「透明欠陥」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

透明板の欠陥検出方法およびその装置例文帳に追加

DEFECT DETECTION METHOD OF TRANSPARENT PLATE AND ITS APPARATUS - 特許庁

透明材料中の欠陥の検出方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECTS IN TRANSPARENT MATERIAL - 特許庁

透明ガスバリアフィルムの欠陥検出方法例文帳に追加

DEFECT DETECTION METHOD OF TRANSPARENT GAS BARRIER FILM - 特許庁

透明板の欠陥検出方法およびその装置例文帳に追加

METHOD FOR DETECTING DEFECT IN TRANSPARENT PLATE AND ITS APPARATUS - 特許庁

透明フィルム検査装置及び欠陥検出方法例文帳に追加

TRANSPARENT FILM INSPECTION DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD - 特許庁

透明板の欠陥検出方法及びその装置例文帳に追加

DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE OF TRANSPARENT PLATE - 特許庁

透明樹脂フィルムの表面欠陥の検査方法例文帳に追加

INSPECTION METHOD OF SURFACE DEFECT OF TRANSPARENT RESIN FILM - 特許庁

板状透明体もしくは板状反射体の微小欠陥検査装置および微小欠陥検査方法例文帳に追加

INSPECTION DEVICE FOR MICRO-FLAW OF SHEET TRANSPARENT MATERIAL OR SHEET REFLECTING MATERIAL AND MICROFLAW INSPECTION METHOD - 特許庁

透明層の欠陥検査方法、熱転写シートの欠陥検査方法、及び熱転写シート例文帳に追加

METHOD OF INSPECTING DEFECTS IN TRANSPARENT LAYER, METHOD OF INSPECTING DEFECTS IN THERMAL TRANSFER SHEET, AND THERMAL TRANSFER SHEET - 特許庁

テストマスクをウェハーへ転写し、各種欠陥の保証欠陥寸法と決定し、欠陥検査装置にて、テストマスクにより半透明欠陥に対する欠陥検査装置の検出感度調整する。例文帳に追加

The patterns of the test mask are transferred onto a wafer; the certified defect dimension of each kind of defects is determined; and the detection sensitivity of the defect inspection apparatus, with respect to a semitransparent defect, is controlled by using the test mask in the defect inspecting apparatus. - 特許庁

これにより、フォトマスクの不透明欠陥を精度よく修理しうる。例文帳に追加

The opaque defective part of the photomask is removed precisely. - 特許庁

透明な平板状製品の欠陥を容易に検査する。例文帳に追加

To provide an inspection device capable of easily inspecting defects of a transparent plate product. - 特許庁

透明板状体の印刷欠陥および／または印刷汚れの検査方法例文帳に追加

METHOD FOR INSPECTING PRINTING DEFECT AND/OR PRINTING CONTAMINATION OF TRANSPARENT PLATE BODY - 特許庁

透明板状体の印刷欠陥および／または印刷汚れの検査方法例文帳に追加

METHOD FOR INSPECTING PRINT DEFECT AND/OR PRINT CONTAMINATION OF TRANSPARENT PLATE-LIKE BODY - 特許庁

透明な大型平板状製品の欠陥を容易に検査する。例文帳に追加

To readily inspect defects in a transparent large-sized flat product. - 特許庁

シート状透明体の凹凸を主とした欠陥検査方法例文帳に追加

DEFECT INSPECTION METHOD MAINLY CONCERNED WITH UNEVENNESS OF SHEET-LIKE TRANSPARENT BODY - 特許庁

透明材料中の欠陥の形状及び位置の計測方法例文帳に追加

METHOD OF MEASURING SHAPE AND POSITION OF DEFECT IN TRANSPARENT MATERIAL - 特許庁

板厚の大きい透明な基板の欠陥の検査において、基板の周辺部のノイズの影響を無くし、欠陥の検出精度を向上させる。例文帳に追加

To improve a detection precision of defects by eliminating the influence of noise at the peripheral section of a substrate in an inspection of defects in the transparent substrate have a large plate thickness. - 特許庁

