test patterns while having simple circuit constitution.例文帳に追加

簡素な回路構成を備えながらも、テストパターン数を削減することなく、多種のテストパターンによって高品質のテストを行うことができる組込み自己テスト回路を提供する。 - 特許庁

A conversion test pattern selection part 5 sequentially takes in test vectors included in test patterns stored in a function verification test pattern storage part 1 to select test patterns and test vectors causing the number of failures detectable by the taken in test vectors to equal the total number of failures.例文帳に追加

変換テストパターン選択部５は、機能検証用テストパターン記憶部１に記憶されたテストパターンに含まれるテストベクタを順次取込み、取込んだテストベクタによって検出できる故障数が全故障数と同じになるテストパターンおよびテストベクタを選択する。 - 特許庁

In a target device 30a and a handling device 30b, image forming parts 50 output test patterns and image reading parts 60 read the outputted test patterns and previously prepared test patterns.例文帳に追加

ターゲット装置３０ａ及びハンドリング装置３０ｂでは、画像形成部５０がテストパターンを出力し、画像読取部６０が出力されたテストパターン及び予め用意されたテストパターンを読み取る。 - 特許庁

Finally, a state transition for realizing the remaining test patterns is added to the test series (step 8).例文帳に追加

最後に、残ったテストパターンを実現する状態遷移をテスト系列に追加する（ｓｔｅｐ８）。 - 特許庁

To provide a scan test pattern input method capable of minimizing tester memory capacity for storing test patterns and reproducing all the test patterns created by ATPG.例文帳に追加

テストパタンを記憶するテスターメモリ容量を最小限とし、かつＡＴＰＧによって生成された全てのテストパタンを再現可能なスキャンテストパタン入力方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the number of test patterns and a test time in a test of a memory of a RAM and the like incorporated in a LSI, and to enable a test by actual operation speed.例文帳に追加

ＬＳＩに内蔵されたＲＡＭ等のメモリのテストにおけるテストパターン数およびテスト時間を削減し、また実動作スピードによるテストを可能とする。 - 特許庁

To provide a scan test method for reducing the number of test patterns (the number of clocks), memory capacity and a processing period of time required for a scan test.例文帳に追加

スキャンテストに必要なテストパタン数（クロック数）、メモリ容量及び処理時間を削減可能なスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁

A program is set by using the setters 1A, 1B, 1D as test patterns, and when the noise test is started, the test pattern is generated automatically.例文帳に追加

設定器１Ａ，１Ｂ，１Ｄを試験パターンとしてプログラム設定し、ノイズ試験開始には試験パターンを自動的に発生する。 - 特許庁

To provide a test pattern selection apparatus which has a reduction in costs for testing and provides a constant test quality by a small number of test patterns.例文帳に追加

少ないテストパターンで一定のテスト品質を得ることができ、テストコストを削減できるテストパターン選択装置を提供する。 - 特許庁

The integrated test pattern is generated by generating a pattern for merge to properly connect plural test patterns and simultaneously merging the test pattern for merge into the plural test patterns based on condition information by the test pattern generating part 17.例文帳に追加

テストパタン生成部１７は、条件情報に基づいて、複数のテストパタンを適正に接続するためのマージ用パタンを生成すると共に、該マージ用パタンと複数のテストパタンとをマージして、一体化したテストパタンを生成する。 - 特許庁

The writing test of test pattern data on a track boundary is added besides the writing of a test pattern in a SAT test at the track center conventionally performed and the inspection of burst patterns (A, B patterns) by the writing test at that time.例文帳に追加

従来行っていたトラック中心へのＳＡＴ試験におけるテストパターンの書き込みとその際の書き込みテストによるバーストパターン（Ａ，Ｂパターン）の検査に加え、トラック境界へのテストパターンデータの書込みテストを追加する。 - 特許庁

Test patterns with different densities are formed according to an image formation processing.例文帳に追加

画像形成処理に応じて、濃度の異なるテストパターンを形成する。 - 特許庁

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object in various test patterns.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を各種試験パターンで試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

A test pattern information preparation part 4 prepares test pattern information including at least the total number of failures detectable by all the test patterns.例文帳に追加

テストパターン情報作成部４は、全てのテストパターンで検出できる全故障数を少なくとも含んだテストパターン情報を作成する。 - 特許庁

The difference between a reproduced signal from a magnetic domain 80 sandwiched by the test patterns 98 and 99 of the test pattern 96 and a reproduced signal from an unsandwiched magnetic domain 82 is calculated for each recording light quantity of the test patterns 98 and 99.例文帳に追加

テストパターン96のテストパターン98,99に挟まれた磁区80からの再生信号と、挟まれていない磁区82からの再生信号との差を、テストパターン98,99の記録光量毎に求める。 - 特許庁

For a short inspection device 1, two or more test patterns are prepared beforehand.例文帳に追加

ショート検査装置１には，あらかじめ複数のテストパターンが用意されている。 - 特許庁

To generate various test patterns from algorizm pattern data of a few bit numbers.例文帳に追加

