Defectsを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 10273件
To provide a cubic crystal silicon carbide semiconductor substrate on which a high-quality epitaxial film with few crystal defects is formed.例文帳に追加
結晶欠陥の少ない高品質なエピタキシャル膜が形成された立方晶炭化珪素半導体基板を提供する。 - 特許庁
To control and mitigate striped alignment defects generated when using a 1, 3, 5-substituted benzene type discotic liquid crystal compound.例文帳に追加
1,3,5置換ベンゼン型ディスコティック液晶化合物を用いた場合に生じるスジ状の配向欠陥を抑制軽減する。 - 特許庁
To provide a device for inspecting defects in a wafer frame in a semiconductor element manufacturing factory and an inspecting method therefor.例文帳に追加
本発明は半導体素子製造工場でウェハー枠の欠陥を検査する装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of smoothing the surface of a substrate for an EUV mask blank having concave defects such as pits and scratches.例文帳に追加
ピットやスクラッチのような凹欠点を有するEUVマスクブランク用の基板表面を平滑化する方法の提供。 - 特許庁
To provide a semiconductor device manufacturing method by which grown-in defects in a substrate are contracted or extinguished.例文帳に追加
基板中のGrown−in欠陥を収縮又は消滅せしめる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To obtain high-quality SOI substrates by inspecting and evaluating defects in silicon layers and to improve yields in manufacturing semiconductor devices.例文帳に追加
シリコン層の欠陥を検査・評価して高品質のSOI基板を得、半導体装置の製造歩留まりを向上させる。 - 特許庁
To provide a layered ceramic capacitor which can prevent structural defects and improve the temperature characteristic of capacitance.例文帳に追加
構造欠陥を抑制し、静電容量の温度特性を向上させることができる積層セラミックコンデンサを提供する。 - 特許庁
Not the isolated features are locally analyzed by each of pixels but defects are globally analyzed as the individual total feature.例文帳に追加
孤立したフィーチャを、局部的に画素毎に解析するのではなく、個々の、全フィーチャとしてグローバルに欠陥を解析する。 - 特許庁
To provide a light alloy wheel having high reliability and productivity capable of suppressing leakage caused by defects such as pin holes.例文帳に追加
ピンホール等の欠陥によるモレを抑えた信頼性が高く、また生産性の高い軽合金ホイールを提供する。 - 特許庁
To provide a tip dresser that can detect clogging with turnings at the time of grinding to prevent subsequent grinding defects.例文帳に追加
研磨時の切粉の詰まりを検知して、その後の研磨不良を防止することができるチップドレッサを提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor device manufacturing method which reduces crystal defects with inhibiting diffusion of implanted impurities.例文帳に追加
注入した不純物の拡散を抑制しつつ結晶欠陥を低減する半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a semiconductor device and a program capable of identifying high-risk systematic defects.例文帳に追加
危険度の高いシステマティック欠陥を識別することのできる半導体装置の製造方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁
EB data as mask design data are transformed into a format of the apparatus for inspecting the defects, thereby acquiring inspection data.例文帳に追加
マスク設計データとしてのEBデータを欠陥検査装置用のフォーマットに変換することにより検査データを得る。 - 特許庁
Since portions possibly including welding defects are cut and removed, no fracture from the welded part occurs during the hydroform.例文帳に追加
溶接欠陥を含むおそれのある部分を切断したのでハイドロフォーム時に溶接部からの破断を生ずるおそれがない。 - 特許庁
Consequently, the occurrence of large defects in the oxidized coating film, and accordingly, the occurrence of leak-current failures can be reduced.例文帳に追加
その結果、酸化皮膜に大きな欠陥が発生するのを防止し、漏れ電流不良を減少させることができる。 - 特許庁
The lifetime is shorter as the number of defects of a semiconductor is large, and then usable for quality control of the semiconductor film.例文帳に追加
ライフタイムは半導体の欠陥の数が多いと短くなるので、半導体膜の品質管理に用いることが出来る。 - 特許庁
