「Failure analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

An analysis information collection part (fixed time) 1123 periodically collects information for analysis for failure factor analysis, and temporarily stores it in an analysis information DB (temporary storage) 1116.例文帳に追加

分析用情報収集部（定期）１１２３は、定期的に障害原因分析のための分析用情報を収集し、分析用情報ＤＢ（一時蓄積）１１１６に一時蓄積する。 - 特許庁

Analysis data for one analysis are stored in the analyzer so as to achieve recovery from a failure without losing the analysis data or without requiring the execution of a re-analysis.例文帳に追加

分析装置に１分析分の分析データを蓄積しておくことにより、分析データを失うことなく、又は再分析を行う必要なく障害回復を図ることが可能である。 - 特許庁

To provide a technique capable of shortening down time of a partition occurring a failure and failure analysis time.例文帳に追加

障害の発生したパーティションのダウンタイムと障害解析時間を短縮することが可能な技術を提供する。 - 特許庁

SYSTEM FOR CALCULATING REQUIRED AMOUNT OF REDUNDANCY LINE AND FAILURE ANALYSIS METHOD USING THE SAME例文帳に追加

冗長線所要量算出システムおよびそれを用いた不良解析方法 - 特許庁

A trouble analysis means 25 analyzes, when message information or a command is inputted in the event of the failure, the failure content based on the analysis definition table TE37.例文帳に追加

トラブル解析手段２５は、障害発生の際のメッセージ情報やコマンドが入力されると、解析用定義テーブルＴＥ３７にもとづいて障害内容を解析する。 - 特許庁

To improve the efficiency in failure analysis by shortening information- collecting time and automatic extracting of required information in failure analysis of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの不良解析において、情報収集時間の短縮化及び必要情報の自動抽出化を可能として不良解析の効率を向上させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor failure analysis system for automatically adding a new combination of electrical test results to a semiconductor failure analysis decision table as needed.例文帳に追加

半導体不良解析判定表に必要に応じて新しい電気テスト結果の組み合わせを自動的に追加できる半導体不良解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a failure analysis method and a failure analysis apparatus for a semiconductor device that can accurately specify a failed location of the semiconductor device using infrared laser beams.例文帳に追加

赤外線レーザー光を用いても半導体装置の故障箇所の特定を精度よく行える半導体装置の故障解析方法および故障解析装置を提供する。 - 特許庁

A failure analysis file added with a failure code obtained by lane control devices 12, 13, 22 and 23 is uploaded to the toll gate management servers 11 and 21, furthermore, a failure analysis log file added with a failure code is uploaded from the toll gate servers 11 and 21 to a failure management server 2.例文帳に追加

レーン制御装置１２、１３、２２、２３で得られた障害コード付き障害解析用ファイルが料金所管理サーバ１１、２１にアップロードされ、さらに料金所サーバ１１、２１から障害管理サーバ２に障害コード付き障害解析用ログファイルがアップロードされる。 - 特許庁

To provide a failure analysis support device and a failure analysis support system supporting failure diagnosis by automatically reproducing operations inputted from a user on a control panel on the basis of a record when discovering a cause of a generated failure.例文帳に追加

発生した故障の原因究明時に、ユーザから入力された操作を記録に基づき操作パネル上に自動的に再現することで故障診断の支援を行う故障解析支援装置及び故障解析支援システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microcomputer failure analysis system capable of reliably reproducing a failure for a semiconductor device having a function failure therein and analyzing the location of a problem in a circuit built in the semiconductor device in early failure analysis.例文帳に追加

初期の故障解析において、機能不具合を内在する半導体装置に対して確実な不具合の再現を可能とし、半導体装置に内蔵された回路のどの部分に問題があるかを解析するマイクロコンピュータ故障解析システムを提供する。 - 特許庁

The failure analysis device 10 comprises: an inspection information acquisition section 11 for acquiring the failure observation image P2 of the semiconductor device; a layout information acquisition section 12 for acquiring layout information; and a failure analysis section 13 for analyzing failure.例文帳に追加

半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、不良解析を行う不良解析部１３とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁

At failure analysis, by reading the stored data of the nonvolatile memory 56 and applying them to a failure analysis program executed on a web server or on a web browser, the probable cause of the failure or the like is displayed by the web browser.例文帳に追加

故障解析時に、不揮発性メモリ５６の記憶データを読み出し、ウェブサーバ上又はウェブブラウザ上で実行される故障解析プログラムにかけることにより、推定故障原因等をウェブブラウザで表示する。 - 特許庁

