例文 (999件) |
マスクするの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 20473件
残留する第1のマスクパターン及び第2のマスクパターンをエッチングマスクとして用い、ハードマスクパターンを形成する。例文帳に追加
The hard mask pattern is formed using the left first mask pattern and second mask pattern as an etching mask. - 特許庁
さらに、複数のマスクを保持するマスクテーブルを備え、そのマスクテーブル上にマスクを走査方向とほぼ垂直な方向に並べて配置する。例文帳に追加
Further, a mask table for holding a plurality of masks is provided, on which masks are arranged side-by-side in a direction substantially perpendicular to a scan direction. - 特許庁
また、マスクステージ1がマスクMを密着保持するマスクホルダ16を有すると共に、このマスクホルダ16がマスクMに対する密着面であってマスクMのエッジ部に対応する位置に凹部16cを有している。例文帳に追加
The mask stage 1 includes a mask holder 16 that adherently holds the mask M, and the mask holder 16 has a recessed part 16c on the adhering face with the mask M, at a position corresponding to an edge of the mask M. - 特許庁
nplanes 1iプレーンマスクの配列に返されるプレーンマスクの数を指定する。例文帳に追加
nplanes Specifies the number of plane masks that are to be returned in the plane masks array. - XFree86
両面にパターンを有するフォトマスクの作製方法およびフォトマスク例文帳に追加
METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK HAVING PATTERNS ON BOTH SURFACES THEREOF, AND THE PHOTOMASK - 特許庁
フォトマスク及びフォトマスクの透過率補正方法を提供する。例文帳に追加
To provide a photomask and a method of correcting the transmissivity of a photomask. - 特許庁
高精度にてマスクパターンが形成されたフォトマスクを提供する。例文帳に追加
To provide a photomask formed with mask patterns with high accuracy. - 特許庁
自己マスク層を有するフォトマスクとそのエッチング方法例文帳に追加
PHOTOMASK HAVING SELF-MASKING LAYER AND METHOD OF ETCHING THE SAME - 特許庁
露光用マスク保護液、および導電性を有する露光用マスク例文帳に追加
MASK PROTECTING LIQUID FOR EXPOSURE AND MASK FOR EXPOSURE HAVING CONDUCTIVITY - 特許庁
フォトマスクのマスクパターンの露光位置精度を向上する。例文帳に追加
To improve the exposure position accuracy of a mask pattern of a photomask. - 特許庁
シャドウマスク及びシャドウマスクを有するカラー受像管例文帳に追加
SHADOW MASK AND COLOR PICTURE TUBE WITH SHADOW MASK - 特許庁
ラインタイプパターン間をマスク膜で覆ってマスク膜を平坦化する。例文帳に追加
A mask film is flattened by covering a gap between line-type patterns with the mask. - 特許庁
ブランクマスク、フォトマスク及びその製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a blank mask, a photomask and a method for manufacturing the same. - 特許庁
ベベル部上の第1のマスクを覆うように第2のマスクを形成する。例文帳に追加
A second mask is formed so as to cover the first mask over a bevel part. - 特許庁
メタルマスク10は、メタルマスク8よりも厚く形成する。例文帳に追加
The metal mask 10 is formed so as to be thicker than the metal mask 8. - 特許庁
マスクステージが、ウエハからある間隔を隔ててマスクを保持する。例文帳に追加
A mask stage holds a mask by having a certain spacing from the wafer. - 特許庁
位相シフトマスクを製作するための方法および位相シフトマスク例文帳に追加
METHOD FOR FABRICATING PHASE SHIFT MASK, AND PHASE SHIFT MASK - 特許庁
アンマスク処理部は、マスク付暗号文から暗号文を生成する。例文帳に追加
An unmask processing part generates an encrypted text from the encrypted text with a mask. - 特許庁
マスクをアースに電気的に接続するためのシステム、マスク例文帳に追加
SYSTEM FOR ELECTRICALLY CONNECTING MASK TO EARTH AND MASK - 特許庁
マスクエリアに合致した不定形マスクを短時間で作成する。例文帳に追加
To prepare an undefined mask matched with a masking area in a short time. - 特許庁
マスク設計装置によるマスクの設計を短期に行うことを可能にする。例文帳に追加
To design a mask in a short time by a mask design device. - 特許庁
保湿性を有するマスク用布およびそれを用いた衛生マスク例文帳に追加
FABRIC FOR MASK HAVING MOISTURE RETENTIVITY, AND HYGIENIC MASK USING IT - 特許庁
最後に、犠牲マスクを除去して、スペーサマスクのみとする。例文帳に追加
Finally, the sacrificial mask is removed to provide only the spacer mask. - 特許庁
マスクパターンをエッチングマスクとして第3の層をエッチングする。例文帳に追加
The third layer is etched using the mask pattern as an etching mask. - 特許庁
マスクの形成コストを低減し得るマスク形成方法を提供する。例文帳に追加
To provide a mask forming method which can reduce a mask forming cost. - 特許庁
そして、保持部22がマスクの傾斜に合わせてマスクを保持する。例文帳に追加
The holding part 22 holds the mask to an inclination of the mask. - 特許庁
マスク2を搭載するハンドリングアームを有するマスク搬送装置により、マスク収納部40aに収納されていたマスク2をマスク位置決め部40bへ移動し、マスク位置決め部40bで位置決めされたマスク2をマスクホルダへ搬送する。例文帳に追加
A mask conveyance device having handling arms to which the mask 2 is loaded moves the mask 2 stored by the mask storing part 40a to the mask positioning part 40b, and conveys the mask 2 positioned at the mask positioning part 40b to a mask holder. - 特許庁
パターン精度の高いフォトマスクを製造できるフォトマスクブランク及びフォトマスクブランク用ガラス基板及びフォトマスクを提供する。例文帳に追加
To provide a photomask blank and a glass substrate for photomask blank capable of producing a photomask having high pattern precision, and the photomask. - 特許庁
今後のFPD用大型マスクブランク及びマスクの高品質化の障害を抑制したマスクブランク及びフォトマスクを提供する。例文帳に追加
