「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(55ページ目) - Weblio英語例文検索

A method is provided for controlling the formation of defects in sheet glass produced by a fusion process which employs a zirconia melting unit.例文帳に追加

ジルコニア溶融ユニットを用いるフュージョン法によって生産される板ガラスにおける欠陥の形成を抑制する方法が提供される。 - 特許庁

To provide an immersion lithographic apparatus that improves a stability of meniscus to control pattern defects caused by bubbles in an immersion liquid or the like.例文帳に追加

メニスカスの安定性を向上させて、液浸液中の気泡などによるパターン欠陥を低減する液浸リソグラフィ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a printhead array arrangement for preventing or limiting accumulation of stitch line defects in a multiple printhead array system.例文帳に追加

複数のプリントヘッドアレイシステムにおいて、ステッチライン不良の蓄積を阻止または制限するプリントヘッドアレイの配置を提供することである。 - 特許庁

To provide a technology of applying a protection tape to a semiconductor wafer, which more effectively inhibits processing defects and peeling failure.例文帳に追加

加工不良や剥離不良をより抑制可能な態様で保護テープを半導体ウエハに貼り付けることが可能な技術を提供する。 - 特許庁

In the method, a signal showing light collected from the specimen is processed to detect defects on the specimen or process variations.例文帳に追加

また該方法は、試験片から収集された光を表す信号を処理し、試験片上の欠陥または工程の変動を検出する。 - 特許庁

To provide a method for producing a titanium-containing sputtering target capable of reducing the occurrence number of abnormal discharge caused by lattice defects.例文帳に追加

格子欠陥に起因する異常放電の発生回数を低減できるチタン含有スパッタリングターゲットの製造方法を提供する。 - 特許庁

To rapidly inspect shape defects in a minute pattern on a magnetic recording medium, formed from patterned media, that is an object of inspection.例文帳に追加

被検査対象であるパターンドメディアからなる磁気記録媒体の微細なパターンの形状欠陥を高速で検査できるようにする。 - 特許庁

To provide a wafer appearance inspection device capable of reducing detection of noncritical defects, and shortening the time required for visual confirmation.例文帳に追加

非致命欠陥を検出を低減し、目視確認に要する時間を短縮可能なウェハ外観検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device using ferroelectric capacitor which prevents generation of defects and is excellent in electrical characteristics.例文帳に追加

欠陥の発生を防止し且つ電気的特性に優れた強誘電体キャパシタを用いた半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for accurately detecting defects on the surface of an object to be inspected even if the spectral characteristics of illumination light change.例文帳に追加

照明光の分光特性が変化しても、被検物体の表面の欠陥を正確に検出できる検査装置を提供する。 - 特許庁

To improve welding workability and cost effectiveness by avoiding the occurrence of welding defects such as weld crack or the like under low temperature environment.例文帳に追加

低温環境下における溶接割れ等の溶接不良の発生を回避し、溶接作業効率と経済的を向上させる。 - 特許庁

To provide a high speed curtain coating method for manufacturing a coated sheet, which reduces coating defects such as coating unevenness or occurrence of uncoated part.例文帳に追加

塗工ムラや未塗工部などの塗工欠陥が改善された高速カーテン塗工方法によって製造される塗工シートの提供。 - 特許庁

A mask is formed for the characteristic pattern in which the density of defects caused by a function-defective nozzle of a micro-deposition head is reduced.例文帳に追加

マスクは、マイクロデポジションヘッドの機能不良ノズルのために起こる欠陥の密度を低減する特徴パターンに対して形成される。 - 特許庁

To provide rolled steel less in defects caused by inclusions and suitable for automotive steel sheets, steel sheets for deep-drawn cans, steel tubes or the like.例文帳に追加

自動車用鋼板、深絞り缶用鋼板、鋼管などに適した介在物性欠陥が少ない圧延鋼材を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a ceramic structure that suppresses the occurrence of baking defects of the ceramic structure having a recessed portion.例文帳に追加

凹部を有するセラミック構造体の焼成不良の発生を抑制することができるセラミック構造体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor with extremely little generation of image defects and contamination on the base even when used for massive printing.例文帳に追加

