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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 電荷解析に関連した英語例文

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電荷解析の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 27



例文

プラズマディスプレイパネルにおける壁電荷状態の解析方法例文帳に追加

ANALYSIS METHOD OF WALL CHARGE STATUS IN PLASMA DISPLAY PANEL - 特許庁

電荷分布の解析方法、電磁場解析方法、荷電粒子光学系の設計方法、荷電粒子光学系、および荷電粒子線装置例文帳に追加

ANALYZING METHOD OF CHARGE DISTRIBUTION, ANALYZING METHOD OF ELECTROMAGNETIC FIELD, CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM, DESIGNING METHOD FOR IT, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE - 特許庁

CBEDによる構造解析が、結晶中の電荷密度分布の決定に発展させられた。例文帳に追加

Structure analysis by CBED was expanded to the determination of charge-density distribution in crystals.  - 科学技術論文動詞集

次に、前記解析対象の半導体装置の電荷の蓄積状態を観測する。例文帳に追加

Next, a charge accumulation state of the semiconductor device being the analysis target is observed. - 特許庁

例文

荷電粒子線または電磁波が照射された物質における電荷分布およびポテンシャル分布を正確に解析できる電荷分布の解析方法、および、ポテンシャル分布の解析方法、それらを用いた電磁場解析方法、荷電粒子光学系の設計方法、荷電粒子光学系、および荷電粒子線装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an analyzing method of charge distribution as well as analyzing method of potential distribution which accurately analyzes charge distribution and potential distribution at a material to which charged particle beam or electromagnetic wave is projected, and analyzing method of electromagnetic field, charged particle optical system, designing method for it, and charged particle beam device. - 特許庁


例文

Al-rich Al2O3の電荷蓄積層において、Alの組成の関数として電荷蓄積密度を解析し、電荷蓄積密度が最大となるような半導体メモリを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory device, wherein charge storage density becomes max by analyzing the charge storage density as a function of composition of Al, in a charge storage layer of Al-rich Al_2O_3. - 特許庁

放電開始判定基準ならびに放電による移動電荷量算出モデルの見直しを行ない、より現実に近い現象が再現可能な3次元計算モデルを有する放電解析方法、放電解析装置及びこれを応用する電子写真転写プロセス解析装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a discharge analysis method having a three-dimensional calculation model replicating a phenomenon further close to realty by reviewing a discharge start determination criteria and a moving charge amount calculation model by discharge; a discharge analyzer; and an electrophotographic transfer process analyzer using it. - 特許庁

解析対象の半導体装置に対し、第1の照射パターンで、荷電粒子ビームを照射して、電荷を注入する。例文帳に追加

A charged particle beam is irradiated to a semiconductor device being an analysis target by a first irradiation pattern so as to inject charges. - 特許庁

中性子の入射により^10B拡散層10で発生したα線は、pn接合13の空乏層で電子−正孔対16を発生し、その電荷解析回路部に収集され、解析される。例文帳に追加

Upon injection of neutrons, the α rays generated at the ^10B diffusion layer 10 produce an electron-hole pair 16 at a depletion layer of the p-n junction 13, the electric charge of which is then collected to the analysis circuit portion for analysis. - 特許庁

例文

好ましくは、浮遊粒子aについては電荷面602側の領域に属するものとの間での放電現象a2も解析し、浮遊粒子bについては電荷面604側の領域に属するものとの間での放電現象b2も解析する。例文帳に追加

Desirably, a discharge phenomenon a2 between the suspended particles (a) and those belonging to the charge surface 602 side is also analyzed concerning the suspended particles (a), and a discharge phenomenon b2 between the suspended particles (b) and those belonging to the area on the charge surface 604 side is also analyzed concerning the suspended particles (b). - 特許庁

例文

全体制御部は、転写プロセスの解析を行うために、第1電界計算部12、放電判定前処理部13、放電開始判定部14、移動電荷量算出部15、放電電荷配置部16、第2電界計算部17、トナー挙動解析部18を備えて構成されている。例文帳に追加

An overall control part is composed so as analyze a transfer process, by comprising: a first electric field calculation part 12; a discharge determination pre-processing part 13; a discharge start determination part 14; a moving charge amount calculation part 15; a discharge charge arrangement part 16, a second electric field calculation part 17, and a toner behavior analysis part 18. - 特許庁