To surely perform failure analysis and its repair when an air conditioner main body or a control device is returned because of failure.例文帳に追加

空気調和機本体または制御装置が故障にて返却された場合、確実な故障解析とその修理を実施する。 - 特許庁

To provide a control device for an air bag system provided with a means for efficiently executing failure analysis processing after detecting a failure.例文帳に追加

故障検出後に実施される故障解析処理を効率化する手段を備えたエアバッグシステムの制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a failure analysis method of a semiconductor device taking a logic LSI or the like as an object, capable of specifying easily a failure spot.例文帳に追加

故障箇所特定が容易に行える、ロジックLSI等を対象とした半導体装置の故障解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor failure analyzer for adapting to failure analysis on a semiconductor device provided with an internal voltage generating device.例文帳に追加

内部電圧発生装置を備えた半導体装置の故障解析に適応可能な半導体故障解析装置を提供する。 - 特許庁

To enhance the detection sensitivity for a defective portion in failure analysis for a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップの不良解析における不良箇所の検出感度向上を図る。 - 特許庁

To form a network for use in semiconductor failure analysis efficiently and accurately.例文帳に追加

半導体不良解析において使用するネットワークを効率的に精度良く形成する。 - 特許庁

FAILURE ANALYSIS FILE WEIGHT REDUCTION DEVICE FOR DISTRIBUTED PARALLEL PROGRAM, ITS METHOD AND ITS PROGRAM例文帳に追加

分散並列プログラムの障害解析ファイル軽量化装置、その方法及びそのプログラム - 特許庁

METHOD, APPARATUS AND PROGRAM FOR FAILURE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の故障解析方法、故障解析装置、及び故障解析プログラム - 特許庁

To provide a system failure analysis method allowing prompt specification of a failure part needing preferential repair by failure contents and a place wherein failure occurs, and allowing concealment of unnecessary failure information.例文帳に追加

障害内容と障害が発生した場所によって、優先的に修理が必要な障害箇所を速やかに特定でき、不必要な障害情報を隠蔽する事のできるシステム障害解析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A failure rate comparison analysis unit 210 refers to estimated failure rate data 119 and target failure rate data 291 to determine a type of component parts having the estimated failure rates higher than the target failure rates as an "improvement target type".例文帳に追加

故障率比較分析部２１０は、予測故障率データ１１９と目標故障率データ２９１とを参照して、予測故障率が目標故障率より高い構成部品の種類を「改善種類」として判定する。 - 特許庁

To provide a failure analyzer and a failure analysis method of a semiconductor integrated circuit, capable of comparatively easily specifying such a high resistance failure that minute search of a failure spot is difficult.例文帳に追加

故障箇所の絞り込みが困難である高抵抗故障を比較的容易に特定することができる半導体集積回路の故障解析装置及び故障解析方法を提供する。 - 特許庁

The failure analysis part 6 analyses the cause of failure and a failure part in a sample 3 by referring to the first to third stored electric current images.例文帳に追加

故障解析部６は、記憶している第１〜第３の電流像を参照することにより、試料３内における故障原因及び故障箇所を解析する。 - 特許庁

The failure analysis apparatus 10 comprises an inspection information acquisition section 11 for acquiring at least a pattern image P1 of the semiconductor device, a layout information acquisition section 12 for acquiring a layout image P3, a failure analysis section 13 for the analysis of a failure of the semiconductor device, and an analysis screen display control section 14 for allowing a display device 40 to display information on the failure analysis.例文帳に追加

半導体デバイスのパターン画像Ｐ１を少なくとも取得する検査情報取得部１１と、レイアウト画像Ｐ３を取得するレイアウト情報取得部１２と、半導体デバイスの不良についての解析を行う不良解析部１３と、不良解析についての情報を表示装置４０に表示させる解析画面表示制御部１４とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁

To shorten failure analysis time for an LSI and perform a failure analysis meeting the increase in data quantity due to increase in the memory capacity and diameter of a wafer.例文帳に追加

ＬＳＩに対する不良解析処理時間を短縮すると共に、メモリの大容量化、ウエハの大口径化に伴うデータ量の増大に対応した不良解析を可能にする。 - 特許庁

To provide a failure analysis system for securing an observation sample corresponding to an arbitrary location that desires to be observed being decided by an inspection later in the failure analysis of a device.例文帳に追加

デバイスの不良解析において、後になって検査により確定される任意の観察所望場所に対応可能な観察試料を確保できる不良解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a failure analysis method of a semiconductor device which can accurately extract the manufacturing condition that is possibly the cause of a failure.例文帳に追加

