「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To reduce the occurrence of alignment defects when using an inorganic alignment film.例文帳に追加

無機配向膜を使用した場合の配向欠陥の発生を低減する。 - 特許庁

To provide a reactor in which defects are minimized in insulation coating of a coil.例文帳に追加

コイルの絶縁被覆における欠陥が抑制されたリアクトルを提供する。 - 特許庁

Inadmissible appeals as well as appeals which do not comply with the legal requirements shall, without further proceedings, be dismissed by the Appeal Division; in the case of defects of form, however, an appeal may be dismissed only after the appellant has failed, on request, to remedy the defects. 例文帳に追加

ただし，様式上の欠陥の場合は，審判請求人が欠陥の修正要求に従わなかったときに限り却下する。 - 特許庁

To suppress effectively generation of pseudo-defects, in defect detection for detecting pattern defects on a sample surface, by inspecting a photographed image on the sample surface.例文帳に追加

試料表面の撮像画像を検査して試料表面のパターンの欠陥を検出する欠陥検出において疑似欠陥の発生を効果的に抑制する。 - 特許庁

The parameters are used to constitute a representation of the defects on the image displayed on the graphic interface and to update the data describing the defects.例文帳に追加

それらはグラフィックス・インタフェース上に表示されている画像上の欠陥の表現を構成するために用いられて、欠陥を記述しているデータを更新する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which can suppress image defects and printing defects, and can also reduce a consumption amount of ink because of empty discharging.例文帳に追加

画像不良や印字不良を抑えるとともに、空吐出によるインクの消費量を低減することができる画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of inspecting defects in photoresist and mending the photoresist to its original state.例文帳に追加

フォトレジストの欠陥を検査および修復する方法が提供される。 - 特許庁

To improve a detection precision of defects by eliminating the influence of noise at the peripheral section of a substrate in an inspection of defects in the transparent substrate have a large plate thickness.例文帳に追加

板厚の大きい透明な基板の欠陥の検査において、基板の周辺部のノイズの影響を無くし、欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing composite semiconductor substrate by which the slipping or dislocations of single-crystal semiconductor layers and the formation of lattice defects, HF defects, etc., in the semiconductor layers can be prevented.例文帳に追加

複合半導体基板の製造方法において、単結晶半導体層にスリップや転位、格子欠陥、ＨＦ欠陥等が形成されるのを防止する。 - 特許庁

To easily and properly judge defects in a defect judging device to judge the defects of an element constituting a radiographic solid-state detector.例文帳に追加

放射線固体検出器を構成する素子の欠陥を判定する欠陥判定装置において、簡易且つ適正に欠陥を判定できるようにする。 - 特許庁

To provide a defect detection method and device which can easily detect defects, and can detect even defects at a corner part of an object to be inspected.例文帳に追加

被検査物の隅部であっても欠陥を検出でき、かつ、欠陥を容易に検出することができる欠陥検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for production by which a raised artificial leather scarcely causing wrinkle defects of a woven fabric or defects in exposure of weaving yarn is stably obtained.例文帳に追加

織物しわ欠点及び織物糸が露出する欠点が発生しにくい立毛人工皮革を安定的に得る製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of detecting defects of a column selection line.例文帳に追加

カラム選択線の不良を検出可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a SiC/Si composite material without defects such as a metal vein.例文帳に追加

メタルベイン等の欠陥のないＳｉＣ／Ｓｉ複合材料を提供する - 特許庁

To provide an apparatus and method for defect inspection, capable of reliably detecting defects regardless of the kind of the defects, and to provide a method of manufacturing a pattern substrate.例文帳に追加

欠陥の種別によらず、確実に欠陥を検出する欠陥検査装置、欠陥検査方法、及びパターン基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁

An inspection system stores feature quantity and removes bad pages when the defects occur, and stops the print processing when similar defects occur again.例文帳に追加

不良が発生した際には特徴量を記憶し不良ページの除去を行い、再度同様の不良が発生した際には印刷処理を停止する。 - 特許庁

A spacing between adjacent defects is calculated from the positional information stored.例文帳に追加

記憶した位置情報から隣り合う欠陥同士の間隔を算出する。 - 特許庁

To allow accurate detection of surface defects and surface layer defects of a material even when the material such as a steel plate is being transported or moved.例文帳に追加

鋼板等の材料が搬送されている、或いは移動している場合でも、精度良く材料の表面欠陥及び表層欠陥を検出できるようにする。 - 特許庁

To provide a method for precisely detecting both of defects due to a machining degradation layer and defects characteristic to a crystal of a ZnO-based compound semiconductor crystal.例文帳に追加

ＺｎＯ系化合物半導体結晶の加工変質層による欠陥と、結晶固有の欠陥の双方を正確に検出する方法を提供する。 - 特許庁

To make microcrystal defects manifested in a silicon device which are made minute.例文帳に追加

微細化されたシリコンデバイスにおいて、微細な結晶欠陥を顕在化させる。 - 特許庁

To accurately inspect concerning the presence of defects in wiring, an electrode and the like.例文帳に追加

配線や電極等の欠陥の有無について正確な検査を行う。 - 特許庁

To efficiently detect defects regarding a physical arrangement of a storage cell.例文帳に追加

記憶セルの物理的な配置に関する不良を効率的に検出する。 - 特許庁

Thus, the false defects can be accurately determined, the false defects detected in an inspection process are reduced, and hence the accuracy and efficiency of the inspection are improved.例文帳に追加

