「Functional test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

(b) Functional and operational test of each system 例文帳に追加

ロ　諸系統の機能試験及び作動試験 - 日本法令外国語訳データベースシステム

TEST CIRCUIT OF FUNCTIONAL BLOCK, AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

機能ブロックのテスト回路及び集積回路装置 - 特許庁

BOREHOLE LOADING TEST METHOD, AND FUNCTIONAL HOLE HOLDING PIPE TYPE BOREHOLE LOADING TEST APPARATUS例文帳に追加

孔内載荷試験方法と機能性保孔管式孔内載荷試験装置 - 特許庁

TISSUE FUSION SYSTEM, AND METHOD OF PERFORMING FUNCTIONAL VERIFICATION TEST例文帳に追加

組織融合システムおよび機能検証試験の実施方法 - 特許庁

FUNCTIONAL VERIFICATION SYSTEM, TEST BENCH, SIMULATOR PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

機能検証装置、テストベンチ、シミュレータプログラム及び記憶媒体 - 特許庁

The logic verification method is provided with: a means of determining whether the output of a functional block test is an input to another functional block test; and a means of making the output be the input to the other functional block test.例文帳に追加

機能ブロックテストの出力が他の機能ブロックテストの入力となるかどうかを判定する手段と、出力を他の機能ブロックテストの入力とする手段を設ける。 - 特許庁

AUTOMATIC FUNCTIONAL TEST PROCEDURE GENERATION METHOD AND GENERATION SYSTEM例文帳に追加

機能テスト手順自動生成方法およびその自動生成システム - 特許庁

A functional block 12 has a normal operation mode and a test mode.例文帳に追加

機能ブロック１２は、通常動作モードおよびテストモードを有する。 - 特許庁

To provide an STTD functional test system for evaluating functions of an STTD encoder of a base station.例文帳に追加

基地局のＳＴＴＤエンコーダの機能を評価する。 - 特許庁

To reduce test cost by using a simple test pattern to perform a test of a circuit operated upon receiving the output of a functional block.例文帳に追加

機能ブロックの出力を受けて動作する回路のテストを簡易なテストパターンを用いて実施し、テストコストを削減する。 - 特許庁

In the functional phase 315, a functional operation including data propagation through a functional logic of the device during the test is performed.例文帳に追加

機能フェーズ３１５では、テスト中のデバイスの機能ロジックを通してデータを伝播することを含む、機能動作が行われる。 - 特許庁

To ensure an external terminal required for a test input for inputting a test signal to a functional block so as to test the functional block even if the number of the functional blocks is large.例文帳に追加

機能ブロックの数が多くても、各機能ブロックに対してテストできるように、機能ブロックにテスト信号を入力するために必要なテスト入力用の外部端子を確保することを目的とする。 - 特許庁

To suppress an increase in the number of test patterns in each functional block, regarding a semiconductor device which comprises a plurality of functional blocks.例文帳に追加

複数の機能ブロックを有する半導体装置について、各機能ブロックのテストパターン数の増加を抑制する。 - 特許庁

The functional test pattern is inputted to a reference device 2 and a device under test 4, and both devices 2 and 4 are operated likewise.例文帳に追加

機能テストパターンは基準デバイス２と被検査デバイス４に入力し、各デバイス２，４は同じように動作する。 - 特許庁

The test routine can execute a highly functional test in a system and the final product including the ASIC.例文帳に追加

そのテストルーチンは、そのＡＳＩＣを含むシステムや最終製品において高機能な試験を実施可能である。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for a semiconductor device, for realizing reduction of test cost and the number of test processes, in a functional test in the semiconductor having a large number of signal terminals.例文帳に追加

多数の信号端子を有する半導体装置の機能試験において、その試験工程数及び試験コストの削減を実現するための半導体装置の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

FUNCTIONAL TEST FACILITATING CIRCUIT FOR RAM AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE PROVIDED WITH IT例文帳に追加

ＲＡＭ用機能試験容易化回路及びこれを備えた集積回路装置 - 特許庁

A pattern generator 20 generates a functional test pattern comprising steps of logical data.例文帳に追加

パターンジェネレータ２０は論理データの各ステップからなる機能テストパターンを発生する。 - 特許庁

To perform functional test for a plurality of different portable telephone systems.例文帳に追加

