Defectsを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 10273件
To improve performance of a solar battery by changing a band gap of a single crystal semiconductor without increasing defects.例文帳に追加
単結晶半導体のバンドギャップを欠陥を増加させずに変化させて、太陽電池としての性能を向上させること。 - 特許庁
The bottom zone has Young's Modulus between 0.5 MPa and 3000 MPa, enabling tolerance for microscopic defects while imprinting of the texture.例文帳に追加
ボトムゾーンは、0.5MPaと3000MPaの間のヤング率を有し、テクスチャーのインプリントの間に微視的欠陥に対する許容を可能にする。 - 特許庁
Thereafter, grinding is performed from the inner circumferential wall side, and the parts in which defects caused by the bubbles are present are removed.例文帳に追加
その後、内周壁側からの削り出しが行われ、前記気泡に起因する欠陥が存在する部位が除去される。 - 特許庁
To provide an electrolytic treatment apparatus with which electrolytic treatment of the surface of a substrate can be uniformly carried out without generating defects.例文帳に追加
被処理基板表面の電解処理を欠陥なく均一に行うことができる電解処理装置を提供すること。 - 特許庁
A magnetic filed detector 5 detects the intensity of the magnetic field for detecting defects contained in a semiconductor device chip.例文帳に追加
磁場検出器5は、この磁場の強度を検出することで半導体デバイスチップに含まれる欠陥を検出する。 - 特許庁
To obtain an improved data storage medium which overcomes the constraints, faults and/or defects of a known data storage medium.例文帳に追加
既知のデータ記憶媒体の制約、短所、および/または欠点を克服する改良されたデータ記憶媒体を得る。 - 特許庁
To provide a method of stably manufacturing a multilayer polyimide based film with few defects of a foreign matter of a film or the like.例文帳に追加
フィルムカス等の欠陥の少ない多層ポリイミド系フィルムを安定的に生産する手法を提供することにある。 - 特許庁
To provide a production method of an optical device having an anisotropic coloring material membrane (polarization membrane) having few defects and high dichroic ratio.例文帳に追加
欠陥が少なく二色比の高い異方性色素膜(偏光膜)を有する素子の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for growing group III nitride semiconductor capable of reducing the number of surface defects of the group III nitride semiconductor.例文帳に追加
III族窒化物の表面欠陥の数を低減可能な、III族窒化物半導体を成長する方法を提供する。 - 特許庁
Hydrocarbon compounds are thermally decomposed in the presence of carbon nanohorns 19 with structural defects to produce hydrogen.例文帳に追加
構造欠陥を有するカーボンナノホーン19の存在下において,炭化水素化合物を熱分解して,水素を生成させる。 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING WAFER WITH FEW SURFACE DEFECTS, WAFER OBTAINED BY SAID METHOD, AND ELECTRONIC COMPONENT MADE OF THE WAFER例文帳に追加
表面欠陥の少ないウェハーの製造方法、同方法により得られるウェハー、及び同ウェハーから成る電子部品 - 特許庁
Consequently, the densities of crystal defects in the vicinities of the recesses 11 after the metal organic vapor phase epitaxy is performed can be reduced.例文帳に追加
その結果、有機金属気相成長後の凹部11の近傍の結晶欠陥密度を低減することができる。 - 特許庁
Then, the router settings are modified based on the structural identifier and the weighting factor so as to minimize systematic defects.例文帳に追加
次に、システマティック欠陥を最小にするために、構造識別子及び重み係数に基づいてルータ設定を修正する。 - 特許庁
By using the deviation diffraction grating, a uniform beam can be obtained even in the presence of manufacture defects such as errors in etching depth.例文帳に追加
偏心回折格子の使用により、エッチング深さ誤差等の製造欠陥の存在下でもより均一なビームが得られる。 - 特許庁
To provide a method for reducing defects in a semiconductor device, in particular, decreasing pattern collapse and roughness in a photoresist line.例文帳に追加
半導体デバイスの欠陥、特にパターンの倒壊及びフォトレジストラインの凹凸を低減するための方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of an embedded diffusion silicon epitaxial wafer with no defects on the main back surface of a silicon monocrystalline substrate.例文帳に追加
