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Defectsを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 10273



例文

To detect a defect caused by a secular change of a stamper by classifying defects repetitively caused on a patterned media disk into defects caused by deterioration due to secular change of the stamper and defects caused by a process failure.例文帳に追加

パターンドメディアディスク上に繰り返し発生した欠陥をスタンパの経時的変化による劣化により発生した欠陥と、プロセスの不良により発生した欠陥とを識別して、スタンパの経時変化により発生した欠陥を検出する。 - 特許庁

When a plurality of similar defects are detected at the same positions or close positions of a plurality of sheetlike inspection objects, similarly the defect inspection method also excludes the defects by determining that the defects are not caused by inherent matters of the inspection objects.例文帳に追加

欠陥検査方法も同様に、複数枚の検査対象物に亘って、同一又は近似の位置に同様の欠陥が複数検出された場合に、当該欠陥を検査対象物起因の欠陥でないと判断して除外した。 - 特許庁

To provide an image forming method capable of obtaining a printed image with high resolution free from image defects such as stripe-like defects and raindrop-like defects even when images with consumption of a large amount of toner (for example, a solid image) are continuously printed.例文帳に追加

高トナー消費量の画像(例えば、べた画像)を連続してプリントを行っても、スジ状欠陥、雨だれ状の画像欠陥が無く高解像度のプリント画像が得られる画像形成方法を提供することにある。 - 特許庁

Each single-class classifier is configured for each class to identify defects belonging to each class on the basis of the inspection parameter values, while identifying the defects not in each class as unknown defects.例文帳に追加

各単一部類分類子は、それぞれの部類に対して、検査パラメータ値に基づいてそれぞれの部類に属する欠陥を識別し、一方でそれぞれの部類に入っていない欠陥を未知欠陥として識別するように構成される。 - 特許庁

例文

To provide a method and an apparatus for automatically sorting defects, which supply a non-reviewed defect with a defect class having a definition identical to that of a reviewed defect when carrying out sorting the defects, in order to effectively utilize information of non-reviewed defects being the majority on a wafer.例文帳に追加

ウェハ上の大多数を占める,レビューしていない欠陥の情報を有効活用するため,欠陥分類方法において、レビューしていない欠陥に対してレビューした欠陥と同じ定義の欠陥クラスを付与すること。 - 特許庁


例文

One method for selecting defects for defect analysis includes binning defects into group(s) based on proximity of the defects to each other and spatial signatures formed by the group(s).例文帳に追加

欠陥解析のために欠陥を選択する一方法は、これらの欠陥の互いの近接性、及び、グループ(1つ又は複数)により形成される空間シグネチャに基づいて、欠陥をこのグループ(1つ又は複数)にビン分類することを含む。 - 特許庁

To provide an improved system for identifying defects in a complex structure, by providing a light source so that defects, such as dark defects at a dark background and/or bright defects at a bright background, can be identified by capturing an image at an illuminated part in the complex structure.例文帳に追加

特に、暗い背景にある暗い欠陥および/または明るい背景にある明るい欠陥などの欠陥を複合構造の照らされた部分の画像を捕捉することによって識別することのできるように光源を設けることで、複合構造内の欠陥を識別するための改良されたシステムを提供する。 - 特許庁

The detection technique of pixel uneveness defects detects pixel uneveness defects (a detection process ST300 for uneven pixels) from images acquired in an inspection image acquiring process ST100, and by a quantitative evaluation, based on the detected result in the detecting process of pixel uneveness, discrimination of pixel uneveness defects is conducted (a discrimination process ST400 of defects) in the images.例文帳に追加

検査画像取得工程ST100で取得した画像から画素ムラを検出して(画素ムラ検出工程ST300)、画素ムラ検出工程で検出された結果に基づいた定量的な評価により、画像に画素ムラ欠陥があることの判別を行う(欠陥判別工程ST400)。 - 特許庁

To stabilize the quality of an annealed wafer by reliably decreasing SSDs (surface shallow defects which are recessed defects of an extremely wide and shallow shape on the surface), while ensuring generation of void defects other than the SSDs and generation of BMDs (bulk micro defects) indispensable as a gettering source in the bulk.例文帳に追加

