「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(50ページ目) - Weblio英語例文検索

To detect both of a light defect and a dark defect and reduce a process time for detecting the defects.例文帳に追加

明欠陥に限らず暗欠陥も検出でき、さらに欠陥を検出する際の処理時間を短くすることを目的とする。 - 特許庁

To obtain an inspection apparatus which is capable of accurately positioning a work at a prescribed inspection position so as to properly inspect very fine defects.例文帳に追加

被検査物を所定の検査位置に精度良く位置決めし、非常に微細な欠陥も適切に検査することを可能にする。 - 特許庁

To realize compactness, low cost, reduction in external dimensions, improvement in packaging density, and prevention of packaging defects.例文帳に追加

小型化を図り安価に形成し、外形寸法を小さくするとともに、実装密度を向上させ、かつ実装不良を防止する。 - 特許庁

To dissolve molding defects due to a back surface cloth in a pad for a seat constituted so as to embed an air bag device.例文帳に追加

エアバッグ装置が埋設されるように構成されたシート用パッドにおいて、裏面布に起因する成形不良を解消する。 - 特許庁

To obtain the improved method for operating the communication system which reduces or avoids defects and restrictions of conventional technology.例文帳に追加

従来技術の欠点および制約を軽減または回避する通信システムを動作するための改善された方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a resist composition, which is capable of forming a pattern with few defects.例文帳に追加

欠陥の少ないパターンを形成することができるレジスト組成物を製造するレジスト組成物の製造方法を提供する。 - 特許庁

To suppress the appearance of defects on the surface due to falling and also improve the working efficiency during manufacturing.例文帳に追加

落下により生じる欠損が表面に表れにくく、また製造時の作業効率の向上を図ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a substrate for solar cell, which is free from defects such as chipping or crack, strain or warp and suitable for a solar cell.例文帳に追加

欠けや亀裂等の欠陥や、歪み、反りを生じることない太陽電池に好適な太陽電池用基板を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a perpendicular magnetic recording medium by which good characteristics decreased in noise and defects may be obtained.例文帳に追加

ノイズやディフェクトを低減した良好な特性を得ることができる垂直磁気記録媒体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To detect not only white stripes but also black stripes, and to highly precisely detect stripe defects of various sizes.例文帳に追加

白スジに限らず、黒スジも検出でき、さらに各種サイズのスジ欠陥を高精度に検出することができることを目的とする。 - 特許庁

To provide a winding machine capable of accurately detecting defects in insulation of a coil material in the manufacturing process of a wound product.例文帳に追加

巻線製品の製造工程において、コイル線材の絶縁不良を高精度に検出可能とした巻線機を提供する。 - 特許庁

Therefore, an appropriate processing can be performed for the failure of the access caused by the defects of the optical disk 20.例文帳に追加

これにより、光ディスク２０の欠陥によって生じるアクセスの失敗に対して適切な処理を行うことが可能になる。 - 特許庁

To shorten the time required for obtaining a three-dimensional image in a nondestructive inspection for inspecting defects through the use of a highly sensitive magnetic sensor.例文帳に追加

高感度磁気センサを使用して欠陥を検査する非破壊検査において、３次元画像を得るまでの時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a method for producing a cast slab without causing surface defects on the hot-rolled steel slab by a continuous casting process.例文帳に追加

熱間圧延後の鋼片に表面疵が発生しない鋳片を連続鋳造により製造する方法を提供する。 - 特許庁

The effector protein is used for a variety of purposes including treatment of intracellular infection and diseases associated with defects of secretion.例文帳に追加

エフェクタータンパク質は、細胞内感染、および分泌の欠陥に関連する疾患の治療を含む種々の目的に使用される。 - 特許庁

When a defect exists in annual ring data, a file system recognizes a plurality of RUBs in which defects exist and informs it to a file manager.例文帳に追加

