| 意味 | 例文 |
Failure analysisの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 534件
In the failure analysis method of a semiconductor device for a failure cause made by wiring formed on a semiconductor silicon board, a layer insulation film 3 is etched and removed on the semiconductor silicon board by using etching gas (for instance, CHF3) having a high etching selection ratio between a lower layer wire 2 and upper layer wiring 4, and the failure cause (foreign matter 5) is analyzed.例文帳に追加
半導体シリコン基板上に形成した配線に起因する不良原因を解析する半導体装置の不良解析方法において、下層配線2や上層配線4との間で高いエッチング選択比を有するエッチングガス(例えば、CHF_3)を用いて、半導体シリコン基板上の層間絶縁膜3をエッチング除去して、不良原因(異物5)を解析する。 - 特許庁
An analysis system is provided with a decision table which associates electrical test result of a semiconductor element with a failure factor, a means for specifying the failure factor of the semiconductor element based on the decision table, and a means of automatically adding the combination, when the combination of the electrical test results which are not included in the decision table appears, when the failure factor is specified.例文帳に追加
半導体素子の電気テスト結果と不良要因を対応づけした判定表と、その判定表に基づいて半導体素子の不良要因を特定する手段と、不良要因特定の際に判定表に含まれない電気テスト結果の組み合わせが現れた場合にはその組み合わせを自動的に追加する手段とを具備する半導体不良解析システムである。 - 特許庁
To provide a device and a method for test analysis that can automatically find out an optical testing condition to identify a cause of failure, even if a plurality of causes of failure coexist and are provided with new quantitative means and method that are hard to be affected by correlation between testing conditions and failure density and skill of an analyst.例文帳に追加
複数の不良原因が混在している場合でも、不良原因を識別するのに最適な検査条件を自動的に求めることができ、更に検査条件と不良密度との相関に加え、解析者の熟練度に影響を受けにくい新しい定量的な不良原因の識別手段及び方法を備えた検査解析装置及び方法を提供する。 - 特許庁
The failure analysis device includes: a classification part for performing the classification of failure types in a fail bit map corresponding to each layer; a storage part for storing a rule for combining the defective cells of the different layers; and a determination part for performing the grouping of the classification results matched with the rule among the classification results of the classification part.例文帳に追加
本実施形態の不良解析装置は、各レイヤに対応するフェイルビットマップにおける不良タイプの分類を行う分類部と、異なるレイヤの不良セルを組み合わせるためのルールを格納する記憶部と、前記分類部による分類結果のうち前記ルールに合致する分類結果をグループ化する判定部と、を備える。 - 特許庁
Design verification (circuit verification, simulation verification, layout verification) period can be shortened, that is required for estimating the failure part of the operation failure by the power supply drop in the semiconductor integrated circuit, processing period by FIB processing can be shortened, and analysis period can be significantly shortened.例文帳に追加
これにより半導体集積回路の電源ドロップによる動作不良の不具合箇所を推測するための、設計検証(回路検証、シミュレーション検証、レイアウト検証)時間が短縮でき、FIB加工による加工時間の短縮も図ることが可能となり、解析時間の大幅な短縮が図れる。 - 特許庁
A second target computer receives first information including a start failure rate of each configuration change sort concerned with the predetermined application from the analysis computer 101, and displays the configuration change sort causing failures in the start of the predetermined application based on the start failure rate.例文帳に追加
第2目標コンピュータは、前記分析コンピュータ101から前記所定のアプリケーションに関する構成変更の種別毎の起動失敗率を含む第1の情報を受信し、前記起動失敗率に基づいて、前記所定のアプリケーションの起動が失敗する原因となる構成変更の種別を表示する。 - 特許庁
The failure analysis data sampling system 100 is provided with surveillance object nodes 1, 2 and 3, network 5, a surveillance object resource 10, a failure surveillance means 11, a data sampling control means 12, data collecting means 13a, 13b and 13c, a sampling object specifying means 14, data recording means 23a, 23b and 23c.例文帳に追加
