「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

To improve the productivity of a semiconductor device by making causes of defects easily specificative by effectively utilizing reviewed results of the defects found in an inspection step.例文帳に追加

検査工程で発見された欠陥に対するレビュー結果を有効に活用することで不良原因の特定を容易にし、半導体デバイスの生産性を向上させる。 - 特許庁

Even when crystal defects 240 are left at the depth position of the concentration peak at which the concentration becomes the maximum, the operation of a device is not influenced, because the defects 240 are out of an active layer.例文帳に追加

濃度が最大となる濃度ピークの深さ位置に結晶欠陥（２４０）が残存しても、これは、活性層外であるため、デバイスの作動に影響を与えない。 - 特許庁

Even when there are defects, such as the holes, within the designated document length, document reading is not halted at such defects but continued to the designated document length.例文帳に追加

指定された原稿長までの間に穴明き等の欠陥があっても、そこで読み取りを中止することなく、指定された原稿長まで原稿読み取りを行う。 - 特許庁

To provide a vulcanized rubber inspection system capable of accurately specifying the range of defects in the case that defects in chemical addition have occurred in the final kneading of rubber.例文帳に追加

ファイナルゴム混練において薬品添加の不良が生じた場合に不良の範囲をより正確に特定することができる加硫性ゴム検査システムを提供すること。 - 特許庁

Accordingly, this makes it possible to obtain an X-ray detector which minimizes structural defects and changes in defects, as nearing the charge trapping center and which hardly deteriorates in the sensitivity.例文帳に追加

これにより、構造欠陥と欠陥の電荷捕獲中心への変化が最低限に抑えられ、感度劣化の殆どないＸ線検出器を得ることができる。 - 特許庁

Crystal growth is carried out under such a condition that the center part of the crystal becomes a region free from defects, a region where stacking faults caused by oxidation are formed or a region where infrared scattering defects are formed.例文帳に追加

結晶中心部が無欠陥領域、酸化誘起積層欠陥発生領域又は赤外散乱欠陥発生領域となる条件で結晶育成を行う。 - 特許庁

To provide a coater for practicing a die coating process, adapted so that, when streak defects are formed on the coating film during coating work, the coater may be quickly restored so as not to form such defects without fail.例文帳に追加

ダイ塗布法を実施するための塗布装置で、塗布作業中に塗膜にストリーク欠陥が生じたときに、迅速かつ確実にストリーク欠陥を排除する。 - 特許庁

When the lower limit value of the number of detected aggregates of point defects is set at 1×103 pieces/cm3, the number of the detected aggregates of point defects in the wafer 11 is smaller than the lower limit value.例文帳に追加

シリコンウェーハ１１が点欠陥の凝集体の検出下限値を１×１０^3個／ｃｍ^3とするとき、点欠陥の凝集体の数が検出下限値以下である。 - 特許庁

To provide a rice transplanter enabling seedling planting between large-spaced roots and small-spaced roots while avoiding occurrence of the seedling planting defects and/or driving defects of a seedling planting mechanism.例文帳に追加

苗植え付け機構の苗植え不良や駆動不良の発生を回避しながら大株間と小株間とでの苗植付けを行うことができる田植機を提供する。 - 特許庁

To provide a technology capable of identifying defects of a participant with high reliability by avoiding defects of prior arts and improving a data transmission method of a form mentioned at the beginning of the description.例文帳に追加

従来技術の欠点を回避し、冒頭に言及した形式のデータの伝送方法を改善して、加入者機の欠落を高い信頼性で識別できるようにする。 - 特許庁

To dissipate or diffuse lattice defects, such as hole type grow-in defects existing not only on the surface of a single crystal but also in the inside of the crystal, regardless of the size of the crystal.例文帳に追加

単結晶体の大きさに拘わらず、単結晶体の表面のみならず内部に存在する空孔型グローイン欠陥等の格子欠陥を消滅又は分散させる。 - 特許庁

Therefore, the occurrence of problems including the extension of macroscopic defects such as polycrystalline systems headed to the center from the outer periphery and the extension of microscopic defects such as basal surface dislocation is prevented.例文帳に追加

したがって、外周部から中心部に向かって多系などのマクロ欠陥、基底面転位などのミクロ欠陥が伸展するという問題が発生することを防止できる。 - 特許庁

To provide a display defects detection method for a flat-panel display device which can detect faulty gray scales, a type of display defects in an FPD, mechanically, with high precision, and in a short time.例文帳に追加

