「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(46ページ目) - Weblio英語例文検索

To detect defects in a minute wiring pattern formed on a sample with high sensitivity, by improving the contrast of an optical image of the sample formed by the interference between the 0-th and higher-order diffracted lights of reflected light, arising from illuminating light reflected by the sample surface, in a defects detection optical system which detects defects in a pattern formed on the sample surface.例文帳に追加

試料表面に形成したパターンの欠陥を検出する欠陥検出光学系において、照明光により試料表面で反射した反射光の０次光と高次回折光の干渉により形成される試料の光学像のコントラストを向上させることにより、試料上に形成された微細な配線パターンの欠陥を感度良く検出する。 - 特許庁

Optical scanning equipment based on a confocal optical system inspects the surface of a wafer to be inspected as a sample, identifies the defects or contaminations on the sample surface detected by the inspection according to its type, outputs and displays the position of the identified defects or contaminations on a wafer screen corresponding to the specimen by a symbol indicative of the type of the defects or contaminations.例文帳に追加

検査対象ウエーハである試料の表面をコンフォーカル光学系による光学的走査装置によって検査し、該検査によって検出された該試料表面上の欠陥や異物をその種類別に識別し、該識別された欠陥や異物の位置を各欠陥や異物の種類別を示す記号によって該試料に対応するウエーハ画面上に出力表示するようにした。 - 特許庁

The method inspects the surface of a single-crystal substrate for use as a semiconductor substrate for manufacturing a semiconductor device for defects which are strip-shape or groove-shape defects ≥0.3 μm in length with the width ≥3 times the length, or shallow pit-shape defects or mound-shape defects ≥0.5 μm in diameter with the depth or height ≥10 times the diameter.例文帳に追加

半導体デバイスを作製するための半導体基板として使用する単結晶基板表面において、長さ０．３μｍ以上でありかつ長さが幅の３倍以上であるライン状の凹凸欠陥あるいは短冊状の形状を有した凹形状欠陥、あるいは直径が０．５μｍ以上でありかつ直径が深さあるいは高さの１０倍以上であるシャローピットあるいはマウンド状欠陥を検査することを特徴とする検査方法およびこれらの欠陥のない半導体基板の製造方法。 - 特許庁

To provide a unit to cut a strip of a packaging material in different length parts without being influenced by conventional defects.例文帳に追加

従来の欠点の影響を受けずに包装材料のストリップを別個の長さ部分に切断するためのユニットを提供する。 - 特許庁

To provide an aluminum brazing sheet which has reduced defects in press fitting on clad rolling in spite of its high strength, and has excellent productivity.例文帳に追加

高強度でありながら、クラッド圧延時の圧着不良が少なく、生産性が優れたアルミニウムブレージングシートを提供する。 - 特許庁

To prevent variations in pattern forming positions and pattern sizes from affecting detection precision of defects even if those variations are present.例文帳に追加

パターンの形成位置や大きさにばらつきがあっても、そのばらつきが欠陥の検出精度に影響を及ぼさないようにする。 - 特許庁

Thereby, a part having defects can be replaced, while minimizing reduction in the operating speed and increase in the chip area.例文帳に追加

これにより、動作速度の低下及びチップ面積の増加を最小化しつつ欠陥を有する部分を置換することができる。 - 特許庁

To prepare a pressure-sensitive adhesive sheet which prevents defects such as warpage and foaming and excels in reworkability.例文帳に追加

本発明は、ソリ、発泡などの欠陥を防止するとともに、リワーク性に優れた粘着シートを提供することを目的とする。 - 特許庁

An analysis part 25 analyses the defects of the wafer W for detection on the basis of the stored information in the storage 24.例文帳に追加

解析部２５は、記憶部２４に記憶された情報に基づいて、ウエハＷの欠陥等の検出するための解析を行う。 - 特許庁

To provide a surfactant which achieves the quick coating of a coating liquid and the reform of coat defects and causing no deterioration of water resistance.例文帳に追加

コーティング液の高速塗工化・塗膜欠損の改善を満足し、耐水性が低下しない界面活性剤の提供。 - 特許庁

To provide a system and a method that can conduct a speech at a public place without defects of a conventional speech system.例文帳に追加

