1153万例文収録!

「Failure analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Failure analysisの意味・解説 > Failure analysisに関連した英語例文

セーフサーチ:オフ

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

Failure analysisの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 534



例文

To provide an image forming apparatus predicting an image quality correction or a failure by carrying out the comprehensive analysis of an evaluation value which is correlated with an image quality factor regarding the cause of an image deterioration.例文帳に追加

画像劣化の原因について画質因子と相関のある評価量を総合的に分析し、画質補正や故障の予測を行う画像形成装置を提供する。 - 特許庁

In the SLEEP mode, the sensor amplification signal from the AF circuit 12 is further monitored in an AF failure analysis period when the RF circuit 111 is not powered.例文帳に追加

さらに、SLEEPモードでは、RF回路111に電力を供給していないAF故障診断期間に、AF回路12からのセンサ増幅信号をモニタする。 - 特許庁

To reduce the time needed for analysis processing for abnormality detection and provide a failure detection device capable of preventing erroneous detection of an abnormality occurrence point.例文帳に追加

異常検知のための分析処理にかかる時間を短縮するとともに、異常発生個所の誤検出を防止可能にした障害検知装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the failure analysis device performs display or the like of the step execution frequency information of each break point held in the step execution frequency information holding table onto a screen.例文帳に追加

更に、障害解析装置は、ステップ実行回数情報保持テーブルに保持しているブレークポイント毎のステップ実行回数情報の画面への表示等を行う。 - 特許庁

例文

The user inputs a symptom of the device based on his/her analysis, and according to the input, the system offers information about a possible failure in the device.例文帳に追加

利用者は、装置について利用者の分析に基づく症状を入力し、これに応じてシステムが装置において発生し得る故障に関する情報を提供する。 - 特許庁


例文

To provide a test system, a semiconductor integrated circuit, and a test method, capable of easily performing failure analysis of a semiconductor integrated circuit based on a signature.例文帳に追加

シグネチャに基づいて、半導体集積回路の故障解析を容易に行うことができるテストシステム、半導体集積回路及びテスト方法を提供すること - 特許庁

Next, the analysis is performed by using the remaining tied data so as to rank a plurality of remaining processed information pieces in the order in which it is assumed as the failure factor (S3).例文帳に追加

次に、残りの紐付けデータを用いて、再び上記分析を行って、残りの複数の加工情報に不良要因として推定される順位を付ける(S3)。 - 特許庁

To enable analysis including a process leading to a failure state even for a commercially operating device by acquiring a state of a program without affecting the current operation.例文帳に追加

商用運用中の機器であっても現状の動作に影響を及ぼすことなく、プログラムの状態を把握し、異常状態に至る過程も含めた解析を可能にする。 - 特許庁

Since the two-dimensional symbol is used, merits of secrecy that described contents can not be recognized at a glance and large data volume of the two-dimensional symbols are utilized and information necessary for fault analysis/failure analysis can be surely acquired.例文帳に追加

二次元シンボルを用いることで、一見しただけでは記述内容が認識できないという秘匿性と、二次元シンボルのデータ量の大きさという特長を活かして、障害解析・故障解析に必要な情報を確実に取得することができる。 - 特許庁

例文

To enhance the reusability of evidence the degree of influence of which is calculated, in a risk analysis using a FMEA (Failure Mode and Effect Analysis) by making the evidence into knowledge to be usable of a computer, as well as to calculate the numerical value of reasonable degrees of influence, with respect to similar fault modes.例文帳に追加

FMEAによるリスク分析において、影響度を算出した根拠を、計算機利用が可能な形で知識化することで再利用性を高めると同時に、類似する故障モードに対して妥当な影響度の数値を算出する。 - 特許庁

例文

The ID of a product is used as a key, the process characteristic quantity data, a test data and a failure data are combined, and data for analysis that are generated by deleting invalid data in a data filter 10c is analyzed through data mining by an analysis part 10d to create a model.例文帳に追加

製品のIDをキーに、プロセス特徴量データと検査データ並びに故障データを結合し、データフィルター部10cにて不正データを削除して生成した解析用データを、解析部10dにてデータマイニングにより解析しモデルを作成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device along with a defect analyzing method for LSI using the same capable of detecting, at high sensitivity, failure of a contact plug which is specific to the logic circuit of a defect analysis LSI, with the defect analysis LSI having the logic circuit periodically manufactured.例文帳に追加

