「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

These are the defects of his qualities. 例文帳に追加

これは長所に伴う短所（長所でもあり短所でもあるところ）だ - 斎藤和英大辞典

He has some grave defects, but I think he is a great scholar all the same. 例文帳に追加

彼は大きな欠点もあるが、やはり偉大な学者だと思う。 - Tanaka Corpus

Manufacturers are liable for defects in their products. 例文帳に追加

製造業者はその製品の欠陥に対して法的な責任がある。 - Tanaka Corpus

He has some grave defects, but I think he is a great scholar all the same.例文帳に追加

彼は大きな欠点もあるが、やはり偉大な学者だと思う。 - Tatoeba例文

Manufacturers are liable for defects in their products.例文帳に追加

製造業者はその製品の欠陥に対して法的な責任がある。 - Tatoeba例文

To prevent projecting defects on a produced substrate by reducing or removing the projecting defects of a stamper having the same recesse and projection patterns as those of the substrate to be obtained by injection molding by a laser working method.例文帳に追加

凸欠陥の殆ど発生していない基板を製造するためのスタンパ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

On the basis of the result of the inspections in the processes, optical defects which affect the reliability of the wafer or defects which do not affect the reliability are sorted by an automatic means or by a manual means.例文帳に追加

その検査結果を、自動もしくは人手によって信頼性に影響する欠陥か、影響しない欠陥か判別する。 - 特許庁

To learn and compensate for line defects.例文帳に追加

ラインの欠陥を学習しそれらを補償することができるようにする。 - 特許庁

A CBED pattern is disturbed by lattice defects inside the illuminated area. 例文帳に追加

CBED図形は、照射領域内部の格子欠陥によって乱される。 - 科学技術論文動詞集

To record the positions of defects in the ID number of a tape base when defects are detected so as to solve the problem that it is difficult to remove or mark defects or specify quality information later again, when defects are detected by a check carried out in a process.例文帳に追加

工程中の検査で、不良個所を検出時、取り除いたり、マークすること、等品質情報を後から再度特定する事は困難である為、不良個所を検出した際に欠陥個所の位置をテープ基板の識別番号に記録しておくことで、損なう問題を解消することにある。 - 特許庁

A device 140 for adjusting classification classifies defects into a first class group according to the feature amount of the defects that are obtained from image data obtained from an electron microscope 110, and also classifies the defects into a second class group according to the feature amount of the defects classified into the first class group.例文帳に追加

分類調整装置１４０は、電子顕微鏡１１０から得られた画像データよりより得られる欠陥の特徴量より、当該欠陥を第一のクラス群に分類し、当該第一のクラス群に分類された前記欠陥の前記特徴量より、前記欠陥を第二のクラス群に分類する。 - 特許庁

To provide an actinic ray- or radiation-sensitive resin composition useful to form a fine pattern in semiconductor manufacturing and remarkably reducing pattern collapse, development defects, liquid immersion defects (residual water defects, bubble defects) and scum, and a pattern forming method using the same.例文帳に追加

半導体製造における微細なパターン形成に有用な、パターン倒れ、現像欠陥、液浸欠陥（水残り欠陥、バブル欠陥）、スカムを著しく低減できる感活性光線性または感放射線性樹脂組成物及びこれを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

Without measuring the depth of the surface defects, a graph and a correlation expression for indicating the correlation between the diameter and depth in the surface defects are first obtained by using the sample materials, only the diameter of the surface defects is measured, and the depth of the surface defects is estimated by the graph and the correlation expression.例文帳に追加

表面欠陥の深さは実測することなく、まずサンプル素材を用いて表面欠陥の径と深さの相関を表わすグラフや相関式を求めておき、表面欠陥の径のみを実測して前記グラフや相関式によって表面欠陥の深さを推測する。 - 特許庁

To provide an optical system for detecting peripheral surface defects of a glass disk and a device of detecting the peripheral surface defects, which can detect the peripheral surface defects, such as flaws or cracks due to a chuck used for the glass disk with high accuracy, without hardly detecting foreign matters which is one of the defects.例文帳に追加

欠陥の１つである異物をほとんど検出することなく、ガラスディスクに対してチャック等による疵や欠け、割れ等の外周欠陥を高精度に検出することができるガラスディスクの周面欠陥検出光学系および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

The pattern inspecting method comprises photographing an object substrate to obtain a digital picture, detecting defects, using the digital picture, and switching to indicate or not indicate those defects agreeing with registered features among the detected defects or indicating the detected defects distinguishable from others.例文帳に追加

又本発明によるパターン検査方法においては、対象物基板を撮像してディジタル画像を得、このディジタル画像を用いて欠陥を検出し、この検出した欠陥のうち登録した特徴に一致する欠陥の表示非表示を切替えるか他と識別可能なように表示するようにした。 - 特許庁

To provide a method of inspecting surface defects of an automobile body and an inspection apparatus of surface defects of an automobile body, capable of accurately inspecting surface defects, even if the surface of a shell plate of the automobile body changes within a permissible range.例文帳に追加

自動車ボディの外板面が許容範囲内で変化しても、正確に表面欠陥を検査することのできる自動車ボディ表面欠陥検査方法、及び自動車ボディ表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The glass substrate with defects must be sent to a cleaning step.例文帳に追加

欠陥を有するガラス基板は洗浄工程へ回さなければならない。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING HOT DIP Al TYPE COATED STEEL SHEET HAVING DECREASED PLATING DEFECTS例文帳に追加

めっき欠陥の少ない溶融Ａｌ系めっき鋼板の製造方法 - 特許庁

To provide a photomask in which production of pseudo defects during inspection of pattern defects is prevented to carry out inspection with high reliability, and to provide a method for detecting pattern defects in the photomask and a method for forming a pattern by using the same.例文帳に追加