シリコン単結晶基板の主裏面に欠陥がない埋込拡散シリコンエピタキシャルウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁
To manufacture an organic EL element having an organic compound layer free from defects by preventing deposited particles from clustering.例文帳に追加
蒸着粒子がクラスター化するのを防ぎ、欠陥のない有機化合物層を有する有機EL素子を製造する。 - 特許庁
To provide an escapement for timepieces for improving defects of a conventional escapement, such as energy loss and turbulence of period.例文帳に追加
エネルギーの損失、周期の乱れなど、従来の脱進機の欠点を改善する時計用の脱進機を提供すること。 - 特許庁
To provide a positive type photoresist composition capable of reducing the occurrence of development defects in the production of a semiconductor device.例文帳に追加
半導体デバイスの製造において、現像欠陥の発生が軽減できるポジ型フォトレジスト組成物を提供すること。 - 特許庁
To provide an efficient and effective method for repair and/or regeneration of tissue defects except for cartilage.例文帳に追加
軟骨以外の欠損のある組織を修復および/または再生する効率的で効果的な方法を提供すること。 - 特許庁
To set semiconductor process conditions which avoid the generation of crystal defects and a mask pattern shape on a simulation basis.例文帳に追加
結晶欠陥発生を回避した半導体プロセス条件およびマスクパターン形状の設定をシミュレーションベースで行う。 - 特許庁
To provide a semiconductor device which inhibits defects at the time of dicing by using a semiconductor substrate having a TEG pattern.例文帳に追加
TEGパターンを有する半導体基板を用いて、ダイシング時の不良を抑制した半導体装置を提供する。 - 特許庁
To provide a pretreatment method or the like to deposit a plating film without defects on a surface of a nickel-phosphor plating film.例文帳に追加
ニッケル−リンメッキ膜表面上に欠陥のないメッキ膜を成膜するための前処理方法等を提供すること。 - 特許庁
To prevent occurrence of welding defects due to a spread wetting of liquid metal in portions having a difference in level.例文帳に追加
段差を有する部位における、液体金属の濡れ広がりに起因した溶接欠陥の発生を防止することができる。 - 特許庁
The grain size becomes comparatively large without influence of the crystal defects, in a part positioned on a silicon oxide film 5.例文帳に追加
一方、シリコン酸化膜5上に位置する部分では、結晶欠陥の影響を受けずにグレインサイズは比較的大きくなる。 - 特許庁
To restrain defects generated in the source region or the drain region of a field-effect transistor formed on a semiconductor substrate.例文帳に追加
半導体基板に形成された電界効果トランジスタのソース領域やドレイン領域に生じる欠陥を抑制する。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus which can correctly control the toner concentration, without causing image defects, such as fogging.例文帳に追加
かぶり等の画質欠陥を起こすことなく、トナー濃度の制御を正確に行なう画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To detect accumulation of fibers F in a space 55 for air exhaustion and to prevent defects (weak yarn) of spun yarn.例文帳に追加
空気排出用空間55内の繊維Fの蓄積を早期に検出し、紡績糸の欠陥(弱糸)を防止する。 - 特許庁
To provide a very effective PARP inhibitor having no defects in prior art and having a moderate water solubility.例文帳に追加
従来技術の欠点を有しない、適当な水溶性を有する非常に効果的なPARP阻害剤を提供する。 - 特許庁
The ion implantation is performed in the direction of crystal axis to cause channeling for reducing lattice defects.例文帳に追加
このときのイオン注入も、格子欠陥を低減させるためにチャネリングを起こすように結晶軸方向から行う。 - 特許庁
To provide a method by which defects existing on the surfaces of semiconductor wafers can be detected stably with high sensitivity.例文帳に追加
半導体ウェーハの表面に存在する欠陥の検出を、安定して高感度で行うことができるようにする。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a master for an electroforming mold, free from defects or mottles and having exact fine structure.例文帳に追加
欠陥や斑のない、精確な微細構造を有する電鋳金型用マスターを製造する方法を提供すること。 - 特許庁
Recent investigations have demonstrated that the application of Emmet's theory is not always without defects. 例文帳に追加
最近の研究が証明していることは、エメット理論を適用することが常に欠陥なしとはいえないということである。 - Tanaka Corpus
