「Functional test」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

Besides, the 1394 test substrate 100 is provided with a TS in monitor connector 131 and a TS out monitor connector 132 that fetch a stream signal flowing through between a connector 110 for debugging to be connected to the control part of the 1394 functional module and the 1394 functional module, and the host substrate, and connect the signal to a device for monitoring.例文帳に追加

また、１３９４試験基板１００には、１３９４機能モジュールの制御部と接続するデバッグ用コネクタ１１０と、１３９４機能モジュールとホスト基板間を流れるストリーム信号を取り出し、モニタ用の装置に接続するＴＳｉｎモニタ用コネクタ１３１とＴＳｏｕｔモニタ用コネクタ１３２とが設けられている。 - 特許庁

The STTD functional test system uses an STTD decoder 40 to decode the second code data, displays the result on the display apparatus as second code decoded data and displays a discrimination result as to whether the second code decoded data are coincident or dissident with the first code data also on the display apparatus.例文帳に追加

第２コードデータをＳＴＴＤデコーダ４０で復号し、第２コード復号データとし表示器に表示し、第２コード復号データの第１コードデータとの一致、不一致の判定結果も表示器に表示する。 - 特許庁

To provide conductive paste for mounting a work with bumps by which, the work mounted on a board can be easily repaired, if the work is not accepted by a functional test.例文帳に追加

基板に搭載されたバンプ付きワークの機能検査の結果が不合格の場合には、バンプ付きワークのリペアを容易に行うことができるバンプ付きワークの実装用導電性ペーストを提供することを目的とする。 - 特許庁

Functional verification between a net list 12 generated by the test synthesis and a timing verified net list by the static timing analysis is verified (step S15), the function verified net list is released to a manufacturing section (step S17) and a test pattern is automatically generated by using the net list 15 by an ATPG tool (step S18).例文帳に追加

テスト合成により生成されたネットリスト１２と、静的タイミング解析によるタイミング検証済みのネットリストとのファンクション検証をおこない（ステップＳ１５）、ファンクション検証済みのネットリストを製造部門へリリースし（ステップＳ１７）、そのネットリスト１５を用いてＡＴＰＧツールによりテスト・パターンを自動生成する（ステップＳ１８）。 - 特許庁

To provide a member for image display which hardly causes curling or cracking of a polarizing film laminated body in an environmental testing, especially in a demanding high temperature resistance test, even in a structure that aims to impart high functions, that is, in a structure of the polarizing film laminated body having a functional resin layer such as crosslinked coating film and/or a functional sheet laminated/adhered onto a polarizing film.例文帳に追加

高機能付与を目的とする構成、即ち、偏光フィルムに架橋塗膜等の機能樹脂層、及び／又は、機能シートを積層／貼合する偏光フィルム積層体の構成に於いても、環境試験、特に過酷な高温耐熱試験で、偏光フィルム積層体のカール及びクラックが生じることのない画像表示用部材を提供する。 - 特許庁

To provide a method of inspecting an electronic apparatus by which a functional test of a plurality of heater elements under a high temperature environment can be carried out in the vicinity of the upper limit allowable operating temperature of the heater element, and an optimum temperature load can be given to each heater element.例文帳に追加

複数の発熱素子の高温環境下での機能試験がその発熱素子の上限許容動作温度付近で実行でき、各発熱素子に最適な温度負荷を与えることができる電子装置の検査方法の提供。 - 特許庁

To provide a capillary immunoassay device capable of detecting target material highly sensitively on a test body by using a specific bonding reaction between the target material and functional material, and an immunoassay method using the device.例文帳に追加

標的物質と機能性物質との特異的な結合反応を利用して、検体について、標的物質の検出を高い感度で行うことのできるキャピラリイムノアッセイデバイスの提供、並びにこれを用いるイムノアッセイ法を提供すること。 - 特許庁

Detection of EBV in a test fluid or tissue specimen using antibodies, monoclonal and polyclonal, directed to the peptide, which have the characteristics of detecting both native and denatured intact, functional EBNA-1 protein is also part of the present invention.例文帳に追加

このペプチドに対するモノクローナル及びポリクローナル抗体を使用し、天然及び変成させた無傷の機能的ＥＢＮＡ−１蛋白質の両方を検出検査液もしくは組織検体中に含まれるＥＢＶの検出。 - 特許庁

In this case, an inspection controller 12 performs in parallel inspection of a threshold voltage of a built-in comparator relative to input I/F parts IF1, IF3, IF5-IFz unused in the functional test of the digital circuit block D1 as objects.例文帳に追加