ロジック回路を有する不良解析用LSIを定期的に製造し、不良解析用LSIのロジック回路特有のコンタクトプラグの不良を、高感度に検出することができる半導体装置及びこれを用いたLSIの不良解析方法を提供する。 - 特許庁

To solve a problem in which: in an analyzer control system for operating an analyzer, when failure occurs in an analyzer control server, even if the analyzer is normally operating, it is necessary to intercept analysis under execution and to perform re-analysis again.例文帳に追加

分析装置を操作するための分析装置制御用システムにおいて、分析装置制御サーバに障害が発生すると、分析装置は正常に稼働していても、実行中の分析を中断し、改めて再分析を行うことが必要である。 - 特許庁

When the current coordinate values are different from the preceding coordinate values (S32: NO), information for failure analysis is prepared (S34) together with an operation history or the like and stored in the RAM (S35) because it can be presumed that some kind of a failure occurs.例文帳に追加

ここで今回座標値が前回座標値と異なる場合(S32:NO)は何らかの不具合を生じていると推測できるので、操作履歴等ともに不具合解析用情報が作成されて(S34)RAM上に記憶される(S35)。 - 特許庁

An improvement method analyzing part 3 fetches the failure information or the content of the restoration operation fetched by the repair division terminal 2 or repair information performed in a repair division through the network 100, and performs failure analysis by using a mining technology.例文帳に追加

改善方法解析部3は、修理部門端末2に取込まれた障害情報や復旧作業の内容や修理部門にて行った修理情報をネットワーク100を介して取込み、マイニング技術を用いて障害解析を行う。 - 特許庁

To accurately and surely record alarm information, to efficiently analyze a claim analysis and abnormal factor analysis, to improve the efficiency of maintenance and to reduce the cost and the labor costs in an occurrence of a power failure by recording power failure occurrence information at an instant when something abnormal occurs only by a little change in hardware.例文帳に追加

電源供給異常が発生した場合に、軽微なハードウェア変更だけで異常が発生した瞬間に電源異常発生情報を記録し、より正確で確実に警報情報を記録することが可能になるため、クレーム解析や異常原因の解析を効率的に行うことができ、メンテナンスの効率化とコスト低下、人件費の削減が実現できる。 - 特許庁

To provide a program for analysis of moving image data, which analyzes the moving image data with image data and an electric signal synchronized, thereby clarifying the relationship between actual workpiece abnormalities and operation conditions of production equipment, and performing failure analysis satisfactorily.例文帳に追加

画像データと電気信号とを同期させた状態の動画データを解析することにより、実際のワークの異常と生産設備の動作状態との関連性を明確にし、異常の解析を十分にすることができる動画データ解析プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a device failure evaluation system capable of evaluating the state of a consumer device by combining an analysis of a harmonic in the electric signal measured at the consumer device and an analysis about the physical quantity other than the electric signal.例文帳に追加

需要家装置から測定される電気信号における高調波成分の分析と、電気信号以外の物理量についての分析とを組み合わせることで、需要家装置の状態を評価することが可能な装置故障評価システムを提供する。 - 特許庁

As the result of analysis, when the failure contents are an unrecoverable failure(maintenance staff call or the like), the status(in-spooler position information) of a print job is acquired by using an IPP, and the acquired information is text-converted by a text converting part 210, and notified to a manager terminal 30.例文帳に追加

解析した結果、復帰不可能な障害(保守員コール等)である場合には、IPPを用いて印刷ジョブの状態(スプーラ内での位置情報)を取得し、取得した情報をテキスト変換部210でテキスト変換して管理者端末30に通知する。 - 特許庁

To provide a dispatch system, dispatch method and program for troubleshooting a computer that shorten a failure analysis time and quickly and accurately send work instructions to a maintenance person.例文帳に追加

故障解析時間を短縮し、保守員への作業指示を迅速かつ正確に伝達するコンピュータの故障修理のディスパッチシステム、そのディスパッチ方法及びそのプログラムを提供する。 - 特許庁

Quality of inspections to be performed for each failure mode of equipment is digitized, and the maintenance period is calculated by either of multivariable analysis, trend management, or an estimation plan by the digitized total quality of inspections.例文帳に追加

