Defectsを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 10273件
This causes defects to be detected easily at high speed and classified properly.例文帳に追加
これにより、欠陥が高速かつ容易に検出され、適切に分類される。 - 特許庁
The vertical slice image data may be analyzed to detect defects.例文帳に追加
垂直スライス画像データは、不良を検出するために解析されても良い。 - 特許庁
A leakage current is suppressed low by the removal of crystal defects.例文帳に追加
結晶欠陥が除かれることによって、漏れ電流が低く抑えられる。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a semiconductor device capable of preventing device defects.例文帳に追加
素子不良を防止できる半導体素子の製造方法を提供する。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR ADJUSTING FOCUS, AND DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECTS例文帳に追加
焦点調整装置および方法並びに欠陥検査装置および方法 - 特許庁
To provide a substrate with a light shielding film hardly causing defects such as pattern deflects.例文帳に追加
パターン欠け等の欠陥が発生しにくい遮光膜付き基板を得る。 - 特許庁
To provide a molding simulation method capable of accurately presuming shrinkage cavity defects.例文帳に追加
ひけ巣欠陥を正確に推測できる成形シミュレーション方法の提供。 - 特許庁
To provide a method for producing a thin film capable of suppressing the inclusion of impurities and generation of physical defects or removing the impurities and defects in the thin film and on the grain boundaries.例文帳に追加
薄膜内及び界面に不純物及び物理的欠陥の発生を抑制または取り除くことができる薄膜製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a substrate treating device capable of preventing contamination in an aligner and preventing dimensional defects and shape defects from occurring in an exposure pattern.例文帳に追加
露光装置内の汚染を防止でき、露光パターンの寸法不良および形状不良の発生を防止することができる基板処理装置を提供する。 - 特許庁
To provide a positive resist composition causing little problem relating to development defects.例文帳に追加
現像欠陥の問題が少ないポジ型レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁
To obtain a substrate assembly and an electronic apparatus which have a pad having fewer defects.例文帳に追加
より不都合の少ないパッドを有した基板アセンブリや電子機器を得る。 - 特許庁
To provide an exposure mask capable of decreasing the defects on a wafer occurring in the defects on the mask, a method of manufacturing the exposure mask and an exposure method.例文帳に追加
マスク上の欠陥に起因するウエーハ上の欠陥の低減が可能な露光マスク、露光マスクの製造方法、および露光方法を提供する。 - 特許庁
Thus, randomly generated defects are efficiently recovered.例文帳に追加
そのため、ランダムに発生する欠陥を効率的に救済することが可能になる。 - 特許庁
A position where the potential red-eye defects are located is found, and a decision is made, based upon reinspection criteria, as to whether there are, indeed, red-eye defects.例文帳に追加
潜在する赤目欠陥の位置が突き止められ、そして再検査基準にもとづき、実際に赤目欠陥が存在するかどうかが判定される。 - 特許庁
To accurately detect defects in color development by eliminating noise due to dust.例文帳に追加
塵埃によるノイズを排除して発色欠陥を精度よく検出する。 - 特許庁
To avoid defects in corner parts of a semiconductor element chip diebonded onto a package.例文帳に追加
パッケージにダイボンドされる半導体素子チップの角部の欠損を防止する。 - 特許庁
To provide a simple method for discriminating surface defects whereby types of streaky defects clearly appearing at surfaces of hot dip galvanized carbon steel sheets are simply discriminated.例文帳に追加
溶融亜鉛めっき鋼板の表面に顕在化した筋状欠陥の種別を簡易的に判別する表面欠陥簡易判別法に関する。 - 特許庁
To provide an electrophotographic device which makes it possible to obtain high- quality images free of image unshapness, fogging, electrostatic charge defects and transfer defects even under any environment and a process cartridge.例文帳に追加
いかなる環境下でも画像ボケ、カブリ、帯電不良、転写不良のない高品質な画像を得られる電子写真装置及びプロセスカートリッジを提供する。 - 特許庁
To provide a video display device comprising an inconstant/constant integration compensating circuit capable of compensating both inconstant display defects and constant display defects.例文帳に追加
不定型表示欠陥及び定型表示欠陥の双方を補償できる不定型/定型統合補償回路を備えた映像表示装置を提供する。 - 特許庁
To provide an apparatus for manufacturing a high-quality silicon carbide single crystal with few macroscopic defects.例文帳に追加
マクロ欠陥の少ない高品質の炭化珪素単結晶を製造する。 - 特許庁
In the stage S5, defect inspection is performed for inspecting whether defects or the like are present or not.例文帳に追加
工程S5で、欠陥などの有無を検査する欠陥検査を行なう。 - 特許庁
To reduce cleaning defects even in large-quantity continuous printing.例文帳に追加
大量の連続印字時であってもクリーニング不良が生じるのを低減する。 - 特許庁
To provide a protection circuit which dissolves defects in a safety relay.例文帳に追加
セーフティリレーの不具合を解消し得る保護回路を提供することである。 - 特許庁
To provide low calorie candies of a smooth surface by utilizing mutual physiological advantages of cellulose and erythritol while complementing their defects, in view of the fact that cellulose and erythritol are hard to digest and considered to be carbohydrate of the lowest calorie, but have physiological and preference defects.例文帳に追加