このとき、検査用コントローラ１２が、デジタル回路ブロックＤ１のファンクショナル試験で使用されない入力Ｉ／Ｆ部ＩＦ１，ＩＦ３，ＩＦ５〜ＩＦｚを対象として内蔵のコンパレータのしきい値電圧の検査を並行して行う。 - 特許庁

The test pattern data latched by the flip-flops 12a, 13a, and 14a in respective stages are simultaneously outputted to the functional macrocircuit 11 in synchronization with a second clock signal inputted into flip-flops 12b, 13b, and 14b.例文帳に追加

それぞれの段におけるフリップフロップ１２ａ、１３ａ、１４ａにラッチされたテストパターンデータは、フリップフロップ１２ｂ、１３ｂ、１４ｂに入力される第２のクロック信号に同期して同時に機能マクロ回路１１に出力される。 - 特許庁

To easily and quickly perform functional tests on a semiconductor integrated circuit with a small number of probes even when the number of outputs of the circuit is large without preparing any complicated expected value data by reducing the number of terminals for test.例文帳に追加

機能試験に複雑な期待値データを作成する必要がなく、簡単に素早くテストすることが可能で、且つテスト用端子数を減少させることにより、出力数が多くとも簡単に少ないプローブ針数でテストができるようにする。 - 特許庁

To provide an interface circuit capable of reducing its manufacturing cost and accurately performing functional test and debugging by reducing the number of input terminals from the exterior of a miniaturized semiconductor device, and provide a testing method and a debugging method using the same for the semiconductor device.例文帳に追加

小型化された半導体装置外部からの入力端子数を少なくし製造コストを抑制、かつ、機能テスト、デバッグを的確に行うことができるインターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit comprises a function macro circuit 11, performing the operation of function macro, and other circuits 12 and 13 where the functional macro circuit comprises function circuits (DRAM 111, I/F 112) performing function operation, and a test circuit 113, having a power supply separated from the function circuits and evaluating the function of the function circuits.例文帳に追加

機能マクロの動作をする機能マクロ回路11と、他の回路12,13 とを備え、機能マクロ回路は、機能動作をする機能回路（DRAM111,I/F112）と、機能回路とは電源が分離され、機能回路の機能を評価するためのテスト回路113 を含む。 - 特許庁

The switching part 360 connects at least one part of a plurality of outer terminals 310 individually to functional circuits 301, in the usual mode, and connects at least one part of the plurality of outer terminals 310 to inner terminals 320, in the test mode.例文帳に追加

そして、この切換部３６０は、通常モードでは複数の外側端子３１０の少なくとも一部を機能回路３０１に個々に接続し、テストモードでは複数の外側端子３１０の少なくとも一部を内側端子３２０と接続する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing embedded software capable of changing a functional version without a change of recording medium and without stopping operations even during an operation of the software and capable of reducing man hours of a system test.例文帳に追加

ソフトウェアの運用中であっても運用を停止することなく機能バージョンの変更を記録媒体の変更なしで行うことができ、システムテストの工数を削減することができる組込形ソフトウェアの製造方法を提供するものである。 - 特許庁

To prevent a wiring from increasing in length so as not to cause a deterioration in signal or timing to induce a quality trouble in a semiconductor integrated circuit which comprises boundary scan registers and a functional core to realize a test of ANSI/IEEE 1149.1 standard.例文帳に追加

ＡＮＳＩ／ＩＥＥＥ１１４９．１標準のテストを実現する複数のバウンダリスキャンレジスタと機能コアを含む半導体集積回路において、タイミングあるいは信号鈍りによる品質問題を引き起こす配線長の増大を防ぐ。 - 特許庁

The test system for the identification of APJ receptor ligands comprises G_α protein selected from (a) an APJ receptor or a functional variant thereof, (b) a G_αΔ6qi4myr protein, a G_αi4qi4 protein or a G_α16 protein, in which bonding of the APJ receptor ligand to the APJ receptor or its functional variant, acts on the measurable signal or detectable signal.例文帳に追加

（ａ）ＡＰＪ受容体またはその機能的な変異体、および、（ｂ）Ｇ_αΔ6qi4myrタンパク質、Ｇ_αi4qi4タンパク質、Ｇ_α16タンパク質から選択されるＧ_αタンパク質、を含み、ここにおいて、ＡＰＪ受容体リガンドの該ＡＰＪ受容体またはその機能的な変異体への結合は、測定可能なシグナルまたは検出可能なシグナルに作用する、ＡＰＪ受容体リガンドを同定するための試験システム。 - 特許庁