機器の故障モード毎に行われる検査の質を数値化し、数値化した検査の質の合計により、多変量解析、傾向管理、推定計画のいずれかでメンテナンス時期を算出する。 - 特許庁

To provide a management system of a device capable of performing the failure analysis of a management means even in an inexpensive hardware structure having no auxiliary storage device in the management means as a management computer.例文帳に追加

管理コンピュータ等の管理手段に補助記憶装置が無い安価なハード構成でも、該管理手段の障害解析を行うことが可能なデバイスの管理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a wafer prober, along with a failure analysis method using the same, capable of suppressing deflection of a wafer as much as possible in a probing state, for a sufficient observation field of sight.例文帳に追加

プロービング状態におけるウエハの反りを可及的に抑え、かつ十分な観測視野が得ることが可能なウエハプローバ、及び当該ウエハプローバを用いた故障解析方法を提供する。 - 特許庁

Then, FIB processing no longer has to be applied to the microcontroller, in order to forcedly transit the microcontroller to a standby mode contrary to the conventional manner, so that a failure analysis can be speeded up.例文帳に追加

したがって、従来のように、マイクロコントローラにFIB加工を施して強制的にスタンバイモードに遷移させる必要がなくなり、不良解析を迅速に進めることができる。 - 特許庁

Thereby, The clear absorption current image 7 can be obtained without including difference in amplification rate in input, and measurement efficiency in failure analysis of the semiconductor sample 2 can be improved.例文帳に追加

これにより、入力間の増幅率の差を含むことなく鮮明な吸収電流像7を取得でき、半導体試料2の不良解析の測定効率を向上できる。 - 特許庁

To provide a chip probing method and chip probing device capable of improving the failure analysis efficiency, and improving transfer retail of chip information.例文帳に追加

不良解析効率を向上することができ、また、チップ情報の伝達小売りを向上することができるチッププロービング方法及びチッププロービング装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a remote communication analysis system for highly efficiently rapidly monitoring a protocol signal to be transmitted and received in a communication device of a subscriber's home in communication failure of a network.例文帳に追加

ネットワークにおける通信不良時に、加入者宅側の通信装置が送受信するプロトコル信号を、効率良く迅速に監視する遠隔通信分析システムを提供する。 - 特許庁

To facilitate a cause analysis of a failure due to repeated attachment and detachment by storing the number of times at which the main body of an optical apparatus is attached to an accessory.例文帳に追加

光学機器本体とアクセサリの装着回数を記憶することによって、何度も着脱を繰り返したことに起因する故障の原因解析を容易にすることができるようにする。 - 特許庁

To provide a load control device for a vehicle to facilitate analysis of abnormality of a load for the vehicle in using it for failure diagnosis of the load for the vehicle and a terminal device.例文帳に追加

本発明は、車両用負荷の故障診断での使用に際し、車両用負荷の異常の解析を容易にする車両用負荷制御装置及び端末装置の提供を目的とする。 - 特許庁

A failure analysis device 10 periodically collects connection information from each device configuring video provider equipment 20 and each device configuring communication NW equipment 30.例文帳に追加

故障解析装置10は、定期的に、映像提供事業者設備20を構成する各装置及び通信NW設備30を構成する各装置から接続情報を収集している。 - 特許庁

To reduce an analysis time of data by a user even if the amount of data obtained by tracing software becomes enormous when the user analyzes the presence or absence of the occurrence of a software failure.例文帳に追加

ユーザによるソフトウェア上の障害発生の有無の解析に際し、該ソフトウェアをトレースしたデータが膨大な量になっても、ユーザによる該データの解析時間を短縮できるようにする。 - 特許庁

To provide a failure analysis method capable of effectively estimating a manufacturing apparatus causing an abnormal condition in a semiconductor device even when the abnormal condition is caused by a plurality of manufacturing apparatuses.例文帳に追加

半導体デバイスの異常の原因が複数の製造装置にある場合でも、異常の原因となった製造装置を効果的に推定できる不良解析方法を提供する。 - 特許庁

Each signal waveform of the surface inspecting apparatus can be easily observed by the terminal personal computer 43 from the distant place, and the failure analysis or the like by a professional can be promptly carried out.例文帳に追加