アニールウェーハにとって必要不可欠なウェーハ表面におけるSSD(表面の非常に幅広く、浅い形状の凹状欠陥;Surface Shallow Defect)以外のボイド欠陥の低減や、バルク内のゲッタリング源としてのBMD(バルク微細欠陥;Bulk micro defect)の生成を保証しつつ、SSDを確実に低減させるようにして、アニールウェーハの品質を安定させる。 - 特許庁

例文

To provide a mold for slush molding by which defects of molding can be avoided.例文帳に追加

成形欠陥を無くすことができるスラッシュ成形用金型を提供する。 - 特許庁

例文

To provide the method/system for radio communication that overcome defects of a conventional technology.例文帳に追加

従来技術の欠点を克服する無線通信方法/装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of reducing image defects.例文帳に追加

画像不良の発生を低減することができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To obtain deposited products which have few defects, are excellently mass-produced at low cost.例文帳に追加

欠陥の少ない量産性に優れ、製造コストを下げた成膜製品を得る。 - 特許庁

To provide an apparatus for overcoming defects in prior art.例文帳に追加

従来技術における諸欠陥を克服する装置を提供することである。 - 特許庁

Locations corresponding to the located defects are then stored in a defect file.例文帳に追加

そして、探し出された欠陥に対応する位置が欠陥ファイルに格納される。 - 特許庁

To attain a single crystal silicon carbide substrate with little defects, such as micro pipe or the like.例文帳に追加

マイクロパイプ等の欠陥の少ない単結晶炭化ケイ素基板を実現する。 - 特許庁

In the die-cast product obtained by using this alloy, cavity defects can be remarkably decreased.例文帳に追加

該合金を使用したダイカスト製品は空洞欠陥が著しく減少する。 - 特許庁

To efficiently inspect a specimen for crystal defects.例文帳に追加

試料の結晶欠陥を効率的に検査することのできる装置を提供する。 - 特許庁

Also crystal defects in each layer can be eliminated to improve crystallinity.例文帳に追加

また、各層の結晶欠陥をなくし、結晶性を良好にすることができる。 - 特許庁

Consequently, defects such as a crack and a pinhole can be securely detected.例文帳に追加

これにより、クラックやピンホールなどの不良を確実に検出することができる。 - 特許庁

To provide a system which uses back-body radiation to detect the defects of covering objects.例文帳に追加

黒体発光を用いて、被覆された対象物の欠陥を検出する。 - 特許庁

Ultrasonic flaw detection using an angle beam method is used for detecting internal defects.例文帳に追加

内部欠陥の検出には斜角探傷法による超音波探傷を用いる。 - 特許庁

To prevent occurrence of defects such as swelling and foams in a coating film.例文帳に追加

塗膜における膨れや泡などの欠陥の発生を防止できるようにする。 - 特許庁

To prevent image defects at a nip part, and to improve fixing accuracy.例文帳に追加

ニップ部での画像不良の発生を防止し、定着精度を向上させること。 - 特許庁

When they are within the allowable areas 5b and 5c, the shape mismatches are considered as false defects.例文帳に追加

許容エリア5b,5c内であれば、その形状不一致を擬似欠陥とする。 - 特許庁

APPARATUS FOR AND METHOD OF EVALUATING PASS/FAIL FOR NONMETAL INCLUSION DEFECTS OF METAL BAND例文帳に追加

金属帯の非金属介在物欠陥の合否判定装置並びに方法 - 特許庁

The marks fulfill the functions as the alignment marks indicating the positions of the defects in the observation.例文帳に追加

観察において欠陥の位置を示すアラインメントマークとしての機能を果たす。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECTS OF METAL THIN PLATE HAVING MINUTE SLIT-LIKE OPENING例文帳に追加

微細なスリット状開口部を有する金属製薄板の欠陥修正方法 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING SUPER WIRE HISTORY IMAGE DEFECTS IN DEVELOPMENT SYSTEM例文帳に追加

