「wire probe」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

GUIDE WIRE PROBE FOR ENDOSCOPE, GUIDE WIRE PROBE SET, AND ULTRASONIC ENDOSCOPE例文帳に追加

内視鏡用ガイドワイヤプローブ、ガイドワイヤプローブセット、及び超音波内視鏡 - 特許庁

JIG FOR WIRE PROBE, AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ワイヤープローブ用治具並びに検査装置 - 特許庁

RHENIUM-TUNGSTEN WIRE, PROBE PIN AND INSPECTION INSTRUMENT PROVIDED WITH THE PROBE PIN例文帳に追加

レニウムタングステン線、プローブピンおよびそれを具備する検査装置 - 特許庁

WIRE PROBE DEVICE FOR SUBSTRATE AND IC TESTER例文帳に追加

基板・ＩＣ用検査機のワイヤープローブ装置 - 特許庁

This probe unit is equipped with a substrate and the conducting wire.例文帳に追加

プローブユニットは、基板と、導線とを備える。 - 特許庁

CONTACT PROBE WITH LEAD WIRE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

リード線付きコンタクトプローブおよびその製造方法 - 特許庁

PROBE AND WIRE INSERTION DETECTION JIG UTILIZING IT例文帳に追加

プローブ及びこれを利用した電線挿入検知治具 - 特許庁

VARIABLE PITCH TEST FIXTURE AND PITCH CONVERSION FIXTURE USING WIRE PROBE例文帳に追加

ワイヤプローブを用いたピッチ可変検査治具及びピッチ変換治具 - 特許庁

PROBE CONTACT TERMINAL OF LEAD WIRE IN PRINTED CIRCUIT BOARD INSPECTION JIG例文帳に追加

プリント配線板検査治具におけるリード線のプローブ接触端子 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a probe unit with a hardly separable fine lead wire, and the probe unit.例文帳に追加

導線が剥離しにくく導線が微細なプローブユニットの製造方法及びプローブユニットを提供する。 - 特許庁

PROBE CONTACT TERMINAL OF COVERED LEAD WIRE IN PRINTED WIRING BOARD INSPECTION JIG例文帳に追加

プリント配線板検査治具における被覆リード線のプローブ接触端子 - 特許庁

To facilitate alignment of a probe to a wire of a device to be inspected.例文帳に追加

被検査装置の配線に対するプローブの位置合わせを容易にする。 - 特許庁

A single tilted hot wire current meter probe 10 with a hot wire tilted against a rotary shaft A is used.例文帳に追加

熱線が回転軸Ａに対し傾斜した単一傾斜熱線流速計プローブ１０を用いる。 - 特許庁

JIG FOR WIRE PROBE, AND INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

ワイヤープローブ用治具並びにこれを用いた検査装置並びに検査方法 - 特許庁

ANTENNA COIL FOR NMR PROBE, AND WIRE ROD AND NMR SYSTEM USED FOR IT例文帳に追加

ＮＭＲプローブ用アンテナコイルとそれに使用する線材及びＮＭＲシステム - 特許庁

In this probe unit having the probe pin, a lead wire, and the support base board, the probe pin is directly connected to the surface of the support base board.例文帳に追加

プローブピンと、引き出し用配線と、支持基板とを備えたプローブユニットであって、支持基板の表面にプローブピンが直接接合されているプローブユニット。 - 特許庁

To provide a measuring probe capable of reducing greatly a contact resistance between a measuring signal wire and the probe.例文帳に追加

測定用信号線とプローブとの間の接触抵抗を極めて小さいものにできる測定用プローブを提供する。 - 特許庁

ANTENNA COIL FOR NMR PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, LOW MAGNETISM SUPERCONDUCTING WIRE FOR NMR PROBE ANTENNA COIL, AND NMR SYSTEM例文帳に追加

ＮＭＲプローブ用アンテナコイルとその製造方法、ＮＭＲプローブアンテナコイル用低磁性超電導線材及びＮＭＲシステム - 特許庁

The tip parts of the probe elements are arranged at least in a line for every group of probe elements, and each distributing wire stretches to the inside of a corresponding probe region from the tip part of a corresponding probe element.例文帳に追加

プローブ要素の先端部はプローブ要素群毎に少なくとも一列に配列されており、各配線は対応するプローブ要素の先端部から対応するプローブ領域の内側へ伸びている。 - 特許庁

Assembly slabs 1 shown in Fig. are worked into a wire rod through hot rolling to manufacture a wire rod for a probe needle.例文帳に追加