パターン欠陥検査時の擬似欠陥の発生を防止して高い信頼性の検査を行うことができるフォトマスク、そのパターン欠陥検出方法及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

DEFECT CORRELATION DEVICE, SUBSTRATE INSPECTION SYSTEM, AND METHOD OF CORRELATING DEFECTS例文帳に追加

欠陥関連付け装置、基板検査システム、および欠陥関連付け方法 - 特許庁

To facilitate the inspection of internal defects such as casting cavities in a casting.例文帳に追加

鋳造品における鋳巣等の内部欠陥の検査を容易にする。 - 特許庁

To obtain a semiconductor photodetector capable of preventing defects caused by return light.例文帳に追加

戻り光不良を防ぐことができる半導体受光素子を得る。 - 特許庁

To provide a method and system for diagnosis of defects, capable of accurately detecting the shape and depth of the defects of a structure in a short period of time.例文帳に追加

構造物の欠陥の形状および深さを短時間で正確に検知できる欠陥診断方法および欠陥診断システムを実現する。 - 特許庁

To determine defects inside a grid plate of an encoder type position measurement system.例文帳に追加

エンコーダタイプの位置測定システムのグリッドプレート内の欠陥を判定する。 - 特許庁

To produce a compound semiconductor crystal with less defects at low cost.例文帳に追加

低コストで欠陥の少ない化合物半導体結晶を製造する。 - 特許庁

To provide a laminated thermoplastic resin film roll having fewer optical defects.例文帳に追加

光学欠点の少ない積層熱可塑性樹脂フィルムロールを提供する。 - 特許庁

To provide a pulling method for a silicon single crystal having fewer defects over the entire region in the pulling direction and having little variation of the defects.例文帳に追加

引上げ方向全域にわたって欠陥が少なくかつこの欠陥のバラツキが少ないシリコン単結晶の引上げ方法を提供する。 - 特許庁

To automatically detect surface defects of an article such as carbide tip, etc.例文帳に追加

超硬チップなどの物品の表面欠陥を自動的に検出する。 - 特許庁

Inspection data is designed to include kinds, kinds difference and dimension of defects.例文帳に追加

検査データは、欠陥の種類、種類の相違、寸法を含むことにした。 - 特許庁

To improve the yield of an element by reducing contact defects and leakage defects at a part where a semiconductor and a conductor are brought into contact.例文帳に追加

半導体と導電体とが接触する箇所におけるコンタクト不良やリーク不良を低減して、素子の歩留まりを向上させること。 - 特許庁

Thus, two kinds of defects can be discriminated by using the two threshold values.例文帳に追加

二つのしきい値を使用するので、２種類の欠陥を判別できる。 - 特許庁

To provide methods for making semiconductor substrates with few crystal defects.例文帳に追加

結晶欠陥の少ない半導体基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To improve the yield of a semiconductor element by reducing contact defects and leak defects at a place where a semiconductor and a conductor comes in contact with each other.例文帳に追加

半導体と導電体とが接触する箇所におけるコンタクト不良やリーク不良を低減して、素子の歩留まりを向上させること。 - 特許庁

When the patterned resist layer has defects, the defects are classified into two groups, gaps and projections, and then the gaps and projections are positioned.例文帳に追加

パターン化されたフォトレジスト層が欠陥を有する場合、欠陥は間隙および突起に分類され、次に間隙および突起が位置決めされる。 - 特許庁

The laminating defects 11 in the second layer 4 are intercepted by the mask 5.例文帳に追加

マスク５によって第２層４の積層欠陥１１が遮断される。 - 特許庁

To provide a lens which is free from the occurrence of defects such as a dent and a break.例文帳に追加

へこみや割れ等の欠陥の発生が無いレンズを提供する。 - 特許庁

As a result, image quality defects of banding caused by reciprocity law failures are considerably reduced to obtain images having image quality defects hardly recognized practically.例文帳に追加

この結果、相反則不軌によるバンディングの画質欠陥を大幅に軽減でき、実用上画質欠陥として認識されにくい画像を得る。 - 特許庁

To perform welding eliminating weld defects by reducing the amount of generation of slag.例文帳に追加

スラグ発生量を低減して溶接欠陥をなくした溶接をする。 - 特許庁

To detect defects in quartz tubes built in a heat-treating oven as they are.例文帳に追加

熱処理炉に組込まれたままで石英管の欠陥を検出する。 - 特許庁

To detect defects which are detected subsequent to cell process in an array process.例文帳に追加

セル工程以降で検出される欠陥をアレイ工程で検出する。 - 特許庁

To decrease an influence of defects in a mask substrate for EUV lithography.例文帳に追加

ＥＵＶリソグラフィー用マスク基板における欠陥の影響を低減する。 - 特許庁

In the photonic crystal optical waveguide having photonic crystals in which linear defects are introduced, a plurality of isolated linear defects isolated from the linear defects are disposed adjacent to cross parts crossing other optical waveguides.例文帳に追加

フォトニック結晶中に列状の欠陥が導入されてなるフォトニック結晶光導波路において、他の光導波路との交差部近傍に、列状の欠陥から孤立している複数の孤立欠陥を設ける。 - 特許庁

To stably detect CD error defects regardless of a chip size.例文帳に追加

チップサイズに関係なく、ＣＤエラー欠陥を安定して検出すること。 - 特許庁

lists limitations, known defects or inconveniences, and other questionable activities. 例文帳に追加

制限・知られている欠陥や不便な点、その他不思議な動作などを書く。 - JM

To inspect certainly and correctly point defects or the like of display panels.例文帳に追加

ディスプレイパネルの点欠陥等の検査を確実に且つ正確に行う。 - 特許庁