現像システムにおけるスーパー・ワイヤ・ヒストリー画像欠陥を低減するための方法 - 特許庁

The customer insisted on a price reduction because of defects in the product. 例文帳に追加

そのお客は、商品に欠陥があるといつでもあくまで値引きを主張した。 - Tanaka Corpus

To provide direct dyes not exhibiting the defects of existing direct dyes.例文帳に追加

現存する直接染料の欠点を示さない直接染料を提供する。 - 特許庁

To easily and surely detect defects and abnormalities of steel plate surfaces.例文帳に追加

鋼板表面の欠陥や異常を容易に且つ確実に発見することにある。 - 特許庁

To manage press processing by detecting movement defects of surely raising and lowering ram.例文帳に追加

昇降ラムの動作不良を確実に検出してプレス加工を管理すること。 - 特許庁

To comprehensively improve defects in appearance accompanying the increase in the speed of a film forming process.例文帳に追加

製膜方法の高速化に伴う外観欠陥を総合的に改良する。 - 特許庁

Meanwhile, the band gap of polycrystal or amorphous can be controlled but defects increase.例文帳に追加

一方、多結晶やアモルファスではバンドギャップを制御できるが、欠陥が増加する。 - 特許庁

To securely detect pattern-formed scabby defects without having remarkable projection and recession shape.例文帳に追加

顕著な凹凸性を持たない模様状ヘゲ欠陥を確実に検出する。 - 特許庁

Light of the calculated polarization (alpha) is irradiated to the sample to inspect defects.例文帳に追加

算出した偏光(アルファ)の光を試料に照射して欠陥を検査する。 - 特許庁

To overcome the defects of conventional techniques regarding image-based document patch recognition.例文帳に追加

画像ベースの書類パッチ認識に関する従来技術の欠点を克服する。 - 特許庁

To eliminate at least most of defects of a conventional reference electrode.例文帳に追加

従来技術の参照電極の欠点を少なくとも大部分は排除する。 - 特許庁

The protective layer 44 can be made so that the pinhole defects are few and that the water permeability is small.例文帳に追加

ピンホールの欠陥が少なく水分透過率の小さい保護層44にできる。 - 特許庁

To restrain occurrence of quality defects of a plasma display panel at an aging process.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルのエージング工程における品質不良の発生を抑制する。 - 特許庁

To eliminate defects caused by defective segmentation and static electricity of a liquid crystal display panel.例文帳に追加

液晶表示パネルの分断不良および静電気による不良をなくす。 - 特許庁

SYSTEM FOR DETECTING STRUCTURAL DEFECTS AND FEATURES BY USING BLACK-BODY RADIATION例文帳に追加

黒体発光を用いて構造的な欠陥及び特徴を検出するシステム - 特許庁

To provide a method and a system for automatic inspection, in particular, for analysis of manufacturing defects.例文帳に追加

自動検査、特に、製造欠陥の解析の方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a humidification system for overcoming defects of a conventional humidification system.例文帳に追加

従来の給湿システムの欠点を克服する給湿システムを提供すること。 - 特許庁

METHOD OF CONTINUOUSLY PULLING UP SILICON SINGLE CRYSTAL FREE FROM AGGLOMERATES OF POINT DEFECTS例文帳に追加

点欠陥の凝集体が存在しないシリコン単結晶の連続引上げ法 - 特許庁

To provide a seal with a dynamic brush for conquering defects of a conventional technology.例文帳に追加

従来技術の欠点を克服する動的ブラシ付きシールを提供すること。 - 特許庁

To accurately detect micro-defects of a structure such as a tunnel.例文帳に追加

トンネル等の構造物の微小な欠陥を正確に検出することができる。 - 特許庁

To reduce component mounting defects when mounting electronic components onto a board.例文帳に追加

基板上に電子部品を実装する際の部品装着不良を低減する。 - 特許庁

例文

To easily peel off unneeded metal foil without causing peeling defects.例文帳に追加

剥離不良を発生させることなく不要金属箔を容易に剥離可能にする。 - 特許庁




  
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