従来の通話方式による欠点を伴わずに、公共の場で通話を遂行するためのシステム及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a large crystalline SiC substrate which is reduced in crystal defects and the distortion, and is low in the manufacturing cost.例文帳に追加

結晶欠陥、ひずみが少なく、製造コストが安価な大形状の結晶ＳｉＣ基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

The defects of concrete can be repaired by filling the mortar composition by hand.例文帳に追加

したがって、手で取り扱うことも可能であり、コンクリートの欠損部に、このモルタル組成物を手で充填して補修することができる。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device capable of preventing an organic compound from intruding into a liquid crystal, which causes display defects.例文帳に追加

液晶内に表示不良に起因する有機化合物の混入を大幅に低減させた液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming device that prevents deterioration of an elastic part of a transfer belt while reducing image defects.例文帳に追加

転写ベルトの弾性部の劣化が低減され、画像不良の発生を抑制することが可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming device which can be easily repaired when defects develop in the area other than the non-volatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリ以外の部分に不具合があった際の修理の容易化が図られた画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To reduce the time for inspection by increasing the sensitivity and speed for inspecting an object to be, such as a semiconductor wafer or the like for foreign matter or defects.例文帳に追加

半導体ウェハ等の被検査物の異物・欠陥検査の高感度化及び高速化による検査時間の短縮化。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having such a structure as to suppress the occurrence of crystal defects in an upper corner of a trench and to be reduced in size, and also to provide its manufacturing method.例文帳に追加

トレンチゲート構造の半導体装置において、トレンチ上方コーナ部に結晶欠陥が生じることを抑制する。 - 特許庁

To provide a method of measuring defect density capable of discriminating types of defects in single crystals mechanically and efficiently.例文帳に追加

単結晶の欠陥の種類の判別を機械的に高い効率で行なうことができる欠陥密度測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for reducing defects caused by separation or the like of bonding in a bonding process, and also to provide a method for manufacturing the semiconductor.例文帳に追加

ボンディング工程でのボンディング剥れ等による不良を低減させた半導体装置と、その製造方法を提供すること。 - 特許庁

To solve the problem that a coaxially flexible piezoelectric member cannot be wholly polarized in the case that defects are contained in the coaxially flexible piezoelectric member.例文帳に追加

同軸状可撓性圧電体に欠陥が含まれる場合、同軸状可撓性圧電体を全体的に分極できなくなる。 - 特許庁

To detect defects on a wafer in situ during a manufacturing process without providing a particle irradiation means or the like exclusive for inspection.例文帳に追加

ウエハ上の欠陥等を検査専用の粒子照射手段等を設けることなく製造プロセス中にインサイチュで検出する。 - 特許庁

To obtain a fuel tank, a method and a device for manufacturing the same by which the generation of weld defects is remarkably restrained.例文帳に追加

溶接欠陥の発生を大幅に抑制することができる燃料タンク、その製造方法およびその製造装置の提供。 - 特許庁

To reduce an effect of a normal surface condition of an object and accurately detect foreign substances and defects existing on the surface.例文帳に追加

物体の正常な表面状態による影響を少なくして、表面に存在する異物や欠陥を精度良く検出する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus capable of detecting the information related to pixel defects and shading for correcting a photographed image at a proper timing.例文帳に追加

撮影画像の修正のための画素欠陥やシェーディングに係る情報の検出を適切なタイミングで行えるようにする。 - 特許庁

To provide a spectacle lens which has a good imaging characteristic for correction of various sight defects and mass productivity in combination.例文帳に追加

様々な視力欠陥を補正するための良好なイメージング特性と大量生産性とを併せ持つ眼鏡レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a device for inspecting a workpiece, capable of stabilizing accuracy in coordinates of defects or contamination detected on the workpiece.例文帳に追加

被検査物上に検出される異物や欠陥の座標精度を安定化させる被検査物の検査装置を提供する。 - 特許庁

A process window is enlarged by this method, defects of the crystallization are reduced, and the production yield can be improved.例文帳に追加

当該方法により、工程窓が拡大し、結晶化の欠陥を低減するとともに、生産収率を向上させることができる。 - 特許庁

To provide a portable ultrasonic flaw detector wherein flaw detection processing on defects and data storage processing are completed even by one flaw detecting person.例文帳に追加