To obtain a defect-inspecting semiconductor substrate facilitating detection of defects, without changing the function and constitution of an inspection unit.例文帳に追加
検査装置の機能や構成を変えることなく、欠陥を検出しやすくする欠陥検査用半導体基板を得る。 - 特許庁
To overcome the defects of conventional techniques with a system for using invisible junctions for image-based document patch recognition.例文帳に追加
画像ベースの書類パッチ認識用のインビジブルジャンクションを用いるシステムと共に、従来技術の欠点を克服すること。 - 特許庁
To provide a defect detector for preventing defects on a substrate from being missed while performing image processing at high speed.例文帳に追加
画像処理を高速に行いつつ、基板上の欠陥の見逃しを抑制する欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
To make it possible to control sizes and density of void defects to a specified level or below with good accuracy without spoiling productivity.例文帳に追加
生産性を損なうことなくボイド欠陥のサイズ、密度を精度よく一定レベル以下に制御できるようにする。 - 特許庁
To provide an organic electroluminescence element having no pixel defects and ensuring high luminous efficiency regardless of a low voltage, and a long lifetime.例文帳に追加
画素欠陥が無く、低電圧でありながら発光効率が高い長い有機エレクトロルミネッセンス素子を提供する。 - 特許庁
To reduce an influence by defects of pixels in a spatial light modulator (SLM) of a liquid crystal used for a projector.例文帳に追加
プロジェクタに使用される液晶などの空間光変調器(SLM)にあるピクセル欠陥による影響を低減する。 - 特許庁
To reduce the number of crystal defects formed in an active layer in a SOI substrate manufactured by a SIMOX method.例文帳に追加
SIMOX法で作成するSOI基板において、活性層内に形成される結晶欠陥を低減する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a toner capable of stably forming a good toner image without causing image defects.例文帳に追加
画像欠陥の発生しない良好なトナー画像を安定して形成するトナーを製造するトナー製造方法の提供。 - 特許庁
To produce a single crystal SiC epitaxial film which is less in micropipe defects and high in reproducibility and uniformity of film thickness.例文帳に追加
マイクロパイプ欠陥が少なく、膜厚の再現性および均一性が高い単結晶SiCエピタキシャルを生成する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a photomask, capable of reducing defects in the manufacture of a photomask and improving throughput.例文帳に追加
フォトマスク製造における欠陥の低減、及びスループットの向上を実現できるフォトマスクの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a color toner which contains internally added silicone oil, the color toner preventing image defects from occurring at low temperature and low humidity.例文帳に追加
シリコーンオイルを内添したカラートナーにおいて、低温低湿度における画像欠陥を防止したカラートナーを提供すること。 - 特許庁
However, these were not caused by fundamental defects of the Shinkansen system itself, and are considered exceptions. 例文帳に追加
しかしながら、これらは新幹線システムそのものの根本的欠陥に起因する事故ではないため例外と考えられた。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
To make it possible to efficiently correct defective points such as bright defects in an optoelectronic device such as a liquid crystal device.例文帳に追加
液晶装置等の電気光学装置において、輝点等の欠陥個所を効率的に修正できるようにする。 - 特許庁
To provide a laser welding method for a resin material capable of preventing the welding defects such as shrinkage cavity or void from occurring.例文帳に追加
引け巣、ボイド等の溶着欠陥部の発生を防止することができる樹脂材のレーザ溶着方法を提供する。 - 特許庁
To provide a welded steel pipe which has no weld defects in the seam, and to provide a method of efficiently manufacturing the welded steel pipe.例文帳に追加
シームに溶接欠陥のない溶接鋼管、およびその溶接鋼管を効率良く製造する方法を提供する。 - 特許庁
To provide an apparatus and method for preventing one or more problems caused by restrictions and defects of conventional technologies.例文帳に追加
従来の技術の制限と欠点による一つまたは複数の問題を未然に防ぐ装置と方法を提供する。 - 特許庁
To provide a substrate for a plasma display device, causing less defects in joint between a discharge electrode and a terminal electrode.例文帳に追加
