Defectsを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 10273件
To provide a fusion process for producing sheet glass which employs a zirconia melting unit, which reduces the formation of defects due to zirconia in sheet glass.例文帳に追加
溶融ジルコニア溶融容器を使用するフュージョン法を用いて生産される板ガラスのジルコニアに基づく欠陥のレベルを低減する。 - 特許庁
To provide an epitaxial wafer which has an excellent gettering ability, allows epitaxial defects in an epitaxial layer to be suppressed, and causes less variation in resistivity.例文帳に追加
ゲッタリング能力に優れ、エピタキシャル層内へのエピ欠陥発生が抑制され、抵抗変動率の少ないエピタキシャルウェーハを提供する。 - 特許庁
To provide a stable image without image defects such as cleaning failure from the initial stage of toner use even when a toner having a small particle diameter and high circularity is used.例文帳に追加
小粒径、高円形度のトナーを用いても、使用初期からクリーニング不良等の画像不良なく安定した画像を提供する。 - 特許庁
To provide a ceramic material avoiding one or more defects of a technological level, and especially suitable for dental use and a dental procedure.例文帳に追加
技術水準の1つ以上の欠点を回避し、かつ歯科用途および歯科手順に特に適したセラミック材料を提供すること。 - 特許庁
The luminance distribution varies in accordance with kinds of defects, so the defect is classified from points of view of the shape and luminance distribution of the defect image.例文帳に追加
欠陥の種類に応じて、輝度分布が相違するので、欠陥画像の形状及び輝度分布の観点より欠陥を分類する。 - 特許庁
To provide a technique which can suppress generation of defects of printing due to an updating process of firmware.例文帳に追加
ファームウェアの更新処理によって印刷の不具合が生じることを抑制することのできる技術を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an image forming device for preventing the occurrence of image defects without impairing its usability by reducing overshooting of fixing roller temperature.例文帳に追加
画像形成装置において、定着ローラ温度のオーバーシュートを低減することで、ユーザビリティを損なうことなく画像不良を防止する。 - 特許庁
Also disclosed is a method for reducing the number of defects on a plurality of post-CMP processed substrates employing the process solution of the present invention.例文帳に追加
さらに、本発明のプロセス溶液を用いて、複数のCMP処理後の基材上にある欠陥の数を低減する方法が開示される。 - 特許庁
To provide a surface-roughened optical film free of unevenness or defects, a method for producing the same, a polarizing plate and an image display device.例文帳に追加
ムラ、欠陥がない表面凹凸形状光学フィルム、その製造方法及び偏光板、画像表示装置を提供することである。 - 特許庁
To suppress the generation of casting defects in the case a casting having a cylindrical part is cast by the charge of molten metal from a side gate.例文帳に追加
筒部を有する鋳造品を、サイドゲートからの溶湯充填により鋳造する場合に、鋳造欠陥が生じるのを抑制する。 - 特許庁
To improve the effect for hiding defects on the appearance such as bulge and dent and visual confirmation property for a mark in serration on a surface of a side wall.例文帳に追加
サイドウォール表面のセレーションにおいて、バルジ・デント等の外観不良への隠匿効果や標章の視認性を向上させる。 - 特許庁
To provide a defect checkable transparent printing label having a function capable of checking various kinds of defects of the transparent printing label in particular.例文帳に追加
特に透明印刷ラベルの各種欠点の検査ができる機能を有する欠点検査性透明印刷ラベルを提供すること。 - 特許庁
To effectively manufacture a hot-rolled steel material having a good surface property by suppressing the generation of surface defects due to Ni concentration or the like.例文帳に追加
Ni濃化等による表面欠陥の発生を抑制し、表面性状が良好な熱間圧延鋼材を効率的に製造する。 - 特許庁
When the weld bead 50 is defective, the bead including the defects is removed by grinding to form a repair area.例文帳に追加
この接合ビード50に欠陥が存在するときには、この欠陥を含むビードを研削加工により除去して、補修領域を形成する。 - 特許庁
To provide a method of producing an epitaxial silicon wafer, by which the epitaxial silicon wafer almost free from occurrence of epitaxial defects can be produced without adding a new heat treatment process.例文帳に追加
新たな熱処理プロセスの追加を行うことなく、エピタキシャル欠陥の発生が少ないエピタキシャルシリコンウェーハを製造できる。 - 特許庁
To provide a method of producing a rod-shaped high purity polycrystalline silicon by which the formation of defects in a newly depositing silicon layer can be prevented.例文帳に追加