セルロースやエリスリトールは消化されにくく、最もカロリーの低い炭水化物とされているが、生理的および嗜好的な欠点を有する。 - 特許庁
To avoid or reduce occurrence of defects of a probe and bonding.例文帳に追加
プローブおよびボンディングの欠陥の発生を回避するか、あるいは低減する。 - 特許庁
To provide an inspection device for film defects of a turbine blade easily, accurately detecting the defects of a film covering the blade surface and provide a method therefor.例文帳に追加
翼表面に被覆した被膜の欠陥を簡易にして精確に検出できるタービン翼の被膜欠陥検出装置およびその方法を提供する。 - 特許庁
To decrease the orientation defects of liquid crystal molecules which becomes the cause for light leakage.例文帳に追加
光漏れの原因となる液晶分子の配向不良を低減する。 - 特許庁
To provide a substrate manufacturing method that eliminates defects in the semiconductor device layer.例文帳に追加
半導体素子層中の欠陥が少ない基板の製造方法の提供。 - 特許庁
To reduce the occurrence of defects in a semiconductor wafer transfer after a polishing processing.例文帳に追加
研磨処理後の半導体ウェハ移動でのディフェクトの発生を低減する。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus where the occurrences of image defects are suppressed.例文帳に追加
画像欠陥の発生が抑制された画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To extract feature quantities corresponding to respective local defect and overall defect when the local defects and overall defects multiply occur in an inspection image.例文帳に追加
検査画像において局所的な欠陥と全体的な欠陥が複合的に発生した場合に、欠陥の各々に対応する特徴量を抽出する。 - 特許庁
To form a tungsten plug without defects even in a minute hole.例文帳に追加
微細ホールにおいても欠陥のないタングステンプラグを形成できるようにする。 - 特許庁
To detect defects and to classify defect types and defect causes.例文帳に追加
欠陥の検出、並びに欠陥タイプ及び欠陥原因の分類を行う。 - 特許庁
A multilayer substrate having repetitive patterns formed thereon is inspected, and position information of defects in the repetitive patterns and feature information of the defects are extracted.例文帳に追加
繰り返しパターンが形成された多層基板を検査し、繰り返しパターン内の欠陥の位置情報および前記欠陥の特徴情報を抽出する。 - 特許庁
NITROGEN-DOPED SILICON SINGLE CRYSTAL WAFER HAVING FEW DEFECTS AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME例文帳に追加
窒素ドープした低欠陥シリコン単結晶ウエーハおよびその製造方法 - 特許庁
To correct defects in a solid-state image pickup element effectively at low costs.例文帳に追加
固体撮像素子の欠陥を低コストに効果的に補正できるようにする。 - 特許庁
METHOD OF SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYSIS AND METHOD FOR SPECIFYING CAUSES OF SEMICONDUCTOR DEFECTS例文帳に追加
半導体不良解析方法及び半導体不良原因絞込み方法 - 特許庁
And if we could grow continuously, we could eliminate those defects.例文帳に追加
連続的に成長させていくことができれば この欠点を取り除けます - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
The company called in all 1997 cars to check for defects.例文帳に追加
その会社は欠陥を検査するために1997年製の車をすべて回収した - Eゲイト英和辞典
To provide a plasma display panel and its manufacturing method capable of preventing generation of display defects caused by defects and a shape failure of a barrier rib.例文帳に追加
隔壁の欠損及び形状不良に起因する表示不良の発生を防止できるプラズマディスプレイパネル及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
The resist pattern 15 is inspected to detect defects.例文帳に追加
その後にレジストパターン15の検査を行いレジストパターン欠陥の有無を検出する。 - 特許庁
The generated shape group is compared with an actual pattern to detect defects.例文帳に追加
作成された形状群と実パターンの比較により欠陥を検出する。 - 特許庁
To provide an intermediate conveyance chamber which can prevent defects of a substrate.例文帳に追加
基板の欠陥を防止することができる中間搬送室を提供する。 - 特許庁
Lattice defects affect the amplitudes of the primary and diffracted beams. 例文帳に追加
格子欠陥は、一次(入射)ビームと回折ビームの振幅に影響を及ぼす。 - 科学技術論文動詞集
To provide a method and apparatus for recording the occurrence of growth defects and the points in time at which the growth defects occurred, and for reporting the recorded information to a host system.例文帳に追加
成長欠陥の発生と成長欠陥が発生した時間を記録し、記録された情報をホストシステムに報告する方法と装置を提供すること。 - 特許庁
INSPECTION SUBSTRATE AND INSPECTION METHOD OF DEFECTS OF TRANSFER PATTERN例文帳に追加
転写パターンの欠陥検査用基板及び転写パターンの欠陥検査方法 - 特許庁
Thereby, only a real defect excluding the part where patterns are joined (false defects) is left in the part where defects are detected by the comparing inspection, which lessens works for deciding defects by an operator and reduces the inspection time for the mask.例文帳に追加
これにより、比較検査で得られた欠陥検出部には、描画繋ぎ部分(擬似欠陥)を除いた正真の欠陥だけが残されるので、作業者の欠陥判定の負担を軽くすることができ、マスクの検査時間を短縮できる。 - 特許庁
To provide a method of inspecting surface defects and an apparatus for inspecting surface defects for detecting defects stably, even when an image of an object to be inspected includes constant, periodic variations in density, and there is a defect therein.例文帳に追加
被検査物を撮像した画像が、ある一定の周期的な濃淡を有し、その中に欠陥があるような場合でも、欠陥を安定して検出できる表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
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