障害解析データ採取装置100は、監視対象ノード1,2,3、ネットワーク5、監視対象リソース10、障害監視手段11、データ採取制御手段12、データ採取手段13a,13b,13c、採取対象特定手段14、データ記録手段23a,23b,23cを備えて構成される。 - 特許庁
The failure analysis device 10 reads out a distribution route of the video reception device 41 specified by node identification information shown by the received evaluation basis excess notification, and specifies a failure location from a device on the read out distribution route or channel commonality shown by the evaluation basis excess notification.例文帳に追加
故障解析装置10は、受信した評価基準超過通知が示すノード識別情報により特定される映像受信装置41の配信ルートを接続情報から読み出し、読み出した配信ルート上の装置や、評価基準超過通知が示すチャネルの共通性から故障箇所を特定する。 - 特許庁
To provide a means for easily recovering a database to the state before a failure without performing remaining reagent amount registering operation or calibrating operation and confirming integrity of the recovered database so as to shorten the time until analysis becomes available again to for user after the failure of a medium including a device database.例文帳に追加
装置データベースを含む媒体が故障してから再度ユーザが分析可能になるまでの時間を短縮する為に、試薬残量の登録動作、キャリブレーション動作を実行せずとも故障前データベースの復旧作業を簡便にし、かつ復旧したデータベースの完全性を確認する手段を提供する。 - 特許庁
A failure coping device repeats material extraction on a failure coping object device based on extracted material knowledge, analysis of the extracted materials, determination of whether or not there are enough materials required for specifying the cause, and further material extraction till determination that there are enough materials required for specifying the cause.例文帳に追加
本発明の障害対処装置は、採取資料知識に基づいて障害対処の対象装置側で採取された資料と、採取資料の解析と、原因特定に必要な資料が十分であるか否かの判定と、さらなる資料採取とが、原因特定に必要な資料が十分であると判定されるまで繰り返す。 - 特許庁
MODELING DEVICE AND MODEL ANALYSIS METHOD, SYSTEM AND METHOD FOR PROCESS ABNORMALITY DETECTION/CLASSIFICATION, MODELING SYSTEM, AND MODELING METHOD, AND FAILURE PREDICTING SYSTEM AND METHOD OF UPDATING MODELING APPARATUS例文帳に追加
モデル化装置及びモデル解析方法並びにプロセス異常検出・分類システム及びプロセス異常検出・分類方法並びにモデル化システム及びモデル化方法並びに故障予知システム及びモデル化装置の更新方法 - 特許庁
A detection result analysis output part 11f stores the information together with time when abnormality has been detected in a failure diagnosis memory 14 with classifying cases based on any of the directions Fx, Fy, Fz in which abnormality has occurred.例文帳に追加
更に、判定結果解析出力部11fは、異常が検出された時刻と共に、Fx、Fy、Fzのどの方向で異常が発生したかを場合分けし、これらの情報を故障診断メモリ14に記憶させる。 - 特許庁
To provide a method of structural analysis of a structure for analyzing the collapse phenomena of the structure in consideration of a chain member failure when a certain member constituting the structure fails.例文帳に追加
構造物を構成するある部材が破壊した場合における連鎖的な部材破壊を考慮したうえで、構造物の崩壊現象を解析する構造物の構造解析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To detect occurrence of failure of action of an electronic equipment mounted on a satellite by checking telemetry from the satellite and to quickly perform analysis of inconvenience when a symptom of occurrence of the inconvenience and occurrence of the inconvenience exist.例文帳に追加
衛星からのテレメトリをチェックして衛星搭載電子機器の動作不良の発生を検出することができるとともに、不具合発生の予兆や不具合発生があったときに、迅速に不具合分析を行う。 - 特許庁
To always generate a normal signature even to an undefined value output from an unused function block and to easily perform a failure analysis of an integrated circuit, etc., in a short time while securing high reliability.例文帳に追加
使われていない機能ブロックからの不定値出力に対しても正常なシグネチャ生成を常に行うことができ、高い信頼性を確保しつつ容易且つ短時間で集積回路などの故障解析を行うこと。 - 特許庁
To provide a semiconductor device, capable of independently analyzing an IP(Interactual Property) chip packaged on a substrate as a MCP (Multiple Chip Package) together with a microcomputer CPU chip and for simplifying failure analysis.例文帳に追加