例えばガラス玉などの球状透明体表面の欠陥を、その欠陥の形状によらず正確に検出する。例文帳に追加

To accurately detect the defect of the surface of a spherical transparent body, such as a glass ball, regardless of the shape of the defect. - 特許庁

複数の種類の欠陥について欠陥の有無を判定することができる透明体検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a transparent body inspection device for determining whether any defect exists as to various types of defects. - 特許庁

シート状透明体の欠陥検査方法において、凹凸を主とした形状欠陥を確実に検出する光学的検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an optical inspection method of a sheet-like transparent body which can detect surely a shape defect mainly concerned with unevenness. - 特許庁

透明フィルムに存在する種々の気泡や異物などの欠陥を識別でき、検査できる欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a detect inspection device which can identify and inspect various defects, such as bubbles and foreign substances present in a transparent film. - 特許庁

光学的手段による欠陥検査装置により出力された欠陥位置データに基づいてＳＥＭを用いて該欠陥を観察する場合において、該欠陥が光学的に透明な膜の下に存在する場合でも、欠陥画像の取得を行えるようにする。例文帳に追加

To obtain a defective image even when a defect is present under an optically transparent film, in the case where the defect is observed by using an SEM based on defect position data outputted from a defect inspection device by an optical means. - 特許庁

透明プラスチック基材に透明無機酸化物蒸着層を積層した透明ガスバリアフィルムの欠陥箇所を、正確に、簡便且つ迅速に確認し、評価することができる欠陥検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect detection method, capable of precisely, easily, and quickly confirming and evaluating a defective part of a transparent gas barrier film, having a transparent inorganic oxide evaporation layer laminated on a transparent plastic base member. - 特許庁

透明な粒状被検査物に含まれる黒色と白色の欠陥を両方とも確実に検出する。例文帳に追加

To surely detect both of black defects and white defects included in transparent granular tested objects. - 特許庁

透明な粒状被検査物に含まれる黒色の欠陥を確実に検出する。例文帳に追加

To surely detect a black defect included in transparent granular objects to be tested. - 特許庁

連続的に移動する透明材料のストリップの欠陥を検出するための方法と装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECTS IN CONTINUOUSLY MOVING STRIP OF TRANSPARENT MATERIAL - 特許庁

透明材料中に存在する欠陥の検出方法及び検出装置を提供する例文帳に追加

To provide a detection method and a detection device for defects existing in a transparent material. - 特許庁

透明体における様々な欠陥を検出することができる構造簡単な検出装置を提供する。例文帳に追加

To provide a detection device having a simple structure, capable of detecting various defects of a transparent body. - 特許庁

検査対象物が透明であっても欠陥を確実に且つ高速に検出する。例文帳に追加

To certainly detect a flaw at a high speed even if an inspection target is transparent. - 特許庁

透明材料中に存在する欠陥の検出方法及び検出装置を提供する例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for detecting defects present in a transparent material. - 特許庁

基板全体の画像を取得する必要がなく、透明導電体パターンの欠陥個所を短時間で検出できる導電体パターンの欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and device for inspecting a conductor pattern that dispense with acquisition of the whole substrate image, capable of detecting a defective spot on the transparent conductor pattern in a short time. - 特許庁

フォトマスク（マスク）の表面に透明粒子が散布されても、粒状物による影響なく、マスクの欠陥を正確に検出できる欠陥検査方法及び欠陥検査装置。例文帳に追加

To provide a defect inspection method and a defect inspection device capable of accurately detecting defects of a mask, without being influenced by particulate matters, even if transparent particles are scattered on the surface of a photomask (mask). - 特許庁

透明体シート状物表面に発生した曲率変化の小さな凹凸状欠陥を、最も鮮明な明暗像になる状態で結像させることにより、欠陥を漏れなく検出し、信頼性の高い欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a highly reliable defect inspection device detecting defects without omission by forming, in a clear contrast image, an image of a rugged defect with small curvature changes formed on a transparent body sheet-like material surface. - 特許庁

透明基材または透明基材に形成されたカラーフィルタの表面に成膜された透明導電膜からなる透明導電性電極または透明導電性配線パターンに存在する黒欠陥の修正方法であって、黒欠陥の近傍に配置した放電電極と透明導電膜の間に高電圧を印加し、黒欠陥部に火花放電を当て、その後の洗浄によって黒欠陥を除去することを特徴とする黒欠陥修正方法。例文帳に追加