解析対象ネット1000に蓄積された電荷はプリアンプ3を介して外部に出力される一方で、前段ネット1100に蓄積された電荷は第2のプローブ針2を介して出力され前段ネットから排除される。例文帳に追加

Charges accumulated in the analysis subject net 1000 are output outside via the preamplifier 3, while charges accumulated in the front-stage net 1100 are output via the second probe needle 2 to be eliminated from the front-stage net. - 特許庁

放電電極のサイズが空間電荷の流動域に比べて非常に小さい系において、計算時間を短縮しながら、空間電荷流動の解析を好適に行なう。例文帳に追加

To analyze properly space charge flow, while shortening a calculation time, in a system wherein a discharge electrode size is very small, compared with a flowing area of the space charge. - 特許庁

また、解析領域を放電電極近傍とその外部の周辺領域に分割し、周辺領域のみ電荷流動計算を行ない、その時間ステップを、電荷流動域のセルサイズに基づいて妥当な値に決定する。例文帳に追加

An analysis domain is divided into the periphery of the discharge electrode and its outside peripheral domain, and charge flow calculation only in a peripheral domain is performed, and the time step is determined to be a proper value based on the cell size of a charge flow area. - 特許庁

その際、第1電極上にセットされた試料チップを加熱した状態で第1電極及び該第1電極に対して所定の間隔をおいて相対配置される第2電極間に電圧を印加して第1電極上にセットされた試料チップの試料プローブを(+)電荷に帯電させると共に両者間の解析用試料を(−)電荷に帯電させて解析用試料を試料プローブに誘電吸着させる。例文帳に追加

The sample probe of the sample chip set on the first electrode is electrified to have the positive charge and simultaneously the analytical sample between both electrodes is electrified to have the negative charge, thereby to cause dielectric attraction of the analytical sample to the sample probe. - 特許庁

ゲイン解析部230は、総合的なゲイン値をセンサの画素単位で分析し、分析結果と同等のゲイン分を電子シャッタ制御を用いて電荷蓄積量を画素単位で制御できるように、電荷蓄積時間をRGB画素ごとに演算する。例文帳に追加

The unit 230 analyzes total gain values per pixel of the sensor, and computes an electric charge accumulation time for each RGB pixel so that the electric charge accumulated amount for the gain, equal to the result of analysis can be controlled by using electronic shutter control. - 特許庁

プロセッサ(20)が、電荷収集電極(72)のアレイによって蓄積された光電子の空間的分布を解析することにより、X線フォトン衝突の位置を決定する。例文帳に追加

A processor (20) determines the position of the collision of the X-ray photons, by analyzing the spatial distribution of the photoelectrons accumulated by the array of the charge collection electrodes (72). - 特許庁

この電荷が積分回路4Aにより積分され、その積分値が入力信号に含まれる解析周波数の信号成分7A,7Bとして出力される。例文帳に追加

The electric charge is integrated by an integration circuit 4A, and the integrated value is outputted as signal components 7A, 7B of the analysis frequency which is included in the input signal. - 特許庁

荷電粒子線または電磁波が照射された物質における電荷分布またはポテンシャル分布を解析するに当たり、モンテカルロ法と荷電粒子の拡散方程式を解く方法とを組み合わせて荷電粒子の運動を追跡する。例文帳に追加

When analyzing charge distribution or potential distribution of a material to which charged particle beam or electromagnetic wave is projected, movement of charged particles is tracked by combining a Monte Carlo method and a method for resolving a diffusion equation of charged particles. - 特許庁

自己診断部53は、放射線検出器18を構成する複数の画素が放射線の非検出時に蓄積した信号電荷からなるオフセット画像を放射線検出器18から読み出し、オフセット画像を解析する。例文帳に追加

The self-diagnosis section 53 reads out an offset image that is made of signal charges accumulated by a plurality of pixels composing the radiation detector 18 when radiation is not detected from the radiation detector 18, and analyzes the offset image. - 特許庁

シリコン基板1には、同位体^10Bを含むホウ素が導入された^10B拡散層10を有する中性子検出部、pウェル11とnウェル12とにより形成されるpn接合13を有するα線検出部、並びに、pn接合13に発生する電荷解析を行う解析回路部が、同一チップ上に形成される。例文帳に追加