この発明は、MCPとしてマイコンCPUチップとともに基板に実装されたIPチップを外部から独立して解析可能とし、不良解析の容易化を図った半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
Using this device, complicated calculation such as vector analysis required in the prior art is dispensed with and less error attributable to grounding resistance occurs because the device isolates the failure zone by a digital judgement involving current direction (positive or negative).例文帳に追加
また、電流の方向(正か負か)というデジタル的な判断により故障区間の判別ができるため、従来技術のようにベクトル解析等の煩雑な演算をする必要がなく、地絡抵抗値による誤差も少ない。 - 特許庁
To provide a voltage application type circuit failure probe system which can probe a faulty point on the ground by receiving a radiated radio wave and appropriately specify the faulty point through the analysis of a received detection signal.例文帳に追加
放射電波を受信することで事故点の探査を地上で行うことができ、受信した検出信号の解析により事故点の特定を適正に行い得る課電式電路事故探査装置を提供すること - 特許庁
The work station (WS) 4 executes defect examination and defect analysis by segments, with respect to failure information on semiconductor memories measured by a memory tester 1, segment-classified prior to testing, and stored in the data storage part 3.例文帳に追加
ワークステーション(WS)4は、テスト前にセグメント分類され、データ格納部3に格納されているメモリテスタ1で測定した半導体メモリのフェイル情報をセグメントごとに不良調査及び不良解析を実行する。 - 特許庁
The product management division terminal 4 transmits the improvement method executed by its own terminal to the maintenance division terminal 1, and automatically updates a database for mining for improving the specification precision of failure analysis.例文帳に追加
製品管理部門端末4は自端末にて実施した改善方法を保守部門端末1に送信するとともに、障害解析の特定精度を向上するためにマイニング用データベースを自動的に更新する。 - 特許庁
To provide an array substrate, a display device and a manufacturing method of the display device capable of failure analysis or the like by monitoring a potential supplied to a signal wire, and capable of electrostatic discharge damage prevention.例文帳に追加
信号線に供給されている電位をモニターすることで不良解析等が可能であり、かつ静電破壊防止も可能なアレイ基板ならびに表示装置および表示装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To solve the problem that it is impossible to perform specification of nonconformity spots which aims at failure analysis or test development, and observation of its information by a limited number of terminals, in a test circuit which inputs an expected value to a semiconductor integrated circuit and performs comparison inside.例文帳に追加
半導体集積回路に期待値を入力し内部比較するテスト回路で、不良解析やテスト開発を目的とする不一致箇所の特定や、その情報を限られた端子で観測することができない。 - 特許庁
To accurately find the cell pattern of a specific standard cell parttern from among patterns, such as a regularly formed and arranged memory device and indicate it, when performing an SEM observation for purposes such as failure analysis.例文帳に追加
規則的に配列形成されたメモリデバイスなどのパターンの中の特定の基本セルパターンを、不良解析などの目的でSEM観察するとき、正確にそのセルパターンをとらえ、指示することができるようにする。 - 特許庁
To provide a device which automates a means that adjusts the light ness and contrast of a display device, when an acquired secondary electron image is displayed on the display device for improving the efficiency and speed of failure analysis, etc., using an electron beam tester.例文帳に追加
電子ビームテスタを用いた不良解析等を効率化、高速化するため、2次電子像の取得においてディスプレイ装置における明度・コントラストを調整する手段を自動化する装置を提供する。 - 特許庁
The result of the analysis is automatically reflected on the failure information database 04.例文帳に追加
検査中に故障が発生した場合には、障害に関する情報が自動で検査管理サーバ01に送信され、ログ解析部02において障害解析を自動で実行し、解析結果を障害情報データベース04に自動で反映させる。 - 特許庁
To provide an electronic control system to perform proper analysis about a failure in a vehicle, its running environment, etc., on the basis of the vehicle condition information and position information transmitted from the vehicle.例文帳に追加
車両から送信される車両状態情報及び車両位置情報に基づいて車両異常、車両走行環境等について的確な解析を行う電子制御システムを提供することである。 - 特許庁
