「透明欠陥」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

透明基板５０１上に形成された電極層５０２の欠陥部５０３に、非導電性材料を含有する液滴５０５を吐出し、欠陥部５０３に入り込んだ液滴の溶媒を加熱蒸発させ、非導電性膜を形成し、欠陥部を充填することを特徴とする。例文帳に追加

A liquid drop 505 containing a non-conductive material is injected in the defective part 503 of the electrode layer 502 that is formed on a transparent substrate 501, and by heating and evaporating the solvent of the liquid drop entered in the defective part 503, the non-conductive membrane is formed, and thereby, the defective part is filled. - 特許庁

透明な層間絶縁膜上の微細パターンおよび同一層の欠陥を感度良く検出する一方、下層のパターンおよび同一層の欠陥をデフォーカスした状態で検出し、本来検査したい工程の欠陥のみを検出可能とすること。例文帳に追加

To make detectable defects in a fine pattern on a transparent layer insulating film and on the same layer with high sensitivity while detecting the defects of a lower layer pattern and the same pattern in the defocused state to detect only the defect of a process to be originally inspected. - 特許庁

この試験試料を沃素ガス中に放置し、前記金属酸化物蒸着層を有する透明ガスバリアフィルムに欠陥個所が存在するとき、この欠陥個所を通して沃素が粘着剤に接触して生じる沃素による発色の濃度差を観察することで、前記欠陥個所の特定を行う。例文帳に追加

The test sample is left, as it is, in iodine gas; and when a defective part exists in the transparent gas barrier film, having the metal oxide evaporation layer, the defective part is specified, by observing density difference in coloring by the iodine generated by the contact of the iodine with the adhesive agent through the defective part. - 特許庁

透明体シート状物の有害な実欠陥と表面に付着した異物との判別を、１つの投光部と２つの受光部から構成された装置によって、比較的単純な検出データの照合で実現し、信頼性の高い欠陥管理を行う欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a flaw inspection device performing flaw control of high reliability, by realizing the discrimination between the harmful actual flaw of a transparent sheet-like article and the foreign matter adhered to the surface of the transparent sheet-like article on the basis of the relatively simple collation of detection data by an apparatus constituted of one floodlight projection part and two light-detecting parts. - 特許庁

搬送中にも欠陥検査が行える搬送検査装置を提供すること、また、搬送対象物が透明材料であっても、非接触状態での搬送中に欠陥検査が行える搬送検査装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a conveyance inspection device capable of performing defect inspection even during conveyance, and performing defect inspection during conveyance in the noncontact state even when a conveyance object is a transparent material. - 特許庁

透明膜３０の屈折率は１よりも大きいから、光学的凹凸の程度（光学距離：ｄ_opt）は欠陥２０の幾何学的な凹凸の程度（ｄ）よりも大きくなり、その分だけ欠陥検出感度が高くなる。例文帳に追加

Since the refractive index of the transparent film 30 is larger than 1, the degree of optical ruggedness (optical distance d_opt) is larger than the degree of geometric ruggedness (d) of a defect 20, and this results in higher defect detection sensitivity. - 特許庁

板厚の大きい透明な基板の欠陥の検査において、基板の周辺環境から検出光学系に入り込む外乱光ノイズの影響を無くし、欠陥の検出精度を向上させる。例文帳に追加

To eliminate influences of disturbance light noise intruding into a detection optical system from a peripheral environment of a transparent substrate with a large thickness upon inspecting a defect in the substrate, and improve detection accuracy of defects. - 特許庁

高価な評価機器や顕微鏡を用いることなく、非破壊にて精度高く透明基板の欠陥を検査することができる欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection device capable of non-destructively and high-accurately inspecting a defect of a transparent substrate without using an expensive evaluation equipment or a microscope. - 特許庁

透明導電膜に存在する黒欠陥を、下地や周辺部位へのダメージ無く修正することが可能な黒欠陥修正方法を提供することが課題である。例文帳に追加

To provide a black defect correction method for correcting a black defect generated in a transparent conductive film without damaging a base and a peripheral region. - 特許庁

