「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECTS IN PERIODIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

Thus, defects can be detected in the outside.例文帳に追加

これによって、外部で不良を検出することが可能になる。 - 特許庁

DETECTION OF DEFECTS ON PATTERNED SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

パタ—ン形成ずみの半導体基板における欠陥の検出 - 特許庁

In the first flaw detection step, the hydrogen defects are not detected.例文帳に追加

第１回探傷ステップは、水素性欠陥は検出しない。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting defects, capable of detecting the defects with good sensitivity by preventing halation.例文帳に追加

ハレーションを防いで欠点を感度良く検出することができる欠点検査方法及び欠点検査装置を提供する。 - 特許庁

SYSTEM FOR REPAIR OF ROM PROGRAMMING ERRORS OR DEFECTS例文帳に追加

ＲＯＭプログラミングの誤り又は欠陥を修復するシステム - 特許庁

This system detects two kinds of the defects; (1) the errors of line of printed images (2) the defects of the surfaces.例文帳に追加

発明のシステムは、（１）印刷画像のライン幅の誤り、（２）表面の欠陥という２種類の欠陥を検出する。 - 特許庁

To prevent the detection leakage of defects exceeding a processing range in median processing, when detecting defects in the median processing.例文帳に追加

メディアン処理による欠陥検出において、メディアン処理での処理範囲を越える欠陥の検出漏れを防ぐこと。 - 特許庁

The silicon wafer is a CZ-silicon wafer containing rod-shaped void defects and/or plate-like void defects in its inside.例文帳に追加

ＣＺシリコンウエーハであって、その内部に棒状の空洞欠陥および／または板状の空洞欠陥を含むシリコンウエーハ。 - 特許庁

To provide a JPEG2000 decompression method and a system which deduce ringing defects without introducing new defects.例文帳に追加

新たな欠陥を導入せずにリンギング欠陥を減少させるＪＰＥＧ２０００解凍方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To make sub-pixels having defects inconspicuous, even if the sub-pixels have defects, when a natural image, or the like, is displayed.例文帳に追加

サブ画素に欠陥があっても、自然画などを表示させたときに、当該欠陥のあるサブ画素を目立たなくする。 - 特許庁

To remove defects of a cooled gas turbine engine vane.例文帳に追加

冷却式ガスタービンエンジン羽根の欠点の除去を提案する。 - 特許庁

His arrogance blinded him to the defects of his argument. 例文帳に追加

彼は横柄なため自分の言い分の欠点を見落とした. - 研究社 新英和中辞典

To prevent defects generated on a back side of a surface improvement area.例文帳に追加

表面改質領域の背面の欠陥を防止する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a resin for the lithography of a semiconductor which can control the occurrence of defects, especially bridge-mode defects.例文帳に追加

ディフェクト、特にブリッジモードディフェクトの発生を抑制できる半導体リソグラフィー用樹脂の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for detecting defects of a filter which can easily and reliably detect the defects.例文帳に追加

簡単かつ確実に欠陥を検出できるフィルターの欠陥検出装置及び欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECTS ON SURFACE OF SUBSTRATE例文帳に追加

基板表面の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

To suppress the occurrence of defects in a weld metal.例文帳に追加

溶接金属に欠陥が発生するのを抑制すること。 - 特許庁

The fixed defects 4 are separated from random defects 1b, 2b, and 3b, on each of the major surfaces of the disks 1, 2, and 3, by extracting the fixed defects 4 from each of the disks 1, 2, and 3.例文帳に追加

それぞれのディスク１，２，３から固定欠陥４を抽出することによって、それぞれのディスク１，２，３の主面で、固定欠陥４とランダム欠陥１ｂ，２ｂ，３ｂとを分離する。 - 特許庁

To detect minute defects with improved sensitivity by preventing pseudo-defects from occurring because of minute variations of a pattern to be inspected for a method of inspecting defects for comparing inspection and reference patterns.例文帳に追加

検査パターンと参照パターンとの比較を行う欠陥検査法に関し、検査対象パターンの微小な変動による擬似欠陥の発生を防ぎ、微小な欠陥を感度良く検出する。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting display panel lighting which inspect display panels for the presence of defects and, if defects are present, assess the classification and location of the defects.例文帳に追加

表示パネルの欠陥の有無を検査して、欠陥があった場合、欠陥の種別と欠陥の場所を判定できる表示パネルの点灯検査装置と検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of evaluating crystal defects capable of detecting the crystal defects precisely based on the formation of a defect emphasis protrusion, and capable of identifying the type of the crystal defects.例文帳に追加

欠陥強調突起部の形成に基づいて結晶欠陥を高精度に検出できるとともに、結晶欠陥の種別の特定も可能な結晶欠陥の評価方法を提供する。 - 特許庁

To prevent defects arising when resin-sealing electronic components, caused by leakage defects, resin interfusion defects, or the like, and to easily resin-seal a number of electronic components all together.例文帳に追加

電子部品の樹脂封止の際に生じるリーク不良、樹脂侵入不良等による不良品の発生を防止できるとともに、多数の電子部品をまとめて簡単に樹脂封止できる。 - 特許庁

In this case, defects detected in the similar shape at a common position in any differential image data can be determined to be defects (defects at the lower left end of the chip) of the reference chip A401.例文帳に追加

