「Device under Test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

First, digital outputs of a device under test (DUT) clock are captured on an automated test equipment (ATE: Automated Test Equipment) digital channel.例文帳に追加

まず、自動試験装置（ＡＴＥ：Automated Test Equipment）ディジタル・チャンネル上の被試験デバイス（ＤＵＴ）クロックのディジタル出力を、キャプチャする。 - 特許庁

The semiconductor test device 1 outputs a signal for a device 50 under test, and determines the quality of the device 50 under test on the basis of respective result signals obtained from the plurality of pins of the device 50 under test.例文帳に追加

半導体試験装置１は、被試験デバイス５０に対して信号を出力し、被試験デバイス５０の複数のピンから得られるそれぞれの結果信号に基づいて被試験デバイス５０の良否を判定するものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device capable of improving the throughput of DUT (device under test) inspection.例文帳に追加

ＤＵＴ検査のスループットを改善できる半導体検査装置を提供すること。 - 特許庁

DEVICE MEASURING APPARATUS AND SUPPRESSION METHOD FOR TEMPERATURE CHANGE OF DEVICE UNDER TEST例文帳に追加

デバイス測定装置及び被測定デバイスの温度変化抑制方法 - 特許庁

VIRTUAL TEST SYSTEM CORRESPONDING TO SIMULTANEOUS TEST OF A PLURALITY OF DEVICE UNDER-TESTS (DUT)例文帳に追加

複数のデバイスアンダーテスト（ＤＵＴ）の同時テストに対応したヴァーチャルテストシステム - 特許庁

The tester has an analog test portion which makes an analog test of each device under test and outputs a retiming clock, and a digital test portion which performs retiming by the retiming clock of this analog test portion and makes a digital test of the device under test.例文帳に追加

本装置は、被試験対象のアナログ試験を行い、リタイミングクロックを出力するアナログ試験部と、このアナログ試験部のリタイミングクロックによりリタイミングを行うと共に、被試験対象のデジタル試験を行うデジタル試験部とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a sample cooling device, a hardness test device, and a hardness test method for implementing a hardness test under a stable low temperature environment.例文帳に追加

安定した低温環境で硬さ試験を実施することができる試料冷却装置、硬さ試験機及び硬さ試験方法を提供すること。 - 特許庁

To improve the efficiency in a device test and reduce test costs per DUT (Device Under Test) by making effective use of limited hardware resources.例文帳に追加

限られたハードウェア資源を有効利用し、デバイス試験の効率を上げ、ＤＵＴ当たりの試験コストを低減する。 - 特許庁

This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board.例文帳に追加

半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。 - 特許庁

To provide test equipment which can input test signal to both first and second terminals of a device under test, further can prevent mixing of frequency component in signals output from plural devices under test so as to properly test these plural devices under test.例文帳に追加

被試験装置の第１の端子及び第２の端子の両方に試験信号を入力して試験を行うことができ、複数の被試験装置の出力信号の周波数成分が混合されることを防ぎ、複数の被試験装置を正しく試験することができる試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To execute testing upon acquiring a clock signal output from a device under test.例文帳に追加

被試験デバイスから出力されるクロック信号を取得して試験する。 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS APPARATUS FOR PERFORMING DEFECT NAVIGATION OVER DEVICE UNDER TEST例文帳に追加

被試験デバイスの不良ナビゲーションを行う不良解析装置 - 特許庁

To provide a reconstructed method for inputs to an device under test.例文帳に追加

被検査デバイスに対する入力の再構成方法を提供すること。 - 特許庁

To inexpensively measure characteristics of a device under test relatively accurately.例文帳に追加

被検査デバイスの特性を比較的精度よく低コストで測定する。 - 特許庁

This test system has many test channels, applies a test pattern to the device pins of a device under test(DUT) via the test channels, and verifies the response output of the DUT.例文帳に追加