透明体シート状物表面に発生した曲率変化の小さな凹凸状欠陥でも漏れなく検出し、低コスト、かつ、省スペースで構成できる信頼性の高い欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a highly reliable defect inspection device for thoroughly detecting even an irregularly-shaped defect of a small curvature change caused on the surface of a transparent sheet-like object and formable at low cost and in a space saving manner. - 特許庁

数種類の透過率を有し、かつ各々の種類の透過率において寸法の異なるパターンを有するテストマスクにより半透明欠陥に対する欠陥検査装置の検出感度調整することを目的とする。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a test mask, having several kinds of transmittances and patterns that have different dimensions at various kind of transmittance, and to provide a method for controlling the detection sensitivity of a defect inspection apparatus that uses the test mask. - 特許庁

半透過反射型の電気光学装置において、ある画素領域内で透明電極と金属反射膜との導通が生じた場合でも、線欠陥や面欠陥となることを防止する。例文帳に追加

To prevent a linear defect and a surface detect in a semitransmissive reflection type optoelectronic device, even if a transparent electrode and a metal reflecting film are electrically connected to each other in some pixel region. - 特許庁

この光線透過部１５を利用して欠陥検査装置３が配設されていることにより、搬送対象物が透明材料であっても、非接触状態での搬送中に欠陥検査が行える搬送検査装置が提供される。例文帳に追加

Since the defect inspection device 3 is disposed by utilizing the beam transmission part 15, the conveyance inspection device capable of performing defect inspection during conveyance in the noncontact state even when the conveyance object is a transparent material is provided. - 特許庁

透明性を有する板状体中の欠陥の、板状体の厚さ方向の位置を測定する際、２台のカメラの位置合わせやキャリブレーションを必要としない、簡易な構成の装置で欠陥の位置を測定する。例文帳に追加

To measure the position of a defect by a device of a simple structure dispensing with the positioning of two cameras or calibration when measuring the thickness-wise position of the defect in a transparent plate-like body. - 特許庁

透明樹脂フィルムのキズ、あるいはその上に透明樹脂層が積層された透明樹脂フィルムの微細な表面欠陥を、片側表面のみ効率よく検出する。例文帳に追加

To allow flaws of a transparent resin film or fine surface defects of a transparent resin film with a transparent resin layer laminated thereon to be efficiently detected on a one-side surface only. - 特許庁

透明シート状の透明フィルム１の画像を撮像するカメラ１２と、撮像された画像を画像処理を行うことにより透明フィルム１の異物１９を検出する画像処理装置１４とを有する欠陥検査装置である。例文帳に追加

This defect inspection device is provided with a camera 12 picking up an image of a transparent sheet film 1 and an image processing device 14 detecting foreign matter 19 of the transparent film 1 by processing the pick-up image. - 特許庁

これにより、製造工程において透明ＥＬパネル２８ａ、２８ｂ、２８ｃに欠陥が発生する率はきわめて小さくなるから、歩留まりが向上する。例文帳に追加

The probability that defects occur on the transparent EL panels 28a, 28b, 28c during a manufacturing process becomes extremely small, and the yield is improved. - 特許庁

大型サイズのガラス板のような透明板状体であっても、安定しかつ正確に、気泡や異物等の欠陥を検出する。例文帳に追加

To stably and correctly detect defects such as air bubbles and foreign substances even if they are included in a transparent plate such as a large-size glass plate. - 特許庁

その結果、透明抵抗体５に微小な領域の欠陥が抵抗ムラが存在する場合でも、電位ムラが鈍り、電位勾配が均一となる。例文帳に追加

As a result, potential variance is reduced to obtain a uniform potential gradient even in the case that resistance variance exists in the transparent resistors 5 due to defects of minute areas. - 特許庁

成形加工時の熱劣化に起因するフィルム欠陥が少なく、優れた透明性を有する光学用フィルムを提供する。例文帳に追加

To provide an optical film with less film defect due to thermal deterioration in molding processing and having excellent transparency. - 特許庁