To provide a mask blank and a photomask reducing obstacles to higher quality of a large-sized mask blank and mask for future FPD. - 特許庁
各々デュアルマスク層とエッチングマスク層とを含むように第1マスク構造物及び第2マスク構造物を形成する。例文帳に追加
The first mask structure and the second mask structure are formed so as to include a dual mask layer and an etching mask layer, respectively. - 特許庁
薄化したシリコンマスクの強度を向上させることにより、マスクの大型化が実現可能なマスク、マスクの製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a mask capable of being made large in size by improving the strength of a silicon mask, which is made thin in thickness, and to provide a method of manufacturing the mask. - 特許庁
マスク処理部66は、第1パルス信号S1を、第1マスク信号Smsk1、第2マスク信号Smsk2を利用してマスクする。例文帳に追加
A mask processing section 66 masks the first pulse signal S1 by using the first mask signal Smsk1 and the second mask signal Smsk2. - 特許庁
縮小された第2のマスクパターンをエッチングマスクとして、第1のマスク膜をエッチングすることにより、第1のマスクパターン(14)を残す。例文帳に追加
A first mask pattern (14) is left by etching the first mask film using the reduced second mask pattern as an etching mask. - 特許庁
マスク処理部230はログファイル101内の各ログレコードをマスクデータ103でマスクしてマスクログファイル104を生成する。例文帳に追加
A mask processing part 230 masks each log record in a log file 101 with the mask data 103 to generate a mask log file 104. - 特許庁
第1のマスク及び第2のマスクを用いて、膜構造をエッチングした後、残留した第1のマスク及び第2のマスクを除去する。例文帳に追加
After removing the film structure by etching, the remaining first and second masks are removed. - 特許庁
固定マスク101と移動マスク102を重ねた状態で保持するマスク保持部200をマスク装置1に設ける。例文帳に追加
A mask holding part 200 for laminating and holding a fixing mask 101 and a moving mask 102 is provided to a mask device 1. - 特許庁
ガラスマスクとマスクホルダの位置合わせ高精度に行うことができるガラスマスクとマスクホルダの位置合わせ装置を提供する。例文帳に追加
To provide an aligning device for a glass mask and a mask holder, which accurately aligns a glass mask with a mask holder. - 特許庁
マスク交換ロボットを用い、マスク装着部60aとマスク収容部62との間で所定のマスク30を移動するように構成されている。例文帳に追加
The equipment is so constituted as to move the prescribed masks 30 between the mask mounting section 60a and the mask housing section 62 by using a mask exchange robot. - 特許庁
マスクフレーム11をマスクフレーム保持体29に保持し、マスクフレーム保持体29に保持したマスクフレーム11を搬送方向Fに搬送する。例文帳に追加
The mask frame 11 is held to a mask frame holder 29, and the mask frame 11 held to the mask frame holder 29 is carried in a carrying direction F. - 特許庁
マスクデータ制御部は、マスク生成命令に応じて、マスク生成命令比較結果選択指示とマスクレジスタ更新指示とを出力する。例文帳に追加
A mask control part outputs a mask generation instruction comparison result selection instruction and a mask register update instruction in response to a mask generation instruction. - 特許庁
マスクをマスク保持手段に取り付ける際、マスクの一方の端がマスク保持手段に挟まれて傷ついたり破損したりすることを防ぎ、マスク保持手段に対してマスク全体を均一に押さえ付けられるようにする。例文帳に追加
To press the whole mask uniformly against a mask holding means while preventing one end of the mask from being clamped and damaged by a mask holding means when the mask is fitted to the mask holding means. - 特許庁
複数のマスク2を収納するマスクストッカー40に、複数のマスク受け42によりマスク2の縁を支持してマスク2を収納する複数のマスク収納部40aと、複数のマスク受け42によりマスク2の縁を支持しながら、複数のマスク位置決め装置50a,50bによりマスク2の位置決めを行うマスク位置決め部40bとを設ける。例文帳に追加
A mask stoker 40 storing multiple masks 2 comprises: multiple mask storing parts 40a, each of which supports edges of a mask 2 by multiple mask receivers 42 to store the mask 2; and a mask positioning part 40b, which positions the mask 2 by multiple mask positioning units 50a and 50b, while supporting edges of the mask 2 by the multiple mask receivers 42. - 特許庁
1つのマスクに対して取得されたマスク歪み分布は、そのマスクとマスク材質及びマスク構造が同じマスクである場合には、そのまま利用することが可能である。例文帳に追加
The mask distortion distribution obtained for one mask can be used as it is for a mask having the same mask material and mask structure with the mask. - 特許庁
マスクセレクタは、マスクレジスタ更新指示に応じて、マスク生成命令比較結果選択結果をマスクデータとしてマスクレジスタに書き込む(マスクレジスタを更新する)。例文帳に追加
A mask selector writes a mask generation instruction comparison result selection result in a mask register as mask data (updates the mask register) in response to a mask register update instruction. - 特許庁
マスクストッカー内でマスク受けに支持されたマスクに位置ずれが発生しても、マスクストッカーからマスクホルダへ搬送されたマスクの位置ずれを小さくする。例文帳に追加
To provide a mask conveyance method of a proximity exposure apparatus with which a displacement of a mask conveyed from a mask stocker to a mask holder can be made small even when the displacement occurs at the mask supported by a mask receiver in the mask stocker. - 特許庁
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