The method of correcting a black defect generated in a transparent conductive electrode or a transparent conductive wiring pattern comprising the transparent conductive film deposited on a surface of a transparent substrate or a color filter formed in the transparent substrate, includes applying a high voltage between a discharge electrode and the transparent conductive film disposed in the vicinity of the black defect, applying a spark discharge to the black defect, and then removing the black defect by cleaning. - 特許庁

事前蝕刻段階により欠陥の厚さを薄くした後、光透過部領域内の事前蝕刻された欠陥が形成されている領域を除いた領域にのみ選択的に補正膜を形成した後、補正膜及び事前蝕刻された欠陥を同時に蝕刻して不透明欠陥を修理する。例文帳に追加

The defective part of a photomask is made thin by pre-etching, a correcting film is selectively formed only in a region except the region with the pre-etched defective part in a light transmissive part and then the correcting film and the pre-etched defective part are simultaneously etched to repair the opaque defective part. - 特許庁

透明なウェブ基材上に乾燥後透明となる塗料を塗工する際の塗工欠陥を簡素な構成で検出する。例文帳に追加

To detect coating defects when coating paint which becomes transparent after drying on a transparent web base material by using a device having a simple constitution. - 特許庁

そして、透明シート１０から反射する光を目視で観察して、透明シート１０の欠陥を検査する。例文帳に追加

The light reflected from the transparent sheet 10 is visually observed so as to inspect the defect in the transparent sheet 10. - 特許庁

透明または半透明の物体に生じた欠けやひび割れ等の欠陥を確実に検出することのできるエッジセンサを提供する。例文帳に追加

To provide an edge sensor capable of certainly detecting a defect such as a chip or crack occurring in a transparent or translucent object. - 特許庁

画像処理装置１５は、透明フィルム１１の画像に基づいて、透明フィルム１１の色むらや傷等の欠陥を検査する。例文帳に追加

An image processing device 15 inspects for a defect such as a blur or flaw of the transparent film 11 on the basis of an image of the transparent film 11. - 特許庁

透明導電性膜付きカラーフィルタ基板の欠陥修正方法および透明導電性膜付きカラーフィルタ基板例文帳に追加

METHOD OF CORRECTING DEFECT ON COLOR FILTER SUBSTRATE WITH TRANSPARENT CONDUCTIVE FILM AND COLOR FILTER SUBSTRATE WITH TRANSPARENT CONDUCTIVE FILM - 特許庁

さらに、透明電極層を形成した後に熱処理を施し、バッファ層ないし光吸収層、又は透明電極層の結晶構造中に存在する点欠陥等の欠陥を修復して元の結晶構造に復元する。例文帳に追加

Further, heat treatment is performed after the transparent electrode layer is formed to repair defects such point defects present in the crystal structure of a buffer layer, a light absorbing layer, or the transparent electrode layer for restoration of the original crystal structure. - 特許庁

検査対象となる透明体の内部に欠陥が存在する場合に、その欠陥がどのくらい深い位置に存在しているかを特定できる透明体検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a transparent body inspection device for determining how deep a defect exists in, when the defect exists within a transparent body which is an object to be inspected. - 特許庁

表面に透明薄膜が形成された基板等の試料において、透明薄膜の上面の微小な異物、キズ等の欠陥を高感度且つ高速に検査することができる欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a flaw inspection device capable of inspecting the flaw such as fine foreign matter, a crack, etc. on the upper surface of a transparent thin film at a high speed with high sensitivity in a sample such as a substrate or the like having the transparent thin film formed on its surface. - 特許庁

表面に透明薄膜が形成された基板等の試料において、透明薄膜の上面の微小な異物、キズ等の欠陥を高感度且つ高速に検査することができる欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a flaw inspection device capable of inspecting the flaw such as fine foreign matter, a crack, etc. on the upper surface of a transparent thin film at a high speed with high sensitivity in a sample such as a substrate or the like having the transparent thin film formed on its surface. - 特許庁