「at testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scratch strength testing device and a method thereof for carrying out a scratch test while continuously varying a load at a high speed.例文帳に追加

高速で連続的に荷重を変化させながらスクラッチ試験を行うことが可能なスクラッチ強度試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a POS probe unit which can severely test a communication state at each sampling period and to provide a testing system of the same.例文帳に追加

サンプリング期間毎の通信状況を厳密に試験することができるＰＯＳプローブ装置及び当該装置の試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing a high-speed memory at a real operation speed even when the operational speed of a BIST circuit is restricted.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路の動作速度を抑えても実動作速度で高速メモリのテストを実施できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To accurately perform testing at a high speed even when phase shift occurs in DUT due to temperature variation, power supply variation or the like.例文帳に追加

温度変動や電源変動等によりＤＵＴに位相ずれが生じたとしても、高速且つ正確に試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a carry-testing medium easily manufacturable at a low cost, capable of realizing a desired thickness and a desired friction coefficient.例文帳に追加

摩擦係数に加えて、その厚みも所望の大きさにできるとともに、簡単且つ安価に製造できる搬送テスト用媒体を提供する。 - 特許庁

Ultrasonic axial loading fatigue testing which applies an axial load causing vibrations at a frequency in an ultrasonic region is applied to a sample piece of high-strength steel.例文帳に追加

高強度鋼の試験片に、超音波領域の周波数の振動となる軸荷重を負荷する超音波軸荷重疲労試験に適用する。 - 特許庁

A testing part to which the litmus paper is glued is provided at the center part of a mount formed in an appropriate shape such as a circle, a square, a rectangle, etc.例文帳に追加

円形、正方形、長方形など適宜形状に成形した台紙の中央部に、ｐＨ試験紙を貼り付けた検査部を設ける。 - 特許庁

To provide a frequency monitoring apparatus for normally operating even in the case that a testing frequency set value is sequentially switched at a high speed.例文帳に追加

試験周波数設定値が次々に高速で切り替わるような場合であっても正常に動作する周波数監視回路を提供する。 - 特許庁

To provide a method for realizing certain identification and a true test at comparatively less hardware cost and for recognizing or testing securities.例文帳に追加

比較的わずかなハードウエア−費用で確実な識別及び真性テストを可能にする、有価証券を認識し又はテストする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time.例文帳に追加

衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing a squelch circuit at a higher speed using a DC voltage by a low-speed tester.例文帳に追加

低速テスターによる直流電圧を用いてスケルチ回路をより高速テストをすることが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

This direct-current testing device has a power amplifying circuit 130 for supplying a current to DUT at the current application voltage measuring time.例文帳に追加

直流試験装置は、電流印加電圧測定時にＤＵＴに対して電流を供給する電力増幅回路１３０を有している。 - 特許庁

The fire receiver has a communication part 13C for transmitting the fire signal to a WWW serer 30 through the Internet 9 at the time of testing.例文帳に追加

火災受信機は、試験時に火災信号をインターネット網９を介してＷＷＷサーバ３０に送信する通信部１３Ｃを有する。 - 特許庁

To provide a simple conductivity testing jig at low cost with improved operability.例文帳に追加

本発明は、導通検査の作業性を向上させることができるとともに、簡単、かつ低コストなコネクタの導通検査治具を提供するものである。 - 特許庁

This LSI comprises an external terminal 21 for inputting a wait signal MWAIT from a testing device to be connected at the time of the high-speed test.例文帳に追加

高速試験を行うときに接続する試験装置から、ウエイト信号ＭＷＡＩＴを入力するための外部端子２１を設ける。 - 特許庁

To provide a penetration testing machine capable of preventing damage of a part at dividing/assembling time, by simplifying a connecting part structure of respective block elements.例文帳に追加

各ブロック要素の連結部分構造が簡単で、かつ分割・組立時における部品の損壊を防止できる貫入試験機の提供。 - 特許庁

To provide a wear-testing apparatus that can test wear using a general environmental bath and at the same time can be carried easily.例文帳に追加

一般の環境槽を用いて摩耗試験を行うことができるとともに、容易に運搬することができる摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

Then, at least one portion of the probe needle 22 is brought into contact with the cleaning wafer 32 or the dummy wafer 33 by a stylus pressure that is lower than that in testing.例文帳に追加

そして、試験時の針圧より低い針圧でプローブ針２２の少なくとも一部をクリーニングウェハ３２またはダミーウェハ３３に接触させる。 - 特許庁

In the tester for testing magnetic characteristics of veneer, the surface of a magnetic pole of a yoke is allowed to directly abut against, in a sample at a region having a sample width of 5-90%.例文帳に追加

単板磁気特性試験用試験器において、ヨークの磁極面を、試料幅の５〜90％の領域で試料と直接接触させる。 - 特許庁

To provide a brake testing device capable of performing a braking test with a high accuracy even in a brake device requiring a braking test at a low operation pressure.例文帳に追加

低い操作圧で制動試験をしなければならないブレーキ装置でも高精度で制動試験を行うことができるブレーキ試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a software test system testing target software in a short time at a low cost with improved reliability.例文帳に追加

