「Functional test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a foreign substance generation test method or the like, which can test easily off-line the generation status of foreign substances which are generated by the interaction of a functional liquid introduced into an ink-jet functional liquid drop discharge head with a tank pooling it.例文帳に追加

インクジェット方式の機能液滴吐出ヘッドに導入される機能液と、これを貯留するタンクとの相互作用により発生する異物の発生状況を、オフラインで簡単に試験することができる異物発生試験方法等を提供する。 - 特許庁

A test device 20 for performing test with respect to a semiconductor device 30 having a plurality of functional blocks 31 to 34 which are independently operated has a temperature detection part 22 for measuring the temperature of the semiconductor device and a switching part 21 for switching the number of the functional blocks performing test in parallel from a plurality of functional blocks based on the temperature detected by the temperature detection part.例文帳に追加

それぞれ独立して動作する複数の機能ブロック３１〜３４を有する半導体装置３０について試験を行う試験装置２０であって、半導体装置の温度を測定する温度検出部２２と、温度検出部が検出した温度に基づいて複数の機能ブロックのうち、並列に試験を行う前記機能ブロックの数を切り換える切換部２１と、を備える。 - 特許庁

To enables the performance test and functional change of an image processing circuit of an image forming apparatus via a communication network from a remote place.例文帳に追加

遠隔から通信ネットワークを介して、画像形成装置における画像処理回路の動作試験、機能変更を可能にする。 - 特許庁

To provide a package for an electronic component, an airtightness test method for it and an airtightness test method for a functional element and a device for it which can reduce time and cost for inspection.例文帳に追加

検査時間の短縮と検査コストの低減を可能とする電子部品用パッケージ及びその気密試験方法並びに機能素子の気密封止方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test facility analysis system for analyzing test facility by executing analysis of controllability/observability at a stage of hardware functional description without depending on architecture.例文帳に追加

アーキテクチャに依存しないハードウェア機能記述の段階で制御性・観測性の解析を実施することによりテスト容易性の解析を行うテスト容易性解析システムを提供する。 - 特許庁

When the functional operation of the semiconductor circuit 30 itself is to be tested, the test data is fed to an input terminal TDI, and a test control signal is fed to control terminals TCK and TMS, and TRST.例文帳に追加

半導体テスト回路３０自体の機能動作をテストする場合、テストデータを入力端子ＴＤＩに入力すると共に、テスト制御信号を制御端子ＴＣＫ，ＴＭＳ，ＴＲＳＴに入力する。 - 特許庁

By a test mode control circuit 14, the functional block 12 is shifted to the test mode from the normal operation mode during the activating process of the operation inhibiting signal EN and the receiving process of the external clock CK.例文帳に追加

テストモード制御回路１４は、動作禁止信号ＥＮの活性化中かつ外部クロックＣＫの受信中に機能ブロック１２を通常動作モードからテストモードに移行させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit with functional blocks and its test method which can identify the functional block, in which a stand-by current is generated easily with a small layout area.例文帳に追加

機能ブロックを有する半導体集積回路において、少ないレイアウト面積でスタンバイ電流が生じている機能ブロックを簡単に特定できる半導体集積回路及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

When an operation program is selected by an external operation, the operation program is read and when a hardware functional test program is selected, the hardware functional test program is selectively read from the ROM 1 and executed by a microprocessor at the operation program and the hardware functional test program are stored on the same ROM 1 and the ROM 1 is mounted on the same substrate.例文帳に追加

運用プログラムとハードウェア機能試験プログラムとが同一ＲＯＭ１上に格納された上、該ＲＯＭ１が同一基板上に実装されている状態で、外部操作により運用プログラムが選択された場合は、該運用プログラムが、ハードウェア機能試験プログラムが選択された場合には、該ハードウェア機能試験プログラムが、ＲＯＭ１よりそれぞれ選択的に読み出された上、マイクロプロセッサで実行されるようにしたものである。 - 特許庁

The test pattern input from and output to an inter-chip connection pad of the semiconductor chip to be made an object of a functional test is generated by using a boundary scan of another semiconductor chip, and is composed with the test pattern input from and output to the pad connected to the external terminal.例文帳に追加