複数の異なる携帯電話システムに対して機能試験を行うことができる。 - 特許庁

To provide a functional test assistance system to realize mechanical and reliable confirmation of the presence/absence of a test for each test item by execution of simulation.例文帳に追加

シミュレーション実行による各テスト項目のテスト有無を機械的かつ確実に確認することを可能とする機能テスト支援システムを提供する。 - 特許庁

To facilitate a shift to a test mode and a test of a functional block without requiring a terminal dedicated for testing, a terminal also used for testing, and a decoding circuit for selecting a target functional block.例文帳に追加

テスト専用端子、テスト兼用端子および対象機能ブロックを選択するデコード回路を不要とし、テストモードへの移行および機能ブロックのテストを容易に行う。 - 特許庁

To improve efficiency of a functional test of a logic mixed memory integrated circuit or the like incorporating plural DRAM macro-cells and to improve accuracy of the test.例文帳に追加

複数のＤＲＡＭマクロセルを搭載する論理混載メモリ集積回路等の機能試験を効率化し、その試験精度を高める。 - 特許庁

Test data and test sequence required for test operation are set in a register, in an input signal region of the functional block to be tested from the outside of the LSI or the CPU.例文帳に追加

テスト対象とする機能ブロックの入力信号領域におけるレジスタにＬＳＩの外部又はＣＰＵからテスト動作に必要なテストデータとテストシーケンスを設定する。 - 特許庁

To solve the problem, wherein it is difficult to appropriately test the hardness of a film, because of deformation such as curling of a test piece, when performing pencil scratch test on a functional film material.例文帳に追加

機能性フィルム材料の鉛筆引掻き試験を行う際、試験片のカールなどの変形のため、適切に膜の硬度を試験出来ないという問題を解決すること。 - 特許庁

Each test cycle includes a functional phase 315, a scan moving phase 320, and a hold phase 325.例文帳に追加

テストサイクルの夫々は、機能フェーズ３１５と走査移動フェーズ３２０とホールドフェーズ３２５とを含む。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit 1 of the invention includes: the external terminal 11; the functional block 14a for receiving the signal from the external terminal 11 during a test operation; a CPU register 12 for applying the signal to the functional block 14a during the test operation instead of the external terminal 11; and the functional block 14b for receiving the test signal from the external terminal 11 during the test operation.例文帳に追加

本発明に係る半導体集積回路１は、外部端子１１と、通常動作時に外部端子１１から信号を受ける機能ブロック１４ａと、テスト動作時に外部端子１１に代わり機能ブロック１４ａに信号を与えるＣＰＵレジスタ１２と、テスト動作時に外部端子１１からテスト信号を受ける機能ブロック１４ｂとを備える。 - 特許庁

To easily decide how many failures which can not be detected in a functional test are detected by a stationary power current test.例文帳に追加

機能テストにおいて検出できなかった故障が静止電源電流テストによってどれだけ検出されるかを容易に判定可能とする。 - 特許庁

To perform an effective ECC functional test by program in which all data patterns can be set only for test object address data and ECC data.例文帳に追加

検査対象アドレスのデータとＥＣＣデータだけについて全データパターンを設定できプログラムによる有効なＥＣＣ機能検査を実行する。 - 特許庁

This is particularly useful in the present case of combined functional logic and flash EEPROM, where three probings are generally required for the flash test of EEPROM, the digital test of the functional logic circuit and the analog test of the circuit.例文帳に追加

これはＥＥＰＲＯＭのフラッシュ試験、機能的論理回路のデジタル試験、および同回路のアナログ試験に３回のプローブ作業が一般的に必要な機能的論理回路とフラッシュＥＥＰＲＯＭが組み合わされた本件には特に有用である。 - 特許庁

Next, the functional test is performed for applying the potential higher than the GND potential to the back gate and for reading out the data.例文帳に追加

次に、バックゲートにＧＮＤ電位より高い電位を印加しデータを読出す機能テストを行なう。 - 特許庁

A microcomputer 11B from the recognition of the on-state of the status signal output terminal executes a functional test.例文帳に追加

マイクロコンピュータ１１Ｂは、ステータス信号出力端子のオン状態の認識で機能検査を実行する。 - 特許庁

To provide a specimen testing system capable of saving space, and to conducting a functional and rational test.例文帳に追加