To provide a failure part detection device for a vehicle capable of detecting trouble of data regarding the network, capable of detecting failure which cannot be specified by self-diagnosis by respective ECU units, and capable of reducing man-hour required for analysis or repair of the failure portion even when a self-diagnosis function by ECU (Electric Control Unit) is not normal.例文帳に追加
電装コントロールユニット(Electric Control Unit;以下、ECUという。)による自己診断機能が正常でない場合であっても、ネットワークに関するデータの不具合を探知することができ、また、各ECU単体による自己診断では特定不可能な不具合も探知することができ、故障箇所の解析や修理に要する工数を削減することができる車両用故障部品探知装置を提供する。 - 特許庁
The failure analysis section 13 uses wiring information, where the configuration of a plurality of wiring in a semiconductor device is described with a group of pattern data in each wiring pattern in a plurality of layers to extract wiring passing through an analysis region in a plurality of wiring as failure candidate wiring, and extracts candidate wiring by performing the isoelectric tracing of the wiring pattern using a group of pattern data in the extraction of the candidate wiring.例文帳に追加
不良解析部13は、複数のレイヤのそれぞれでの配線パターンのパターンデータ群によって半導体デバイスの複数の配線の構成が記述された配線情報を用い、複数の配線のうちで解析領域を通過する配線を不良の候補配線として抽出するとともに、候補配線の抽出において、パターンデータ群を用いた配線パターンの等電位追跡を行うことで、候補配線を抽出する。 - 特許庁
The video reception device 41 transmits evaluation basis excess notification to the failure analysis device 10 when it is determined that errors generated in performing the FEC decoding exceed an evaluation basis shown by evaluation basis data acquired in advance.例文帳に追加
FEC復号の際にエラーが発生し、予め取得した評価基準データが示す評価基準を超過していると判断した場合、映像受信装置41は、評価基準超過通知を故障解析装置10に送信する。 - 特許庁
Thus operation data as the cause of failure can be specified from among operation data on the basis of the model for cause analysis, which is capable of satisfactorily explaining normal past data, even in the case of characteristic prediction with the JIT modeling.例文帳に追加
こうすることにより、JITモデリングによる特性予測の場合でも、正常過去データをよく説明できる原因解析用モデルに基づいて、運転データの中から異常の原因となった運転データを特定できる。 - 特許庁
An alarm notification control part 21 sets the output configurations of alarm notification as alarm display configurations or alarm sound configurations based on the occurrence frequency of failure as the analysis result of the alarm occurrence frequency analyzing part 22.例文帳に追加
警報通知制御部21は、警報発生頻度解析部22の解析結果である異常発生の発生頻度に基づいて、警報表示形態または警報音形態である警報通知の出力形態を設定する。 - 特許庁
To provide a built-in controller having a monitoring device which is easily incorporated into a built-in controller whose costs and processing performance are strictly restricted, and enables log collection for failure analysis not to affect CPU processing performance.例文帳に追加
コストや処理性能の制限が厳しい組込系コントローラへの組込みが容易で、CPU処理性能に影響を与えないように故障解析用のログ収集を可能にしたモニタリング装置を有する組込系コントローラの提供。 - 特許庁
There are provided a plurality of nodes for transmitting the control data to a communication bus, and a failure analysis apparatus which receives the control data to be transmitted from each node to the communication bus and estimates the failed part based on the control data.例文帳に追加
それぞれ、制御データを通信バスへ送出する複数のノードと、各ノードから通信バスへ送出される制御データを受信してその制御データに基づいて故障部位を推定する故障解析装置と、を設ける。 - 特許庁
To provide a failure analysis system which is capable of indicating the fault circuits of a semiconductor device on physical coordinates resting on a test result obtained through a semiconductor test device and making a user easily judge the features of the defective circuits of the semiconductor device.例文帳に追加
半導体試験装置の試験結果に基づく半導体デバイスの故障回路を物理座標上に表示し、ユーザが半導体デバイスの不良の特徴を容易に判断できるようにする不良解析システムを提供する。 - 特許庁