本テストシステムは多数のテストチャンネルを有し、そのテストチャンネルを経由して被試験デバイス（ＤＵＴ）のデバイスピンにテストパターンを印加して、そのＤＵＴの応答出力を検証する。 - 特許庁

The input for the product under test (11, 46, 55, 77-79) is transferred to a process that presents the input to the product under test as if the input came from an input device directly connected to the product under test.例文帳に追加

テスト対象製品(11,46,55,77−79)に対する入力は、その入力がテスト対象製品に直接接続された入力装置によってもたらされたかのように、入力をテスト対象製品に与えるプロセスに転送される。 - 特許庁

A test device of testing a device under test includes: a plurality of capacitors charged at predetermined respective prescribed voltages; a switching part for performing the switching from which of the capacitors charged at the prescribed voltages the power source voltage is to be supplied to the device under test; and a determination part determining the quality of the device under test on the basis of the operation result of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、それぞれ予め定められた所定の電圧で充電される複数のコンデンサと、所定の電圧に充電されたコンデンサのうち、いずれから被試験デバイスに電源電力を供給するかを切り替える切替部と、被試験デバイスの動作結果に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.例文帳に追加

本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁

A test program debug device includes a device under test simulator and a semiconductor testing apparatus simulator.例文帳に追加

本発明のテストプログラムデバッグ装置は、被試験デバイスシミュレータ及び半導体試験装置シミュレータとを備える。 - 特許庁

The functional test pattern is inputted to a reference device 2 and a device under test 4, and both devices 2 and 4 are operated likewise.例文帳に追加

機能テストパターンは基準デバイス２と被検査デバイス４に入力し、各デバイス２，４は同じように動作する。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of easily uniforming and controlling the temperature of each device under test in a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験における各被試験デバイスの温度を容易に均一化して制御可能なバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test reagent spraying device provided with an agitating device usable even under fire-prohibited circumstances.例文帳に追加

火気厳禁の環境下においても使用できる攪拌装置を備えた試験試薬噴霧装置を提供する。 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, HAVING SWITCH FOR SELECTING DIFFERENT PATHS例文帳に追加

異なるパスを選択するスイッチを備える、被試験デバイスを試験する試験デバイス - 特許庁

To provide an interface circuit for a device under test which can suppress increase in size of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の大型化を抑制できる被検査装置用インタフェース回路を提供する。 - 特許庁

To flexibly allocate a measuring port of VNA (vector network analyzer) to a device port of an adapter and a DUT (device under test).例文帳に追加

アダプタ及びＤＵＴの装置ポートに対するＶＮＡの測定ポートを柔軟に割り当てる。 - 特許庁

The third ports (17, 32 and 117) of the device under test are connected to the second ports (13 and 113) of the device tester.例文帳に追加

被測定デバイスの第３のポート(17,32,117)をデバイステスターの第２のポート(13,113)に接続する。 - 特許庁

The second ports (16, 31 and 116) of the device under test are connected to the first ports (12 and 112) of the device testers (11 and 111).例文帳に追加

被測定デバイスの第２のポート(16,31,116)をデバイステスター(11,111)の第１のポート(12,112)に接続する。 - 特許庁

This testing device for testing a device to be tested is equipped with a test module for supplying test data to a device under test, a test program storage part for storing a plurality of test programs for realizing respectively a plurality of test sequences, and a control device for controlling operation by the test module by performing the test program.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに試験データを供給するテストモジュールと、複数の試験シーケンスをそれぞれ実現する複数の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、試験プログラムを実行することによりテストモジュールによる動作を制御する制御装置とを備える。 - 特許庁

In this method, the test process of a semiconductor device under test is proceeded when a customer tray of a loader section is not vacant, while the number of the semiconductor devices under test mounted on a buffer tray of a loader side buffer section is counted if the customer tray is vacant.例文帳に追加

本発明はローダ部のカスタマートレイが空いていなければ、被検査半導体素子の検査過程を進行し、空いていれば、ローダ側バッファ部のバッファトレイに搭載された被検査半導体素子の数をカウントする。 - 特許庁