図１に示すような組立スラブ１を熱間圧延を経て線材に加工することでプローブ針用線材を製造する。 - 特許庁

RHENIUM TUNGSTEN WIRE, PROBE PIN USING IT, CHARGING WIRE FOR CORONA DISCHARGE AND FILAMENT FOR FLUORESCENT CHARACTER TUBE, AND THEIR MANUFACTURING METHODS例文帳に追加

レニウムタングステン線、それを用いたプローブピン、コロナ放電用チャージワイヤ、蛍光表示管用フィラメントおよびその製造方法 - 特許庁

To provide a wire type probe that can obtain an arbitrary elastic pressure-welded force to a circuit terminal regardless of the bending deformation characteristics of a wire, at the same time can reduce wire length and resistance, and is obtained by improving a wire probe for preventing wire materials from being deteriorated.例文帳に追加

ワイヤの曲げ変形特性によらずに、回路端子に対する任意の弾性圧接力を得ることができるとともに、ワイヤの長さを短くして、抵抗値を低くすることができ、かつワイヤの材料の劣化が生じにくいワイヤプローブの改良としてのワイヤ型プローブを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card surely supporting wire probes and facilitating the replacement and assembling thereof.例文帳に追加

ワイヤープローブを確実に支持し、その交換、組み立てが容易なプローブカードを提供する。 - 特許庁

To improve a bare-wire structured probe made of a palladium alloy for a probe card and a bare-wire structured probe, made of a beryllium-copper alloy for a probe card, so that they can be applied to a probe card used for inspecting an IC chip having minute electrode intervals of 100 μm, for example.例文帳に追加

パラジウム合金よりなる裸線構造のプローブカード用プローブとベリリウム銅合金よりなる裸線構造のプローブカード用プローブとを改善することにより、電極間のピッチ寸法が例えば１００μｍというような微小ピッチを持つＩＣチップの検査を行うプローブカードに適用することができること。 - 特許庁

The probe 2 includes a probe body 21, an insulating coating part 22 for coating at least one part of an outer circumferential part of the probe body 21, and a conductive wire rod 23 inserted into the probe body 21.例文帳に追加

このプローブ２は、プローブ本体２１と、プローブ本体２１の外周部の少なくとも一部を被覆する絶縁性の被覆部２２と、プローブ本体２１内に挿入される導電性の線材２３とを備えている。 - 特許庁

A probe is flexible and includes two or more sensors consisting of single coils of very fine wire wound around the backbone of the probe.例文帳に追加

プローブは、可撓性であってよく、プローブのバックボーンに巻き付けられた非常に細いワイヤのシングルコイルから成る複数のセンサを有する。 - 特許庁

To provide a magnese diboride superconducting wire rod for signal reception which can realize each magnetic resonance equipment excellent in analytic sensitivity, a probe coil using the wire rod, and a method for manufacturing the probe coil.例文帳に追加

分析感度に優れる各磁気共鳴装置が実現できる信号受信用の二ホウ化マグネシウム超電導線材とそれを用いたプローブコイル及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To make one means cover both the functions of a means for mounting an abrasion probe to the back plate of a frictional member with a retainer attached thereto, and a means for fixing an insulating lead wire to the probe body of the probe.例文帳に追加

摩耗検出子を摩擦部材の裏板に抜け止めして取り付ける手段と、検出子のプローブ本体に絶縁導線を止着する手段とを１つの手段でまかなう。 - 特許庁

The probe body is provided with a wire winding part 19 winding the proximal end side of the wire and a release mechanism releasing the magnet attached to the distal end of the wire.例文帳に追加

プローブ本体には、ワイヤの基端側を巻き取るワイヤ巻取部１９と、ワイヤの先端に取り付けられた磁石を放出する放出機構とが設けられている。 - 特許庁

This probe P is held in a through hole 112 in a probe holder 110, and is composed of a metal wire rod 200.例文帳に追加

本発明に係るプローブＰは、プローブホルダー１１０の貫通孔１１２内に保持されるものであって、金属の線材２００から構成される。 - 特許庁

To simply inspect breaking of wire and a short-circuit of a wiring pattern, without bringing a probe into contact with a land.例文帳に追加

プローブをランドに接触させずに、配線パターンの断線や短絡を簡便に検査する。 - 特許庁

To provide a probe unit capable of preventing damage to an electrode as a specimen and short circuit of a wire.例文帳に追加

検体の電極の損傷と、導線のショートとを防止できるプローブユニットを提供する。 - 特許庁

The individual control time slot can include, e.g. a timing probe and order wire information.例文帳に追加

