「at testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a testing device tester, capable of detecting defective through-hole at high speed, and to provide a testing device testing method.例文帳に追加

不良のスルーホールを高速に検出できる被試験デバイス試験装置及び被試験デバイス試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a high-temperature testing device capable of constituting a high-temperature testing environment at a low cost.例文帳に追加

安価に高温試験環境を構成することが可能な高温試験装置を提供する。 - 特許庁

The method for testing the moving simulation of the test model comprises a step of deciding next testing position of the test model from test data at a present position (S1).例文帳に追加

現在の位置での試験データから試験模型の次の試験位置が決定される（Ｓ１）。 - 特許庁

The calibration may be implemented at a factory during final testing.例文帳に追加

工場での最終試験中に較正が実施可能である。 - 特許庁

To provide a testing device of an electronic component which is capable of correctly controlling the temperature of the electronic component and testing the component at a desired testing temperature.例文帳に追加

電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

(3) Testing and inspection as necessary at each stage of processing例文帳に追加

(3) 調製の各段階における必要性に応じた試験及び検査 - 厚生労働省

To easily prepare a testing scenario at low cost, and to execute a test.例文帳に追加

安価で容易に試験用シナリオを作成して試験を実施する。 - 特許庁

Before we cover the Ruby-related testing features, let's take a brief look at unit testing and its basic concepts. 例文帳に追加

Ruby に関連するテスト機能を取り上げる前に、単体テストとその基本的な概念について簡単に説明します。 - NetBeans

To provide an electric wire flexibility testing device and its testing method, capable of carrying out testing at a high measurement accuracy, inexpensively, without twisting of wires during testing, and with little fluctuation of measurement.例文帳に追加

低コストで、試験中に電線が捩れることなく、計測のバラつきが少なく、高い計測精度で試験を行うことができる電線の耐屈曲性試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To shorten testing time at an output circuit of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の出力回路における試験時間を短縮する。 - 特許庁

A jack is arranged at a lower position of the transmission attached to a testing machine.例文帳に追加

試験機に取り付けられる変速機の下部位置にジャッキを配設する。 - 特許庁

To provide a small-sized and simple joining strength testing device at low cost.例文帳に追加

小型で簡便な接合強度試験装置を低コストで提供する。 - 特許庁

To provide a radiographic testing device for more efficiently testing the existence or absence of radiation pollution at an internal surface of a tube body.例文帳に追加

管体の内面の放射線汚染の有無をより効率的に検査でき得る放射線検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of testing the device to be tested such as a semiconductor memory with low cost and at high speed.例文帳に追加

低コスト、且つ高速度で半導体メモリ等の被試験デバイスを試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

Sampling is performed on load data and displacement data at low speeds and at high speeds on a testing machine body 100 side.例文帳に追加

試験機本体１００側で低速および高速で荷重データと変位データをサンプリングする。 - 特許庁

To inhibit an increase in the number of test terminals of a semiconductor integrated circuit device at testing time.例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト時のテスト端子を抑制する。 - 特許庁

The device for testing piping includes at least one drive unit and at least one testing unit and can be inserted into piping to be tested.例文帳に追加

本発明の配管検査装置は、少なくとも１個の駆動ユニットと少なくとも１個の検査ユニットとを有し、検査対象の配管内に挿入可能である。 - 特許庁

To realize a polarization scrambling device for testing EDFA at a low cost.例文帳に追加

ＥＤＦＡをテストするための偏光スクランブル装置を低コストで実現する。 - 特許庁

They are known to be always moving at a fast pace and can change radically from one week to the other; kernel hackers use them as a testing ground for new stuff.例文帳に追加

カーネルハッカーは新規のテストとしてこれを使っています。 - Gentoo Linux

The source of the virus was traced back... to drug testing done at gensys laboratories in san francisco.例文帳に追加

ウィルスの起源は サンフランシスコの ジェンシ製薬会社の研究室です - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To provide an inverter testing device and the like that can perform tests at the appropriate number of revolutions and in an appropriate rotational direction, in testing an inverter.例文帳に追加

インバータを試験するに当たり、適切な回転数、回転方向で試験できるインバータ試験装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in environmental testing device which reaches a testing temperature in a short period of time at lower power consumption.例文帳に追加

試験温度に達するまでの時間が短く、且つ消費電力が低いバーンイン試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

4) Is it ensured that user review or testing by the financial institution, etc. are conducted at the planning, design/development and testing stages? 例文帳に追加

企画段階、設計・開発段階、テスト段階において、金融機関等によるユーザーレビューやユーザーテストが実施されているか。 - 金融庁

When testing to find the defective bits, the fuse selection circuit selects a fuse block to program next and the selected fuse block holds address signals inputted at testing in a register circuit.例文帳に追加

電気ヒューズへのプログラム後の確認を書き込まれたアドレス情報のみの確認で良品判断が可能となる。 - 特許庁

To provide an inexpensive material testing method resistant to outside vibration and capable of grasping the testing force at the initial stage of destruction in accurate timing.例文帳に追加

安価で外部振動に強く、破壊初期の試験力を正確なタイミングで捉えられる材料試験方法を提供する。 - 特許庁

A port 1 and a port 2 are connected to an external part by external wiring at testing time.例文帳に追加

テスト時には、ポート１とポート２とが外部配線により外部接続される。 - 特許庁

AUTOMATIC FAILURE TESTING OF LOGICAL BLOCK USING INTERNAL AT-SPEED LOGIC BUILT IN SELF TEST例文帳に追加

内部アットスピード論理ＢＩＳＴを用いた論理ブロックの自動故障試験 - 特許庁

To provide a connector apparatus having no possibility of miswiring at the time of testing.例文帳に追加

試験時の誤配線のおそれのない接続器具を提供することである。 - 特許庁

At least one pad 120 is disposed on the substrate for testing the circuit.例文帳に追加

一つ以上のパッド１２０は、回路のテストのために基板上に提供される。 - 特許庁

This memory 55 is further provided with a supposed hardness memory 56 that stores the supposed hardness of the test piece and a testing force memory 57 that stores the testing force at the time of hardness testing.例文帳に追加

また、この記憶部５５は、試験片の想定される硬度を記憶する想定硬度記憶部５６と、硬度試験時の試験力を記憶する試験力記憶部５７とを備えている。 - 特許庁

To realize a semiconductor integrated circuit, a probe card, and a testing method of the semiconductor integrated circuit that can make the testing of the semiconductor integrated circuit performed at a low cost.例文帳に追加

試験を低コスト化できる半導体集積回路、プローブカードおよび半導体集積回路の試験方法を実現する。 - 特許庁

To provide a temperature variable adhesive strength testing machine capable of testing adhesive strength at an optional preset temperature without being influenced by a room temperature.例文帳に追加

室温に影響されることなく、任意の設定温度で粘着力試験が可能な温度可変粘着力試験機の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor apparatus and its testing method for testing a circuit block (IP) at a high speed, using few external terminals.例文帳に追加

少ない外部端子を用いて高速に回路ブロック（ＩＰ）をテストすることができる半導体装置およびそのテスト方法を実現する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing immunity which reduces omission of fault detection at the time of testing EMC of the immunity.例文帳に追加

ＥＭＣイミュニティ試験時の不具合検出漏れを減少させ、且つ省力化が可能なイミュニティ試験装置及び試験方法の提供。 - 特許庁

The frequency of testing is checked at a step S6, and after the testing is conducted nine times, the optimum massaging conditions are determined from the subjective evaluation and the degree of satisfaction through all examinations at a step S7.例文帳に追加

ステップＳ６にて試験回数をチェックし、試験を９回行うと、ステップＳ７にて全試行での主観評価と満足度から最適マッサージ条件を決定する。 - 特許庁

To provide an automatic testing system, capable of transmitting test result data by an automatic testing device from a transmitter and receiving the transmission at a receiver arranged at a required location.例文帳に追加

自動試験装置による試験結果データを送信機で送信させ、その送信を必要な場所に配置した受信機で受信できる自動試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which activates power gating function, at the normal operation, and effectively activates a testing function at testing.例文帳に追加

本発明は、通常動作時にはパワーゲーティング機能が動作するとともに、試験時には試験機能が有効に動作する半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The angle of the tapered part 52 at the tip of the testing terminal 40 is set to an obtuse angle.例文帳に追加

検査端子５０の先端の尖り部５２の角度は、鈍角となるようにする。 - 特許庁

"So I'm testing various parts of the world one at a time," he says. 例文帳に追加

「だから世界の様々なパートをひとつずつテストしているのです。」と高野さんは語る。 - 浜島書店 Catch a Wave

a structure resembling a tunnel where air is blown at known velocities for testing parts of aircraft 例文帳に追加

飛行機の部品をテストするため既知の強さで風が吹く、トンネルに似た構造物 - 日本語WordNet

Accordingly, field testing of the connection can be made at the site of termination.例文帳に追加

従って、末端処理を行った場所で連結部を現場試験することができる。 - 特許庁

At this time, testing data such as temperature in the furnace and burning duration is obtained.例文帳に追加

そして、この際に、炉内温度及び焼却時間等の試験データを取得する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and durable electronic part testing device for accurately controlling the temperature of an electronic part even when the electronic part self-heats at the time of test, and for testing the electronic part at a desired testing temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができ、しかも安価で耐久性に優れた電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a technology capable of reducing consumption of electric power, at the testing of semiconductor integrated circuit devices (LSIs), in a testing system for LSI.例文帳に追加

半導体集積回路装置（ＬＳＩ）のテストシステムにおいて、ＬＳＩテスト時の消費電流を低減することができる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device testing a plurality of DUTs simultaneously at a high speed, while suppressing deterioration of a test signal waveform.例文帳に追加

試験信号波形の劣化を抑えながら、複数のＤＵＴの試験を同時に高速で行える半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