これにより、擬似欠陥が精度良く判別され、検査過程で検出される擬似欠陥が低減されて、検査の高精度化及び効率化が図られる。 - 特許庁

To provide an inspection system of a vial for reliably and speedily detecting defects (foreign matter, defects, or the like) at a portion that cannot be inspected in the vial easily.例文帳に追加

バイアルにおいて検査が困難な部位の欠陥（異物，欠け等）を確実に且つ高速に検出することができるバイアルの検査システムを提供する。 - 特許庁

The defects are detected based on a point where brightness changes in the photographed image.例文帳に追加

撮影画像中で輝度が変化する点を基に欠陥を検出する。 - 特許庁

To form a high quality SiC single crystal film almost free from lattice defects.例文帳に追加

格子欠陥の少ない高品質のＳｉＣ単結晶膜を形成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device facilitating identification of cause of defects, such as whether deterioration of characteristics, defects, etc., at evaluation and analysis are caused by a frequency synchronizing circuit.例文帳に追加

評価・解析において、特性の劣化、不良等が周波数同期回路に因るのか否か等、不良原因の特定を容易化する半導体装置の提供。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING SURFACE DEFECTS OF ZnO-BASED COMPOUND SEMICONDUCTOR CRYSTAL例文帳に追加

ＺｎＯ系化合物半導体結晶の表面欠陥の検出方法 - 特許庁

When forming the recess 3 by wet-etching, a number of micro defects are produced on the etched surface, these micro defects cause strength deterioration of the diaphragm 4.例文帳に追加

凹所３をウエットエッチングにより形成した時、エッチング面には無数の微小欠陥が発生しており、この微小欠陥がダイアフラム４の強度低下を招く。 - 特許庁

To provide a method for producing a silicon carbide single crystal without the propagation of micropipe defects, in which the micropipe defects that a seed crystal possesses are effectively occluded.例文帳に追加

種結晶が有するマイクロパイプ欠陥を効果的に閉塞し、マイクロパイプ欠陥の伝播がない炭化ケイ素単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁

A defective pixel detector detects a pixel with defects as a defective pixel.例文帳に追加

欠陥画素検出部は、欠陥のある画素を欠陥画素として検出する。 - 特許庁

To propose a method for identifying defects as early as possible without depending on the positions of defects on a disk-like object.例文帳に追加

発生する欠陥をできるだけ早期にかつ確実に、ディスク状対象物上の欠陥の位置に依存しないで識別することのできる方法を提案する。 - 特許庁

To make a semiconductor wafer thinner by grinding without producing defects.例文帳に追加

欠陥を発生させることなく半導体ウエーハを研削して薄型化する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CLASSIFYING SEMICONDUCTOR DEFECTS, PROGRAM FOR THE SAME DEVICE, AND METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEFECTS例文帳に追加

半導体欠陥分類方法、半導体欠陥分類装置、半導体欠陥分類装置のプログラム、半導体欠陥検査方法、および、半導体欠陥検査システム - 特許庁

Accelerating voltage at doping treatment has a large influence on implantation defects.例文帳に追加

注入欠陥はドーピング処理時の加速電圧が大きく影響している。 - 特許庁

To prevent short-circuiting defects in a lead part at electrode formation time.例文帳に追加

電極形成時におけるリード部での短絡欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

The system is superior in operability and is capable of intuitively displaying details of defects.例文帳に追加

該システムは、操作性に優れ、欠陥のディテールを直観的に表示できる。 - 特許庁

To provide a method and device for drawing a wire for wire saw for surely accurately detecting the surface defects and internal defects of the wire and executing wire drawing.例文帳に追加

ワイヤの表面欠陥や内部欠陥を確実に精度良く検出して伸線できるワイヤソー用ワイヤの伸線方法及び伸線装置を提供すること。 - 特許庁

Since the ion injection is performed in the state with crystal defects repaired, the crystal defects of the semiconductor substrate 10 is reduced.例文帳に追加

結晶欠陥が修復された状態でイオン注入を行うことができるので、半導体基板１０の結晶欠陥を低減することができる。 - 特許庁

To suppress defects in a membrane electrode junction manufacturing process.例文帳に追加

膜電極接合体の製造過程における不良の発生を抑制する。 - 特許庁

Thus, defects in the patterned photoresist layer are removed, and the photoresist layer is mended to its original condition.例文帳に追加

したがって、パターン化されたフォトレジスト層の欠陥は修復できる。 - 特許庁

Generation of crystal defects is accelerated by application of a current and since a state saturated with crystal defects is reached when in use, optical output is stabilized.例文帳に追加

この電流印加により結晶欠陥の発生が促進されて、使用時には、結晶欠陥が飽和に達した状態となり、光出力が安定する。 - 特許庁

To form linear grating that has satisfactory properties, without causing projecting defects.例文帳に追加

突起状欠陥を発生させずに、特性の良いリニアグレーティングを形成する。 - 特許庁

Failure to remedy the defects shall result in the request for a ruling on lack of infringement being deemed withdrawn. 例文帳に追加

不備を訂正しない場合は，当該請求は取下とみなされる。 - 特許庁

In the case of defects of form, however, an appeal may be dismissed only after the appellant has failed, on request, to remedy the defects. 例文帳に追加

ただし，様式上の欠陥の場合は，審判請求人が要求を受けたにも拘らずその欠陥を修正しなかった場合に限り，却下することができる。 - 特許庁