省スペース化、機能的、合理的な検査が行える検体検査システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing machine capable of inexpensively and easily performing a functional test of a buffer.例文帳に追加

緩衝器の官能試験を安価かつ簡易に行うことが可能な試験機を提供することである。 - 特許庁

METHOD OF PERFORMING FUNCTIONAL TEST OF POSITION MEASURING DEVICE, AND POSITION MEASURING DEVICE FOR PERFORMING THIS METHOD例文帳に追加

位置測定装置の機能テストを実施する方法およびこの方法を実施するための位置測定装置 - 特許庁

For a functional test on the core part 10, a switching signal TST selects the reduction part 31 side.例文帳に追加

コア部１０の機能を試験する場合、切替信号ＴＳＴによって縮退部３１側を選択する。 - 特許庁

To make it possible to perform a functional test and a performance test reflecting a user's data and a setup of the user's device before a firmware of an image formation device is distributed.例文帳に追加

画像形成装置のファームウェア配信前に、ユーザーのデータや機器の設定を反映した形で機能テスト及びパフォーマンステストをできるようにする。 - 特許庁

The same test data are inputted into a plurality of identical functional blocks 2a, 2b, 2c from a test data input terminal 5, and an identical functional block 2a is operated by a low-frequency clock signal, and the residual identical functional blocks 2b, 2c are operated by a high-frequency clock signal.例文帳に追加

複数の同一機能ブロック２ａ、２ｂ、２ｃに対して、テストデータ入力端子５から同一のテストデータを入力し、一つの同一機能ブロック２ａを低周波数クロック信号で動作させ、その残りの同一機能ブロック２ｂ、２ｃを高周波数クロック信号で動作させる。 - 特許庁

A test input signal is given to the functional block due to the setting into the register in the input signal region, and the functional block performs testing operations, so that a test output signal outputted from the functional block is set as output data in a register in an output signal region.例文帳に追加

前記入力信号領域におけるレジスタへの設定により機能ブロックにテスト入力信号が与えられ、機能ブロックがテスト動作することにより機能ブロックから出力されたテスト出力信号が出力信号領域におけるレジスタに出力データとして設定される。 - 特許庁

PREPARATION USEFUL FOR NORMAL RECOVERY OF FUNCTIONAL REDUCTION IN BOTH OR EITHER IN LIVER FUNCTION AND RENAL FUNCTION TEST例文帳に追加

肝機能および腎機能検査で両方或いは片方の機能低下の正常回復に役立つ調製物 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE FUNCTIONAL TEST METHOD, AND ELECTRONIC DEVICE COMPRISING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置及び半導体記憶装置機能検査方法並びに半導体記憶装置を有する電子機器 - 特許庁

The selector 24 connects a specified functional block to input/output terminals 18 according to these selecting signals, and a test of the functional block according to the set operation mode is performed.例文帳に追加

セレクタ２４は、これら選択信号に応じて所定の機能ブロックを入出力端子１８と接続し、設定された動作モードに応じた機能ブロックのテストが行なわれる。 - 特許庁

In a functional test of the semiconductor integrated circuit 5, the polishing sheet 6 is brought into press contact with a probe 9 to polish a tip of the probe 9 while remaining set on a tape carrier package test device.例文帳に追加

半導体集積回路５の機能試験時、テープキャリアパッケージ試験装置にセットされたまま、研磨シート６はプローブ９に圧接してプローブ９の先端を研磨する。 - 特許庁

To provide a test method of a Coriolis mass flowmeter capable of performing a functional test regardless of a medium flowing through a measuring tube.例文帳に追加

本発明の目的は、測定チューブを流れる媒体に無関係に、機能的テストを実行することできるコリオリ質量流量計のテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

To achieve a test support system capable of displaying, at a fail position on a test result waveform, information in which a series of signal movements with functional meaning are extracted.例文帳に追加

テスト結果波形上のフェイル箇所に、機能的な意味のある一連の信号の動きを抽出した情報を表示することができるテスト支援システムを実現する。 - 特許庁

Cross-functional coverage acquisition is set between functions having dependency, and a test procedure is created to test functions having no dependency in parallel.例文帳に追加

そして依存関係の有る機能間にクロスファンクションカバレッジの取得を設定し、依存関係の無い機能のテストは並行して実行するようにテスト実行手順を作成する。 - 特許庁