比較的に簡単な構成によってプリント基板のテストを容易に行なうことができるプリント基板用テスト端子及びプリント基板テスト方法を提供する。例文帳に追加

To easily test a printed circuit board by relatively simple constitution. - 特許庁

インターネット上での自動発音比較方法を用いた外国語発音学習及び口頭テスト方法例文帳に追加

FOREIGN LANGUAGE-PRONUNCIATIONTION LEARNING AND ORAL TESTING METHOD USING AUTOMATIC PRONUNCIATION COMPARING METHOD ON INTERNET - 特許庁

比較的わずかなハードウエア−費用で確実な識別及び真性テストを可能にする、有価証券を認識し又はテストする方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for realizing certain identification and a true test at comparatively less hardware cost and for recognizing or testing securities. - 特許庁

比較回路の故障検出が可能な二重化回路、半導体装置およびテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide a duplex circuit which is capable of detecting a failure in a comparator circuit, a semiconductor device and a test method. - 特許庁

テストデータをメモリに書き込んで読み出すことでメモリを試験するメモリ試験方法において、クロックに同期して順次読み出されるデータのうち、連続して読み出される２つのデータのうち一方を期待データとして他方と比較する比較ステップと、比較ステップで得られる比較結果に基づいてメモリの不良を判定する判定ステップとを含むように構成する。例文帳に追加

The method for testing a memory by writing and reading test date in and from the memory comprises a comparing step of comparing one of two data continuously read of data sequentially read in synchronization with a clock with another as expected data, and a decision step of deciding a fault of the memory based on a comparison result obtained by the comparison step. - 特許庁

アナログ・デジタル変換に必要な比較の回数を減らすことによりテスト時間を大幅に短縮するＡ／Ｄコンバータテスト方式および方法を提供する。例文帳に追加

To provide A/D converter test system and method for substantially shortening test time by reducing the number of times of comparison required for analog/digital conversion. - 特許庁

この検査方法では、チップのＲＯＭ領域に書き込んだウェハテストの検査データと、選別テストの検査データとを比較することで、パッケージングによるチップの特性劣化を検査することが可能になる。例文帳に追加

In this inspecting method, by comparing the inspection data in the wafer test written in the ROM areas of the chips with the inspection data in the screening test, it is possible to inspect the characteristic degradation of the chips due to packaging. - 特許庁

メモリセルアレイに貯蔵されたデータをメモリ装置の内部に貯蔵されたテストデータまたはテストデータの反転データと比較してメモリ装置の不良を検出するメモリ装置及びこの装置の並列ビットテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide a memory device in which data stored in a memory cell array are compared with test data stored in the memory device or inverted data of the test data to detect defect of the memory device and to provide a parallel bit test method of the memory device. - 特許庁

テストパターンを有する被試験対象物を複数個まとめてテストするバーンインテスト方法において、バーンインの間、少なくとも２以上の該被試験対象物を同時に指定し、当該被試験対象部品から該テストパターンを読み出し、該バーンイン後に読み出したテストパターンと、期待値パターンとの比較を行うよう、構成する。例文帳に追加

In this burn-in test method for collectively testing two or more objects to be tested having test patterns, at least two objects to be tested are simultaneously designated during burn in, the test patterns are read from the parts to be tested, and the test patterns read after the burn in are compared with an expectation value pattern. - 特許庁

周波数比較回路を少ない素子数で構成できるようにすると共に、第１、第２の信号（例えば、ＮＣＬＫ信号およびＭＣＬＫ信号）の周波数が一致しているか否かを正しく判定できるようにした周波数比較回路、ＰＬＬ周波数シンセサイザテスト回路及びそのテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide a frequency comparator circuit, PLL frequency synthesizer test circuit, and its test method capable of composing the frequency comparison circuit of a small number of elements, judging precisely whether or not frequencies of a first and a second signals (for example, an NCLK signal and an MCLK signal) coincide. - 特許庁

（ⅱ）市場リスク計測手法を採用するに当たっては、テスト・データにより他の計測手法で算出した結果と比較・検討した上で、採用を決定しているか。例文帳に追加

(ii) When employing market risk measurement technique, does the institution make the selection after weighing its calculation results against the outcomes obtained through the use of other techniques by using test data?発音を聞く  - 金融庁

verbose を指定しない場合やNone を指定した場合、コマンドラインスイッチ -v を使った場合にのみverbose 出力を適用します。 オプションのキーワード引数optionflags を使うと、テストランナが予想出力と実際の出力を比較する方法や、テストの失敗を表示する方法を制御できます。例文帳に追加

