「test patterns」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

The data processor 200 inputs successively pictures of test patterns having the discontinuous gradation which are projected and displayed on a screen 53 by the picture display device 51, via the image pickup device 52.例文帳に追加

データ処理装置２００は、画像表示装置５１によってスクリーン５３上に投射表示される飛び飛びの階調のテストパターンの画像を、撮像装置５２を介して順次入力する。 - 特許庁

An expected value of a wiring contained in a fault candidate wiring pair is input to an XOR operation part 22 as for each of a plurality of test patterns, and the operation part finds and outputs the exclusive OR (XOR).例文帳に追加

ＸＯＲ演算部２２は、複数のテストパタンそれぞれについて、故障候補配線対に含まれる配線の期待値を入力し、排他的論理和（ＸＯＲ）を求めて出力する。 - 特許庁

To provide a method and a device for supporting the verification of a logic circuit function capable of omitting simulation properly when simulating a plurality of test patterns, to enhance efficiency for function verification.例文帳に追加

複数のテストパターンをシミュレーションする際に適切にシミュレーションを省略して、機能検証の効率を上げれる論理回路機能検証支援方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The test patterns include a plurality of pattern parts P1-1 to P5-1 associated with the design values of density ratio when the image is recorded by the same recording density by using these inks.例文帳に追加

そのテストパターンは、それらのインクによって同一の記録密度で画像を記録したときの濃度比の設計値と関連付けられた複数のパターン部Ｐ１−１からＰ５−１を含む。 - 特許庁

To provide a function verification technique that is more effective in dispensing with test patterns and capable of more effectively reducing the time and cost required to verify functions regarding the design data of a semiconductor device.例文帳に追加

よりテストパターンの省略効果が高く、半導体装置の設計データに対する機能検証にかかる時間及びコストをより効果的に削減できる機能検証技術を提供する。 - 特許庁

In an S1, test patterns (toner images) obtained by binarizing input data at 64, 96 and 128 levels are each outputted onto the entire surface of a blank sheet of paper with an A3 size being a transfer material P one by one (three sheets in all).例文帳に追加

Ｓ１で、６４、９６、１２８レベルの入力データが二値化されたテストパターン（トナー像）を転写材ＰとしてのＡ３白紙全面にそれぞれ１枚ずつ、計３枚出力する。 - 特許庁

The test chart for measuring an OTF, having a number of overlayed sinusoidal patterns at a number of discrete spatial frequencies and at a number of orientations is printed (330).例文帳に追加

多くの離散的な空間周波数において、また多くの方向において多くの重なる正弦波形状パターンを備えたＯＴＦを測定するためのテストチャートをプリントする（３３０）。 - 特許庁

The test pattern has a plurality of patterns 300 independent of each other for independently detecting a reciprocatory printing deviation amount at a plurality of areas in the scanning-movement direction of the printing head.例文帳に追加

このテストパターンは印字ヘッドの走査方向において複数のエリアで独立に往復印字ずれ量を検出するための互いに独立した複数のパターン３００を有する。 - 特許庁

The recording light quantity of the test patterns 98 and 99 in the case that the difference between the reproduced signals is within a prescribed range, for example, the maximum recording light quantity in recording light quantity is determined as the optimum recording light quantity.例文帳に追加

再生信号の差が所定の範囲内である場合のテストパターン98,99の記録光量、例えば記録光量のうち最大記録光量を最適記録光量として決定する。 - 特許庁

A plurality of test patterns having the same on pixel density and a different relative position to a pattern detection matrix are outputted and a pulse width corresponding to a code is set such that their densities are equalized.例文帳に追加

オン画素密度が同じで、パターン検出マトリクスとの相対位置が異なる複数のテストパターンを出力し、それらの濃度が同じになるように、コードに対応するパルス幅を設定する。 - 特許庁

The control circuit 210 executes calibration of the image reading section 206 while controlling the image reading section 206 to read out the test patterns 401 and 501 acquired through the Internet 100.例文帳に追加

制御回路２１０は、インターネット１００を介して取得されたテストパターン４０１，５０１を画像読取り部２０６に読取らせながら画像読取り部２０６のキャリブレーションを実行する。 - 特許庁

