「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

Further, heat treatment is performed after the transparent electrode layer is formed to repair defects such point defects present in the crystal structure of a buffer layer, a light absorbing layer, or the transparent electrode layer for restoration of the original crystal structure.例文帳に追加

さらに、透明電極層を形成した後に熱処理を施し、バッファ層ないし光吸収層、又は透明電極層の結晶構造中に存在する点欠陥等の欠陥を修復して元の結晶構造に復元する。 - 特許庁

The use of the historical defect list enables to obtain accurately within a short period of time, a selection of each manufacturing process with defects, a variation of defects in the manufacturing process, and the analysis result of a growth process and the like.例文帳に追加

従って、かかる欠陥来歴リストを用いることにより、欠陥の発生した製造工程毎の選別や製造プロセスでの欠陥の変化，成長過程などの解析結果を短時間でかつ正確に得ることが可能となる。 - 特許庁

To provide an optical film sheet with a barrier film having excellent surface smoothness usable for a display element, particularly an EL element showing reduced display defects due to reduced barrier defects and to provide a display element using the same.例文帳に追加

表示素子、特にバリア欠陥低減による表示欠陥の低減されたＥＬ素子用途に適用可能な優れた表面平滑特性を持つバリア膜付き光学フィルムシートおよびこれを用いた表示素子を提供する - 特許庁

The V/III ratios at the time of growing the intermediate layer 15 and current diffusing layer 16 are set so that the number of crystal defects observed on the crystalline surface of the light emitting element may become ≤20 defects.例文帳に追加

上記中間層１５の成長時のＶ／III比および電流拡散層１６の成長時のＶ／III比を、結晶表面に観察される結晶欠陥の数が半導体発光素子１個当り２０個以下となるような値に設定する。 - 特許庁

To provide, for example, a heating member having excellent durability to repetitive bending deformation at the time of use, a fixing device having excellent durability and hardly causing image defects, and an image forming apparatus having excellent durability and hardly causing image defects.例文帳に追加

例えば、使用時の繰り返し曲げ変形に対する耐久性に優れた加熱部材、耐久性に優れ、画像欠陥を生じ難い定着装置、及び耐久性に優れ、画像欠陥を生じ難い画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To specify a defect position without wrong detection from an image taken in first magnification, and to enable imaging in second magnification, in a method for observing many defects in a short time by using an image acquisition means, concerning defects of a sample.例文帳に追加

試料上の欠陥を，画像取得手段を用いて短時間に多数の欠陥観察を行う方法において，第１の倍率で撮像した画像から誤検出なく欠陥位置を特定し，第２の倍率での撮像を可能とする。 - 特許庁

By the LCD driver IC 14 in this configuration, a high voltage can be applied to the gate wiring 34 without being affected by defects even if the defects are generated in the STI separation layer 32 in a manufacturing process.例文帳に追加

このような構成のＬＣＤドライバＩＣ１４によれば、製造過程においてＳＴＩ分離層３２に欠陥が生じた場合であっても、欠陥の影響を受けることなく、ゲート配線３４に高電圧を印加することが可能となる。 - 特許庁

Where the application contains defects, and such defects are remedied in time (Section 99), this shall have no effect on the date of the first filing, provided that the nature of the invention is not affected by such amendments. 例文帳に追加

出願に欠陥があったが，期限内に修正された(第99条)場合は，このことにより最初の出願日に影響が及ぶことはない。ただし，発明の本質が当該修正によって影響を受けないことを条件とする。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor and an image forming apparatus which, even in continuous printing of an image with high toner consumption (e.g., a blotted image), give high-quality printed images free of streak-like image defects and raindrop-like image defects.例文帳に追加

高トナー消費量の画像（例えば、べた画像）を連続してプリントを行ってもスジ状の画像欠陥、雨だれ状の画像欠陥が無く高品質のプリント画像が得られる電子写真感光体及び画像形成装置の提供。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a display device, by which the dimensional change amount is controlled and display defects are prevented in a display device, using a plastic substrate in which dimensional changes have conventionally been difficult to control and display defects are produced.例文帳に追加

従来寸法変化を制御することができず、表示欠陥を出していたプラスチック基板を用いた表示素子において、寸法変化量を制御し、表示欠陥を起こさない表示素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for forming a coating layer having no coating defects such as streak, ununiformity or the like and a heat sensitive recording medium useful for a plate-making film or a medical image recording film having no coating defects such as streak, ununiformity or the like.例文帳に追加

スジ、ムラ等の塗布欠陥のない塗布層を形成する方法を提供し、また、スジ、ムラ等の塗布欠陥のない製版用フィルムあるいは医療用画像記録用フィルムとして有用な感熱記録媒体を提供すること。 - 特許庁

To provide a liquid crystal device which is capable of preventing display defects caused by fluorinated acid and display defects caused by aggregation of particles in liquid crystal and is superior in durability to obtain excellent alignment characteristics for a long period of time.例文帳に追加

フッ酸に起因する表示不良や、液晶中の粒子の凝集に起因する表示不良を防ぐことができ、長期に渡って優れた配向特性が得られる耐久性に優れた液晶装置を提供する。 - 特許庁