大量の印刷を行なっても、画像欠陥の発生と地汚れの発生が極めて少ない電子写真感光体を提供すること。 - 特許庁

To make the inspection of pattern defects possible in a photomask using a resist as a light shield by a photomask defect inspection device which detects transmitting light.例文帳に追加

レジストを遮光体としたホトマスクにおいて、透過光検出型のホトマスク欠陥検査装置によるパターン欠陥検査を可能にする。 - 特許庁

To provide a display device capable of preventing defective shapes of a transparent conductive thin film and a lower layer film, and suppressing display defects.例文帳に追加

透明導電性薄膜や下層膜の形状不良を防止して、表示欠陥を抑制できる表示装置を提供すること。 - 特許庁

It is thus possible to inhibit sample contamination and suppress the occurrence of defects in a process following measurement of the samples.例文帳に追加

これによって、試料汚染を抑制することが可能となり、試料測定後のプロセスにおける不良発生の抑制が可能となる。 - 特許庁

To allow various defects on a wafer to be quickly observed with high sensitivity in a defect observation method and a device for the same of a scanning electron microscope (SEM).例文帳に追加

ＳＥＭの欠陥観察方法及びその装置において、ウェハ上の多様な欠陥を高速、高感度に欠陥を観察する。 - 特許庁

To provide a flow-rate measuring method, for a flow medium (M), in which defects of a ultrasonic measuring method is removed, and to provide a flowmeter.例文帳に追加

超音波測定法の欠点を除去する、流れ媒体（Ｍ）の流量測定方法、及び流量計を提供することにある。 - 特許庁

To achieve the excellent holding of piping and an access property in a track where defects seen in a well known structure are eliminated.例文帳に追加

軌道において、公知の構造にみられるような欠点がほぼ回避されており、配管のいっそう優れた保持とアクセス性を実現する。 - 特許庁

To enhance recycle yield, reduce recycle cost, and eradicate defects without leaving an ACF residue on terminal parts by inspection after proper press-bonding.例文帳に追加

リサイクル歩留まりやリサイクルコスト低減、さらに、ＡＣＦ残渣を端子部分に残さず、本圧着後の検査により不良を皆無にする。 - 特許庁

When a defect is found in a battery block 10 or a circuit block 20 in a manufacturing process, only the blocks with defects are to be replaced.例文帳に追加

製造工程で電池ブロック１０または回路ブロック２０に不具合が生じた場合に、不具合の生じたブロックだけを交換する。 - 特許庁

The subsystem for detecting defects on the sample 26 is configured by accumulating charges at a plurality of positions on the surface of the sample 26.例文帳に追加

試料２６上の欠陥を検出するサブシステムは、試料２６の上面上の複数の位置に電荷を堆積するように構成する。 - 特許庁

To suppress occurrence of crystal defects or dislocation by reducing the stress concentrating on a silicon substrate near the upper end of an STI.例文帳に追加

ＳＴＩ上端部近傍のシリコン基板に集中する応力を緩和することによって、結晶欠陥や転位の発生を抑制する。 - 特許庁

The image processing apparatus detects the information related to the pixel defects and shading for the correction of the photographed image at a prescribed timing before the start of photographing.例文帳に追加

撮影開始前の所定のタイミングで、撮影画像の修正のための画素欠陥やシェーディングに係る情報の検出を行う。 - 特許庁

To minimize expense and cost by avoiding defects in the conventional technique and enhancing certainty of a function in operating a negative pressure storage device.例文帳に追加

従来技術における欠点を回避し、負圧貯蔵器の運転の際の機能の確実性を高め、費用及び価格を最低限する。 - 特許庁

It becomes possible to manage defects of a disk medium of a high capacity without increasing defect management regions by this coding mode.例文帳に追加

本コーディングモードによって欠陥管理領域を増やすことなく、より高容量ディスク媒体の欠陥を管理することが可能となる。 - 特許庁

The foregoing compound semiconductor substrate 2 has a very few crystal defects because the semiconductor substrate contains impurities as a donor.例文帳に追加