プラズマ表示装置用基板において、放電電極と端子電極の接合不良発生の低減を可能とする。 - 特許庁
The inspected image recorded in the memory is processed with the image processing apparatus 1, and determination of defects is carried out.例文帳に追加
メモリ内に記録された被検査画像は、画像処理装置1によって画像処理が行われ、キズ判定がなされる。 - 特許庁
To cast a slab in which tapers are imparted to four faces, and thereby, inner defects are reduced, and capable of improving product quality and yield.例文帳に追加
内部欠陥が少なく、製品品質および歩留りを向上し得る4面にテーパを付与した鋳片を鋳造する。 - 特許庁
Leave to appeal on a point of law shall not be required if one of the following procedural defects is denounced: 例文帳に追加
次に掲げる手続上の瑕疵が糾弾される場合は,法律抗告に対する許可は必要としないものとする。 - 特許庁
The diffraction images are integrated and analyzed so as to detect defects in the structure or can be individually analyzed.例文帳に追加
回析イメージは、構造中の欠陥を検出するために統合及び分析がされ、または個々の分析が行われてもよい。 - 特許庁
Etching properties are reduced by an interaction between (a) and (b), and the generation of the defects such as dishing or erosion, etc., can be suppressed.例文帳に追加
(a)および(b)の相互作用によりエッチング性が低下し、ディッシング、エロージョン等の欠陥の発生が抑制できる。 - 特許庁
To provide a higher degree of accuracy for detecting defects in a display substrate with a three-dimensional structure formed thereon by inspecting the same.例文帳に追加
立体構造物が形成されたディスプレイ用基板を検査対象とし、それの欠陥検出の精度を良くする。 - 特許庁
To provide a gel for food dissolving defects of the conventional technology affecting to taste, appearance, tissue or the like, excellent in freezing resistance.例文帳に追加
味、外観、組織等に及ぼす従来技術の欠点を解消し、冷凍耐性に優れた食品用ゲルの提供。 - 特許庁
To provide a novel machine for recapping a tire which can eliminate the defects of a conventional technology.例文帳に追加
本発明の目的は、従来技術の欠点をなくすことができる新規なタイヤ山掛け機械を提供することにある。 - 特許庁
Thereby, the light rays emitted from the defects C and D illuminate the same position on the imaging surface 16 as shown in the figure.例文帳に追加
よって、図に示すように、欠陥C、Dから放出された光は、撮像面16の同じ位置を照明する。 - 特許庁
To provide a bi-directional communication optical module and its inspecting method capable of early detecting defects at the middle of assembling.例文帳に追加
組み立て途中で不良を早期検出できる双方向光通信モジュール用素子及びその検査法を提供する。 - 特許庁
The apparatus for inspecting pattern performs comparison between images of regions corresponding to patterns formed to be same patterns, thereby determining mismatch portions across the images to be defects.例文帳に追加
また、多種多様な欠陥を顕在化でき,広範囲な工程への適用が可能なパターン検査装置を実現する - 特許庁
To provide a jet type soldering device and its method that reduce soldering defects at low cost.例文帳に追加
低コストにてはんだ付け不良を低減できる噴流はんだ付け装置及び噴流はんだ付け方法を提供する。 - 特許庁
To provide a translucent polycrystalline alumina (PCA) ceramic, a ceramic discharge vessel and the method of making the ceramic discharge vessel by avoiding the defects of the existing technology.例文帳に追加
先行技術の欠点を回避し、半透明のPCAセラミック、セラミック放電容器及び製造法を提供する。 - 特許庁
To provide an active matrix substrate and a defect inspection method therefor which allow the presence of defects to be surely inspected.例文帳に追加
欠陥の有無を確実に検査することができるアクティブマトリクス基板およびその欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
| 本サービスで使用している「Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス」はWikipediaの日本語文を独立行政法人情報通信研究機構が英訳したものを、Creative Comons Attribution-Share-Alike License 3.0による利用許諾のもと使用しております。詳細はhttp://creativecommons.org/licenses/by-sa/3.0/ および http://alaginrc.nict.go.jp/WikiCorpus/ をご覧下さい。 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|