平面表示装置の表示欠陥検出方法に関し、ＦＰＤの表示欠陥である階調不良を機械的に精度良く且つ短時間で検出する。 - 特許庁

To provide a method of rolling a seamless bearing steel tube which has no outside surface defects and which prevents the generation of fine wrinkles equivalent to surface wrinkle defects on the outer surface of the bearing steel tube.例文帳に追加

軸受鋼外面での表面しわ疵に相当する細いしわ発生を防止することが出来る外面疵のない継目無軸受鋼管の圧延方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer defect inspecting apparatus for automatically determining serious defects and for reducing the observation work of defects by an operator.例文帳に追加

重大欠陥の判定を自動的に行なうことができ、オペレータによる欠陥の観察作業を軽減させることができる半導体ウェーハ欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Since the press defects are distinguished on the basis of the bottom dead point position of the rise and fall ram 8 and the causes can be eliminated, coping with various causes of press defects is made possible.例文帳に追加

昇降ラム８の下死点位置に基づいてプレス不良を判別し、その原因を除去できるので、様々なプレス不良原因に対処することが可能になる。 - 特許庁

To provide a semiconductor sensor capable of inhibiting suitably lowering a proof amount against the destruction of a thin film structural part caused by defects regardless of positions of the defects.例文帳に追加

欠陥の入る位置によることなく、それら欠陥に起因する薄膜構造部の破壊耐量の低下を好適に抑制することのできる半導体センサを提供する。 - 特許庁

To provide the inspection method which enables two-dimensional high speed visualization of defects existing within a semiconductor wafer, such as crystal defects.例文帳に追加

半導体ウェーハ中に存在する結晶欠陥などの欠陥を二次元的かつ高速で可視化することができる半導体ウェーハの結晶欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an IPS liquid crystal display hardly causing various defects even when pixels are made large in size and easily repairing the defects even when being catsed.例文帳に追加

本発明の目的は、画素が大型化しても種々の欠陥が発生しにくく、発生しても容易にリペアできるＩＰＳ液晶ディスプレイを提供することにある。 - 特許庁

To obtain radar antenna azimuth using the north direction as a reference inexpensively, in a short time, and with high precision without using a gyrocompass having many defects to eliminate the defects.例文帳に追加

欠点の多いジャイロ・コンパスを使用しないようにして、その欠点を解消し、北を基準にしたレーダ・アンテナ方位を、安価で、短時間に、高精度で得られるようにする。 - 特許庁

To quantify fatal defects accurately to control manufacturing process by analyzing foreign substances and pattern defects found in an electronic device forming a circuit pattern.例文帳に追加

回路パターンを形成する電子デバイスに発生する異物やパターン欠陥の解析を行い，欠陥の致命性を精度よく定量化し，製造工程の管理を行う。 - 特許庁

The first and second maps are compared with each other, and defects occupying the same coordinates in both maps and are larger in the second map than in the first map only are judged to be HF defects.例文帳に追加

第１，第２のマップを対比して、同一座標で、第２の測定時の大きさが第１の測定時より大きい欠陥だけをＨＦ欠陥と判定する。 - 特許庁

To provide an image capturing apparatus capable of reducing continuous defects (=line defects) on an image for a plurality of pixels, improving correction accuracy, and reducing image quality degradation.例文帳に追加

複数画素に対して画像上の連なる欠陥（＝線欠陥）を低減すると共に、補正精度を向上させ、画質劣化を低減することができる撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high quality, high performance single crystal of SiC not only little in the generation of micropipe defects and interface defects, but having a wide terrace and high in the flatness of the surface.例文帳に追加

マイクロパイプ欠陥や界面欠陥等の発生が少ないとともに、幅広なテラスを有し表面の平坦度の高い、高品質、高性能な単結晶SiCの提供すること。 - 特許庁

This way, defects caused by oxygen vacancy (defects of generating excessive electron donors) in the oxide semiconductor film 14, in the insulation films 12 and 18, or in the interface therebetween can be controlled.例文帳に追加