ここで、化合物半導体基板２は、ドナーとなる不純物を含む半導体基板であるため、結晶欠陥が少ないものとなっている。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a perovskite type titanium-containing complex oxide film having high crystallinity and less defects such as cracks and peeling.例文帳に追加

結晶性が高く、クラックや剥離等の欠陥が少ないペロブスカイト型チタン含有複合酸化物膜の製造方法を提供する。 - 特許庁

A method for eliminating defects on message notice in a plurality of groups using telephones is realized as the service provider acting like the advertisement enterprise.例文帳に追加

電話機による複数人のグループ内での伝言通知上の不具合をなくする方法を公告事業としてサービスプロバインダ化する。 - 特許庁

To provide a selenium vapor depositing apparatus which can deposit a uniform amorphous selenium film free from defects on a material to be vapor-deposited.例文帳に追加

被蒸着材上に均一で欠陥のない非晶質セレンの膜を形成できるセレン蒸着装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a high quality heater structure for an electron tube in which generation of welding defects is extremely few and its manufacturing method.例文帳に追加

溶接不良の発生が極めて少ない高品位の電子管用のヒータ構体、およびその製造方法を提供することにある。 - 特許庁

Then an HSG film containing few defects is formed on the amorphous silicon film by setting the crystal nucleus forming temperature at <620°C.例文帳に追加

アモルファスシリコン膜の上に、結晶核形成温度を６２０℃未満として、欠陥がほとんど存在しないＨＳＧ膜を形成する。 - 特許庁

The defects in the optical fiber 13 which occur during the drawing of the preform 11 are detected online, while drawing conditions are altered appropriately.例文帳に追加

プリフォーム１１を延伸する際に生じる光ファイバー１３の欠陥をオンラインで検出し、延伸条件の変更を適宜行う。 - 特許庁

To prevent defects of mounting electronic components on the land of a circuit pattern on a circuit board which uses a lead frame.例文帳に追加

本発明はリードフレームを用いた回路基板において回路パターンのランド部への電子部品の実装不良を防止するものである。 - 特許庁

To provide an organic/inorganic lamination type-laminate and a barrier film substrate with few defects and excellent in barrier property in a convenient method.例文帳に追加

欠陥数が少なくて、バリア性が高い有機無機積層型の積層体やバリア性フィルム基板を簡便な方法で提供する。 - 特許庁

Further, the quality of the silicon single crystal is kept high because impurities related to the occurrence of defects of the silicon single crystal are not contained.例文帳に追加

さらにシリコン単結晶の欠陥生成にかかわる不純物を含まないために、シリコン単結晶の品質を高く維持できる。 - 特許庁

To stably and correctly detect defects such as air bubbles and foreign substances even if they are included in a transparent plate such as a large-size glass plate.例文帳に追加

大型サイズのガラス板のような透明板状体であっても、安定しかつ正確に、気泡や異物等の欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a lithium secondary battery having a long life, eliminating defects between a positive electrode and a negative electrode, large capacity and output power for a long time.例文帳に追加

高容量、高出力、かつ、経時によっても正極・負極間に不具合のない長寿命なリチウム二次電池を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus equipped with a diagnostic function which can easily detect defects of input and output lines of an image processing section.例文帳に追加

画像処理部の入出力線の欠陥を容易に検出できる診断機能を搭載した画像処理装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a member for a liquid crystal display which does not cause defects even when a high luminance type cold cathode tube is used as a light source.例文帳に追加

高輝度タイプの冷陰極管を光源として用いても不具合が生じない、液晶表示装置用の部材を提供すること。 - 特許庁

To evaluate various photoreptor characteristics related to electrophotography simultaneously with detection of defects on the surface of a photoreceptor.例文帳に追加

感光体表面の欠陥を検出する欠陥検出と、電子写真に関わる種々の感光体特性の評価とを同時に行う。 - 特許庁

To provide aluminum killed steel small in defects caused by inclusions and bubbles and also small in rust caused by Ca.例文帳に追加

介在物系および気泡系の欠陥が少なく、かつ、Ｃａに起因する錆が少ない少ないアルミキルド鋼を提供することにある。 - 特許庁