プログラマブル表示器の試験を実施する際に、試験関連処理による動作タイミングへの影響によって試験シナリオのタイミング設定が難しいと共に、試験時間が長くなる。例文帳に追加

To solve the problem that the timing setting of a test scenario is difficult due to any effect on an operation timing due to test relevant processing, and that a test time becomes long in performing the test of a programmable display unit. - 特許庁

遠心力式又は軸流式圧縮機の動作特性試験における試験精度の向上と試験時間の削減を図った圧縮機性能試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a compressor performance testing device to serve for an operating characteristics test of a centrifugal or an axial flow type compressor capable of enhancing the testing accuracy and decreasing the test time. - 特許庁

被試験ＩＣに印加する試験パターンの印加周期を漸次短くなる方向に変化させ動作可能な最短周期を測定し、被試験ＩＣの応答特性を測定する試験を短時間に実行できるようにする。例文帳に追加

To execute in a short time a test for measuring a response characteristic of an IC to be tested by measuring the operable shortest period by changing the application period of a test pattern applied to the IC to be tested, so as to be gradually shortened. - 特許庁

回路面積を増大させることなく、動作試験時間の短縮を図り得る試験回路を備えた半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device provided with a test circuit in which a performance test time can be shortened without increasing a circuit area. - 特許庁

搬送動作が単純で信頼性が高く、更には長時間に渡る低温試験を行うことができる、自動温度衝撃試験システムを得る。例文帳に追加

To provide an automatic temperature impact test system having simple conveyance operation and high reliability, capable of performing a low-temperature test for a long period. - 特許庁

誤動作を引き起こすこと無くテスト時間を短縮するＬＳＩ試験装置、ＬＳＩ試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and method for LSI test to reduce a test time without causing malfunction. - 特許庁

整流器型限流遮断装置の動作試験を、専用の試験場を用意したりすることなく、簡単かつ短時間に行えるようにする。例文帳に追加

To perform operational test for a rectifier type current-limiting interruptor simply and in a short time without preparing for a dedicated testing place. - 特許庁

汎用ソフトウェア導入後のサーバーの動作確認の際に必要な試験項目書の作成方法について、試験時間が限られている場合であっても、重要な試験項目を抽出するシステムを提供する。例文帳に追加

To provide a system for extracting significant test items even when test time is limited in a method for creating a test item document necessary in confirming operation of a server after introducing general-purpose software. - 特許庁

本発明は、試験装置に関し、例えば論理回路の動作の試験に適用して、パターンメモリの試験に要する時間を従来に比して格段的に短くすることができるようにする。例文帳に追加

To unprecedentedly drastically shorten time for a test of a pattern memory for, for example, a performance test of a logic circuit using a tester. - 特許庁

ＩＣの動作電圧検定試験における制御の流れを改善し、テスト時間の短縮が図れるＩＣ試験装置及びＩＣ試験方法、半導体装置の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide an IC tester, an IC testing method and a production method of semiconductors which can shorten the testing time by improving the flow of the control in the certification test of the operation voltages of ICs. - 特許庁

電源ノイズに対応して効率良く、短い試験時間で、被検査回路の回路マージンに最適な動作率で試験を行うことを可能とし、信頼性の高い試験を実現する。例文帳に追加

To achieve a highly reliable test by enabling to test at the most suitable operating ratio to a circuit margin of an circuit to be tested with an excellent efficiency against an electric power source noise in a short testing period of time. - 特許庁

マイクロプロセッサを用いて単位時間内にマイクロプログラムによる所定処理を行なう実時間処理装置に対し、実時間処理装置の稼動中に試験対象の所定処理が単位時間内で動作可能かどうか正確に判断するマイクロプロセッサの動作試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an operation testing device for a microprocessor accurately judging whether or not the prescribed processing of a test object can be operated within unit time during the operation of a real time processor for the real time processor performing the prescribed processing by a microprogram within the unit time by using the microprocessor. - 特許庁

負荷効果の高い試験プログラムと負荷プログラムを最良な組み合わせを自動的に決定して高負荷による長時間負荷試験を行って短時間で信頼性の高い接続機構の動作検証を可能とする。例文帳に追加

To verify, in a short time, the operation of a connection mechanism with high reliability by automatically determining the best combination of a test program with a load program with high load effects and performing a long time load test under high load. - 特許庁

携帯電話のデータ通信モード、音声通信モード間の通信モードの切替の動作確認を行なう音声疎通試験結果判定時に、動作確認の試験時間の短縮、試験品質の均一化、確認機器の網羅性の向上を図る。例文帳に追加

To shorten the time required for performing operation confirming tests, to make the qualities of the tests uniform, and to improve the comprehensiveness of confirming equipment when discriminating the results of speech understanding tests, which are performed for confirming the communication mode switching operation between the data communication mode and audio communication mode of a portable telephone. - 特許庁