To allow a switch for a withstand voltage test to be additionally installed in an interrupter body for a ground-fault interrupter with an outside size unified into the same size as that a wiring circuit breaker without changing various kinds of functional components regularly installed in a conventional product nor a layout.例文帳に追加

外形サイズを配線用遮断器と同サイズに統一した漏電遮断器を対象に、在来製品に標準装備されている各種機能部品，レイアウトを変更せずに、遮断器本体に耐電圧テスト用スイッチを追加装備できるようにする。 - 特許庁

To provide a cell-evaluating method capable of quantitatively evaluating migration ability and proliferation ability of cell by forming a functional surface on the surface of an incubator corresponding to a substrate surface in a culturing test carried out in medical and biotechnological field.例文帳に追加

メディカル、バイオテクノロジー分野などで行われている培養試験において、基質表面に相当する培養器の表面に機能性表面を形成させることにより、細胞の遊走能や増殖能を定量的に評価できる細胞評価方法を提供する。 - 特許庁

The annealing test at 150°C for an hour is performed for the hard coat film 11 cut in 50 mm lengthwise and 100 mm laterally, and when the film 11 having the functional layer below is placed on a flat face 12, the average of warping-up amounts D1 to D4 at four corners is within the range of 0.5 to 15.0 mm.例文帳に追加

そして、該ハードコートフィルム１１を縦５０ｍｍ、横１００ｍｍにカットし、１５０℃で１時間アニール試験を実施した後、機能層を下にして平坦面１２にハードコートフィルム１１を載置したとき、四隅の反り上がり量Ｄ１〜Ｄ４の平均値が０．５〜１５．０ｍｍである。 - 特許庁

Thus, by inputting the operation inhibiting signal EN fixed to an activated level to the external signal terminal EN by a semiconductor testing apparatus and also inputting the external clock CK to the external clock terminal CK, the functional block 12 can be shifted to the test mode from the normal operation mode.例文帳に追加

このため、半導体試験装置により、活性レベルに固定された動作禁止信号ＥＮを外部信号端子ＥＮに入力するとともに、外部クロックＣＫを外部クロック端子ＣＫに入力することで、機能ブロック１２を通常動作モードからテストモードに移行させることができる。 - 特許庁

This endurance test device 12 constitutes a pushing functional part 17 for performing the push operation for a recording medium 1 ejected from a loading gate 7 with a cam 23 attached on a driving shaft 22 for drive mechanism 21 and a friction roller 25 made from elastic material installed at a point of application part of the cam 23.例文帳に追加

この耐久試験装置１２は、駆動機構２１の駆動軸２２に装着されたカム２３と、カム２３の作用点部に設けられた弾性材製の摩擦ローラ２５とで、装填口７から排出された記録媒体１に対して押し込み動作を行う押し込み機能部１７を構成している。 - 特許庁

To provide a fast test device for a bare chip LSI mounting board capable of detecting, in its early stages, continuity defectives or functional defectives and reducing the loss in production in the stage of mounting a bare chip LSI on a board before mounting SMT components such as a RAM, a capacitor, and resistance.例文帳に追加

ＲＡＭ、コンデンサ、抵抗などのＳＭＴ部品を搭載する前に、基板上にベアチップＬＳＩが搭載された段階で、導通不良や機能不良を早期に発見し、生産上の損失を低減する、ベアチップＬＳＩ搭載基板の高速テスト装置を提供する。 - 特許庁

To overcome the problem such that, related to a functional test for an A/D converter in a semiconductor integrated circuit, testing of a fast A/D converter at an actual operation speed is difficult because wiring delay in the semiconductor integrated circuit from the output of A/D converter to the input of a tester affects much.例文帳に追加

半導体集積回路内のＡ／Ｄ変換器の機能テストでは、Ａ／Ｄ変換の出力からテスタ入力までの半導体集積回路内の配線遅延が大きく影響を与えるため、高速Ａ／Ｄ変換器の実動作スピードでのテストが困難である。 - 特許庁

The STTD functional test system measures first and second transmission data 9a, 9b integrated in first and second W-CDMA signals 14a, 14b outputted from first and second antennas 2a, 2b of the base station 1a and respectively displays the measured data on a display apparatus 43 as first and second code data.例文帳に追加