他の半導体チップのバウンダリスキャンを用いて機能テストの対象とする半導体チップのチップ間接続パッドから入出力されるテストパターンを生成し、外部端子に接続されるパッドから入出力されるテストパターンと合成する。 - 特許庁

After power supply voltage drop completion in a power supply domain D113, the test control section 103 transmits a test pattern through the address/data bus 101 to the functional circuit block D109 and compares a result with an expected value.例文帳に追加

電源ドメインＤ１１３の電源電圧降圧完了後、テスト制御部１０３は、アドレス／データバス１０１を介して機能回路ブロックＤ１０９にテストパターンを送信し、その結果を期待値と比較する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit test design support device capable of creating a test pattern preventing malfunction of a chip even when simultaneously operating functional blocks on the chip in a range wider than actual operation.例文帳に追加

チップ上の機能ブロックを実動作よりも、広範囲かつ同時に動作させても、チップを誤動作させないテストパターンを作成できる半導体集積回路テスト設計支援装置を提供する。 - 特許庁

For the first user, personal information is collected by a personal information collection functional means 2 and stored in a personal information DB 5 as use history and after that, the media quality evaluation test in a blind form is automatically started by an evaluation test execution functional means 3.例文帳に追加

初回利用者には個人情報収集機能手段２により個人情報を収集して利用履歴として個人情報ＤＢ５に蓄積させた後、評価試験実施機能手段３により自動的にブラインド形式のメディア品質評価試験が開始される。 - 特許庁

Black-box testing is the application of test data derived from the specified functional requirements without regard to the final program structure. 例文帳に追加

ブラック・ボックス法(black box testing)は,最終的なプログラム構造に関わりなく,特定の機能的要件から導き出されたテストデータを適用することである． - コンピューター用語辞典

To avoid a functional processing executing operation instruction for every individual device by executing the same functional processing, such as updating of firmware or the like and test printing, in a plurality of devices selected on a network.例文帳に追加

ネットワークで選択された複数のデバイスに対してファームウエア等の更新や、テストプリント等の同一の機能処理を実行させて、個々のデバイス毎に対する機能処理実行操作指示を回避することである。 - 特許庁

A master slice type semiconductor device using a master wafer mounted with functional blocks (an SRAM macro 11, a logic block 12, a logic block 13, and an IP block 14) designed to perform functional operations using up to the intermediate wiring layer of a multilayer wiring structure includes pads TP for test in the intermediate wiring layer, the pads TP for test being connected to the respective functional blocks.例文帳に追加

多層配線構造の中間配線層までを使用して機能動作を行うように設計された機能ブロック（ＳＲＡＭマクロ１１、ロジックブロック１２、ロジックブロック１３、ＩＰブロック１４）を搭載したマスターウェーハを使用するマスタースライス方式の半導体装置は、この中間配線層に試験用パッドＴＰを備え、この試験用パッドＴＰが、各機能ブロックに接続される。 - 特許庁

To prevent the generation of excessive IR drop in a scan test circuit performing a functional test of a flip-flop connected to a scan chain in parallel to a plurality of scan chains by a scan shift operation and a scan capture operation.例文帳に追加

スキャンシフト動作とスキャンキャプチャ動作によって、スキャンチェインに接続されたフリップフロップの機能テストを、複数のスキャンチェインに対して並行に行なうスキャンテスト回路において、過度のＩＲドロップの発生を防ぐ。 - 特許庁

A setup value/hold value of flip-flop connected to each pin is acquired with a commercial tester function for calibrating a real operation clock for functional test.例文帳に追加

又、市販のテスタ機能によりピン毎に接続されているフリップフロップのセットアップ値、ホールド値を得て、実動作クロックの校正をして機能試験を行う。 - 特許庁

For debugging, a host substrate is connected with a connection connector 142 of a 1394 test substrate 100, and a 1394 functional module is connected with a connection connector 141.例文帳に追加