ここで、どの差画像データにおいても共通の位置に同様の形状で検出された欠陥は、基準チップＡ４０１の欠陥（チップ左下端の欠陥）と判断できる。 - 特許庁

To easily manage data defects on a disk and to keep a host from recognizing the defects until a request to read the defects is issued from the host.例文帳に追加

ディスク上のデータ欠損箇所が簡単に管理でき、しかもホストから欠損箇所へのリード要求が発生するまで当該欠陥個所をホストに認識させないで済むようにする。 - 特許庁

The microscope device 1 with the function of correcting the defects has an observation microscope 20 for observing the defects of an inspected object and a laser device for correcting the defects.例文帳に追加

欠陥修正機能付き顕微鏡装置１は、被検査対象物の欠陥を観察するための観察顕微鏡２０と、欠陥を修正するためのレーザ装置とを有している。 - 特許庁

Thus, before an engine 1 is disabled to start by the defects such as the failure of the starter 2 and the breakage of the belt, users can detect these defects and take appropriate measures against the defects.例文帳に追加

これにより、スタータ２の故障やベルト切れ等によりエンジン１が始動できなくなる前に、ユーザが異常を確認でき、異常に対する適切な処置を施すことが可能である。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting an electro-optical device which requires only a few installation space, in which a reflection mirror is omitted from a light source and a screen and which can automatically detect display defects (such as point defects, line defects, stain and uneven defects).例文帳に追加

設置スペースが少なくて済み、光源とスクリーン間から反射ミラーを省け、しかも表示欠陥（点欠陥・線欠陥・シミムラ欠陥等）を自動検出可能な電気光学装置の検査装置及び検査方法を提供することである。 - 特許庁

Then the defects in the barrier walls are discriminated through void defects in the colored ink layer formed after barrier wall formation and, by correcting the discriminated defects with a correction device having a plurality of correction means, the void defects in the colored ink and the defects in the barrier walls on the substrate are corrected with a single process on the same work.例文帳に追加

そして、隔壁形成後に形成した着色インキ層の白抜け欠陥から、隔壁の欠陥を判別し、さらに複数の修正手段を有する修正装置により修正すると、基板上の着色インキの白抜け欠陥と隔壁の欠陥を、同一のワーク上で一度の工程で、修正する。 - 特許庁

To improve defects in a one-way clutch type hybrid vehicle.例文帳に追加

１クラッチ方式のハイブリッド車両における欠点を改善する。 - 特許庁

METHOD AND EQUIPMENT FOR MANUFACTURING STEEL PRODUCT HAVING VERY FEW SURFACE DEFECTS例文帳に追加

表面欠陥の少ない鋼材の製造方法及び設備 - 特許庁

To provide a method for detecting defects of pipings whereby an amount of corrosion and a position of defects of the piping can be easily detected.例文帳に追加

配管の腐食量の検出及び欠陥の位置の検出が容易な配管の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

The defects information is added with the image at the time of inspection, and then is compared with an image at the time of checking defects to correct the location of the defect.例文帳に追加

また、欠陥情報に検査時の画像を付加し、欠陥確認時の画像と照合することで位置を補正する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which has further reduced defects.例文帳に追加

格子欠陥をより低減した半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus capable of overcoming defects in conventional techniques.例文帳に追加

従来技術の欠点を克服する装置を提供すること。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING DEFECTS, AND IMAGING APPARATUS例文帳に追加

欠陥補正装置および欠陥補正方法、ならびに撮像装置 - 特許庁

To provide a reliable plating film free from defects by stably forming a more adequate film free from the defects.例文帳に追加

より良好で欠陥のない膜付けを安定的に行って、欠陥がなく信頼性の高いめっき膜が得られるようにする。 - 特許庁

To provide an inspection method for internal defects of a substrate.例文帳に追加

本発明は基板の内部欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide ink for correcting defects, with which defects of a color filter are favorably corrected.例文帳に追加

本発明は、カラーフィルタの欠陥部分を良好に修正するための欠陥修正用インキを提供することを主目的とする。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of easily inspecting defects of a transparent plate product.例文帳に追加

透明な平板状製品の欠陥を容易に検査する。 - 特許庁

To secure high quality and reliability by reducing dot defects.例文帳に追加

点欠陥を低減して高い品質と信頼性を確保する。 - 特許庁

To provide a display substrate reduced in pixel defects due to defects of a storage capacitor and to provide a display panel having the display substrate.例文帳に追加

ストレージキャパシタの不良による画素不良が減少された表示基板及びこれを有する表示パネルが開示される。 - 特許庁

METHOD FOR REPAIRING SMALL COATING DEFECTS IN POWDER PAINT LAYER例文帳に追加

粉末塗料層における小さい塗料欠陥の修理方法 - 特許庁

Thereafter, the existence of defects is inspected by utilizing the image data.例文帳に追加

そして、そのイメージデータを用いて欠陥の有無が検査される。 - 特許庁

To eliminate defects of a casing for public domain electronic structure elements.例文帳に追加

公知の電子構造エレメント用のケーシングの欠点を取り除く。 - 特許庁