酸化物半導体膜１４や絶縁膜１２，１８、あるいはこれらの界面における酸素空孔起因の欠陥（過剰電子ドナーを生成する欠陥）を制御できる。 - 特許庁

To provide a defective pixel correction circuit capable of easily determining the defects of an image sensor with the defects continued in one direction and replacing them with correction pixels.例文帳に追加

一方向に連なる欠陥を有するイメージセンサの欠陥の判定および補正画素への置き換えを容易に行なうことができる欠陥画素補正回路を提供すること。 - 特許庁

To block the micro pipe defects in the silicon carbide single crystal substrate but not to block the micro pipe defects in a new growth layer.例文帳に追加

新たな成長層にてマイクロパイプ欠陥を閉塞させるのではなく、炭化珪素単結晶基板に存在しているマイクロパイプ欠陥を閉塞させることができるようにする。 - 特許庁

To provide a substrate processing apparatus which is capable of surely preventing defects in various patterns based on lithography by preventing the unwanted decomposited products from occurring in a hydrophobic treatment and by suppressing resist pattern defects.例文帳に追加

疎水化処理時における不要な分解物の発生を防止し、レジストパターン欠陥を抑止して、リソグラフィーに基づく各種パターンの欠陥発生を確実に抑止する。 - 特許庁

To provide a coupling nut capable of overcoming defects in a prior art.例文帳に追加

従来の技術における欠陥を克服可能なカップリングナットを提供すること。 - 特許庁

To provide a microlens substrate capable of suppressing defects, such as camber, deflection, exfoliation or the like.例文帳に追加

そり、たわみ、剥離等の欠陥を抑制できるマイクロレンズ基板を提供すること。 - 特許庁

To provide a pressing device capable of suppressing manufacturing defects in a laminating substrate.例文帳に追加

貼合せ基板の製造不良を低減することのできるプレス装置を提供する。 - 特許庁

To rapidly test defects of terminal connection to a circuit board, using a simple structure.例文帳に追加

回路基板への端子接続の良、不良を簡単な設備で迅速に試験する。 - 特許庁

To efficiently detect electric defects of a liquid crystal display panel at a low cost.例文帳に追加

液晶表示パネルの電気的欠陥を低コストで効率的に検出すること。 - 特許庁

Also, defects such as blow holes are eliminated and the contents are prevented from leaking.例文帳に追加

また、ブローホール等の欠陥もなく、内容物の漏出を防止することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a manufacturing method thereof whose crystal defects are suppressed.例文帳に追加

結晶欠陥が抑制される半導体装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁

Further, an end product with a relatively small amount of defects can be easily processed.例文帳に追加

また相対的に欠陥の少ない最終製品に加工することも容易である。 - 特許庁

To make an efficient and accurate inspection in the process of inspecting piezoelectric ceramics for defects.例文帳に追加

圧電セラミックスの欠陥検査工程において，効率よく，高精度の検査を行う。 - 特許庁

To improve a semiconductor device that repairs sporadic bit defects.例文帳に追加

散発的に発生するビット不良を救済可能な半導体装置を改良する。 - 特許庁

Since no defects 6a and 6b are removed, a simple manufacturing step can be employed.例文帳に追加

欠陥６ａ，６ｂを除去しないことから簡単な製造工程を採用できる。 - 特許庁

Such a method can enhance the imagery resolution suitable to the internal defects.例文帳に追加

この種の方法は、内部欠陥の好適なイメージ解像度を確実に向上させる。 - 特許庁

To perform satisfactory cutting stably with a low risk of causing cutting defects.例文帳に追加

切断不良が生じる可能性が低く、良好な切断を安定して行うこと。 - 特許庁

To obtain deposited products decreased in defects, excellent in mass productivity and reduced in manufacturing cost.例文帳に追加

欠陥の少ない量産性に優れ、製造コストを下げた成膜製品を得る。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING WELD DEFECTS OF CAPACITOR DISCHARGE TYPE STUD WELDING MACHINE AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

コンデンサ放電型スタッド溶接機の溶接良否判定方法及び判定装置 - 特許庁

To provide an edge defect detection method for automatically detecting edge defects appropriately.例文帳に追加

エッジ欠陥を適切に自動検出できるエッジ欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To prevent pattern defects when extreme ultraviolet rays are used as exposure light.例文帳に追加

露光光に極紫外線を用いた場合のパターン不良を防止できるようにする。 - 特許庁