A silicon substrate 1 is provided on a single chip thereon with a neutron detecting portion having a ^10B diffusion layer 10 which is incorporated with boric acid comprising isotope ^10B, an α ray detecting portion having a p-n junction 13 which consists of a p well and an n well 12, and an analysis circuit portion for analyzing an electric charge generated at the p-n junction 13. - 特許庁

印刷画像の平均濃度変動予測の際には、印刷ジョブ解析結果及びプリンタ情報に基づいて、現像スリーブ214上のトナーの単位量あたりの電荷量と、印刷画像の平均画素値とを計算して、平均濃度変動を計算する。例文帳に追加

In the average density fluctuation prediction of the print image, a charge amount per unit amount of toner on a developing sleeve 214 and an average pixel value of the print image are calculated, based on the print job analysis result and the printer information, to calculate average concentration fluctuation. - 特許庁

短い測定時間で広い質量電荷比範囲のマススペクトルを取得可能な分析と、複雑な分子構造の解析に有用なMS^nスペクトルを取得可能な分析とを、1台の質量分析装置で切り替えて実施できるようにする。例文帳に追加

To switch over and perform an analysis capable of obtaining a mass spectrum of a wide range of mass-to-charge ratio in a short measuring time and an analysis capable of obtaining a MS^n spectrum useful for analysis of a complicated molecule structure by a single mass spectrometer. - 特許庁

集光された散乱光に基づいて光電変換手段6は電荷信号に変換し、画像解析手段7によって各深度における集光領域の粒子数および粒子数濃度、並びに、セル内の粒子群の粒子径分布が測定される。例文帳に追加

The scattered beams of light are converted to a charge signal on the basis of the condensed scattered beams of light by a photoelectric conversion means 6 and the number of particles and concentration of the condensing region at each of depths and the particle diameter distribution of the particle groups in the cell are measured by an image analyzing means 7. - 特許庁

少なくとも結着樹脂、着色剤及び荷電制御剤を含有する静電荷像現像用トナーにおいて、Fe含有量が1.0重量%以下であるニグロシン染料を荷電制御剤として含有し、かつ該トナーの画像解析装置で測定した形状係数SF−1、及びSF−2の値がそれぞれ、150≦SF−1≦170、135≦SF−2≦160であることを特徴とする静電荷像現像用トナー。例文帳に追加

In the electrostatic charge image developing toner consisting essentially of a bonding resin, a colorant and a charge controlling agent, a nigrosine dye having ≤1.0 wt.% Fe content is contained as the charge controlling agent, and the shape factors SF-1 and SF-2 of the toner measured with an image analysis system are 150SF-1170 and 135≤SF-2≤160. - 特許庁

階層化構成部品によるデバイスモデルの構築と、部品の特性値に基づいた2次イオンの起動解析技術、2次元パターンの簡易入力法と数値化およびそれに基づくエラー判定法、核破砕反応から2次イオンによる電荷収集までの途中計算結果の再利用を可能にするカプセル化とカプセル単位の簡略化再計算手法を提供する。例文帳に追加

Construction of a device model by a hierachized component, start analysis technique for secondary ions on the basis of the characteristic values of the component, a simple inputting method and numeralization for a two-dimensional pattern and an error decision method based on them, encapsulation which enables a reuse of midway computation results from nuclear spallation reaction up to charge collection by secondary ions, and a simplified recomputation method for each capsule, are provided. - 特許庁

例文

DNAクランプと協働させた場合に増強された3’→5’エキソヌクレアーゼ活性を有するDNAポリメラーゼ変異体であって、ホモロジー解析によりピロコッカス・フリオサス由来の野生型DNAポリメラーゼのアミノ酸配列の706位のアルギニンに相当すると特定されるアミノ酸が、正電荷を有するアミノ酸以外のアミノ酸に置換されていることを特徴とするDNAポリメラーゼ変異体。例文帳に追加

The DNA polymerase variant has enhanced 3'→5' exonuclease activity in cooperation with a DNA clamp and has an amino acid predetermined to be corresponding to arginine at 706 position of an amino acid sequence of Pyrococcus furiosus-derived wild type DNA polymerase, which is substituted with an amino acid except an amino acid having a positive charge by a homology analysis. - 特許庁

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