新たに析出するシリコン層に発生する欠陥を防止できる棒状高純度多結晶シリコンの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device capable of increasing mobility of carriers while suppressing conventional defects, and a manufacturing method thereof.例文帳に追加
従来の不具合を抑制しながらキャリアの移動度を高くすることができる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide modified creatinine amide hydrase which can overcome the defects of known creatinine amide hydrase and has an improved chelating agent resistance.例文帳に追加
公知のクレアチニンアミドヒドロラーゼの欠点を克服し、よりキレート剤に対する耐性が向上したクレアチニンアミドヒドロラーゼを提供すること。 - 特許庁
The method for detecting defects of an imaging element detects a defective pixel address of the imaging element, on the basis of a plurality of image signals which have been obtained under identical imaging conditions.例文帳に追加
同一の撮像条件下で得られた複数の画像信号に基づいて撮像素子の欠陥画素アドレスを検出する。 - 特許庁
To provide a pattern defect inspecting device capable of detecting micro defects on a sample with high sensitivity without causing speckle noise in signals.例文帳に追加
試料上の微小欠陥を信号にスペックルノイズを発生すること無く、高感度に検出できるパターン欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁
To provide a method capable of manufacturing an excellent large-diameter product less in internal defects from a large-section cast slab through a hot rolling.例文帳に追加
大断面鋳片から、熱間圧延により、内部欠陥の少ない優れた太丸製品を得ることができる方法を提供する。 - 特許庁
To provide a pattern correcting method capable of correcting, with high quality, the defects in arbitrary shapes at a thin wire of around 10 μm diameter.例文帳に追加
10μm前後の細線で任意形状の欠陥を高品位で修正することが可能なパターン修正方法を提供する。 - 特許庁
To reduce the number of airtightness defects per unit of 1,000 manufactured light emitting display devices, in a method of sealing a light emitting display device.例文帳に追加
発光ディスプレイ装置を封止する方法において、製造される1000の単位当たりの気密性欠陥の数を低くする。 - 特許庁
To provide an arrangement for dealing with defects in the prior art, in positioning a communication device near the head of a user.例文帳に追加
ユーザの頭部の付近に通信デバイスを位置決めすることに関する、従来技術における欠陥に対処する配置を提供すること。 - 特許庁
To provide a method and device for depositing an electrolyte membrane in which the occurrence of penetrating defects in the electrolyte membrane can be controlled.例文帳に追加
電解質膜に貫通欠陥が生じることを抑制できる電解質膜の成膜方法および成膜装置を提供する。 - 特許庁
The slices are sufficiently small to capture small defects, but are sufficiently large to overcome problems with redeposition.例文帳に追加
スライスは小さな欠陥を補足するのに十分小さいものであるが、再堆積の問題を克服するには十分に大きいものである。 - 特許庁
To provide the method and device for sorting defects caused on a semiconductor wafer, etc., and to provide the method for generating data for instruction.例文帳に追加
半導体ウエハ等上に発生する欠陥の分類方法およびその装置並びに教示用データ作成方法を提供すること。 - 特許庁
The CMP process is usefully employed to highlight crystal defects on the Ga-side of the Al_xGa_yIn_zN wafer.例文帳に追加
このCMP方法はAl_xGa_yIn_zNウェーハのGa側における結晶欠陥を強調するために有用に適用される。 - 特許庁
To reduce defects of a vibration damping support body having a rigid partition formed of a relatively high manufacturing-cost and relatively heavy casting.例文帳に追加
剛性の仕切りの鋳物の製造コストが比較的高く、またその重量が比較的重い振動減衰支持体の欠点を軽減する。 - 特許庁
To provide an integrated semiconductor circuit that can prevent defects from spreading by high voltage applied to a defective memory cell.例文帳に追加
不良メモリセルに高電圧が印加されることによって欠陥が拡大するのを防止可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
To provide an article inspection apparatus which is capable of evenly and surely inspecting defects on the surfaces of articles such as fruits and vegetables.例文帳に追加
果実・野菜等の物品の表面の不良をまんべんなく確実に検査することのできる物品検査装置を提供すること。 - 特許庁
To overcome defects of wheel rim lock device for tire demounting machine being made in a technical skill so far by a rational and reliable solution.例文帳に追加
従来技術によるタイヤ取り外し機用のホイールリムロック装置の欠点を、合理的で信頼性のある解決手段で、克服すること。 - 特許庁
To provide a fuel injection system of high reliability and limited cost while removing defects in the injection system of the known technique.例文帳に追加
高い信頼性及び限定的なコストの燃料噴射システムを提供し、既知の技術に従った噴射システムの欠点を解消する。 - 特許庁
To provide an integrated semiconductor device using SOI wafer that has reduced crystal defects, improved pressure resistance, and reduced leakage current.例文帳に追加