The determination step is to determine characteristic defects, caused in manufacturing process carried out in units of a plurality of semiconductor devices, among the characteristic defects of the semiconductor devices based upon a result of the re-inspection in the second wafer inspection step.例文帳に追加

判定工程は、第２ウエハ検査工程による再検査の結果に基づいて、半導体装置の特性不良のうち、複数個の半導体装置単位で行われる製造処理において生じる特性不良を判定する。 - 特許庁

To provide a method for repairing bright spot defects by which the bright spot defects can be made into black spot defectd over a wide viewing range regardless of a defect mode, and to provide a liquid crystal display device using the method, and a device for repairing the bright spot defect.例文帳に追加

本発明は、欠陥モードに制限されず、且つ広い視野範囲で輝点欠陥を黒点欠陥化できる輝点欠陥修復方法及び当該方法を用いた液晶表示装置、輝点欠陥修復装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method by which an operator can select defects having the possibility of exerting a fatal influence upon the operation of an integrated circuit from many pieces of defect data of a wafer surface by his or her easy operation so as to display defect images of the selected defects.例文帳に追加

ウェーハ上の多数の欠陥データの中から集積回路の動作に致命的な影響を与える可能性のある欠陥を、オペレータの容易な操作で選択し、選択した欠陥の欠陥画像を表示できる方法の提供。 - 特許庁

At the time, through the crystal defects 8 are recovered at positions where the silicide films are formed, since the acquisition layer formation region Y is masked with the silicon oxide film 10, the crystal defects 8 are not recovered in the region.例文帳に追加

このとき、シリサイド膜が形成された位置において結晶欠陥８が回復するが、捕捉層形成領域Ｙをシリコン酸化膜１０によってマスクしているため、この領域においては結晶欠陥８が回復しない。 - 特許庁

To provide a wafer evaluation method and apparatus which can effectively detect and identify what type of defects or contaminations are present on a wafer and how the defects or foreign mater is distributed on the wafer.例文帳に追加

どんな種類の欠陥や異物がウエーハ表面上に存在し、各欠陥や異物がどのようにウエーハ表面上に分布しているかを効果的に検出及び識別することのできるウエーハの評価方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a photovoltaic device inspection apparatus and a method of determining defects in the photovoltaic device, capable of determining whether the photovoltaic device is good or not by energizing the photovoltaic device to allow EL light emission and checking defects from the light emission state.例文帳に追加

太陽電池に通電することでＥＬ発光させ、発光状態から欠陥の有無などを調べ、太陽電池の良否を判定することができる太陽電池の検査装置及び太陽電池の欠陥判定方法を提供する。 - 特許庁

To grasp defects generated on a substrate as quickly and accurately as possible and definitely specify the generation sources and causes of the defects in process to realize to manufacture a product with a good yield and high reliability.例文帳に追加

基板上に発生する欠陥を可及的に迅速且つ正確に把握し、インプロセス内における欠陥の発生源や発生原因を確実に特定して、歩留まり良く信頼性の高い製品作製が実現を実現する。 - 特許庁

To detect defects of an inspection object even when the defects have concave shapes or convex shapes, and to inspect sheets not having transparency, having low transparency, or having a surface with glossiness.例文帳に追加

検査対象における欠陥の形状が凹状又は凸状のいずれであっても検出可能とするとともに、光透過性を有しないものや低いもの、表面に光沢を有するシートなどについても検査の対象物とする。 - 特許庁

To produce a high quality large SiC single crystal which has very few micropipe defects or other defects such as grain boundaries and is capable of sufficiently meeting the requirements for a semiconductor device, with excellent productivity.例文帳に追加

マイクロパイプ欠陥や結晶粒界等の欠陥が非常に少なくて半導体デバイスとしての要求を十分に満たす高品質かつ大型の単結晶ＳｉＣを非常に生産性よく製造することができるようにする。 - 特許庁

By referring to a database storing the types of defects obtained by inspecting samples, a type of an extracted defect is specified and the density of defects of each type is determined for each region of the sample for display.例文帳に追加

試料を検査して得られる欠陥の種類を記憶したデータベースを参照して、抽出した欠陥の種類を特定し、試料の領域ごとに欠陥の種類別の欠陥密度を求め、表示するようにしたものである。 - 特許庁

The method for checking the pattern comprises calculating the feature amount of a defect which includes the signal amount of a charged particle beam image of the defect, simultaneously or concurrently upon checking, and immediately sorting the defects based on the electrical properties of the defects.例文帳に追加

検査と同時にあるいは並行して欠陥部の荷電粒子線画像の信号量を含む欠陥の特徴量を算出し、これによって欠陥の電気的性質に基づく分類を即座に行えるようにする。 - 特許庁

To suppress suction and mounting defects of electronic components due to contamination of a nozzle by cleaning an end of the nozzle in a short time.例文帳に追加

ノズルの端部を短時間で清掃し、ノズルの汚染に起因した電子部品の吸着・装着不良を抑制する。 - 特許庁

To provide a spatula hating apparatus excellent in handleability by overcoming both of the defects of a gas burner system and an electric heating system.例文帳に追加