Thus, an identical stress is applied to the evaluation elements having different resistance values when performing a WLBI test to determine the degree of aged deterioration attributed to particular evaluation patterns.例文帳に追加

これにより、異なる抵抗値を有する評価素子に対してＷＬＢＩ試験時に印加するストレスを同一にでき、評価パターンに起因する経時劣化程度を求めることができる。 - 特許庁

An optimum time difference is obtained based on the test patterns formed by means of adjacent head modules by providing recording time differences therein, and then the deviation of the recording position is corrected by shifting the recording timings between the head modules.例文帳に追加

さらに、隣接するヘッドモジュールに記録時間差を設けて記録したテストパターンから最適時間差求め、ヘッドモジュール間の記録タイミングをずらして記録位置ズレを補正する。 - 特許庁

In adjusting the density in a device for printing a color image by developing an image of the color of each layer, using a color printing paper having C, M, Y layers, first, R, G, B test patterns are generated, and the R, G, B test patterns are printed on the color printing paper by a thermal head 36.例文帳に追加

自動濃度調整用のＣ、Ｍ、Ｙの濃度を測定する場合には、ＴＡペーパーにＲ、Ｇ、Ｂのテストパターンを印画し、このテストパターンをＲ、Ｇ、Ｂの各色の輝線スペクトルを有する定着用ランプによって照明するとともに、ＴＡペーパーの基準位置を検出するＨＰセンサの受光センサによってＲ、Ｇ、Ｂのテストパターンの反射光量をそれぞれ検出する。 - 特許庁

Characteristic configuration technique to be constituted by passing a test procedure manual creating means 4 to create a test procedure manual 5 to indicate test procedures about a 'processing function A', a 'processing function B' by inputting function pattern tables 2', 3 to express the 'processing function A', the 'processing function B', etc., described in program specifications 1 of a testing object by standardized patterns is adopted.例文帳に追加

試験対象物のプログラム設計書１に記載された［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］などを、標準化したパターンで現した機能パターン表２’，３が入力されることで、当該［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］についての試験手順を示す試験手順書５を作成する試験手順書作成手段４を経てなる特徴的構成手法の採用。 - 特許庁

The wiring board 10, provided with conductive patterns on the surface, is further provided with fusible test pats 15, 16, 17 and 19 by printing or applying a conductive material, such that at least one end part thereof is connected with any one of the conductive patterns.例文帳に追加

表面に導電パターンを備えた配線基板１０であって、少なくとも一端が、上記導電パターンのいずれかに接続されるように、導電性材料の印刷，塗布等により溶融性テストパット１５，１６，１７，１９を設けることにより、配線基板１０を構成する。 - 特許庁

The method of manufacturing a member for plasma display comprises steps of forming stripe shapes of electrode patterns on a substrate, after performing a conductivity test between longitudinal ends of each electrode and between adjacent electrodes, and then cutting stripe shapes of electrode patterns into at least two groups.例文帳に追加

基板上にストライプ状の電極パターンを形成し、各電極の長手方向導端部間および隣接電極間の導通検査を行った後、ストライプ状の電極パターンを２群以上に分断することを特徴とするプラズマディスプレイ用部材の製造方法である。 - 特許庁

A resist film is formed on the etched layer of a test substrate provided with an etched layer, a plurality of regions in the resist film are sequentially exposed by each changing exposure amounts and focus values in a predetermined test pattern, and is developed to form resist patterns at a plurality of the regions (Steps 1 to 5).例文帳に追加

被エッチング層を備えたテスト基板の当該被エッチング層上にレジスト膜を形成し、レジスト膜の複数の部位を所定のテストパターンで露光量とフォーカス値とをそれぞれ変化させて逐次露光し、現像して、前記複数の部位にレジストパターンを形成する（ステップ1〜5）。 - 特許庁

It has chiseled mark like straw matt on its head, there are fan shape frame above and under the Kiri-mon (paulownia patterns), hallmark of 'Ichiryo' on upper part of the center and of Mitsutsugu (Kao ［written seal mark］) on lower part, Kao (written seal mark) on the center of the tail, test hallmark of Kobanshi (a Koban master) on the right or left part of lower part, and test hallmark of Fukisyo (in where Koban were casted). 例文帳に追加