To provide a method and device for analyzing a modulation signal enhancing visibility performance of distortion of a waveform signal flowing through a transmission path, and facilitating analysis work of a communication transmission failure of digital modulation communication.例文帳に追加
伝送路を流れる波形信号の歪みの可視化性能強化を実現し、デジタル変調通信の通信伝送障害の解析作業を容易にする変調信号解析方法及び変調信号解析装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for detecting the position of a metallurgical PN junction in the semiconductor substrate of a micro semiconductor device by predicting and controlling the device characteristics of a transistor precisely and performing failure analysis of a specific part.例文帳に追加
トランジスタ等のデバイス特性を精確に予測、制御し、特定部位の不良解析を行うことが可能な、微細な半導体デバイスにおける半導体基板内の冶金学的なPN接合位置を検出する方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit where an operational timing failure can be avoided by a method wherein a circuit design is carried out by Raking advantage of a delay time of a RAM, and a timing analysis is carried out by using the delay time or by taking delay times of other components other than the RAM into consideration.例文帳に追加
RAM及び該RAMの記憶素子をビット単位で利用する論理回路を有する半導体集積回路及びその設計方法において、タイミング不良を回避し、必要な動作速度を達成する。 - 特許庁
To provide a method, apparatus and program for failure analysis of a semiconductor integrated circuit for accurately extracting an abnormal signal of the semiconductor integrated circuit obtained from a semiconductor inspection apparatus and a related circuit.例文帳に追加
半導体検査装置から得られた半導体集積回路の異常信号と関連する回路を精度よく抽出する半導体集積回路の故障解析方法、故障解析装置、及び故障解析プログラムを提供する。 - 特許庁
To confirm the operation contents of a plurality of operation processes with a series of pictures for failure analysis, design change, production facility improvement, and process situation monitor or the like even with respect to a product whose producing operation is completed.例文帳に追加
生産作業が完了した製品についても、不良解析、設計変更、生産設備の改善、工程状況の監視等のために、複数にまたがる作業工程の作業内容を一連の画像で確認することを可能にする。 - 特許庁
To reduce the test pattern required for analyzing the failure of a semiconductor integrated circuit while enhancing the efficiency of failure analysis by interrupting the operation at a moment at the time of observing the internal condition and making it possible to resume the operation after the internal condition of the semiconductor integrated circuit was observed from the outside thereof.例文帳に追加
内部状態を観察したい時点で動作を停止させ、半導体集積回路の外部から該半導体集積回路の内部状態を観察した後に、該動作停止を続行再開させることができるようにして、半導体集積回路の故障解析のテストパターン削減、及び故障解析能率向上を図ることができる。 - 特許庁
To provide a semiconductor module that has a good heat radiation effect, can be thinned, and can reduce the number of manufacturing processes and material cost, and to provide a failure analysis method for the semiconductor module, and a method of manufacturing the semiconductor module.例文帳に追加
良好な放熱効果を有するとともに、薄型化、製造工程数の削減、及び材料コストの節減が可能な半導体モジュール、該半導体モジュールの不良解析方法、及び該半導体モジュールの製造方法を提供すること。 - 特許庁
The programmable controller 1 includes a first storage part 3 for storing all the header and data parts of communication packets transmitted via a communication part 2, and an analysis part 4 for analyzing the data in the storage part 3 to investigate the cause of a failure.例文帳に追加
プログラマブルコントローラ1は、通信部2を介して送受信される通信パケットのヘッダ部とデータ部とのすべてを保存する第一の記憶部3と異常発生時にその記憶部3のデータを解析して原因を究明する解析部4を有する。 - 特許庁
To provide a carrying-type data collection analysis device that can be used to analyze failure and water leakage by easily collecting and analyzing the sound of a motor, a pump, and a pipeline at an arbitrary location and accumulating the data in a plant system.例文帳に追加
本発明は、プラントシステムにおいて、モータやポンプ、管路の音を任意の場所で手軽に収集解析し、そのデータを蓄積することによって故障や漏水解析に役立てることができる可搬式データ収集解析装置を提供する。 - 特許庁