遠隔地から端末パソコン43により、表面検査機10の各信号波形を観測することが簡単に行え、専門家による故障解析等が迅速に行える。 - 特許庁

A sheet analysis part 42 analyzes the text data of respective rows of an FMEA (Failure Mode Effects Analysis) sheet read by a sheet read part 41, obtains a co-occurrence relationship between words and the strength of the relationship, integrates an analysis result by a row unit, and thus prepares feature data in which the importance degrees of respective combinations are made to correspond to the combinations of two or more sets of words.例文帳に追加

シート解析部42は、シート読出部41が読み出したFMEAシートの各行のテキストデータを解析し、単語間の共起関係およびその関係の強度を求めると共に、行単位での解析結果を統合することにより、複数組の単語の組み合わせにそれぞれの組み合わせの重要度を対応づけた特徴データを作成する。 - 特許庁

The failure prediction system 1 comprises a log analysis part 39 which executes data mining to event logs 35 related to events caused in the object device 10 of prediction to extract a precursor pattern specified, for example, by the occurrence order of events, and predicting occurrence of failure in the object device 10 when the precursor pattern is detected in an object log of analysis.例文帳に追加

障害予測システム1は、予測対象装置10に生じたイベントに関するイベントログ35に対しデータマイニングを実施して、たとえばイベントの発生順序によって特定される前兆パターンを抽出し、解析対象ログに前兆パターンが検出されたときに予測対象装置10に障害が発生すると予測するログ解析部39を備えている。 - 特許庁

A TCF reception analysis circuit 1 of a receiver terminal analyzes a TCF signal (training check signal), an FTT signal FIF information attachment circuit 4 attaches analysis result information into an FTT signal (training failure signal) as FIF (training information field) information on the occurrence of a failure in the reception of the TCF signal and transmits the result to a transmitter terminal.例文帳に追加

受信端末側では、TCF受信解析回路1によりTCF信号(トレーニングチェック信号)を解析し、TCF信号の受信に失敗したときには、FTT信号FIF情報付加回路4により解析結果情報をFTT信号(トレーニング失敗信号)中にFIF(ファクシミリ情報フィールド)情報として付加して送信端末側に送信する。 - 特許庁

The method and system may include: a step of acquiring historical motor data; a step of obtaining operational data 120; a step of performing failure analysis; a step of developing a causal network; and a step of developing a causal network, and performing an integrated causal network and reliability analysis of the AC motor system 110.例文帳に追加

方法及びシステムは、履歴モータデータを取得するステップと、動作データ120を入手するステップと、故障分析を実行するステップと、因果ネットワークを作成するステップと、ACモータシステム110の統合因果ネットワーク及び信頼性分析を実行するステップとを含み得る。 - 特許庁

The oscillator for failure analysis is constituted of the contact part 7 at the tip of the oscillated rod 6 which is vibrated along the longitudinal direction 6a by the driving force of the oscillation part 2, and the contact part 7 is brought into contact by each analysis location where oscillation test is carried out.例文帳に追加

本発明による不具合解析用加振装置は、加振部2の駆動力により長手方向6aに沿って振動される加振棒6の先端に接触部7を設け、この接触部7を解析箇所に押し当てて、解析箇所毎に振動試験を行う構成である。 - 特許庁

To provide technology allowing rapid failure cause decision processing by allowing prediction of whether it is in a state of being likely to cause a problem in the future even if events causing failure do not completely accord with each other and performing analysis in consideration of temporal correlation of occurrence of the respective events.例文帳に追加

障害の原因となるイベントが完全に一致しなくても将来問題となりうる状態にあるかどうか予測可能とするとともに、各イベント発生の時間的相関を加味して解析し、迅速な障害原因判定処理を実現することのできる技術を提供する。 - 特許庁

This system can additionally sample detailed data valid for a failure analysis corresponding to the condition the occurrence of the failure by dynamically selecting the data, without limiting the preservation of logs and traces concerning sampling processing which each program records at the normal time.例文帳に追加

障害発生時の解析データの採取処理で、各プログラムが通常時から記録しておいた採取処理に関するログやトレースを保存するだけにとどまらず、障害解析に有効な詳細データを、発生時の状況に応じて動的に選択して追加採取することができる。 - 特許庁