表面には鏨（たがね）による茣蓙目が刻まれ、上下に桐紋を囲む扇枠、中央上部に「壹两」下部に「光次（花押）」の極印、裏面は中央に花押、下部の右ないし左端に小判師の験極印、さらに吹所の験極印が打印されている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

In addition, the pressurizing member 100 is arranged so that a prescribed gap is formed between the pressurizing surface 103a and regions A1 and A2 on which test patterns are formed on the transporting surface 73a of the transporting belt 73.例文帳に追加

そして、押圧部材１００は、押圧面１０３ａと搬送ベルト７３の搬送面７３ａのうちテストパターンが形成される領域Ａ１，Ａ２との間に所定の隙間が形成されるように、配されている。 - 特許庁

An interval (width of a plating resist 32) W1 to W6, between the test terminals in each group and the wiring patterns 12a in the other group adjacent thereto, is set to decrease, in this order.例文帳に追加

各グループ内のテスト端子Ｔａ〜Ｔｆと他の隣接するグループ内の配線パターン１２ａとの間の間隔（めっきレジスト３２の幅）Ｗ１〜Ｗ６は、この順に減少するように設定される。 - 特許庁

The apparatus includes a prober assembly that is movable relative to the large area substrate and/or the contact points, and can be configured to test various patterns of displays and contact points on various large-area substrates.例文帳に追加

装置は、大面積基板及び／又は接触点に相対して移動可能なプローバアセンブリを含み、多様な大面積基板上の様々なパターンのディスプレイと接触点を検査するように構成し得る。 - 特許庁

The toner quantities on the individual test patterns of a monochromatic color, a secondary color and a ternary color being held on the intermediate transfer body 18 are detected with a density sensor 25 by changing image forming conditions such as laser power, developing bias values or the like.例文帳に追加

レーザパワー、現像バイアス値等の画像形成条件を可変させて中間転写体１８上に保持された単色、二次色、三次色のテストパターンのトナー量を濃度センサ２５で検出する。 - 特許庁

Accordingly, by applying electric voltage to the first test pattern, and analyzing the difference between resistance in cases with and without metal failure in the metal patterns, a form or a size of the metal failure is detected.例文帳に追加

これにより、前記第１テストパターンに電圧を印加して、前記金属パターンの金属フェイルがない場合とある場合との抵抗差異を分析して、金属フェイルの形態やサイズを検出することができる。 - 特許庁

A limited pulse width is thereby determined from a record of a limited number of test patterns and an image processing, and the process load and expended hours relating to an inspection process are reduced more than ever before.例文帳に追加

これにより、限られた数のテストパターンの記録と画像処理から限界パルス幅を判定することが可能となり、検査工程に係る工程負荷や消費時間を従来よりも抑えることが出来る。 - 特許庁

For example, the pattern generator PG schedules the order of the test patterns for each of the plurality of DUTs 1 so as to reduce a total variation in operating currents I_OP that flow through the plurality of DUTs 1.例文帳に追加

たとえばパターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１に流れる動作電流Ｉ_ＯＰの合計の変動が小さくなるように、複数のＤＵＴ１ごとのテストパターンの順序をスケジューリングする。 - 特許庁

To provide a scan path design method for detecting the failure of the whole semiconductor integrated circuit in a short period of time with less test patterns, in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of functional macros.例文帳に追加

複数の機能マクロを装備する半導体集積回路において、より少ないテストパターンで短時間に半導体集積回路全体の故障検出が可能なスキャンパスの設計方法を得ること。 - 特許庁

A feature point detection section 6 refers to the test patterns S_PTN1 to S_PTN4 and detects an event that fluctuates a power supply voltage V_DD of a power supply terminal P1.例文帳に追加

特徴点検出部６は、パターン発生器ＡＬＰＧが発生するテストパターンＳ_ＰＴＮ１〜Ｓ_ＰＴＮ４を参照し、電源端子Ｐ１の電源電圧Ｖ_ＤＤに変動を発生させるイベントを検出する。 - 特許庁

Also, the test circuit 20 includes a plurality of vias and contacts to be tested denoted by a symbol 3 and a plurality of wiring patterns, denoted by a symbol 5, formed by sequentially electrically connecting the vias and the contacts in series.例文帳に追加

