「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(43ページ目) - Weblio英語例文検索

To reduce leak current by reducing defects in an element forming region for forming the memory cells of a nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリのメモリセルが形成される素子形成領域内の欠陥を低減させ、リーク電流の低減を図る。 - 特許庁

To provide a wireless communication system that eliminates defects in a conventional system and allows a vehicle to freely control devices in a house.例文帳に追加

従来のシステムの不具合を解消するとともに、家屋内の機器を車両から自在に制御できるようにする。 - 特許庁

If the three kinds of conditions are all satisfied, the kind of the defects is decided as being COP.例文帳に追加

また、前記３種の条件をいずれも満足するなら、前記欠陥の種類がＣＯＰであると判定する（ステップ２４２）。 - 特許庁

To prevent belt scratch and image defects by stabilizing the running of a belt.例文帳に追加

ベルト走行を安定化させることによって、ベルトの傷付きおよび画像不良の発生低減を防止することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a liquid crystal display device which will not generate stripe patterned alignment defects in peripheral parts of spacers.例文帳に追加

スペーサ周辺部の筋状の配向不良が発生しない液晶表示装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

By comparing a signal intensity pattern extracted from the CCD 26 to a reference pattern, undulations and recess defects are detected.例文帳に追加

ＴＤＩラインＣＣＤ２６から得られた信号強度パターンを標準パターンと比較し、うねりや凹欠陥を検知する。 - 特許庁

To provide an image forming process capable of preventing occurrence of image defects while suppressing increase of a first print time.例文帳に追加

ファーストプリント時間の増大を抑制しつつ、画像欠陥を防止することが可能な画像形成技術を提供する。 - 特許庁

A first mask including a plurality of first features is inspected for defects in the features, and defect data are stored (step 20).例文帳に追加

複数の第１のフィーチャを含む第１のマスクが、フィーチャの欠陥に関して検査され欠陥データが記憶される２０。 - 特許庁

To provide a substrate inspection method and a device capable of improving the power of test of defects on the substrates.例文帳に追加

基板上における欠陥の検出率の向上を図ることが可能な基板検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide imprint lithography device and method with little pattern defects according to an embodiment of the present invention.例文帳に追加

本発明の実施形態によれば、パターン不良の少ないインプリントリソグラフィ装置及び方法を提供することができる。 - 特許庁

To provide a mask inspecting device and a mask inspecting method capable of accurately detecting light-transmissive transparent defects.例文帳に追加

光透過性の透明欠陥を精度良く検出することができるマスク検査装置およびマスク検査方法を提供する。 - 特許庁

An image processor automatically detects eye tone defects from images and performs correction.例文帳に追加

従来よりも処理負荷および消費メモリ量が少なく、組み込みシステムにおいても高い検出性能を実現可能とする。 - 特許庁

To provide a resin-coated aluminum seamless can with a good yield which is free from resin film defects, having high corrosion-resistant and high quality.例文帳に追加

樹脂フィルム欠陥のない高耐食性、高品質な樹脂被覆アルミニウムシームレス缶を歩留まりよく提供する。 - 特許庁

To provide a wiring forming method which can reduce embedding time and reduce continuity defects.例文帳に追加

埋め込み時間を短縮することができ、かつ導通不良を低減させることができる配線形成方法を提供する。 - 特許庁

To enhance durability of a light deflection element by preventing generation of noise light resulting from alignment defects of liquid crystal.例文帳に追加

光偏向素子において、液晶の配向欠陥に起因するノイズ光の発生を防止し、耐久性を向上させる。 - 特許庁

To provide a pixel defect correction device which is capable of reducing the amount of position information on pixel defects recorded in a nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリに記録する画素欠陥位置情報量を削減できる画素欠陥補正装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for automatically, quickly, accurately, and completely classifying the defects of a semiconductor wafer.例文帳に追加

自動的、迅速、確実及び完全な半導体ウェーハの欠陥の分類のための方法及び装置を供給する。 - 特許庁

To provide a pattern formation method capable of suppressing the generation of pattern defects when forming a pattern on a substrate.例文帳に追加

基板上にパターンを形成する際におけるパターン欠陥の発生を抑制できるパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an improved high-sensitivity optical inspection system for detecting defects on diffracting plane, including surface pattern.例文帳に追加

表面パターンを含む回折面上の欠陥を検出するための改良された高感度光学検査システムの提供 - 特許庁

A process solution comprising one or more surfactants is used to reduce the number of defects in the manufacture of semiconductor devices.例文帳に追加

１種以上の界面活性剤を含む処理溶液を使用して、半導体デバイス製造時の欠陥数を低減する。 - 特許庁

To provide a laser welding state detecting method capable of highly precisely and minutely detecting defects of a weld zone.例文帳に追加

溶接箇所の欠陥を高精度かつ詳細に検出できるレーザ溶接の溶接状態検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microcontact printing plate whereby defects are hard to occur when the desired pattern is transferred onto the base substrate.例文帳に追加

所望のパターンが基板等に転写される際に欠陥が生じにくいマイクロコンタクトプリント用版を提供すること。 - 特許庁

To provide a display substrate capable of removing display defects, a method for manufacturing the same, and a display device having the same.例文帳に追加

表示不良を除去しうる表示基板、これの製造方法、及びこれを有する表示装置が開示される。 - 特許庁

To enhance the efficiency of its step by suppressing the occurrence of defects at mounting to the utmost, without causing thermal deformation at mounting.例文帳に追加