When a failure occurs in decoding of a data code such as a bar code, the failure in the decoding of the data code is analyzed according to an imaging status of the data code in image data acquired by imaging by an imaging section, and handling information enabling the decoding of the data code is reported according to the analysis result.例文帳に追加

バーコード等のデータコードのデコードに不具合が発生すると、撮像部の撮像により取得された画像データ中におけるデータコードの撮像状況に応じてデータコードのデコードの不具合を解析し、この解析結果に応じてデータコードのデコードを可能とする対処情報を報知する。 - 特許庁

When the system control server detects failure in the analyzer control server, the system control server determines a new allocation destination from among other analyzer control servers operating normally, transmits the analysis condition information stored in an analysis information storage section and the analysis data to the analyzer control server that is the allocation destination, and transmits an instruction to continue and execute control of analysis of the analyzer to the analyzer control server.例文帳に追加

システム制御サーバが分析装置制御サーバの障害を検知すると、システム制御サーバは正常に稼働している他の分析装置制御サーバの中から新しい割当先を決定し、分析情報保存部に保存してある分析条件情報と分析データとをこの割当先の分析装置制御サーバに対して送信するとともに、その分析装置制御サーバに対して、分析装置の分析の制御を引継実行する命令を送信する。 - 特許庁

To provide a semiconductor evaluation device, its method, and a program, which acquires internal delay information of an LSI without using a special circuit, and enables process monitoring, failure analysis and quality determination.例文帳に追加

特別な回路を使用せず、LSIの内部遅延情報を取得し、プロセスモニタ、不良解析、良否判定を可能とする半導体評価装置およびその方法、並びにプログラムを提供する。 - 特許庁

First, the failure analysis device 3 writes self-diagnosis item information on the diagnostic IC card 4 inserted in an IC card connector 33, this information showing items of self-diagnosis to be performed by the ETC onboard device 2.例文帳に追加

まず、異常解析装置3が、ICカードコネクタ33に挿入された診断用ICカード4に、ETC車載器2による自己診断の項目を示す自己診断項目情報を書き込む。 - 特許庁

A real time device data monitoring device 3 statistically analyzes the trace data, and when the analysis result deviates from model data, decides that a failure has occurred in the processing of the semiconductor manufacturing device.例文帳に追加

リアルタイム装置データ監視装置3は、トレースデータについて統計解析を行い、この解析結果がモデルデータを逸脱していた場合に半導体製造装置の製造処理に異常が発生したと判定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and its inspection method in which analysis in a memory failure is facilitated for a memory storing secret data while securing secret of data stored in the memory.例文帳に追加

機密データを格納するメモリに対して、メモリに格納されるデータの機密性を確保しつつ、メモリ不良時の解析を容易にする半導体集積回路およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

The resulting signals are outputted for analysis and/or internally used to set operating parameters such as reference voltages used during a failure detection or a reading operation.例文帳に追加

結果信号は、解析のため出力することができ、および/または、故障検出または読み出し動作中に使用される基準電圧のような動作パラメータの設定のために内部的に使用され得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device for making a failure analysis more efficient and improving the manufacturing yield by structuring the storage device so as to allow directly measuring the characteristics of transistors in a sense amplifier.例文帳に追加

センスアンプ内のトランジスタの特性を直接測定可能な構成を有することにより、不良解析を効率化し、製造歩留まりの向上を図ることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The failure diagnosing apparatus measures sounds or vibration by a measuring means, sends them to a frequency analysis means, and obtains a linear prediction coefficient at 0 order or first order or thereafter is sounds or vibration.例文帳に追加

故障診断装置は、測定手段により、音あるいは振動を測定し、周波数解析手段に送信し、音あるいは振動の0次および1次以降の線形予測係数を求める。 - 特許庁

例文

A pattern observation apparatus or a recipe preparation apparatus connected to the pattern observation apparatus has a recipe preparation section for setting imaging conditions of an image so as to pick up the image, based on wiring information including a failure position input from a failure analysis system connected with the pattern observation apparatus through a network, along wiring including the failure position.例文帳に追加

パターン観察装置、または前記パターン観察装置に接続されたレシピ作成装置は、前記パターン観察装置にネットワークを介して接続された故障解析システムから入力された故障位置を含む配線情報に基づいて、前記故障位置を含む配線に沿って画像が撮像されるように前記画像の撮像条件を設定するレシピ作成部を有することを特徴とする。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS