「Failure analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a groupware system to allow a sales person to input all data necessary for analysis such as time used to communicate with a customer, progress of a business negotiation, achievement of a business negotiation (conclusion or failure), and amount of order acceptance, without the sales person's burden.例文帳に追加

営業担当社員が顧客に対応した時間、商談の進捗状況、商談の成果（成約／失注の別）、受注金額等の分析に必要なデータの全てを、営業担当社員に大きな負荷をかけずに入力させるグループウェアシステムを提供すること。 - 特許庁

To provide a data collecting device for collecting data for appropriately diagnosing various facility equipment of low-speed rotation, high-speed rotation, etc., and a diagnostic device for facility equipment which includes the data collecting device and is capable of performing failure diagnosis analysis with high reliability.例文帳に追加

低速回転、高速回転などの種々の設備機器について診断を的確に行なうためデータを収集できるデータ収集装置及び該データ収集装置を備えて異常診断分析を高い信頼性をもって行なうことができる設備機器の診断装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device in which the output signal of a driver LSI can be inspected in a failure analysis, in the structure a wire is not extended and the electrode part connected to the wire is not exposed, and a method for inspecting the liquid crystal display device.例文帳に追加

本発明は、配線を延長することも、配線に接続された電極部分を露出させることもない構造であって、故障解析時にドライバＬＳＩの出力信号を検査することが可能な液晶表示装置及び液晶表示装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide the management method of a semiconductor device which can identify each semiconductor device and specify its manufacturing process information without providing a special record to a semiconductor chip itself, and can carry out quality assurance and failure analysis of each semiconductor device.例文帳に追加

半導体チップ自体に特別な記録部などを設けることなく、半導体装置個々について識別できその製造工程情報を特定でき、個々の半導体装置の品質保証及び不良解析を行うことができる半導体装置の管理方法を提供する。 - 特許庁

The system automatically samples the log file during a fault for the later analysis of a cause, sign, etc. of the fault by periodically sampling a log file during a normal operation on a normal user server having no failure, and accumulating it in the server which accumulates the log file.例文帳に追加

障害が発生していない平常時のユーザサーバ上で平常時のログファイルを定期的に採取し、ログファイルを蓄積しているサーバに蓄積することによって、障害発生後に、障害発生の原因や予兆などを調査するための障害時のログファイルを自動で採取し、蓄積する。 - 特許庁

A BIST circuit 3 which tests the logic circuit 4 under test comprises a control circuit 11, a test pattern generation circuit 12, a first pattern generation circuit 13, a second pattern generation circuit 14, a signal compression pattern generation circuit 15 and a failure detection analysis circuit 16.例文帳に追加

被テスト回路である論理回路４をテストするＢＩＳＴ回路３には、制御回路１１、テストパターン発生回路１２、第１のパターン生成回路１３、第２のパターン生成回路１４、信号圧縮パターン生成回路１５、及び故障検出解析回路１６が設けられる。 - 特許庁

To provide a mounting method for a failure analysis memory in a semiconductor tester that enables a change of slave boards according to a change in type and an increase in capacity or the like of a semiconductor device under test, and can minimize a spacing between master boards even when the number of master boards is increased.例文帳に追加

被試験対象の半導体デバイスの種類の変更、容量等の増大に伴い、子基板の変更ができ、親基板の枚数が増えても親基板の間隔を最小限の間隔におさえることのできる、半導体試験装置における不良解析メモリの搭載方法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the failure analysis system extracts the fail bit map image data from the first image data storage area 32 or the second image data storage area 34, merges it, and displays it on a display part 44, on the basis of instruction from a user for a display format and/or a display area.例文帳に追加

さらに、不良解析システムは、ユーザからの表示形式及び／又は表示領域の指示に基づいて、第１画像データ記憶領域３２又は第２画像データ記憶領域３４からフェイルビットマップ画像データを抽出して結合し、表示部４４に表示する。 - 特許庁

The NSC has established the Special Committee on Analysis and Evaluation of Nuclear Accidents and Failures and investigated and reviewed in and outside Japan. In March 2007 this committee summarized the guidance to use the incident and failure information of nuclear installations.例文帳に追加

また、原子力安全委員会では、原子力事故・故障分析評価専門部会を設置し、国内外の原子力事故・故障の分析・評価に関して調査審議を行っており、2007年3月に原子炉施設の事故・故障情報の活用のあり方についてとりまとめている。 - 経済産業省

To provide a method and a device of inspecting a semiconductor device by charged particle beams and focused ion beams, for detecting, from a potential contrast difference of secondary electron images, a failure point such as leakage due to a defect in the semiconductor device, which cannot be detected merely through appearance shape observation in conventional semiconductor analysis.例文帳に追加

従来の半導体解析において外観形状観察だけでは検出することが不可能な、半導体装置内部の欠陥に基づくリーク等の不良箇所を、二次電子像の電位コントラスト差から検出する、荷電粒子ビームおよび集束イオンビームによる半導体装置の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

Since a product life analysis apparatus updates parameter values of a product life model by utilizing newly updated monitoring data and past failure data of a product, calculation time can be shortened as compared with a conventional method for updating the parameter values of the product life model by using all monitoring data stored in the past.例文帳に追加

本発明の製品寿命分析装置では、新たに更新されたモニタリングデータと、製品の過去の故障データを利用して、製品寿命モデルのパラメータの値を更新することから、過去に保存しているモニタリングデータ全てを利用して、製品寿命モデルパラメータの値を更新するよりも、計算時間を短縮することができる。 - 特許庁

A statistics analysis part 23 reads the log file from the log file storage part 22, estimates dispersion of a response time distribution from the measurement result of the response time, and decides that the failure occurs in the server device 1 of the monitoring target when a time change of the dispersion of the response time distribution exceeds a preset threshold value.例文帳に追加

統計解析部２３は、前記ログファイル記憶部２２からログファイルを読み出し、応答時間の測定結果から応答時間分布の分散を推定し、応答時間分布の分散の時間変化が、予め設定された閾値を越えると、監視対象のサーバ装置１に障害が発生したと判定する。 - 特許庁

To provide a maintenance service support system that can increase the reliability of a food manufacturing plant and to reduce maintenance check costs by appropriately and quickly providing a plant user with an analysis of a factor in equipment failure found during a maintenance check of food manufacturing plant equipment and a corrective action on the factor.例文帳に追加

食品製造プラント設備の保守点検時に発見された設備異常の要因分析と上記要因の是正措置を適切、且つ迅速にプラント使用者に対して提供することによって、食品製造プラントの信頼性向上と、保守点検コストの低減を可能とする保守業務支援システムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection/analysis system which can use an infrared imaging device or both it and a laser imaging device to automatically measure the float or both the floats and cracks of wall surface in a single process and then automatically analyze the pick-up image to extract/determine a defect, in failure check of wall surface for tunnels, etc. by using an inspection vehicle.例文帳に追加

計測車によるトンネル等の壁面の不具合計測において、赤外線撮像装置或は該撮像装置とレーザ撮像装置の両方を使用して壁面の浮き或は浮きとひび割れの両方を１工程で自動計測し、撮像画像を自動解析して不具合を抽出・判定できるシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an vehicle information acquisition and storage device with a simple and inexpensive constitution that has a user-friendly and convenient function, and can provide an accurate document for failure analysis and the like by acquiring various kinds of data (information) more in detail and storing them.例文帳に追加

簡単かつ安価な構成でありながら、ユーザーフレンドリーで便利な機能を備え、より一層きめ細かく各種のデータ（情報）を取得して蓄積することで、故障診断等における精度の高い資料を提供することができる車両の情報取得蓄積装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Then, the sensor information obtained from the sensor mounted on the HDD 101 relating to a prediction phase is applied to the generated deterioration estimation model, the degree of the deterioration of the lubricant oil is estimated, and tendency analysis is performed by the HDD endurance model based on the estimated deterioration of the lubricant oil, thereby predicting the failure time of the HDD 101.例文帳に追加

そして、予測フェーズに係るＨＤＤ１０１に搭載されたセンサから取得されるセンサ情報を生成された劣化推定モデルに当てはめて潤滑油の劣化度を推定すると共に、推定された潤滑油の劣化度に基づいてＨＤＤ生存モデルによる傾向分析を行い、ＨＤＤ１０１の故障時間を予測する。 - 特許庁

The management server detects an image forming apparatus that requires the dispatch of the service engineer based on second analysis processing executed by either one or both of the stored operation information and failure information about the plurality of image forming apparatuses (S807-S811) in response to that the image forming apparatus that requires the dispatch of the service engineer is detected.例文帳に追加

そして、サービスマンの派遣を要する画像形成装置が検出されたことに応じて、記憶した複数の画像形成装置の稼動情報及び障害に関する情報の何れか、又は両方を用いた第２の分析処理に基づき、サービスマンの派遣を要する画像形成装置を検出する（Ｓ８０７〜Ｓ８１１）ことを特徴とする - 特許庁

To provide a data analyzing method which can efficiently extract a correlation between variables in record group, can easily extract a failure factor of product or the like when using this, for example, in a field needing a process data analysis of semiconductor product manufacturing field or the like, and can obtain industrial superiority.例文帳に追加

レコード群中の変数間の相関関係を効率的に抽出することができ、これを、例えば、半導体製品製造分野等のプロセスデータの解析を必要とする分野で利用する場合には、製品の不良要因等の抽出を簡便に行うことができ、産業上の優位性を得ることができるようにしたデータ解析方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device failure analysis apparatus 100 includes a laser light source 17 that irradiates a semiconductor device 1 with pulse laser light causing the semiconductor device 1 to develop multiphoton absorption and an optical detector 6 that has sensitivity in a wavelength region including wavelength of a light produced by the operation of the semiconductor device 1 and can measure photon counting.例文帳に追加

半導体デバイス故障解析装置１００は、半導体デバイス１に多光子吸収を生じさせるパルスレーザ光を、半導体デバイス１に照射するレーザ光源１７と、半導体デバイス１の動作により発生する光の波長を含む波長領域に感度を有し、フォトンカウンティング測定可能な光検出器６とを備える。 - 特許庁

A failure analysis apparatus 1A comprises a voltage applying unit 14 for applying a bias voltage to a semiconductor device S, an imaging device 18 for obtaining an image, and an image processing unit 30 for conducting image processing.例文帳に追加

半導体デバイスＳにバイアス電圧を印加する電圧印加部１４と、画像を取得する撮像装置１８と、画像処理を行う画像処理部３０とを備えて故障解析装置１Ａを構成し、撮像装置１８は、電圧印加状態での発熱像をそれぞれ含む複数の解析画像と、電圧未印加状態での複数の背景画像とを取得する。 - 特許庁

In the failure analysis of the semiconductor device (DUT) 3, the inspection device counts the number of inputs of a pass signal or a fail signal of the semiconductor device (DUT) 3 in a user's specified period, and displays the pass rate or fail rate of the semiconductor device (DUT) 3 to the counting number of a test start signal Sts or test completion signal Ste.例文帳に追加

半導体デバイス（ＤＵＴ）３の故障解析では、ユーザの指定期間内で半導体デバイス（ＤＵＴ）３のパス信号或いはフェイル信号が何回入力されたかをカウントし、テスト開始信号Ｓｔｓ或いはテスト終了信号Ｓｔｅのカウント数に対する半導体デバイス（ＤＵＴ）３のパス率或いはフェイル率として表示する。 - 特許庁

In each sampling wherein ordinary sampling is performed when a switch is in the ON-state of an output of a transmission signal by a transmitter and failure detection sampling is performed, when the switch is in the OFF-state of the output of the transmission signal by the transmitter, a control part performs frequency analysis of a beat signal generated by a beat signal generation means.例文帳に追加

制御部にて、スイッチが送信機による送信信号の出力をＯＮしているときを通常サンプリング、スイッチが送信機による送信信号の出力をＯＦＦしているときを故障検出用サンプリングとし、これらそれぞれのサンプリングの際において、ビート信号生成手段が生成したビート信号を周波数解析する。 - 特許庁

To provide a semiconductor module and its tester facilitating high-density mounting of electronic components, structural designing, testing, and failure analysis of semiconductor modules and to provide a small semiconductor module having a high frequency circuit capable of preventing or reducing deterioration of high frequency characteristics due to influence of internal wiring and excelling in test convenience.例文帳に追加

電子部品の高密度実装や半導体モジュールの構造設計、検査および故障解析などが容易である半導体モジュールとその検査装置を提供し、さらには、高周波回路を有する小型の半導体モジュールにおいて、内部配線の影響による高周波特性の劣化が防止あるいはより低減され且つ検査の利便性に優れた半導体モジュールを提供すること。 - 特許庁

The failure analysis apparatus comprises an X-ray generating part for irradiating X-ray to the semiconductor integrated circuit; a movable scintillator for transforming x-ray transmitting through the semiconductor integrated circuit into light; and a photodetection part for detecting the light transformed by the scintillator and a photoemission light generated from the semiconductor integrated circuit in which a voltage is applied.例文帳に追加

故障解析装置は、半導体集積回路にＸ線を照射するＸ線発生部と、半導体集積回路を透過したＸ線を光に変換する移動可能なシンチレータと、シンチレータによって変換された光を検出するとともに、電圧が印加された半導体集積回路から生じたフォトエミッション光を検出する光検出部とを備えている。 - 特許庁

A packet copy part 12 and a packet analysis part 13 configure a means for measuring the connection quality including at least one of a connection establishing required time (a time for communication exchange after start of connection operations) and an amount of connection failure due to other factors than a busy state of desired communication opposite parties by each subscriber and in connection operation units through the monitoring of a state of connection.例文帳に追加

パケットコピー部１２及びパケット解析部１３は、状態を監視することにより、接続確立所要時間（接続動作を開始してから行われるやり取りのための時間）又は通信を希望する相手先の話中以外の要因における接続動作の失敗量の少なくとも一方を含む接続品質を加入者毎かつ接続動作単位に測定する手段を構成する。 - 特許庁

Then, a first embodiment 1 of the failure analysis method of the MCU is moved to a simplified operation port 4 to place it in a state of operation by itself, the branch information and the particular address-access information from the personal computer 3 is returned to the first embodiment 1 of the MCU and used to reproduce operation in the system 2 by the first embodiment 1 of the MCU.例文帳に追加

その後、本発明のＭＣＵの不良解析方法の第１実施形態１を簡易動作ボード４に移して単体で動作させる状態におき、パソコン３から分岐情報及び特定アドレス・アクセス情報を本発明のＭＣＵの第１実施形態１に戻して利用し、本発明のＭＣＵの第１実施形態１にシステム２内での動作を再現させる。 - 特許庁

The invention provides a method of decreasing cycle time of the forming process, while ensuring acceptable product properties and avoiding failures, by modeling the process using finite element analysis to establish a pressure-time history that optimizes the forming operation and applies failure limits to selected variables such as minimum wall thickness or maximum strain rate, and transferring this pressure-time history to a computer 320 controlling the forming process.例文帳に追加

有限要素解析を利用して、成形操作を最適化し最小限壁厚や最大限歪み率などの選択された変数に欠陥限界を適用する圧力時間履歴を確立するプロセスをモデル化し、成形操作を制御するコンピュータ３２０にこの圧力時間履歴を伝送することによって、受け容れ可能な製品特性を保証して欠陥を回避しつつ、成形プロセスのサイクル時間を減少させる。 - 特許庁

In a human error analysis when an accident or a failure occurs, a display device 17 displays relevant elements retrieved by the human error element retrieval part 25 about the first element selected by a user, and the user uses a mouse 18 and a keyboard 19 to select a corresponding relevant element among the displayed relevant elements and can retrospectively retrieve and selects one relevant elements after another in sequence.例文帳に追加

事故や不具合が発生した場合のヒューマンエラーの原因分析において、ユーザが最初に選択した要因に対して、ヒューマンエラー要因検索部２５によって検索された関連要因が表示装置１７によって表示され、ユーザはマウス１８、キーボード１９によって、表示された関連要因中から該当する関連要因を選択して、次々と連鎖的に関連要因を遡及検索および選択可能とする。 - 特許庁

To provide a manufacturing apparatus for an electro-optical device capable of performing failure state detection for each processing mode such as, before starting, during processing, before stopping and during stopping of individual or a plurality of manufacturing apparatuses in processes of a factory for manufacturing the electro-optical device or the like, and to provide a manufacturing method using the apparatus and an electric power analysis system.例文帳に追加

電気光学装置等を製造する工場等の工程において、製造装置個々並びに複数の製造装置につき、開始前、処理時、停止前及び停止などの処理モードごとの異常状態の検出及び電力消費量の省エネルギー及び解析を行うことが可能な電気光学装置の製造装置及びこれを用いた製造方法、電力解析システムを提供すること。 - 特許庁