ビット数が少ないアルゴリズムパターンデータから多様な試験パターンを生成する。 - 特許庁

Two types of resist patterns are formed on a wafer for test exposure.例文帳に追加

テスト露光として２種類のレジストパターンが前記ウエハ上に形成される。 - 特許庁

To generate a variety of test patterns utilizing a small capacity memory.例文帳に追加

多種多様のテストパターンの発生を小容量のメモリを利用して行う。 - 特許庁

When an adjustment mode is set, transfer positions of the test patterns of each color on the intermediate transfer belt 21 are detected in the separation state, to measure the shift of the test patterns of each color from the transfer positions of the test patterns of each color and correct the measured shift of the test patterns of each color by using each difference in the memory 75.例文帳に追加

そして、調整モードが設定されると、離間させた状態で、中間転写ベルト２１上の各色のテストパターンの転写位置を検出して、各色のテストパターンの転写位置からそれらのずれを測定し、この測定した各色のテストパターンのずれをメモリ７５内の各差分を用いて補正している。 - 特許庁

To reuse a photomask for a test by enabling formation of a plurality of types of test patterns in different periods.例文帳に追加

複数種類のテストパターンを異なる時期に形成可能にできるようにしてテスト用フォトマスクを再利用する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of generating the test patterns of test signals at faster speed.例文帳に追加

試験信号の試験パターンをより速い速度で発生することのできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The test areas consisting of at least four tracks are formed by each of zones in such a manner that the test patterns may be recorded in grooves G1 and the crosstalk patterns in adjacent lands L1 and L2 and that the test patterns may be recorded in the lands L2 and the crosstalk patterns in the adjacent grooves G1 and G2.例文帳に追加

グルーブＧ１にテストパターンを記録し隣接するランドＬ１、Ｌ２にクロストークパターンを記録することができるとともに、ランドＬ２にテストパターンを記録し隣接するグルーブＧ１、Ｇ２にクロストークパターンを記録することができるように、少なくとも４トラックからなるテストエリアを、ゾーン毎に形成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which test patterns can easily be written.例文帳に追加

テストパターンを容易に書込むことが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory, in which test patterns can easily be written.例文帳に追加

テストパターンを容易に書込むことが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

According to some aspects, the present invention automatically selects those test patterns that are most effective in determining the optimal model parameter values from an existing pool of candidate test patterns, as opposed to designing optimal patterns.例文帳に追加

幾つかの態様によれば、本発明は、最適パターンの設計とは対照的に、既存プールの候補テストパターンから最適モデルパラメータ値を求める際に最も効果的なテストパターンを自動的に選択する。 - 特許庁

In the burn-in test, a plurality of test patterns for the burn-in are selectively generated by a circuit 20 for generating the burn-in test patterns on the chips of the LSI, and inputted in parallel to a flip-flop circuit 15 for scanning forming scan paths.例文帳に追加

バーンインテストに際して、LSI チップ上のバーンインテストパターン発生回路20で複数のバーンインテストパターンを選択的に発生し、スキャンパスを形成するスキャン用フリップフロップ回路15に並列に入力する。 - 特許庁

An imaging means (printer 300) outputs a plurality of test patterns including an identical test pattern and the gradation characteristics of the imaging means are corrected based on the read out results of these test patterns.例文帳に追加

画像形成手段（プリンタ３００）が、同一のテストパターンを含む複数枚のテストパターンを出力し、それらのテストパターンを読み取った結果から画像形成手段の階調特性の補正を行う。 - 特許庁

Patterns of respective test patterns and a pad part are disposed, so that a same probe card is used for measuring the N-channel TFT test pattern 130 and the P-channel TFT test pattern 140.例文帳に追加

ＮチャネルＴＦＴテストパターン１３０とＰチャネルＴＦＴテストパターン１４０の測定には同一のプローブカードが用いられるように、それぞれのテストパターンのパターン及びパッド部が配置されている。 - 特許庁

The derivative structured document is applied to a test performing device 51 to test the structured document processor 55, and acceptable derivation patterns and non-acceptable derivation patterns are arranged by a test analysis device 52.例文帳に追加

その派生形の構造化文書をテスト実施装置５１にかけて、構造化文書処理装置５５をテストし、テスト解析装置５２で、受理できる派生パターンと受理できない派生パターンを整理する。 - 特許庁

A test data creating part 16 creates appropriate test data per detected operation component on the basis of preregistered design information and test patterns.例文帳に追加

テストデータ生成部１６は、予め登録された設計情報及びテストパターンを元に、検出された操作部品ごとに適切なテストデータを生成する。 - 特許庁

This failure inspection apparatus performs the failure inspection of an integrated circuit by using test patterns.例文帳に追加

故障検査装置は、テストパターンを用いて集積回路の故障検査を行う。 - 特許庁

To provide a RAM test circuit generating an address and data being check patterns.例文帳に追加

市松模様となるアドレス、データを生成するＲＡＭのテスト回路を提供する。 - 特許庁

To efficiently generate test patterns used for detecting failures of logic circuits.例文帳に追加

論理回路の故障の検出に用いられるテストパターンを効率よく生成すること。 - 特許庁