デバッグ時には、ホスト基板を１３９４試験基板１００の接続用コネクタ１４２で接続し、接続用コネクタ１４１で１３９４機能モジュールを接続する。 - 特許庁

The test generation template about a node describes specific functional requirements of the node and is composed of an input time sequence to the node and a desired output from the node.例文帳に追加

ノードについての検査生成テンプレートは、ノードの特定的な機能要件を記述し、ノードへの入力時間シーケンス及びノードからの期待出力から成る。 - 特許庁

To provide an array substrate capable of optimizing test conditions of a self-test functional circuit, (BISAT)(built in self array test), for every substrate by disposing a dummy pixel area in the vicinity of a display area and arranging a defective dummy pixel therein in order to avoid the erroneous determination or the increase of a measurement time required for test in the substrate created according to an NMOS process.例文帳に追加

NMOSプロセスで作成された基板の場合、誤判定または検査に要する測定時間の増大を回避するために、表示領域近傍にダミー画素領域を設けその中に不良ダミー画素を配置することにより、基板毎に自己検査機能回路（BISAT）の検査条件の最適化をし得るアレイ基板の提供を目的とする。 - 特許庁

In order to measure the amount of the droplets M of functional liquid discharged by an inkjet type droplet discharge apparatus 2 to which the functional liquid containing the solid component and a solvent are introduced, the droplets M of the functional liquid are discharged and landed on a test surface 11, the solvent is made to evaporate from the droplets M so that solid dots D are left.例文帳に追加

固形成分および溶媒を含む機能液を導入したインクジェット方式の液滴吐出装置２により吐出した機能液の液滴Ｍの量を測定するにあたって、検査面１１上に機能液の液滴Ｍを吐出着弾させた後、液滴Ｍから溶剤を蒸散させて固形ドットＤとする。 - 特許庁

Signals fixed to the logic level H or L are inputted to input terminals INm+1 to INn of a functional macro 1 in at least one test pattern.例文帳に追加

また、集積回路が複数の機能マクロを内蔵する場合に、試験用外部端子を少なくしてコストの削減を図るとともに、各機能マクロの試験時間の短縮を図る。 - 特許庁

After skew adjustment, the skew file confirming pattern comparing part 27 is used to re-adjusting the skew, and then the corrected skew file is used for functional test of the DUT31.例文帳に追加

スキュー調整後、スキューファイル確認用パターン比較部２７を用いてスキューの再調整を行い、修正したスキューファイルを用いてＤＵＴ３１の機能試験を行う。 - 特許庁

To provide a contrast medium removing system, efficiently and continuously removing a contrast medium causing a renal functional disorder while PCI and pre-operation test are performed.例文帳に追加

ＰＣＩおよび術前検査実施中に、腎機能障害の原因となる造影剤を効率良くかつ持続的に除去する造影剤除去システムを提供する。 - 特許庁

The operation validating test circuit functions, only when the operation of the functional elements of a semiconductor circuit network is verified, and the temporary interconnect lines are removed, after verification of the operation has been finished.例文帳に追加

動作確認用のテスト回路は、半導体回路網の機能素子の動作検証をするときだけ機能するもので、動作検証が終了したら仮配線を除去する。 - 特許庁

To provide a system and a method for evaluating the ink jet performance of a functional liquid prior to test ejection through a simple arrangement at a low cost.例文帳に追加

機能性液体のインクジェット吐出性を、試験吐出前に簡単な構成及び低コストで評価することのできる評価装置および評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide an uniterruptive testing device capable of carrying out an overcurrent circuit breaker functional test for a wiring circuit breaker while the wiring circuit breaker is connected with a main circuit.例文帳に追加

配線用遮断器を主回路に接続したまま配線用遮断器の過電流遮断機能試験を実施することができる無停電試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for designing a semiconductor integrated circuit capable of reducing power consumption in a functional macro test by providing a control circuit for a gated clock buffer (GCB).例文帳に追加

ゲーテッドクロックバッファ（ＧＣＢ）の制御回路を設けることにより、機能マクロ試験時の消費電力を削減できる半導体集積回路の設計方法を提供する。 - 特許庁

NISA evaluated that the series of start up test procedures for the Unit 7 reactor of the Kashiwazaki Kariwa Nuclear Power Station, i.e.; power increase, and the functional test of the whole plant were appropriately performed and their results are also appropriate, and determined that there is no problem in the functional integrity of the whole Unit 7 plant of the Kashiwazaki Kariwa Nuclear Power Station.例文帳に追加

原子力安全・保安院は、柏崎刈羽原子力発電所7号機について、原子炉の起動、出力上昇等に係る一連の運転操作、プラント全体の機能試験は適切に実施され、その結果も妥当なものと評価し、柏崎刈羽原子力発電所7号機のプラント全体の機能健全性に係る問題はないと判断した。 - 経済産業省

A closed loop is formed to supply an output data of the digital filter 1 to an input side by multiplexers 2, 3 of the test device, a controller 8 sets the test data in the input side of the digital filter 1 under the condition where the closed loop is formed, and arithmetic processing is executed to carry out a functional test automatically.例文帳に追加

テスト装置１９のマルチプレクサ２及び３によって、デジタルフィルタ１の出力データを入力側に与えるように閉ループを形成し、コントローラ８は、閉ループを形成した状態でデジタルフィルタ１の入力側にテストデータを設定し、演算処理を実行させて機能テストを自動的に行なう。 - 特許庁

In the elevator load test method, the functional test of an elevator is carried out while changing the load on a car by successively transferring adjustment weights 5 in the balance weight 4 on an upper face 2aa of the car in the load test of the elevator, and successively returning the adjustment weights transferred on the upper face of the car to the balance weight side.例文帳に追加

エレベータの負荷試験において、釣合おもり４中の加減おもり５を順次かご上面２ａａ上に移送し、またかご上面上に移送された加減おもりを順次釣合おもり側に戻してかごの荷重負荷を変えながらエレベータの機能試験を行うエレベータの負荷試験方法である。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can increase the number of settable operational modes, and can shorten a time necessary for the test of a plurality of functional blocks even when input/output wiring lines of the functional blocks are assigned to an identical pad.例文帳に追加

動作モードの設定数を増やすことができるとともに、複数の機能ブロックの入出力用配線が同一のパッドにアサインされる場合でも機能ブロックのテストに要する時間を短縮することが可能な半導体集積回路装置を得ること。 - 特許庁

To provide a specification creation support device and method for writing functional requirements and non-functional requirements without omission or leakage as the description method of the requirements of software, and for creating eligibility test specifications without omission or leakage for requirement specifications.例文帳に追加

ソフトウェアの要件の記述方法として機能要件と非機能要件を抜け・漏れなく記載することを可能にし、要件仕様書に対し抜け・漏れのない適格性試験仕様書の作成が可能な仕様書作成支援装置および支援方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing individually a functional block out of a plurality which are provided, reducing the number of terminals for setting an operation mode to a minimum when a test is performed.例文帳に追加

テスト時の動作モードを設定するための端子数を最小限に抑えたうえで、複数備えられる機能ブロックを個別にテストすることができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

In the scan moving phase 320, a scan moving operation including data scan into and out of a plurality of scan chains arranged between the functional logic sections of the device during the test is performed.例文帳に追加

走査移動フェーズ３２０では、テスト中のデバイスの機能ロジックの部分間に配設された複数の走査チェーン中へ及び外へデータを走査することを含む、走査移動動作が行われる。 - 特許庁

The method of screening for the compound useful for the treatment of allergic disease, includes a step of determining whether a test compound specifically binds to Vimentin or a functional fragment thereof.例文帳に追加

試験化合物が、Ｖｉｍｅｎｔｉｎ又はその機能的断片に特異的に結合するか否かを判定する工程を含む、アレルギー疾患の治療に有用な化合物をスクリーニングする方法。 - 特許庁

A test control section 103 detects a functional circuit block D109 in an idle state and thereafter outputs a voltage drop instruction through an address/data bus 101 to a power supply control section 104.例文帳に追加

テスト制御部１０３は、アイドル状態の機能回路ブロックＤ１０９を検出した後、アドレス／データバス１０１を介して電源制御部１０４に電圧降圧指示を出す。 - 特許庁

By using the latch 1 in a cell or the like, wherein logical circuits are constituted every functional block, the edge trigger operation and the level sense operation are switched flexibly, and hereby a test time for the scan path test is shortened, and simultaneously the fault detection rate can be improved.例文帳に追加

機能ブロック毎に論理回路が構成されているセルなどにラッチ１を用いることにより、エッジトリガ動作とレベルセンス動作とをフレキシブルに切り換えることによって、スキャンパステストのテスト時間を短縮しながら故障検出率を向上させることができる。 - 特許庁

In this test method of the semiconductor device, a drain is connected to a storage node in SRAM, and a functional test is performed for applying a potential lower than a GND potential to a back gate of an n-type MOS transistor of which the GND potential is connected to the source, and for reading out data.例文帳に追加

本発明の半導体装置のテスト方法では、ＳＲＡＭにおいて、記憶ノードにドレインが接続され、ソースにＧＮＤ電位が接続されるｎ型ＭＯＳトランジスタのバックゲートにＧＮＤ電位より低い電位を印加しデータを読出す機能テストを行なう。 - 特許庁

Accordingly, in the functional inspection of the fire detector 24, the elevating body 2 is raised and lowered by the operation of the test control device to oppose the testing means 25 to the fire detector 24, whereby the fire detector 24 can be tested by the operation of the testing means to facilitate the functional inspection work.例文帳に追加

これによって、火災検出器２４の機能点検時に試験用制御装置の動作により、昇降体２が昇降して火災検出器２４に試験手段２５が対向し、試験手段の動作によって火災検出器２４を試験でき、機能点検作業を容易化する。 - 特許庁

The scan test circuitry comprises at least one scan chain having a plurality of scan cells, with the scan chain being configured to operate as a serial shift register in a scan shift mode of operation and to capture functional data from at least a portion of the additional circuitry in a functional mode of operation.例文帳に追加

スキャンテスト回路は、複数のスキャンセルを有する少なくとも１つのスキャンチェーンを備え、スキャンチェーンは、スキャンシフト動作モードではシリアル・シフトレジスタとして動作し、機能動作モードでは追加回路の少なくとも一部分からの機能データを捕捉するように構成される。 - 特許庁

When a test command code preset to a microprogram ROM part 11 is executed, execution control of the program is shifted to a test mode memory area block 41, and the functional block 3 to be tested is tested by an access control part 12 and a selector circuit 2 corresponding to an evaluation program written in the test mode memory area block 41.例文帳に追加

予めマイクロプログラムＲＯＭ部１１に設定されたテスト用の命令コードが実行されると、プログラムの実行制御がテストモードメモリエリアブロック４１に移され、テストモードメモリエリアブロック４１に書き込まれている評価用プログラムにしたがって、アクセス制御部１２およびセレクタ回路２によってテスト対象とする機能ブロック３のテストが行われる。 - 特許庁

To provide a test system of a semiconductor device, which eliminates such a probability that large current flows through a connection section of a connected semiconductor device in the case setting of terminals is changed in accordance with a change in functional tests, thereby avoiding such a state that a measurement is carried out unstably or the test can not be conducted.例文帳に追加

機能テスト変更に伴う端子の設定変更の際、接続した半導体装置との接続部分に大電流が流れる虞がなく、測定の不安定や試験が行えなくなったりすることなどのない半導体装置用試験装置を提供する。 - 特許庁

A functional test of a digital circuit block D1 is performed by applying a signal voltage from a tester provided outside to the digital circuit block D1 through a comparator of input I/F parts IF2, IF4.例文帳に追加

外部に設けられたテスタから入力Ｉ／Ｆ部ＩＦ２，ＩＦ４のコンパレータを介してデジタル回路ブロックＤ１に信号電圧を与えることによりデジタル回路ブロックＤ１のファンクショナル試験を行う。 - 特許庁