If verbose is unspecified, or None, thenverbose output is used iff the command-line switch -vis used .The optional keyword argument optionflags can be used to control how the test runner compares expected output to actual output, and how it displays failures. - Python

微小で狭ピッチの端子を有していても、比較的低コストのプローブテスト技術を用いることのできる半導体装置及び回路検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device and a circuit inspection method capable of employing a relatively low-cost probe test technique even when it has fine narrow pitch terminals. - 特許庁

不良ブロックアドレスを、従来技術に比較して少ない記憶容量で記憶することができる不揮発性半導体記憶装置とその自己テスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide a nonvolatile semiconductor memory device which can store a defective block address with a smaller memory capacity compared with a conventional technology, and its self-test method. - 特許庁

比較的わずかなテスト及び修復、修理コストのもとでメモリセルの保持時間に関して、半導体メモリのできるだけ高い品質を達成することを可能にする半導体メモリの回路装置及び方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a circuit device of a semiconductor memory and a method in which quality of a semiconductor memory being as high as possible can be achieved for a holding time of a memory cell with comparatively slight test, restoration, and repair cost. - 特許庁

テスト方法は、異なる特定の周波数および軸で比較的大きな動的位置決め誤差を恣意的に注入しながら装置を数回動作させること（５０４）を含む。例文帳に追加

A test method includes operating a lithographic apparatus several times while deliberately imposing a relatively large dynamic positioning error at different specific frequencies and axes (504). - 特許庁

例えばバウムテストのような投影法の心理検査において、被検者に受け入れられやすい温かみのあるコメント文を、比較的迅速かつ再現性高く提供する。例文帳に追加

To enable a psychological test of a projection method such as a Baumtest to provide a warm comment sentence to be easily accepted by a subject with high comparatively quickly and highly reproducibly to the subject. - 特許庁

そして、プログラムの修正前後のテスト結果を比較して一致しない場合、不適切な修正箇所を調査して他の修正方法により再修正し、その結果を表示する。例文帳に追加

When being noncoincident by comparing the test results before and after correcting the program, an improper correction place is investigated and corrected again by the other correction method, and its result is displayed. - 特許庁

記録されたテストパターンの特徴を、比較的簡易な構成で且つ性能の高い状態で検出できるような記録媒体判別方法を提供する。例文帳に追加

To provide a recording medium judging method which can detect the characteristics of a recorded test pattern by a comparatively simple constitution and under a high performance state. - 特許庁

このような半導体装置製造方法によれば、その不良セルが比較的に少ないと推測されるときに、比較的厳しい制約条件を選択することができ、その結果、このような半導体装置製造方法によれば、その複数の救済方法をより高速に算出することができ、テストの時間を短縮することができる。例文帳に追加

In the semiconductor device manufacturing method, a comparatively strict constraint condition can be selected when a comparatively small number of defective cells is estimated, and as a result, the plurality of repair methods can be calculated at a high speed in the semiconductor device manufacturing method, and the test time can be shortened. - 特許庁

これにより、装置間の同期を取るためのタスク間通信の必要がなくなり、従来の試験方法と比較して、１テストサイクル中のタスク間通信の時間を大幅に減少させることができるので、単位時間あたりのデータ転送量が増加し、ネットワークに高い負荷を与えることができる。例文帳に追加

Thus, inter-task communication to synchronize devices is not needed any more, and because the time of the inter-task communication for one test cycle can drastically be reduced compared with the conventional testing method, data transfer quantity per unit time is increased and a high load can be given to the network. - 特許庁

ＤＶＤのディスクのような外形寸法に対し比較的軽い質量が規格化され、外形寸法に対して規格を満たすことのできない比重の材料を用いてディスクを形成したとしても、質量の規格を満足し、更に物理的あるいは電気的変動の少ない特性の安定したテストディスクの供給を可能にすることを目的とする。例文帳に追加

To enable the supply of a test disk which satisfies the standard of mass and has stable characteristics decreased in physical or electrical fluctuations even if the disk is formed by using material which is standardized in the mass relatively lighter with respect to the overall size like the disk of a DVD and has the specific gravity failing to satisfy the standard with respect to the overall size. - 特許庁