不良の原因と考えられる製造条件を的確に抽出可能な半導体装置の不良解析方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electric power steering controller capable of storing, without failure, information necessary for failure analysis and information of great importance.例文帳に追加

故障解析に必要な情報、重要度の高い情報を洩れなく記憶することができる電動パワーステアリング制御装置を得る。 - 特許庁

METHOD OF ANALYZING SEMICONDUCTOR FAILURE, SYSTEM OF DETERMINING PRIORITY OF SEMICONDUCTOR FAILURE ANALYSIS, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

半導体不良解析方法、半導体不良解析優先順位決定システム及びそれを用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁

Next, a hierarchy analysis result is decided by use of the failure hierarchical information and the position information (S5).例文帳に追加

次に、障害階層情報と位置情報を使用して階層解析結果を確定する（Ｓ５）。 - 特許庁

APPARATUS, SYSTEM AND METHOD FOR FAILURE ANALYSIS BY IMAGE INFORMATION TRANSMISSION, AND PROGRAM例文帳に追加

画像情報伝送による故障解析装置、故障解析システム、故障解析方法、及びプログラム - 特許庁

To easily prepare a failure mode and effect analysis chart used in project risk management.例文帳に追加

プロジェクト・リスク管理に用いられる故障モード影響解析表を容易に作成できるようにする。 - 特許庁

To realize a IC tester in which failure analysis can be carried out readily in a short time.例文帳に追加

短時間で容易に不良解析ができるＩＣ試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

An analysis section 153 calculates the number of target components failed based on the failure occurrence information.例文帳に追加

解析部１５３は、故障発生情報に基づいて対象部品の故障台数を算出する。 - 特許庁

Next, the data are rearranged by hierarchical information and the position information of the failure analysis work table (S4).例文帳に追加

次に、障害解析作業テーブルの階層情報と位置情報でデータを並び替えする（Ｓ４）。 - 特許庁

To provide a semiconductor device reduced in test cost and improved in accuracy of failure analysis.例文帳に追加

テストコストの低減及び不良解析の精度向上を図った半導体装置を提供する。 - 特許庁

A template of the failure mode and effect analysis chart is prepared by inserting the prepared candidate list.例文帳に追加

作成された候補リストを挿入して故障モード影響解析表のテンプレートを作成する。 - 特許庁

By this method, it is possible to correctly analyze the cause of the performance failure from quantitative analysis.例文帳に追加

これにより、定量的な分析から性能障害の原因を正しく解析可能になる。 - 特許庁

To provide a log control device, capable of efficiently storing logs useful for failure analysis.例文帳に追加

障害解析に有用なログを効率よく保存することができるログ制御装置を提供する。 - 特許庁

To decrease possibility of reoccurrence of failure of a reintegrated CPU by performing failure reoccurrence prevention treatment corresponding to the analysis result of the contents of the failure in reintegrating a CPU in which a failure has occurred.例文帳に追加

障害が発生したＣＰＵを再組み込みする際に、障害内容の分析結果に応じた障害再発予防処置を行うことで、再組み込みしたＣＰＵの障害再発の可能性を低下させること。 - 特許庁

When the kind of failure is sent in another analyzing device 1B, the kind of failure and the serious degree of failure preset at each kind of failure are output to the outside in a standby state and, when the analysis starting order is sent, analysis is started.例文帳に追加

他の分析装置１Ｂにおいて、異常の種類が送信された場合には待機状態のまま異常の種類および異常の種類毎に予め設定された異常の重度を外部に出力し、分析の開始命令が送信された場合には分析を開始する。 - 特許庁

The failure analysis device 10 comprises: an inspection information acquisition section 11 for acquiring the failure observation image P2 of the semiconductor device; a layout information acquisition section 12 for acquiring layout information; and a failure analysis section 13 for analyzing failure in the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの不良観察画像Ｐ２を取得する検査情報取得部１１と、レイアウト情報を取得するレイアウト情報取得部１２と、半導体デバイスの不良についての解析を行う不良解析部１３とによって不良解析装置１０を構成する。 - 特許庁

Plural sets of combination of the pre-catch RAM and the failure analysis memory above the number of types of redundant constitution are provided, where by the failure information is switched at every redundant constitution and transmitted to each pre-catch RAM, and in each failure analysis memory, failure information is analyzed.例文帳に追加

そして、各プリキャッチＲＡＭと各不良解析メモリの組を、半導体装置１の冗長構成の種類以上の複数組備え、不良情報を冗長構成毎に切り換えて各プリキャッチＲＡＭに送出し、各不良解析メモリにおいて不良情報を解析する。 - 特許庁