Recent investigations have demonstrated that the application of Emmet's theory is not always without defects.例文帳に追加
最近の研究が証明していることは、エメット理論を適用することが常に欠陥なしとはいえないということである。 - Tatoeba例文
To provide a method and an apparatus for manufacturing a liquid crystal display panel by which display unevenness defects can be reduced.例文帳に追加
表示ムラ不良の低減を図ることのできる液晶表示パネルの製造方法および製造装置を提供する。 - 特許庁
To provide a visual inspection device which facilitates checking the positions of defects in an inspection and can reduce the inspection period of time.例文帳に追加
検査時の欠陥の位置確認を容易にし、検査時間を削減することができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a laser processing apparatus which achieves both shorter Turn Around Time (TAT) and reduction in processing defects.例文帳に追加
本発明の目的は、高TATと加工不良低減を両立できるレーザ加工装置を提供することにある。 - 特許庁
To provide a brand-new rotary electric machine in which defects of SR motor and SP motor are eliminated while sustaining the advantages thereof.例文帳に追加
SRモータとSPモータの利点を有しつつ欠点を解消した全く新しい回転電機を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display device having improved display quality, high performance and high reliability by eliminating display defects.例文帳に追加
表示欠点をなくして、表示品位を高めた高性能かつ高信頼性の液晶表示装置を提供する。 - 特許庁
The apparatus 15 for detecting defects is equipped with a guide section 20, a defect-detecting section 30, guide pulleys 31-38 and a controller 40.例文帳に追加
欠陥検出装置15は、ガイド部20、欠陥検出部30、ガイドプーリ31〜38、及びコントローラ40を備えている。 - 特許庁
Next, the plating films are subjected to CMP polishing down to the desired thickness, by which the pit defects 27 are annihilated together with the plating films 25.例文帳に追加
次に、所望の厚さまでメッキ膜をCMP研磨して、メッキ膜25とともにピット欠陥27を消失させる。 - 特許庁
In this process, an image of the tested object is taken by a first image pickup device 6 for detecting black defects.例文帳に追加
ここで上方から第1撮像装置6によって被検査物の撮像を行い黒色の欠陥を検出する。 - 特許庁
To provide an apparatus for inspecting defects without being limited by a range inspected and is easy to maintain reliability.例文帳に追加
検査対象範囲に限定されず容易に信頼性が維持できるようにした欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor storage device capable of relieving various defects of margin nature without using a redundant memory cell.例文帳に追加
冗長メモリセルを用いることなく複数種のマージン性不良を救済できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
To provide a positive photosensitive composition excellent in suitability to halftone exposure (side lobe resistance) and less liable to cause development defects.例文帳に追加
ハーフトーン露光適性(サイドローブ耐性)に優れ、かつ現像欠陥が少ないポジ型感光性組成物を提供すること。 - 特許庁
To provide a soldering apparatus that makes the the temperature drop of the melted solder constant to suppress defects in soldering process.例文帳に追加
溶融半田の下降速度を一定にし、半田付けの不具合を抑えることができる半田付け装置を提供する。 - 特許庁
A redundant memory cell array that stores the number of times that defects are repaired is provided in a spare memory in a semiconductor memory device.例文帳に追加
半導体記憶装置におけるスペアメモリ内に、不良救済回数を記憶する冗長メモリセルアレイを設ける。 - 特許庁
To use a simply constituted apparatus and discriminate defects on a surface and a back face and in the interior of a glass plate, such as a liquid crystal panel.例文帳に追加
簡単な構成の装置で液晶パネル等のガラス板の表面、裏面及び内部の欠陥を判別する。 - 特許庁
To overcome defects of an exposure unit using a line print head, which exposes an instant film while moving in parallel to it.例文帳に追加
インスタントフイルムに対して平行移動しながら露光するラインプリントヘッドを用いた露光ユニットの欠点を克服する。 - 特許庁
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