実装時に熱変形を起こさず実装時の不良発生を極力抑制し、そのステップの効率を高くする。 - 特許庁

To measure force (particularly, hydrodynamic force) acting on a test vehicle, while overcoming conventional defects.例文帳に追加

従来の欠点を克服しつつテスト車両に作用する力（特に流体力学的な力）の測定を可能にすること。 - 特許庁

To suppress occurrence of image defects due to foreign matter clogging while preventing troubles such as the ssplashing and spilling of a developer.例文帳に追加

現像剤の飛散やこぼれ等の障害を防止しつつ、異物詰まりによる画像欠陥の発生を抑制すること。 - 特許庁

To provide a picture input device suitable for surface examination which checks defects of the surface of a flat article.例文帳に追加

平らな物品の表面の欠陥を検査する表面検査において好適な画像入力装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting whether there are defects in the lamination of a semiconductor device, constituted of silicon carbide semiconductor, in a short time.例文帳に追加

炭化珪素半導体よりなる半導体装置の積層欠陥の有無を短時間で検査する方法の提供。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DECIDING MASK COMMON DEFECTS, AND METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AND ELIMINATING MASK COMMON DEFECT CHIPS例文帳に追加

マスク共通欠陥判定の方法および装置ならびにマスク共通欠陥チップ測定除外の方法および装置 - 特許庁

Film-forming is started again from the organic layer on the defective base plate, after a restoration treatment is applied for peeling off an organic layer with defects.例文帳に追加

不良の基板は、欠陥を含む有機層を剥離する再生処理ののち、再び有機層から成膜を行う。 - 特許庁

To provide a photodetector having a specially improved quantum efficiency without conventional technical defects.例文帳に追加

従来の技術の欠点を有さず、しかも特に改善された量子効率を有する光検出器を提供すること。 - 特許庁

To inspect defects, such as a stuck matter, a flaw, color unevenness, and gentle unevenness of thickness, on the surface of a material to be inspected, at high speed.例文帳に追加

被検査物表面の付着物、キズ、色ムラ並びに緩やかな凹凸厚みムラ等の欠陥を高速に検査する。 - 特許庁

To provide a pipe measuring device for reducing labor and time in measurement/computation and dissolving errors and measurement defects.例文帳に追加

計測・演算に係る手間と時間を削減し、誤差、計測不良を解消する管計測装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an underwater tester for a lining which tests any defects on the lining in water, by remote control from above the water surface.例文帳に追加

水中のライニングの欠陥を、水面上からの遠隔操作で検査するライニングの水中検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an epitaxial wafer for semiconductor device whose current amplification factor β is not lowered, even if there are a substrate defects.例文帳に追加

基板に欠陥があっても電流増幅率βが低下しない半導体デバイス用エピタキシャルウェハを提供する。 - 特許庁

To provide a center pin for weld nut welding electrode capable of solving welding defects due to breaking of a center pin.例文帳に追加

センターピンの破損に起因する溶接不良を解決することができる、ウェルドナット溶接電極用センターピンを提供する。 - 特許庁

To provide an alkali-free glass substrate which is free from bubbles resulting in display defects without using As_2O_3 as a fining agent.例文帳に追加

清澄剤としてＡｓ_2Ｏ_3を使用しなくても、表示欠陥となる泡が存在しない無アルカリガラス基板を提供する。 - 特許庁

Thus, by clearly informing the user in advance of defects at the time of zooming, the user can zoom the button 1 by a correct manner.例文帳に追加

この後、ボタン１をズームさせることにより、予めズームする際の不具合をユーザに明確に報知することができる。 - 特許庁

To make it possible to reduce defects and problems relating to controlling signal transmission at a radio communication device.例文帳に追加

本発明によると、無線通信装置の信号送信を制御することと関連する欠点及び問題が低減されうる。 - 特許庁

To provide wiring pattern inspection method capable of easily detecting defects of wiring patterns, in a short time.例文帳に追加

配線パターンの欠陥を短時間で簡単に検知することができる配線パターンの検査方法を提供することである。 - 特許庁

Such an apparatus is provided with cameras arranged in a matrix and is used for effectively detecting various defects.例文帳に追加

このような装置は、行列形態のカメラを備えており、様々な不良を効果的に検出することに用いられる。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging element capable of restraining the occurrence of white defects effectively even when a cell size is reduced.例文帳に追加

セルサイズが縮小していった場合でも白傷を効果的に抑制することのできる固体撮像素子を提供する - 特許庁

To provide a new method for producing a semiconductor substrate having a surface metallurgy-feature free from defects as a whole.例文帳に追加

全体的に欠陥のない表面メタラジー・フィーチャを有する半導体基板の、新規の製造方法を提供すること。 - 特許庁

In addition, necessary inputs and a purpose of inputting are made clear for each item (clustering, filtering or the like) in checking the defects.例文帳に追加

あわせて、欠陥確認での各項目（クラスタリング、フィルタリング等）で必要な入力及び入力目的を明確にする。 - 特許庁

To utilize electrical test results of a wafer effectively, and identify the causes of defects adequately and promptly.例文帳に追加

ウェーハの電気検査の結果を有効に活用し、不良原因を的確かつ迅速に絞り込むことができるようにする。 - 特許庁