探傷者一名でも欠陥の探傷処理とデータ記憶処理を終えることのできる携帯式の探傷装置を提供する。 - 特許庁

To surely detect defects on the rising part of a bottle, and to eliminate the need for rotating the bottle.例文帳に追加

壜の立ち上がり部分の欠陥を確実に検出でき、壜を回転させる必要もない欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

These defects are solved by forming a flat film at the lower layer part and the rugged film at the upper layer part.例文帳に追加

そのため、下層部に平坦な膜、上層部に凹凸膜を形成し、密着性やパターン不良の問題を解決している。 - 特許庁

To obtain a technique for detecting defects such as short circuits in a device such as a discrete pixel detector 22 used in a digital X-ray system 10.例文帳に追加

デジタルＸ線システム（１０）で使われる離散画素検出器（２２）等のデバイスの短絡等の欠陥を検出する技術。 - 特許庁

To provide an apparatus and an operation method which reduce defects caused by using an immersion liquid in an immersion liquid lithographic apparatus.例文帳に追加

液浸リソグラフィ装置で液浸液の使用によって持ち込まれる欠陥を減少させる装置および動作方法を提供する。 - 特許庁

The defect 300 is set so as to exist within the light emission spectrum having a prescribed energy level resulting from defects.例文帳に追加

欠陥部３００は、欠陥に起因するエネルギー準位が所定の発光スペクトル内に存在するように設定されている。 - 特許庁

To obtain an inspection method in which surface defects of a metal band conveyed on a production line containing a hot rolling process is detected with high accuracy.例文帳に追加

熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯の表面欠陥を高い精度で検出する。 - 特許庁

To provide an inner corner welding method which eliminates defects, etc., of melt welding, such as ruggedness of joint parts and the porosity within the joint parts.例文帳に追加

接合部の凹凸や、接合部内部のポロシティー等の溶融溶接の欠陥等がなく、内すみ接合方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory incorporating a structure for distinguishing an over-erasure defective memory cell from the other defects.例文帳に追加

本発明は、過消去不良のメモリセルを他の不良から区別するための構造を組み込んだ半導体メモリを提供する。 - 特許庁

To reliably inspect the defects of the front and back surfaces and edge part of a strip of sheet with a small reflection factor.例文帳に追加

反射率の低い帯状シートの表面、裏面およびエッジ部の欠陥を高い信頼性のもとに検査できるようにする。 - 特許庁

To reduce defects generated by an error propagation gradation generation method and arithmetic operations required for error propagation gradation generation.例文帳に追加

誤差拡散階調生成法によって生成される欠陥および誤差拡散階調生成に必要な演算を低減する。 - 特許庁

To provide a method for improving performance of a transistor by reducing defects in a silicon film, in manufacturing a thin film transistor.例文帳に追加

薄膜トランジスタの製造において、シリコン膜中の欠陥を低減しトランジスタの性能を向上する方法を提供する。 - 特許庁

To manufacture a printed wiring board in which the cross section of a conductor pattern is close to a rectangle by etching without causing short defects.例文帳に追加

導体パターンの断面が矩形に近いプリント配線板を、エッチングにより、ショート欠陥を発生させることなく製造する。 - 特許庁

To provide a diffusing sheet capable of improving appearance defects such as the unevenness of a light guide plate and luminance unevenness without lowering the luminance significantly.例文帳に追加

輝度を大きく低下せず、導光板のむら、輝度むら等の外観不良を改善できる拡散シートを提供する。 - 特許庁

To prevent the diffusion and concentration of Si in the production of a hot dip galvanized steel sheet and to reduce pinhole defects by Si.例文帳に追加

溶融亜鉛めっき鋼板の製造において、Ｓｉの拡散および濃化を防止し、Ｓｉによるピンホール欠陥を軽減する。 - 特許庁

To provide a testing method by which presence/absence of defects of current copy type pixels is tested in the state where an EL element is not enclosed.例文帳に追加

ＥＬ素子未封入の状態でカレントコピー型の画素の欠陥の有無を試験することができる試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for annealing a silicon carbide single crystal material, in which the generation of defects and cracks by a sublimation gas is suppressed.例文帳に追加

昇華ガスによる欠陥およびクラックの発生を抑制する炭化珪素単結晶材の焼鈍方法を提供する。 - 特許庁