SOIウェーハを使用する集積化半導体装置の結晶欠陥の低減、耐圧向上、リーク電流の低減が要求されている。 - 特許庁
By the spinless coating method, coating on a large-scale substrate in a uniform thickness is made possible and defects can be minimized.例文帳に追加
これにより、スピンレスコーティング方法により大型基板に均一な厚さコーティングされることができ、欠陥が最小化されることができる。 - 特許庁
The system is so composed that the wavelength dispersion is compensated by making use of the dispersion characteristic of light which propagates through defects in a photonic crystal.例文帳に追加
フォトニック結晶中の欠陥を伝播する光の分散特性を利用することによって、波長分散を補償する構成とした。 - 特許庁
To prevent the twist and inclination of a round cast slab at blooming without lowering rolling efficiency and generating defects on a product.例文帳に追加
圧延能率が低下したり製品に欠陥を生ずることなく、分塊圧延に際しての丸鋳片のネジレやタオレを防止する。 - 特許庁
To provide a high quality cast slab by simultaneously reducing cracks on the cast slab surface and inclusion defects in the inner part of the cast slab.例文帳に追加
鋳片表面の割れと鋳片内部の介在物欠陥を同時に少なくすることにより、高品質の鋳片を提供するものである。 - 特許庁
To efficiently compensate defects without causing increase of waiting time due to read of defect data from a nonvolatile memory.例文帳に追加
不揮発性メモリからの欠陥データの読み出しによる待ち時間の増大を招くことなく、効率よく欠陥補償を行えるようにする。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing an Fe/Co-Pt based sintered alloy having a high density and little defects such as voids, by sintering.例文帳に追加
密度が高く且つ空隙等の欠陥の少ないFe/Co−Pt系合金を焼結法により製造する方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method and apparatus whereby the inspection and recovery of defects are performed at proper speeds by using charged-particle beams having the same diameter.例文帳に追加
検査および欠陥の修復を同一径の荷電粒子ビームを用いて、適切な速度で行う方法および装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing toner that prevents image defects and machine contamination even when a great number of sheets are printed, while keeping low temperature fixability.例文帳に追加
低温定着性を維持しつつ、多数枚プリントしても画像欠陥や機内汚れが発生しないトナーの製造方法の提供。 - 特許庁
To provide a method of facilitating production of aluminum tube for photoreceptor drum substrate which is superior in surface quality, with very few protrusive defects.例文帳に追加
凸状欠陥が非常に少ない表面品質に優れた感光ドラム基体用アルミニウム管を容易に製造する方法を提供する。 - 特許庁
Therefore the semiconductor wafer can be ground and made thinner without producing defects like flaws and cracks or grinding distortion.例文帳に追加
したがって、ひびや割れあるいは研削歪などの欠陥を発生させることなく半導体ウエーハを研削して薄型化することができる。 - 特許庁
To improve a disc brake pad, in particular, used in a field of railroad, capable of eliminating defects of the disc brake pad by conventional technology.例文帳に追加
従来技術によるディスクブレーキパッドの欠点を排除する、特に鉄道分野で使用されるディスクブレーキパッドの改良を提供する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a semiconductor device for reducing the occurrence of crystal defects, or the like occurring from an element separation region.例文帳に追加
素子分離領域から発生する結晶欠陥等の発生を低減するための半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor that can output an image free of image defects such as unevenness, stripes and fog on the image.例文帳に追加
画像上のムラ、スジ、カブリなどの画像欠陥のない画像を出力可能な電子写真感光体の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a cutting device capable of preventing defects such as the elongation and the chipping of an electrodes, and the generation of cracks , and to provide a cutting method thereof.例文帳に追加
電極の伸びやチッピング、クラックの発生等の不良の発生を防止可能な切削装置及び切削方法を提供する。 - 特許庁
To provide an electronic device including an active organic layer and a structure for mitigating adverse effects of defects generated by a structure of the electronic device.例文帳に追加
活性有機層と、電子デバイスの構成により生じる欠陥の悪影響を軽減する構造を有する電子デバイスを提供する。 - 特許庁
To accurately detect surface defects without having to adjust an optical system even when a level difference is present in the surface of a body to be inspected.例文帳に追加
被検体の表面に段差があっても、光学系の調整なしで、より正確に表面欠陥を検出することができる。 - 特許庁
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