通常のアクセス動作時における低消費電流動作を維持しながら、試験時において、試験時間を短縮することが可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法を提供すること例文帳に追加

To provide a semiconductor memory device and a control method of a semiconductor memory device by which a testing time can be shortened at the time of a test, while keeping low current consumption operation at the time of normal access operation. - 特許庁

自火報受信機側にて作業員が長い時間その表示を監視し続けることなく、正確に差動型感知器の作動確認を行うことのできる差動型感知器の動作試験方法及び動作試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a differential sensor operation testing method and device capable of accurately checking the operation of a differential sensor without demanding an operator to continuously monitor a display on the receiver side of an automatic fire alarm. - 特許庁

単位ブロックの入出力特性が持つ不連続点の前後のみを選んで動作試験ができるようにし、動作試験時間を短縮して生産性の向上を図るようにしたパイプライン型Ａ／Ｄコンバータの提供。例文帳に追加

To provide a pipeline A/D converter, which can conduct operation tests by selection of only before and after a discontinuity point, which input/ output characteristics of a unit block have, and reduce an operation test time for improvement in productivity. - 特許庁

従って、従来例のように個々の火災感知器１０の設置場所で１台ずつ試験を行う必要がなく、火災感知器１０の動作試験を遠隔から一斉に行うことができて試験に要する時間及び手間を大幅に減らすことができる。例文帳に追加

Thus, a test does not need to be performed to each of the alarms at an installation place of the respective fire alarms 10 as it used to be, the operation tests of the fire alarms 10 can simultaneously be performed from the remote place, and time and labor needed for the tests can largely be reduced. - 特許庁

パワーオフ後に適切な待ち時間でリレーオフ動作を実行することにより、正確な測定が可能な半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device for testing semiconductor, capable of performing accurate measurement by executing relay-off operation with appropriate waiting time, after switching off the power. - 特許庁

動作試験用配線の遅延時間差を正確に測定することができる半導体集積回路を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit capable of measuring correctly delay time differences in the wiring for performance tests. - 特許庁

ロングライト時に動作不良が発生するセルを短時間に検出することができる半導体記憶装置及びその試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory and its test method which can detect a cell in which operation defect occur at the time of long-write in a short time. - 特許庁

これにより動作試験開始から積分器４０の出力模擬信号が目盛設定値に達するまでの時間を一定にさせる。例文帳に追加

Thus, the time from the start of the operation test upto reach to the scale set value of the output simulation signal of the integrator 40 is made constant. - 特許庁

半導体試験装置のシーケンス制御回路において、アクセス時間の速いメモリや高速素子を用いることなく高速動作を可能にする。例文帳に追加

To realize a high speed operation without using any memory whose access time is fast or any high speed element in the sequence control circuit of a semiconductor testing device. - 特許庁

制御手段１ａは、正常動作モードを設定し、計時手段１ｂに切替え時間を設定してプロトコル試験を開始する。例文帳に追加

A control means 1a sets a normal operation mode and sets a switching time to a time count means 1b to start a protocol test. - 特許庁

フラッシュメモリのトリミング動作を高速化し、短時間に済ませることができる半導体デバイス試験装置を提案する。例文帳に追加

To provide a test device for a semiconductor device which can test in a short time by increasing operation speed of trimming operation of a flash memory. - 特許庁

半導体集積回路の動作試験における作業者の作業負担の軽減化および作業時間の短縮化を図ること。例文帳に追加

To reduce a workload and working hours of an operator required to perform an operation test on a semiconductor integrated circuit. - 特許庁

テスタコントローラが、複数の試験モジュールの同期動作を制御すると、テスタコントローラにおける処理時間が生じてしまい、好ましくない。例文帳に追加

To solve the undesirable problem that processing time occurs in a tester controller when the tester controller controls synchronous operation of a plurality of test modules. - 特許庁

試験用の回路を追加することによる遅延時間の増加を抑えて、より高速に動作するスキャン用フリップフロップを提供する。例文帳に追加

To provide a scanning flip-flop which operates at a higher speed by suppressing the increase in delay times by adding a test circuit. - 特許庁

動作確認試験で用いた作動油を内部から短時間で確実に除去することができるサーボ弁の洗浄方法を提供する。例文帳に追加

To provide a washing method for a servo valve capable of surely removing the hydraulic oil used in an operation verification test from the inside thereof in a short time. - 特許庁

これにより、超高速で動作するデバイスであっても、入力された試験信号に対する遅延時間を測定することが可能となる。例文帳に追加

Thus, even in the case of a device operating at a very high speed, a delay time to an input test signal can be measured. - 特許庁

テストパターンの内容、あるいは回路規模によらず、動作試験が短時間且つ高効率で行える半導体装置の実現。例文帳に追加

To obtain a semiconductor device performance test of which can be carried out in a short time with high efficiency regardless of the content of a test pattern or the circuit scale. - 特許庁