透明性導電層における欠陥の発生を防止することが可能な半導体装置または液晶表示装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device or a liquid crystal display capable of preventing generation of defects in a transparent conductive layer. - 特許庁

優れた透明性を有し、現像欠陥の極めて少ない感放射線レジスト材料の添加剤用樹脂を製造するための単量体を提供する。例文帳に追加

To provide a monomer for producing a resin for additives of a radiation-sensitive resist material having excellent transparency and very few development defects. - 特許庁

透明性に優れ、欠陥が少なく、使用中に樹脂フィルムから剥がれにくいスイッチ部材とする。例文帳に追加

To provide a switch member that is excellent in transparency, is free of defects and hardly peels off from a resin film during use. - 特許庁

成形加工が容易で、加工時のフィルム欠陥が少なく、優れた透明性を有する光学用フィルムを提供する。例文帳に追加

To provide an optical film that is easy in molding, hardly causes a film defect during processing, and has favorable transparency. - 特許庁

耐熱性、透明性、接着性及び応力緩和性に優れ、且つボイドやクラックといった欠陥のない硬化体を提供する。例文帳に追加

To provide a cured product excellent in heat resistance, transparency, adhesion, and stress relaxation without defects, such as a void and a crack. - 特許庁

斜方検出系と上方検出系の出力によって、試料の表面の透明薄膜上の欠陥を検出する。例文帳に追加

The flaw on the transparent thin film provided on the surface of the sample is detected on the basis of the outputs of the oblique detection system and the upper detection system. - 特許庁

偏光フィルム透明体（試料）の微小な凹凸欠陥を見やすく可視化し、容易にかつ正確に短時間で検査を行う。例文帳に追加

To provide a method for easily and accurately performing inspection in a short period of time by visualizing the minute uneven flaw of a polarization film transparent object (sample) so that it is easy to see. - 特許庁

透明導電性薄膜や下層膜の形状不良を防止して、表示欠陥を抑制できる表示装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a display device capable of preventing defective shapes of a transparent conductive thin film and a lower layer film, and suppressing display defects. - 特許庁

ガラス板等の透明体または鏡面体に生じた欠陥候補の種類を識別できるようにする。例文帳に追加

To make distinguishable the kind of a defective candidate caused on a transparent body or a mirror surface body such as glass plate. - 特許庁

光透過性の透明欠陥を精度良く検出することができるマスク検査装置およびマスク検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a mask inspecting device and a mask inspecting method capable of accurately detecting light-transmissive transparent defects. - 特許庁

斜方検出系と上方検出系の出力によって、試料の表面の透明薄膜上の欠陥を検出する。例文帳に追加

The flaw on the transparent thin film provided on the surface of the sample is detected on the basis of the outputs of the oblique detection system and the upper detection system. - 特許庁

この画像を用い、本来透明な液晶セル基板８の欠陥検査の対象領域を限定してから検査を実行する。例文帳に追加

The inspection is carried out after the objective region for the defect inspection of the intrinsically transparent liquid cell substrate 8 is confined by using the image. - 特許庁

透明性に優れ且つ光学的な欠陥（光学的なムラ等）が少ない光学素子及びその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide an optical element which is superior in the transparency property and having few optical defects (optical unevenness or the like), and to provide a method of manufacturing the same. - 特許庁

試料内部に導入した光を用いて、透明板の欠陥を暗視野で検出できる装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device capable of detecting defects of a transparent plate in dark field, by using the light introduced inside of a sample. - 特許庁

表面に半透明膜を有してなる光透過性基板の表面検査にあたって欠陥種類を高精度に判別する。例文帳に追加

To provide a surface inspection instrument for identifying, with high accuracy, the category of a defect in a light penetrating substrate having a semi transparent film on the surface thereof when the surface inspection is done. - 特許庁

透明導電膜の成膜方法、半導体層の欠陥領域補償方法、光起電力素子、及びその製造方法例文帳に追加

METHOD FOR FORMING TRANSPARENT CONDUCTIVE FILM, METHOD FOR COMPENSATING DEFECTIVE AREA OF SEMICONDUCTOR LAYER, PHOTOVOLTAIC ELEMENT AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR - 特許庁