ガスバーナ式や電熱式の欠点をいずれも克服して、使い勝手に優れたスパチュラ加熱装置を提供する。 - 特許庁

To provide a film deposition apparatus and a film deposition method for depositing a uniform and dense film without generating any film defects.例文帳に追加

製膜装置及び成膜方法に関し、膜欠陥を発生させることなく、均一で緻密な膜を製膜する。 - 特許庁

To provide a phone system that can conduct a speech at a public place without defects of a conventional speech system.例文帳に追加

従来の通話方式による欠点を伴わずに、公共の場で通話を遂行するための電話用システムを提供する。 - 特許庁

To provide an electrostatic coating apparatus free from the occurrence of coating ununiformity or coating defects due to the falling of the lump of coating material particles.例文帳に追加

塗料粒子の塊が落下して塗装ムラや塗装不良を生じることのない静電塗装装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fixing device which suppresses image defects such as offset when a large-size paper is passed after a small-size paper is passed.例文帳に追加

小サイズ通紙後の大サイズ通紙時のオフセット等の画像障害を抑制した定着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system for cutting plate glass which can automatically perform the inspection of defects and cutting of the plate glass.例文帳に追加

板ガラスの不良品検査と割断とを自動的に行うことができる板ガラスの割断システムを提供すること。 - 特許庁

According to the present invention, good quality color filters free from the defects of patterns and development residues can be provided.例文帳に追加

また、本発明によれば、パターンの欠損や現像残渣のない良好な品質のカラーフィルタを提供することができる。 - 特許庁

Consequently, generation of weld defects are prevented without giving highly precise gap control and adjusting laser conditions.例文帳に追加

したがって、高精度な隙間管理及びレーザ条件の調整を行うことなく溶接欠陥の発生を防止できる。 - 特許庁

To provide a inspecting method for detecting physical defects of a magnetic disk with high sensitivity, without increasing the inspecting period.例文帳に追加

検査時間を増大させないで磁気ディスクの物理的な欠陥を高感度で検出する検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor light emitting element improved so as to suppress spread of structural defects.例文帳に追加

構造欠陥の拡大を抑制するように改良された半導体発光素子を提供することを主要な目的とする。 - 特許庁

To provide an electric razor capable of preventing the mounting defect of packing and preventing waterproof defects.例文帳に追加

パッキンの装着不良を防止して防水不良を防止することのできる電気かみそりを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an additive for a lost pattern by which, the defects of residue can sufficiently in the use of a lost pattern be solved.例文帳に追加

消失模型を用いた場合に、残渣欠陥を十分に解消できる消失模型用添加剤を提供する。 - 特許庁

As a result, no exposure defects are caused, and the irregularity of the output image is prevented while exposure properties are maintained.例文帳に追加

このため、露光不良を起こすことなく、露光特性を保ったまま出力画像のムラを防止することができる。 - 特許庁

To provide a pattern plate and a producing method of the pattern plate free from the generation of defects.例文帳に追加

パターンに欠陥が生じることがないパターン板を製造するパターン板の製造方法およびパターン板を提供する。 - 特許庁

To not only reduce the manufacturing cost but also shorten the work time without bringing about unexpected defects in a periodical structure.例文帳に追加

周期構造に意図しない欠陥を生じさせることなく、製造コストの低減および作業時間の短縮を図る。 - 特許庁

On the other hand, when the diameter of the SWCNT is made short, the defects are increased and the relax time is made made short, as shown in Fig. (C).例文帳に追加

一方、（Ｃ）に示すようにＳＷＣＮＴの径を小さくすると欠陥が多くなり、緩和時間が短くなる。 - 特許庁

The method solves defects that in long time spinning, spinning dope discharged from the spinneret adheres on the surface of the spinneret and a part of a discharging nozzle and deteriorates to cause variation of dyeing quality and thread breakage.例文帳に追加

塩化メチレンに可溶であるシリコーンオイルを離型剤として用いたトリアセテート繊維の紡糸方法にある。 - 特許庁

To suppress the development of image defects in an image forming device carrying an exposure system with a plurality of light emitting elements.例文帳に追加

複数の発光素子を用いた露光装置を搭載する画像形成装置において、画像不良の発生を抑制する。 - 特許庁

To provide a self-ligation type orthodontic bracket overcoming defects of a conventional technique using a spring force.例文帳に追加

スプリング力を使用した従来技術における欠点を克服した自己結紮型歯科矯正ブラケットを提供すること。 - 特許庁

To provide a thermosetting resin decorative material not generating appearance defects such as orange peel, wrinkles, discoloration or the like on its surface.例文帳に追加

柚子肌、皺、変色等の表面の外観欠陥を生じない熱硬化性樹脂化粧材を提供すること。 - 特許庁

The number of defects in the manufacturing of the semiconductor device is reduced by using the processing solution including one kind or more surfactants.例文帳に追加

１種以上の界面活性剤を含む処理溶液を使用して、半導体デバイス製造時の欠陥数を低減する。 - 特許庁