又該テスト回路２０は、テスト対象になる符号３の複数のビアやコンタクトを含み、又これらを電気的に直列に順次接続した符号５で示す複数の配線パターンを含む。 - 特許庁

To provide a testing method and testing device of precisely and efficiently performing a test even to a board having patterns aligned with high density, and a manufacturing method of electro-optical device.例文帳に追加

高密度に配列されたパターンを有する基板に対しても高精度且つ効率的に検査を行うことのできる検査方法及び検査装置並びに電気光学装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

A program memory section 24 is prepared in a pattern generator generating testing patterns and one of a plurality of memory sections prepared in the semiconductor testing device to memorize test conditions of DUT.例文帳に追加

プログラムメモリ部２４は、試験パターンを生成するパターンジェネレータに設けられており、ＤＵＴの試験条件を記憶するために半導体試験装置に複数設けられているメモリ部等の１つである。 - 特許庁

The recording wavelengths of reference and signal lights generated by a laser light source 12 to output a plurality of test recording wavelengths λt at adjacent cycles λa are shifted to record interference patterns.例文帳に追加

隣接周期λａを隔てた複数の試験記録波長λｔが出力されるようレーザ光源１２が生成する参照光と信号光の記録波長をシフトさせて、干渉パターンを記録する。 - 特許庁

The virtual ALPG transmission type semiconductor test device has virtual ALPG function and real ALPG memory test function, in which a virtual ALPG operated on a hardware simulator and a real ALPG attained on hardware have the function of generating pattern at the same time by interpreting a test program although the real time is differed from each other and generate test patterns for a DUT designated by the program with a designated content at a designated speed.例文帳に追加

仮想ＡＬＰＧ機能と実ＡＬＰＧメモリテスト機能を具備し、ハードウェアシミュレータ上で動作する仮想ＡＬＰＧとハードウェアで実現する実ＡＬＰＧが、実時間は異なるが、テストプログラムを解釈し、プログラムの指定するＤＵＴに対するテストパターンを指定された内容で、指定された速度で発生して、仮想ＡＬＰＧと実ＡＬＰＧが同タイミングでパターンを発生する機能を有する仮想ＡＬＰＧ透過型半導体テスト装置とする。 - 特許庁

A printer 100 comprises a section 21 for detecting a state change at each section, a section 23 storing the image data of a plurality of test patterns, and a section 22 for selecting the image data of a test pattern corresponding to a state change detected at the state detecting section 21 among the image data for generating a test pattern stored at the data storage section 23.例文帳に追加

プリンタ１００は、各部位における状態変化を検出する状態検出部２１と、複数のテストパターンの画像データを記憶しているデータ記憶部２２と、データ記憶部２２に記憶されているテストパターン作成用の画像データの中から状態検出部２１によって検出された状態変化に対応したテストパターンの画像データを選択する選択部２２とを備える。 - 特許庁

A means 44 is provided for comparing a fatal region pattern 34 which is generated from design data for forming a wiring pattern and shows necessary indispensable regions corresponding to the center of the wiring pattern with an inspected pattern obtained from wiring patterns on an object under test, thereby detecting the defect from the non-coincidence of both patterns.例文帳に追加

配線パターンを形成するための設計データから生成され前記配線パターンの中心部に対応する必要不可欠な領域を示す致命領域パターンと、前記被検査物上の配線パターンから得た検査パターンとを比較して、両パターンの不一致により欠陥を検出する比較手段４４を有する。 - 特許庁

The image forming apparatus provides test patterns 410, 400 and 420 comprising two band-like patterns formed to use two developing devices corresponding to toner colors (magenta and yellow) in which a toner residual amount out of the four developing devices is a prescribed value or less (end state) on a center, a right end, and a left end of the status sheet SS2.例文帳に追加

ステータスシートＳＳ２の中央部、左端部、右端部には、４つの現像器のうち、トナー残量が所定値以下（エンド状態）となっているトナー色（マゼンタ、イエローに対応する２つの現像器を使用して形成された２本の帯状パターンからなるテストパターン４１０，４００，４２０が設けられる。 - 特許庁

The image forming position for a measurement color is corrected based on the first judgement result of the judging means when issuing the test command (when detecting the position of a pattern) in addition to the positional deviation of patterns 93 and 95 to a reference position.例文帳に追加