To provide low cost semiconductor test equipment and a testing method by using such a semiconductor test equipment which has a storage capacity smaller than related equipment and can test a memory device under test which has a large storage capacity.例文帳に追加

従来よりも小さい記憶容量を有しながら、記憶容量の大きな被試験メモリデバイスを試験することができる低コストの半導体試験装置およびそのような半導体試験装置を用いた試験方法を提供する。 - 特許庁

To enable a logic analyzer to precisely test the overflow state and the underflow state of a stack memory inside a device under test.例文帳に追加

ロジック・アナライザで、被試験装置内のスタック・メモリのオーバーフロー状態及びアンダーフロー状態を正確に試験する。 - 特許庁

To provide a testing device which can conduct an environmental test with a plurality of modules under different test conditions.例文帳に追加

複数のモジュールの環境試験を異なる試験条件で行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly, it becomes possible to test the test block A regionally under a different distribution in voltage drop of the regions inside the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

よって半導体集積回路装置内部を、領域ごとに異なる電圧降下分布として試験ブロックＡの試験を行う事が可能となる。 - 特許庁

The flicker noise test system has a guarded signal path and an unguarded signal path selectively connectable to respective terminals of a device under test.例文帳に追加

被試験装置の各端子にそれぞれ選択的に接続しうる保護された信号経路及び保護されていない信号経路を有している。 - 特許庁

The test device for assisting in locating the cable efficiently provides both tone and link pulses simultaneously to the cable under test.例文帳に追加

ケーブルの位置を効率的に特定する助けをするための検査器は、トーンとリンクパルスの双方を検査中のケーブルに同時に与える。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device which can execute memory test in a short period of time under a plurality of test conditions.例文帳に追加

短時間で、複数の条件下におけるメモリテストが実行可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To realize a memory test system which can improve throughput when testing a device under test.例文帳に追加

被試験デバイスのテスト時のスループットを向上することのできるメモリテストシステムを実現すること。 - 特許庁

An electronic device tester channel supplies a single test signal to a plurality of terminals of electronic devices of under test (DUTs) through a set of isolation resisters.例文帳に追加

電子装置テスタチャネルは、電子的な被験装置（ＤＵＴ）の多数の端子に一組の分離抵抗を介して単一のテスト信号を送る。 - 特許庁

To shorten the test time of testing a device under test including a scan chain comprising a plurality of flip-flops.例文帳に追加

複数のフリップフロップから構成されるスキャンチェインを有する被試験デバイスの試験の試験時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide test chamber system for maintaining the sealing performance of decompression space on which the device under test is mounted to accurately control air pressure of the decompression space.例文帳に追加

試験チャンバ装置において、被試験装置を設置する減圧空間の密閉性を維持し、減圧空間の正確な気圧制御を行う。 - 特許庁

To provide a device capable of efficiently extracting a suitable test case under the consideration of the past test result.例文帳に追加

過去のテスト結果を考慮して好適なテストケースを効率良く抽出することができる装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A device under test (DUT) (126) is inserted from a handler (132) to a socket (124).例文帳に追加

被試験デバイス（ＤＵＴ）（１２６）はハンドラ（１３２）からソケット（１２４）に挿入される。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, AND TOOL FOR CUTTING AND CONNECTING TRANSMISSION CABLE例文帳に追加

被試験機器テスト装置、被試験機器テスト方法及び通信ケーブル切断／接続治具 - 特許庁

This workpiece inspection device comprises conveyer for feeding components under test, mechanism for rotating the components, and probe.例文帳に追加

検査すべき部品を送るコンベヤと、部品を回転させる機構と、プローブとを含む。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING MEASUREMENT DATA OF DEVICE UNDER TEST, PROGRAM, AND MEASUREMENT DATA ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

被試験対象デバイスの測定データ解析方法、プログラム、および測定データ解析システム - 特許庁