「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

PLASTIC FILM CONTAINING WOOD FLOUR WITH LESS SURFACE DEFECTS AND METHOD FOR MANUFACTURING THE PLASTIC FILM例文帳に追加

表面欠陥の少ない木粉入りプラスチックフィルムおよびその製造方法 - 特許庁

To quantitatively evaluate crystal defects over the whole surface of a wafer, after device formation.例文帳に追加

ウェーハ全面での結晶欠陥をデバイス形成後に定量的に評価する。 - 特許庁

The semiconductor epitaxial layers have a single crystal structure without crystal defects.例文帳に追加

半導体エピタキシャル層は結晶欠陥を有しない単結晶構造を有する。 - 特許庁

The customer insisted on a price reduction because of defects in the product.例文帳に追加

そのお客は、商品に欠陥があるといつでもあくまで値引きを主張した。 - Tatoeba例文

To provide the manufacturing method of STI which hardly produces defects in silicon substrates.例文帳に追加

シリコン基板に欠陥の生じにくいＳＴＩの製造方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate defects generated in rubbing treating a long size polymer film.例文帳に追加

長尺高分子フィルムをラビング処理する際に発生する欠点を改善する。 - 特許庁

METHOD OF CORRECTING DEFECTS OF COLOR FILTER FORMING SUBSTRATE, AND THE COLOR FILTER FORMING SUBSTRATE例文帳に追加

カラーフィルタ形成基板の欠陥修正方法およびカラーフィルタ形成基板 - 特許庁

(a) Scattered light from a surface of a sample after the same process as that of an inspection object is observed to detect defects based on the intensity of the scattered light, and the positions of the detected defects and the intensity of scattered light caused by the defects are acquired.例文帳に追加

（ａ）検査対象物と同一の処理を経たサンプルの表面からの散乱光を観測して、散乱光の強度に基づいて欠陥を検出し、検出された欠陥の位置、及び当該欠陥に起因する散乱光の強度を取得する。 - 特許庁

To stably detect defects with little computational complexity even when there is little difference in the featured values of normal parts and defective parts, or even when the types of defects being the target of detection is variable when checking defects by image processing.例文帳に追加

画像処理による欠陥検査の際に、正常部分と欠陥部分の特徴量の差異が少なくても、また、検出対象となる欠陥の種類が多様でも、安定して、しかも少ない計算量で欠陥を検出できるようにする。 - 特許庁

To provide an inspection method and apparatus of defects in a magnetic head for precisely detecting defects at a specific part of the head by extracting defects at that part from a captured image even if an imaging system has shading.例文帳に追加

撮像系にシェーディングがあっても、ヘッドの特定の部分の欠陥を撮像画像から抽出してその部分の欠陥を精度よく検出することができる磁気ヘッドの欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an active light or radiation sensitive resin composition which allows formation of a pattern having less water residue defects, bubble defects, and development residue defects and is superior in LWR, and a pattern forming method using this resin composition.例文帳に追加

水残り欠陥、バブル欠陥、現像残渣欠陥の少ないパターンを形成することが可能であり、さらにＬＷＲの優れた感活性光線性または感放射線性樹脂組成物、及び該組成物を用いたパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

According to the selection of the distance L, a reflectance of light in the point defects 14 may be increased, and the two-dimensional photonic crystal can be used for the optical resonator resonating light between the two point defects 14 and the optical reflector reflecting light with the two point defects 14.例文帳に追加

距離Lの選択によっては、点欠陥１４における光の反射率が増大し、２個の点欠陥１４間で光が共振する光共振器や、２個の点欠陥１４で光を反射する光反射器として用いることができる。 - 特許庁

Since if a sealing material and a capping material have defects, carbon dioxide is infiltrated from the defects into the interiors of the sealing material and the capping material and further into the panel, bubbles are generated when pressure is returned to normal pressure and thereby inspection for the defects can be performed.例文帳に追加

パネルのシール材や封止材に欠陥があると、そこからシール材の内部、封止材の内部、さらにはパネル内に二酸化炭素が侵入するので、常圧に戻したとき気泡が発生し、不具合があることを検査することができる。 - 特許庁

To provide an active matrix substrate, capable of readily restricting leakage of unrequired electric charges from pixel defects which may cause line defects, a two-dimensional image detector provided therewith, and a method for correcting pixel defects of the two-dimensional image detector.例文帳に追加

ライン欠陥の原因となり得る画素欠陥からの不要な電荷の漏出を容易に抑制することができるアクティブマトリクス基板及びそれを備えた二次元画像検出器並びに二次元画像検出器の画素欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a radiation-sensitive resin composition that has an excellent reactivity with an alkali developer while securing hydrophobicity during liquid immersion exposure, and can prevent occurrence of development defects such as blob defects and bridge defects.例文帳に追加