そして、基準位置に対するパターン９３，９５の位置ずれ量に加えて、テスト指令時（パターンの位置の検出時）における判断手段の第１判断結果に基づき測定色の画像形成位置を補正する。 - 特許庁

To provide an experimental game board unit which achieves designing by trial and error procedures for executing a flow-down test of a game ball while diversely changing arrangement patterns or the like of game nails by using an experimental game board.例文帳に追加

一台の試作用遊技盤を用いて遊技釘の配置パターン等を種々変更しながら遊技球の流下試験を行う試行錯誤的な手順による設計を可能とする試作用遊技盤ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a loading test device capable of realizing all assumptive loading patterns by making it possible to act various loads on a foundation or a sample body as its model of a structure such as a bridge, a building or the like.例文帳に追加

橋梁や建築物等の構造物の基礎やその模型である供試体に、さまざな荷重を作用可能にして、想定し得るすべての載荷パターンを実現することができる載荷試験装置を提供すること。 - 特許庁

Then, a sense electric current is applied to each of the plurality of test patterns TEG, the resistance values are measured for the second MR elements 22 of different heights h, and a correlation function between these resistance values and the heights h is determined.例文帳に追加

そして、この複数のテストパターンＴＥＧにそれぞれセンス電流Ｉが印加されて、ハイトｈの異なる第２ＭＲ素子２２の抵抗値Ｒが測定され、抵抗値Ｒとハイトｈとの相関関数が求められる。 - 特許庁

To provide a logic simulation device for semiconductor integrated circuit capable of performing a simulation with a high verification ratio by facilitating the preparation of test patterns rich in variation and facilitating the confirmation of a logic simulation result.例文帳に追加

バリエーションに富むテストパターン作成を容易化するとともに、論理シミュレーション結果の確認をも容易化して、検証率の高いシミュレーションを行うことが可能な半導体集積回路の論理シミュレーション装置を得る。 - 特許庁

A test pattern for detecting a density variation amount (reflected light variation amount) of an image in one rotation cycle of the electric motor for rotating or moving an image carrier is formed while changing a motor control constant, and the density variation amounts of the respective test patterns are compared, whereby the appropriate motor control constant is set.例文帳に追加

像担持体を回転或いは移動させる為の電動モータ１回転周期の画像の濃度変動量（反射光変動量）を検出するためのテストパターンを、モータ制御定数を変化させながら形成し、各テストパターンの濃度変動量を比較することで、適切なモータの制御定数を設定する。 - 特許庁

A prescribed test pattern is inputted with reference to previously generated test data for an LSI 105 to the LSI 105, which is provided with both a plurality of shift registers 200 and an indeterminate mask device 220 for masking output of a shift register 200 to be masked, on the basis of randomly generated mask patterns and control signals.例文帳に追加

複数のシフトレジスタ２００と、ランダムに生成したマスクパターンと制御信号とに基づいて、マスク対象となったシフトレジスタ２００の出力をマスクする不定マスク器２２０と、を備えたＬＳＩ１０５に、あらかじめ作成したＬＳＩ１０５用のテストデータを参照して、所定のテストパターンを入力する。 - 特許庁

Since the test sequence and the testing patterns are stored in the nonvolatile memory 16 of the display device 10, this eliminates the need for cumbersome and extensive tasks of preparing testing devices respectively corresponding to the models of the display device and the test sequence and the testing pattern which are respectively suitable for the models of the display device and storing them in the testing devices, respectively.例文帳に追加

これにより、表示装置１０の不揮発性メモリ１６に検査シーケンスおよび検査用パターンが格納されているため、モデルごとに検査装置を準備し、モデルに合わせた検査シーケンスおよび検査用パターンをそれぞれの検査装置に格納するという煩雑で大掛かりな作業が不要となる。 - 特許庁

This is because of the following reasons: In an ultraviolet region with a wavelength of 400 nm or less, the difference in reflectivity between a white ground and printed portions of the C, M, and Y colors becomes large, and concentration difference occurs among a plurality of patterns included in the test pattern.例文帳に追加

これは、波長４００ｎｍ以下の紫外域では、ＣＭＹ各色において白下地と印字部分との反射率差が大きくなり、テストパターンに含まれる複数のパターン間で濃度差が発生するためである。 - 特許庁