ファイルシステムは、年輪データの中にディフェクトがあった場合、ディフェクトがあった複数のRUBを認識して、ファイルマネージャに通知する。 - 特許庁

To provide a novel composition for oxidation dyeing of keratin fibers having no defects of conventional technologies.例文帳に追加

本発明の目的は、従来の技術の欠点がないケラチン繊維の酸化染色のための新規な組成物を得ることである。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR DECIDING WHEN TO CORRECT IMAGE- SPECIFIC DEFECTS BASED ON CAMERA, SCENE, DISPLAY AND DEMOGRAPHIC DATA例文帳に追加

カメラ、シーン、ディスプレイ、及び、人口統計データに基づいて特定の画像欠陥を補正するときを決定するシステム及び方法 - 特許庁

To obtain a semiconductor module with high reliability which reduces defects in soldering even when a wiring pattern is made fine.例文帳に追加

配線パターンを微細化した場合においても、はんだ付けの不良を少なくし、高い信頼性をもった半導体モジュールを得る。 - 特許庁

To provide a method capable of easily measuring defects, present in anisotropic structures having complicated articles and surfaces.例文帳に追加

本発明は、複雑な製造物及び表面を有する異方性構造内の欠陥を容易に測定できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an epitaxial wafer, having extremely few defects in an epitaxial film and high gettering ability in a bulk portion.例文帳に追加

エピタキシャル膜の欠陥が極めて少なく、かつバルク部分のゲッタリング能力の大きいエピタキシャルウェーハの製造方法の提供。 - 特許庁

Consequently, the number of defects in the amorphous carbon can be reduced, and the amorphous carbon with low defect density can be realized.例文帳に追加

これにより、アモルファスカーボン中の欠陥数を減少させることができ、欠陥密度の低いアモルファスカーボンが実現可能となる。 - 特許庁

To facilitate the management of critical defects while restricting the number of defect inspections, in the defect inspections of a semiconductor integrated circuit pattern.例文帳に追加

半導体集積回路パターンの欠陥検査において、欠陥検査回数を制限しつつ、致命欠陥の管理を容易にする。 - 特許庁

To provide elevator facility capable of reducing or avoiding defects of conventional technology completely and enable use of a corresponding method.例文帳に追加

従来技術の欠点を低減するまたは完全に回避するエレベータ設備および対応する方法を利用可能にする。 - 特許庁

To provide an optical element which can selectively reflect circularly polarized light over the entire region of visible light and has decreased optical defects.例文帳に追加

可視光全域の円偏光を選択的に反射することができる、光学的な欠陥が少ない光学素子を提供する。 - 特許庁

Thus, a system and a method for in-situ detection of contaminants or defects on a reticle are provided.例文帳に追加

このように、レチクル上の汚染物質または欠陥をインシチュ（ｉｎ−ｓｉｔｕ）で検出するシステムおよび方法が提供される。 - 特許庁

When the linearity correction is not proper, recessed parts or protruded parts are formed and are detected as defects by a photomask inspection device.例文帳に追加

リニアリティ補正が適正でない場合は、凹部又は凸部が形成され、フォトマスク検査装置により欠陥として検出される。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a group III-V compound semiconductor capable of reducing crystalline defects propagating into an epitaxial layer.例文帳に追加

エピタキシャル層中に伝播する結晶欠陥を低減させるIII−Ｖ族化合物半導体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a structure which prevents generation of line defects due to disconnection of wiring and also to facilitate a high aperture ratio of pixels.例文帳に追加

配線の断線によるライン状欠陥の発生を防止するとともに、画素の高開口率化が容易な構造を提供する。 - 特許庁

To form an excitation electrode (21) which is superior in electrical conductivity, has few defects and is stable for a piezoelectric vibrating piece (20).例文帳に追加

圧電振動片（２０）のために導電性に優れ不良の少ない安定した励振電極（２１）を形成することである。 - 特許庁

To reduce sticking defects when an SOI substrate comprising a substrate made of an insulator is manufactured.例文帳に追加