To provide a collection management apparatus or the like which creates unprocessed data from processed data as log data when a failure occurs, to collect data for satisfactory fault analysis without preparing components for log data.例文帳に追加
障害発生時に、既に処理済みのデータから処理前のデータをログデータとして生成することで、ログデータ用の部品を備えることなく、障害解析を充分に行うことができるデータを収集する収集管理装置等を提供する - 特許庁
Consequently, information necessary for the analysis of a failure can be automatically collected, the problem can be quickly solved by analyzing the problem by maintenance personnel on the basis of the information and service for an end user can be improved.例文帳に追加
その結果、障害を解析するために必要な情報を自動的に収集することができ、また、保守者がこの情報をもとに問題の解析をすることで問題の早期解決が可能になり、エンドユーザに対するサービス向上にもなる。 - 特許庁
This failure cause analysis support device supporting analysis of cause of failure having occurred in a business application operating on a software stack 115 has: a request extraction means 103 specifying and extracting a request having started the business application based on trace information 111 outputted by the business application; and a component extraction means 106 extracting a component of software having operated the business application based on the trace information 111.例文帳に追加
ソフトウェアスタック115上で動作する業務アプリケーションで発生した障害の原因を解析することを支援する障害原因解析支援装置であって、前記業務アプリケーションが出力するトレース情報111に基づいて、前記業務アプリケーションを起動したリクエストを特定して抽出するリクエスト抽出手段103と、前記トレース情報111に基づいて、前記業務アプリケーションを動作させていたソフトウェアのコンポーネントを抽出するコンポーネント抽出手段106と、を有する。 - 特許庁
The method comprises the steps of forming a coated film by supplying chemicals for forming an insulating film on a wafer while the wafer is held and rotated, carrying out surface analysis in noncontact of the wafer formed with the coating film without carrying out movement and heat treatment, and removing the coating film by rotating while supplying a solvent on the wafer determined to be a failure by the surface analysis.例文帳に追加
ウェハを保持し、これを回転させながら、ウェハ上に絶縁膜を形成するための薬液を供給して、塗布膜を形成し、塗布膜が形成されたウェハについて、移動および加熱処理を行うことなく非接触で表面検査を行い、表面検査により不良と判断されたウェハ上に、溶媒を供給しながら回転させることにより、塗布膜を除去する。 - 特許庁
To provide a vehicle failure diagnostic device by analysis of the operating condition of the internal combustion engine, the device diagnosing a vehicle the failure of an automobile and the other transporter vehicle or the like loaded with the internal combustion engine by being connected to an on-vehicle engine control unit (ECU) mounted in the vehicle, reading out detected data by a portable recording apparatus, and inputting the detected data into the existing scan tool.例文帳に追加
本発明は、内燃機関を搭載する自動車その他の運搬車両等の故障診断を車両に搭載された車載エンジン制御装置(ECU)に接続して検出データを携帯記録機器で読み出して既存のスキャンツールにインプットして車両の診断を行う内燃機関の作動状態の解析による車両用故障診断装置を提供する。 - 特許庁
When a defective part for an arbitrary substrate is reported from a visual inspection process 14, a mounting failure analysis device 22 acquires the image data on each process work state of the substrate from the image data management apparatus 21, and analyzes the cause of failure from the image of work state in a previous process starting from the image of the process where the defective part has occurred.例文帳に追加
実装不良解析装置22は、外観検査工程14から、任意の基板に対する不良箇所の通知を受けた場合、基板の各工程作業状態の画像データを画像データ管理装置21から取得し、不良箇所の発生した工程の画像を起点としてその工程より前の工程の作業状態の画像から不良原因の解析を行う。 - 特許庁
A latest predetermined amount of information needed for failure analysis is held in a nonvolatile memory (a RAM) in a normal operation, and all the data held in the nonvolatile memory (the RAM) are stored in an external storage device when the software processing delay is detected.例文帳に追加
障害解析に必要となる情報を通常動作時は最新の一定量を不揮発性メモリ(RAM)に保持しておき、ソフトウェア処理遅延検出時に不揮発性メモリ(RAM)に保持されている全データを外部記憶装置に保存するようにした。 - 特許庁
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