本発明の目的は、液浸露光時における疎水性を確保しつつ、アルカリ現像液に対する反応性に優れ、ブロッブ欠陥、ブリッジ欠陥等の現像欠陥の発生を抑制することができる感放射線性樹脂組成物を提供することである。 - 特許庁

Thus, the new pixel defects can be inspected at a time when the incidence probability of the pixel defects is high, for example, in the case of passing through the Arctic Circle or the Antarctic Circle on the air route so as to correct the pixel defects on the basis of the inspection result.例文帳に追加

これにより、空路により北極圏や南極圏を通過した場合など、画素欠陥の発生確率が高い時期に新たな画素欠陥を点検することができ、この点検結果に基づいて画素欠陥を補正することができる。 - 特許庁

When there are defects, it sample-and-holds the low frequency components of the servo signals right before the defects are found, and adds eccentricity correction signals or surface wobble correction signals.例文帳に追加

これによりディフェクト検出時には、ディフェクト検出直前の各サーボ信号の低周波成分をホールドし、偏芯補正信号あるいは面振れ補正信号を加算する。 - 特許庁

The method for correcting projection defects is carried out by irradiating abnormal projections on the surface of a metal plating film having a rugged pattern with laser at least once so as to correct the abnormal projection defects.例文帳に追加

凹凸形状を有する金属メッキ膜表面の異常突起にレーザーを少なくとも１回照射し、異常突起を修正する突起欠陥修正方法。 - 特許庁

To provide a motor insulation inspection apparatus for detecting insulation defects of coils prior to being formed into a motor assembly and specifying sections at which the insulation defects have occurred.例文帳に追加

モータアッシとする前にコイルの絶縁不良を検出するとともに，その絶縁不良が発生している部位を特定するモータ絶縁検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting defects on the surface of a shaft-like tool capable of inspecting defects on the surface of a shaft-like tool having a complex structure.例文帳に追加

複雑な構造を有する軸物工具の表面における欠陥を検査することができる軸物工具表面の欠陥検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for preparing an inspection recipe and to provide a system and a method for reviewing defects, which contribute to the yield improvement of a product by detecting fatal defects at an early stage.例文帳に追加

致命欠陥を早期に発見して製品の歩留り向上に寄与する検査レシピ作成システム及び方法、欠陥レビューシステム及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a liquid crystal device by which not only initial display defects but also display defects concerning reliability quality are appropriately and efficiently detected.例文帳に追加

初期的な表示不良だけでなく、信頼性品質に係わる表示不良を適正に且つ効率的に検出可能な液晶装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an electronic component of which growth defects produced by crystallographic defects, especially pin holes, nanopipes and/or pits and hilogs are less than those of a currently known electronic element.例文帳に追加

結晶欠陥、特にピンホール、ナノパイプ及び／又はピット及びハイログにより生成される成長欠陥が既知の電子素子より少ない電子部品を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which prevents image defects due to discharge occurring in the vicinity of a transfer nip part and prevents also image defects such as color misregistration.例文帳に追加

転写ニップ部近傍で発生する放電による画像不良を防止し、且つ色ずれなどの画像不良も防止する画像形成装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To achieve an excellent observation of light scattering system defects, light absorption system defects and the like of an optical member in a lighting system, an inspection system and a lighting method.例文帳に追加

照明装置、検査システム、および照明方法において、光学部材の光散乱系欠陥や光吸収系欠陥等を良好に観察することができるようにする。 - 特許庁

After the other process is completed, defects of the wafer W are observed so as to identify the defects again by the defect observation apparatus 3 based on the initial defect identification data.例文帳に追加

そして、別のプロセスが終了した後、欠陥観察装置３により初期欠陥識別データを基にしてウェハＷの欠陥を観察し、再び欠陥の識別を行う。 - 特許庁

To provide a method and device for inspecting defects capable of determining easily the optimum imaging condition and threshold to detect the defects with high sensitivity.例文帳に追加

高感度の欠陥検出が可能となるように最適な撮像条件と閾値を簡単に決定することができる欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a bipolar semiconductor device, which reduces leakage currents and prevents an increase in minimum ignition current, even on the occurrence of stacking defects due to surface defects.例文帳に追加

表面欠陥に起因する積層欠陥が生じても、リーク電流を低減でき、最小点弧電流の増大を防止できるバイポーラ型半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for detecting defects of optical fiber, which corrects the positional misalignment of the optical fiber and can surely detect the internal defects of the optical fiber in an inspection process.例文帳に追加

光ファイバの位置ズレを修正し、検査工程で光ファイバの内部欠陥を確実に検出することが可能な光ファイバの欠陥検出装置を提供する - 特許庁

To enable defects that may lead to interlayer short circuits to be repaired at a low cost without checking defects themselves in an insulating layer or a dielectric layer.例文帳に追加