絶縁体でなる基板から構成されるＳＯＩ基板を作製するに際し、貼り合わせ不良を低減することを目的の一とする。 - 特許庁

To overcome the defects of conventional adsorbents, and improve both of the adsorption and desorption performance of a post crosslinked adsorbent.例文帳に追加

従来の吸着剤の欠点を克服し、かつ後架橋吸着剤の吸着および脱着性能の双方を向上させる。 - 特許庁

Before a forming press lens is ground and polished for machining, the depth of surface defects is measured, thus eliminating the forming press lenses exceeding a tolerance.例文帳に追加

成形プレスレンズを研削・研磨加工する前に表面欠陥の深さを測定して許容値を超えるものを排除する。 - 特許庁

To decrease image defects and thereby ensure satisfactory image formation and to sufficiently ensure the separation performance of a separation claw.例文帳に追加

画像の欠陥を減少させ良好な画像形成が出来るとともに、分離爪による分離性能を十分に確保すること - 特許庁

Additional data which facilitate an understanding of process errors are obtained by the succeeding detailed inspection and analysis of the details of the sampling defects.例文帳に追加

続くサンプリング欠陥の詳細な検査及び解析によって、工程誤差の把握を容易にする付加的なデータが得られる。 - 特許庁

The generated simulation optical pulse damages defects that are easily broken to cause characteristic change in the semiconductor laser device LD.例文帳に追加

生成された模擬的な光パルスは、破壊しやすい欠陥にダメージを与えて、半導体レーザＬＤに特性変化を引き起こせる。 - 特許庁

To provide a method for producing a lamination structure capable of avoiding all defects by thinning an initial substrate before combining a thin layer with a target substrate.例文帳に追加

薄層をターゲット基板に結合する前に初期基板を薄化するならば、上述の全欠陥を回避することができる。 - 特許庁

Thus, an SOI substrate 27 having a single crystalline silicon layer (SOI layer) containing highly-reduced defects such as COP can be obtained on the BOX layer 25.例文帳に追加

こうしてBOX層25上に、COP等の欠陥の非常に低減された単結晶シリコン層（SOI層）26を有するSOI基板27が得られる。 - 特許庁

To provide a series fed array antenna which solve defects of a linear wound, series fed, array antenna of conventional technology.例文帳に追加

従来技術の直線直列給電型アレイアンテナの欠点を解決する、直列給電型のアレイアンテナを提供する。 - 特許庁

To provide a technology capable of appropriately determining the quality of screws by extracting only defects of thread parts of the screws.例文帳に追加

本発明はねじの山部の欠陥のみを抽出してねじの良否を適切に判定することが可能な技術を提供する。 - 特許庁

To reduce a time for processing an image data and quickly inspect defects on surfaces of semiconductor chips accommodated in a tray.例文帳に追加

画像データの処理時間を短くして、トレーに収納された半導体チップの表面の異常を短い時間で検査する。 - 特許庁

To smoothly release a product from a mold and to prevent molding defects in a molded article from being generated.例文帳に追加

離型を円滑に行うことができるとともに、成形品に成形不良が発生するのを防止することができるようにする。 - 特許庁

The EUV mask inspection system can also include a data analysis device configured to analyze the aerial image for mask defects.例文帳に追加

ＥＵＶマスク検査システムは、マスク欠陥について空間像を分析するように構成されたデータ分析デバイスを含んでもよい。 - 特許庁

To provide a more advantageous method for producing ethanol without any defects by using conventional yeast including baker's yeast.例文帳に追加

パン酵母をはじめとする従来の酵母を使用することによる欠点のない、より有利なエタノール製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a bromine-enriched thallium bromide single crystal, the method by which the lattice defects in the single crystal can be reduced.例文帳に追加

単結晶内の格子欠陥を減少できる臭素リッチな臭化タリウムの単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