基地局１ａの第１、第２アンテナ２ａ、２ｂから出力される第１、第２のＷ−ＣＤＭＡ信号１４ａ、１４ｂに組込まれた第１、第２送信データ９ａ、９ｂを、測定してそれぞれ第１コードデータ、第２コードデータとして表示器４３に表示する。 - 特許庁

In the case where it is discriminated that, on the basis of a comparison result, any abnormality such as a delay error caused by a voltage difference occurs, in order to recover the functional circuit block D109 into a normal state, the test control section 103 outputs a voltage boost instruction for the power supply domain D113 to the power supply control section 104.例文帳に追加

当該比較結果に基づいて、電圧差による遅延エラー等の異常が発生したと判別した場合、テスト制御部１０３は、機能回路ブロックＤ１０９を正常な状態に戻すために、電源制御部１０４に電源ドメインＤ１１３の電圧昇圧指示を出す。 - 特許庁

To provide a minute particle which seals a marker probe which is used in gene diagnosis, immunity diagnosis, drug development, environmental test etc. , and capable of strictly recognizing a biomaterial without hindering the bonding reaction between the biomaterial and a reactive functional group.例文帳に追加

遺伝子診断、免疫診断、医薬品開発、環境試験等に使用される標識プローブを封入した微粒子であって、生体物質と反応性官能基との結合反応を阻害することなく、厳密に生体物質の認識を行うことができる微粒子の提供。 - 特許庁

During the three months of the internship, students tackle practical tasks, such as learning production technology, collecting test data, developing software programs and integrating work. In some cases, students contributed to practical work, for example by conducting a functional evaluation of carbide alloy and even publishing the results at an academic convention and by developing an image recognition software program.例文帳に追加

3ヶ月という長期の現場では、生産技術・実験データ収集・プログラム開発・積算業務などの実践的な課題に取り組んでおり、中には、超硬合金の機能性評価を行い学会発表まで発展したもの、画像認識プログラムを作成したものなど、実務の一端を担う事例も出てきている。 - 経済産業省

The scan testing method for scan-testing a semiconductor integrated circuit having a plurality of blocks to perform functional operations comprises a step of exclusively isolating each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and a step of feeding a scan clock with deviated phase for each block to be tested.例文帳に追加

機能動作を行なう複数のブロックを有する半導体集積回路をスキャンテストする方法であって、スキャンテスト時に複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションするステップと、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを供給するステップとを有することを特徴とするスキャンテスト方法を提示する。 - 特許庁

To shorten the time required for verifying the functions of LSI without using expensive test jigs on both a semiconductor integrated circuit which implements various functions by cooperation between functional hardware having various functions and function of executing software operating on a built-in CPU for executing the various functions and a method for verifying its functions.例文帳に追加

各種の機能を有する機能ハードウェアと、内蔵されたＣＰＵ上で動作して各種の機能を実行させるための機能実行ソフトウェアとの協働によって各種の機能が実現される半導体集積回路およびその機能検証方法に関し、高価な試験治具を用いずにＬＳＩの機能検証に要する時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

An undetected failure list creation part 2A extracts an undetected signal line of which the degenerate failure is not detected from results of failure simulation by the functional test using the degenerate failure and a degenerate value as a value of the degenerate failure and an undetected failure place logical simulator 3A stores a logical value of the undetected signal line by performing logical simulation of the undetected signal line.例文帳に追加

未検出故障リスト作成部２Ａは、縮退故障を用いた機能テストによる故障シミュレーションの結果から縮退故障が検出されなかった未検出信号線とその縮退故障の値である縮退値とを抽出し、未検出故障箇所論理シミュレータ３Ａは未検出信号線の論理シミュレーションを行って、未検出信号線の論理値を記憶する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit 1 comprising both the functional hardware having the prescribed functions and the CPU for implementing the prescribed functions by executing software programs is provided with both a first storage part 6 for storing test data generated by the CPU for verifying the functions of the semiconductor integrated circuit 1 and a second storage part 7 for storing verification result data on the results of verification on the functions of the semiconductor integrated circuit 1.例文帳に追加

所定の機能を有する機能ハードウェアと、ソフトウェアのプログラムを実行することにより所定の機能を実現するＣＰＵとからなる半導体集積回路１において、ＣＰＵが生成した半導体集積回路１の機能検証を行うためのテストデータを格納する第１の記憶部６と、半導体集積回路１の機能検証の結果に関する検証結果データを格納する第２の記憶部７とを備えるように構成される。 - 特許庁