従来のプログラムに比べて動作時間を短縮可能とする半導体試験用プログラムの前処理方法および当該前処理方法を実行するコンパイラを備える半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a preprocessing method for a semiconductor test program capable of shortening operation time as compared to a conventional program, and a semiconductor testing device equipped with a compiler for executing the preprocessing method. - 特許庁

複数のブロックで構成される半導体記憶装置において、ワード線多重選択試験の試験時間を短縮し、かつ安定した動作を可能とする半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory in which a test time of a word line multiple selection test is shortened and stable operation can be performed, in a semiconductor memory constituted of a plurality of blocks. - 特許庁

半導体集積回路内の記憶素子に読み出し動作の信号が送られてから、記憶素子から出力されたデータがレジスタに格納されるまでの時間を調整可能な組み込み自己試験回路及び試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a built-in self-testing circuit and testing method capable of adjusting a period of time from sending a read operation signal to storage elements in a semiconductor integrated circuit till storing data outputted from the storage elements in a register. - 特許庁

そして、試験サーバが送信したデータの無音区間と、折り返し受信した試験パターンの無音時間とを比較し、その結果をもとにＴＧＷの音声符号化／再生動作の正常性を確認する。例文帳に追加

Then the silent zone of data sent from the test server is compared with the by-return received silent time of the test pattern to identify the normality of the sound encoding/the reproducing operation of the TGW based on the comparison result. - 特許庁

音声伝送装置が備えるＣＯＤＥＣパッケージの個数が多くても、短時間で動作試験を終えることができる試験回路を備えた音声伝送装置を提供する。例文帳に追加

To provide a voice transmitter provided with a test circuit that can complete an operation test in a short time even when the voice transmitter has many codec packages. - 特許庁

これにより、音声伝送装置１４の設置時に行なう、内部動作試験等を一斉に実施することができ、試験にかかる時間を短縮することができる。例文帳に追加

Thus, internal operation tests or the like conducted at installation of the voice transmitter 14 are simultaneously executed so as to reduce time required for the tests. - 特許庁

簡易な構成で微少電流測定モードとそれ以外の動作電流測定モード等の電気的特性試験の時間を極めて短くして効率的な試験を可能にする。例文帳に追加

To enable efficient tests by extremely shortening electrical characteristic testing time of a micro current measuring mode and other operating current measuring modes, etc., in a simple constitution. - 特許庁

本発明は、製造段階において容易で確実な動作試験が行えると共に、試験時間を短縮することができるデータドライバ及びそれを用いた表示装置を提供する。例文帳に追加

To provide a data driver whose operating test can be performed easily and surely at a manufacturing stage and also whose testing time can be shortened and a display device in which the driver is used. - 特許庁

計器用変成器の２次回路に設けられた試験対象の保護継電器の単独及び連動の動作試験が、プラグ挿入とスイッチ切換えとにより、簡単にかつ短時間に行えるようにする。例文帳に追加

To perform single and interlocked operation test of a protective relay as the target of test provided in the secondary circuit of a transformer for a meter, simply and besides in a short time, by plug insertion and changeover by switch. - 特許庁

動作試験のための複雑な接続が不要であって試験時間の短縮が可能であり、装置構成を簡略化することができる受信機を提供すること。例文帳に追加

To provide a receiver capable of eliminating the necessity of complicated connection for an operation test, reducing a test time, and simplifying a device configuration. - 特許庁

本発明は、試験装置に関し、例えば基準信号を各種分周比で分周して得られる各種動作基準の信号で動作する集積回路の試験装置に適用して、周波数を測定する信号が複数存在する場合でも、簡易かつ短い時間で測定することができるようにする。例文帳に追加

To allow a testing apparatus to perform measurement easily and quickly even if there are a plurality of signals for measuring a frequency by applying to the testing apparatus of an integrated circuit that is operated by the signal of each kind of operation reference obtained by dividing for example a reference signal by each kind of dividing ratio. - 特許庁

特に、低温試験時における電子部品の結露を防止しつつ、電子部品の吸着ミス防止や吸着解除動作時間の短縮を図ることができる経済的な電子部品試験装置および電子部品吸着装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an economical electronic component tester and an electronic component vacuum chucking apparatus which avoids failing in vacuum chucking of electronic components and reduces the vacuum chuck release time while preventing the electronic components from dewing in low temperature tests. - 特許庁

カウンタ部１４は、被試験メモリ２０の自動プログラム機能による書き込み動作が開始されてからパターン発生部１１でパイプライン処理に要する時間分だけ時間を計時する。例文帳に追加

A counter section 14 counts a period required for executing the pipeline process in the pattern generating section 11 after the automatic program function of a memory under test 20 starts a write operation. - 特許庁