従来よりも大きな生体親和性透明シートを、反りや割れなどの欠陥を生じさせずに高い成功確率で製造する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for producing a larger biocompatible transparent sheet than a conventional one without causing defects such as warpage, crack, etc., in a high success probability. - 特許庁

種々の欠陥不良を容易に検出する、設置環境を選ばない構造容易な透明パネル検査装置の実現。例文帳に追加

To realize a transparent panel inspection apparatus easily detecting a flaw of various kinds, not selecting installation environment and simple in structure. - 特許庁

物体表面の凹凸や半透明物体内部の気泡を他の欠陥と区別して検出できる外観検査装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a visual examination device capable of discriminating the surface unevenness of translucent matter or the air bubbles in the translucent matter from another flaw to detect the same. - 特許庁

本発明は、透明または半透明の板状体の表面に光を照射し、その反射光を撮像装置によって撮像して得られた画像を用いて画像処理を行うことで欠陥を検出する板状体の欠陥検出方法に係るものである。例文帳に追加

The invention includes the method for detecting the defects on the surface of the plate which irradiates the surface of the transparent or translucent plate with a light, and detects the defects by processing an image obtained by an imager for imaging the reflection light. - 特許庁

欠陥画素電極６ａ、または、異物７に対応する透明部材４の所定箇所に対し、パルス幅が１フェムト秒乃至数千フェムト秒であるフェムト秒レーザ光１１を照射し、透明部材４の所定箇所の透過率を制御することによって、欠陥画素の補正を行う。例文帳に追加

A defective pixel electrode 6a or a prescribed position of a transparent member 4 corresponding to a foreign matter 7 is irradiated with a femtosecond laser beam 11 whose pulse width is one to several thousand femtoseconds to control the transmittance of the prescribed position of the transparent member 4, whereby a defective pixel is corrected. - 特許庁

被検査物体上に透明薄膜でパターンが形成されていて、その透明薄膜の膜厚が被検査物体上の位置によって変化している場合においても、高い検査精度で欠陥を検出できるパターン欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a pattern defect inspection device capable of detecting a defect with high inspection accuracy even when a pattern is formed with a transparent film on an object under inspection and the film thickness of the transparent film is varied according to the position on the object under inspection. - 特許庁

直接接合により貼り合わされた化合物半導体からなる透明基板の貼り合わせ界面のボイド等の欠陥を検出するのに好適な欠陥検出装置、更にチッププロセス終了後のチップ外観検査において該不良部を確実に取り除くことができる欠陥検出システムおよび欠陥検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect detector suitable for detecting a defect, such as a void on the bonded interface of transparent substrates composed of a compound semiconductor, which are bonded directly, and a defect detection system capable of surely removing the defect portion in a chip appearance inspection after chip process completion and a defect detection method. - 特許庁

階調をもつフォトマスクの半透明膜の欠陥修正方法において、現状のフォトマスク欠陥修正装置を用いて微小欠陥を修正することが可能であり、被転写基板上のレジスト残膜量を制御し得る階調をもつフォトマスクの欠陥修正方法およびフォトマスクを提供する。例文帳に追加

To provide a method for modifying a defective part of a photomask having gradation by which a minute defective part can be modified with an existing device for modifying a defective part of a photomask and by which the remaining film amount of resist on a transfer substrate can be controlled, with respect to a method for modifying a defective part of a transluecent film of a photomask having gradation, and to provide a photomask. - 特許庁

本発明は、撮像した画像に振動によるノイズが発生することがなく、自動的に且つ短時間で且つ正確に透明体に付着した異物等の欠陥を検査することが出来る欠陥検査装置及びその欠陥検査装置を用いた欠陥検査方法を提供することを可能にすることを目的としている。例文帳に追加

To provide a device for defect inspection not generating a noise caused by vibration on an imaged image, capable of inspecting a defect such as a foreign matter adhering to a transparent body automatically and accurately in a short time, and also to provide a method for defect inspection using the defect inspection device. - 特許庁