絶縁層や誘電体層の欠陥そのものを検査することなく、層間短絡不良に至る可能性のある欠陥の修復を、低コストで実現可能とすること。 - 特許庁

To provide a novel surface defect inspection device and surface defect inspection method for accurately and almost simultaneously detecting small rugged defects and pattern-like defects.例文帳に追加

小さな凹凸欠陥や模様状欠陥を精度良くかつほぼ同時に検出することができる新規な表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法の提供。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a laminated ceramic electronic component, which effectively prevents structural defects such as cracking, non-lamination, etc., after being fired, and remedies breakdown voltage defects.例文帳に追加

焼成後のクラックやノンラミネーション等の構造欠陥を有効に防止でき、かつ耐圧不良が改善された積層セラミック電子部品の製造方法を提供すること。 - 特許庁

Therefore, the emergence of problems including the extension of macroscopic defects such as polycrystalline systems headed to the center from the outer periphery and the extension of microscopic defects such as basal surface dislocation is prevented.例文帳に追加

したがって、外周部から中心部に向かって多系などのマクロ欠陥、基底面転位などのミクロ欠陥が伸展するという問題が発生することを防止できる。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and method for reducing pseudo defects, and for previously selecting and inspecting patterns which can cause defects after transfer.例文帳に追加

擬似欠陥を低減する一方で、転写後に欠陥を生じさせるおそれのあるパターンを予め拾い出して検査する検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspecting device that detect micropipe defects formed in an SiC substrate and an epitaxial layer and a defect in a base surface with high precision, and discriminates them from other defects.例文帳に追加

SiC基板及びエピタキシャル層に形成されたマイクロパイプ欠陥及び基底面内欠陥を高精度に検出でき、他の欠陥から区別できる検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for continuous hot-dip metal plating, which inexpensively prevent generation of quality defects (plating defects) caused by metal fumes evolving in a snout.例文帳に追加

スナウト内で発生する金属蒸気に起因する品質欠陥（めっき欠陥）の発生を低コストで防止できる連続溶融金属めっき方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a composite casting article which is substantially free of internal structural defects and shape defects and a method for manufacturing such composite casting article of high quality.例文帳に追加

内部の構造的欠陥や形状不良がほとんどない高品質の複合鋳造品と、そのような高品質の複合鋳造品の製造方法とを提供する。 - 特許庁

To provide a CR element where manufacturing is possible similarly to a method for manufacturing a multilayer ceramic capacitor, and inner defects such as delamination and defects of an external electrode are hardly generated.例文帳に追加

積層セラミックコンデンサの製造方法と同様に製造が可能であり、デラミネーション等の内部欠陥や外部電極の欠陥が生じにくいＣＲ素子を提供する。 - 特許庁

An improved beadlet formulation useful for inclusion in the dietary supplement is provided to obviate defects in conventional techniques or other defects.例文帳に追加

本発明は、栄養補助食品中の封入にとって有用な改善されたビーズレット処方物を提供することによって、従来技術の欠点または他の欠点を克服する。 - 特許庁

To calculate and acquire only the height of indentation defects by subtracting a height portion of original indentation marks, even when the indentation defects exist on the indentation marks in piles.例文帳に追加

凹凸マーク上に重なるように凹凸欠陥が存在する場合にも、本来の凹凸マークの高さ分だけを差し引いて凹凸欠陥のみの高さを算出・取得する。 - 特許庁

To provide a method and device for inspecting defects for easily determining the optimum imaging condition and threshold to detect the defects with high sensitivity.例文帳に追加

高感度の欠陥検出が可能となるように最適な撮像条件と閾値を簡単に決定することができる欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To prevent bright spot defects due to leaking of light caused by chips or defects in a color filter layer and to secure enough adhesion strength between a sealing member and a color filter substrate.例文帳に追加

着色フィルタ層のカケや欠損に起因する光抜けによる輝点欠陥を防止すると共に、シール部材とカラーフィルタ基板の十分な接着強度を確保する。 - 特許庁

To provide ultralow carbon steel which hardly allows surface defects, especially surface defects due to oxide scales, to appear on the surface; and a continuous casting method for preparing the ultralow carbon steel.例文帳に追加

本発明は鋼板の表面欠陥、特に酸化スケールに起因した表面欠陥の発生が極めて少ない極低炭素鋼および連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁

To efficiently obtain appropriate information on generated clusters by reviewing less defects when the defects are clustered and generated on a wafer.例文帳に追加

ウェハ上に欠陥がクラスタ化して発生した場合に、発生したクラスタに関する正しい情報を、より少ない数の欠陥をレビューする事で効率よく得られるようにする。 - 特許庁

To provide an image inspection device that easily collects limit samples of luminance non-uniformity defects and can remove defects or the like of specific shape before image inspection.例文帳に追加

輝度ムラ欠陥の限度サンプルの収集が容易であり、特定形状の欠陥等を画像検査前に除去することが可能な画像検査装置を実現する。 - 特許庁