個別制御タイムスロット（３０２）は、例えばタイミングプローブおよびオーダワイヤ情報を含むことができる。 - 特許庁

The probe antenna is constituted using a wire, on which a superconductor layer with a thickness of hundreds of nm to several μm, is formed on the surface of the metal wire.例文帳に追加

金属線の表面に数百ｎｍ〜数μｍの厚さの超電導層を形成した線材を用いてプローブアンテナを構成する。 - 特許庁

An oscilloscope 2 brings a probe 4 into contact with a wire as a target of a measured printed board 1, and a signal waveform b in the wire is observed.例文帳に追加

オシロスコープ２は被測定プリント板１のターゲットとなる配線にプローブ４を接触させ、該配線での信号波形ｂを観測する。 - 特許庁

An insulation pipe 50 is inserted in a through hole 32d perforated in the outlying GND block 32, in which a core wire 34c and a probe 52 are inserted and one end of the probe 52 is contacted with the core wire 34c.例文帳に追加

外郭ＧＮＤブロック３２に穿設した貫通孔３２ｄに絶縁パイプ５０を挿入し、これに芯線３４ｃとプローブ５２を挿入して、芯線３４ｃにプローブ５２の一端を当接させる。 - 特許庁

The probe 5 is mounted at a probe jig 8 in a direction perpendicular to the piping 1, and the jig 8 is connected to a turning towing wire 12 and moved to a measuring point by operating the wire 12.例文帳に追加

探触子５は被測定配管１と直角方向に探触子治具８に取付けられ、探触子治具８は旋回用牽引ワイヤ12に接続し、このワイヤ12の操作により測定点まで移動する。 - 特許庁

Separation of the probe 37 region from the wire bond 38 region prevents the final metal layer pad 16 from being damaged by the probe testing, thereby achieving more reliable wire bonds.例文帳に追加

プローブ３７領域をワイヤボンド３８領域から分離することで、最終金属層パッド１６がプローブ検査によって損傷を受けることが防止され、より信頼性の高いワイヤボンドが可能となる。 - 特許庁

A flat head 12 as a probe contact terminal and a dish-shaped neck section 13 are formed at an end of the lead wire 11 adjacent to a probe 15 by press working.例文帳に追加

リード線１１のプローブ１５の隣接端部に、プレス加工によって、プローブ接触端子としてのフラットヘッド１２とともに、皿形のネック部１３を形成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, easy in wire bonding process and provided with a pad layout capable of narrowing a pitch between probe contacting regions where a probe needle is planted.例文帳に追加

ワイヤボンディング処理が容易であり、プローブ針立てが行われるプローブ接触領域の狭ピッチ化が可能なパッドレイアウトを有する半導体装置を提供する。 - 特許庁

A probe neighboring end portion of the covered lead wire 11 is pressed in an axial direction from an end, thereby forming a flange head type probe contact terminal 12a.例文帳に追加

被覆リード線１１のプローブ隣接端部を端から軸方向にプレスすることにより、フランジヘッド状のプローブ接触端子１２ａを形成する。 - 特許庁

This detecting and clamping device of the magnetic body indwelling device is provided with the detecting magnet 11, a probe body 10 projectably/retractably storing the magnet, and a wire 12 connecting the magnet to the probe body.例文帳に追加

探知用の磁石１１と、磁石を出没自在に収納するプローブ本体１０と、磁石とプローブ本体とを連結するワイヤ１２を備える。 - 特許庁

The wire bonding device has probe pins (16) for inspection, wherein front ends (17) of the probe pins are brought into contact with connecting sections (11) electrically connected to the connection pads (3).例文帳に追加

ワイヤボンディング装置は、接続パッド（３）と電気的に連結された連結部（１１）に、先端（１７）を接触させる検査用のプローブピン（１６）を有する。 - 特許庁

To provide a LSI testing probe and an IO pad that can implement a LSI probe test without making scratches that can be a cause of wire bonding failures.例文帳に追加

ワイヤボンディング不良の原因となる傷を生じることなくＬＳＩをプローブ検査できるＬＳＩ検査用プローブおよびＩＯパッドを提供する。 - 特許庁

This probe unit is equipped with a connection cable part for connecting electrically a probe assembly to an external device, and the connection cable part is equipped with a short circuit part for connecting electrically each wire of an FPC cable to each probe side of the probe assembly.例文帳に追加

プローブユニットは、プローブ組立体と外部装置とを電気的に接続する接続ケーブル部を備え、この接続ケーブル部は、ＦＰＣケーブルの各配線を前記プローブ組立体の各探針側に電気的に接続する短絡部とを備えている。 - 特許庁