ソフトウェアを短時間にしかも安価でテストすることができ、そして、信頼性を向上させたソフトウェアテストシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁

At the time of testing, an LSI conveyer 1 chucks the LSI 2 to be tested to carry it to the LSI socket 3 and attaches it to the LSI socket 3.例文帳に追加

テスト時には、ＬＳＩ搬送機１が被試験ＬＳＩ２を吸着してＬＳＩソケット３まで運搬しＬＳＩソケット３に装着する。 - 特許庁

The chip test unit 2 has at least one chip test module 20 disposed adjacently to the rotation unit 1, and testing the mounted chip C.例文帳に追加

チップテストユニット２は、回転ユニット１に隣接するように配置され、実装チップＣをテストする少なくとも１つのチップテストモジュール２０を有する。 - 特許庁

To provide a socket testing method and a socket testing tool for testing an IC package by mounting the IC package having grid-shaped terminals at the lower surface of a package body, capable of easily testing the location of terminals of a socket, and capable of confirming actual contacting state of the terminals of the socket with the terminals of the IC package.例文帳に追加

パッケージ本体の下面に端子がグリッド状に設けられたＩＣパッケージが装着され、前記ＩＣパッケージの試験を行うソケットの検査方法およびその検査方法に使用される検査ツールに関し、ソケットの端子の位置の検査が簡単で、しかもソケットの端子、ＩＣパッケージの端子との実際の接触状態が確認できるソケットの検査方法及びソケットの検査ツールを提供することを課題とする。 - 特許庁

The inlet conveyor receives a tire (102) and centers the tire (102) so that its rotational axis (154) is located at predetermined distance from the rotational axis (156) of the testing station (12), and a conveyor (100a) transports the tire (102) to the testing station (12).例文帳に追加

この取入コンベアはタイヤ（１０２）を受容し、タイヤ（１０２）の回転軸線（１５４）が試験ステーション（１２）の回転軸線（１５６）から所定距離に位置するようにタイヤ（１０２）を中心合わせし、コンベア（１００ａ）はタイヤを試験ステーション（１２）に搬送する。 - 特許庁

The intake conveyor receives a tire 102 and centers the tire 102 to position a rotational axis 154 of the tire 102 at prescribed distance from a rotational axis 156 of the testing station 12, and a conveyor 100a conveys the tire to the testing station 12.例文帳に追加

この取入コンベアはタイヤ（１０２）を受容し、タイヤ（１０２）の回転軸線（１５４）が試験ステーション（１２）の回転軸線（１５６）から所定距離に位置するようにタイヤ（１０２）を中心合わせし、コンベア（１００ａ）はタイヤを試験ステーション（１２）に搬送する。 - 特許庁

To provide a universal testing equipment capable of being assembled with high precision and adding load to a testpiece at a high repeating speed using a coupling of high rigidity, and the electromotive actuator adaptable to the universal testing equipment.例文帳に追加

高精度での組立を可能とし、剛性の高いカップリングを使用することによって高い繰り返し速度で荷重を試験片に加えることが可能な万能試験装置及びこのような万能試験装置に適用可能な電動式アクチュエータを提供する。 - 特許庁

To obtain a tray conveyance device capable of moving and stopping a testing tray at a comparatively high speed, capable of shortening the index time of the test, and capable of improving the reliability of the test, a testing device and a test method.例文帳に追加

試験用トレイを比較的高速で移動および停止させることが可能であり、試験のインデックスタイムの短縮を図ることができ、且つ試験の信頼性を向上させることができるトレイ搬送装置、試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To carry out current limiting with high accuracy in comparison with a conventional device by applying a semiconductor device operating at high voltage such as an IC for PDP panel drive in a testing device in regard to a current limiting circuit, and a testing device.例文帳に追加

本発明は、電流制限回路及び試験装置に関し、例えばＰＤＰパネルドライブ用ＩＣ等の高電圧で動作する半導体素子の試験装置に適用して、従来に比して高精度に電流制限することができるようにする。 - 特許庁

Particularly, at least one head unit includes a sucking head 5 for sucking an electronic component E supplied from the component supplying section 22 and carries this component E to the area on the substrate P, and a testing device 6 for testing the substrate P.例文帳に追加

とくに、ヘッドユニットの少なくとも１つが、部品供給部２２から供給された電子部品Ｅを吸着し、電子部品Ｅを前記基板Ｐ上に搬送する吸着ヘッド５と、基板Ｐの検査を行う検査装置６とを有する。 - 特許庁

The taking-in conveyor receives a tire 102 and centers the tire 102 to position a rotational axis 154 of the tire 102 at prescribed distance from a rotational axis 156 of the testing station 12, and a conveyor 100a conveys the tire to the testing station 12.例文帳に追加

この取入コンベアはタイヤ（１０２）を受容し、タイヤ（１０２）の回転軸線（１５４）が試験ステーション（１２）の回転軸線（１５６）から所定距離に位置するようにタイヤ（１０２）を中心合わせし、コンベア（１００ａ）はタイヤを試験ステーション（１２）に搬送する。 - 特許庁

Depending on the outcome of the testing by the document processing device, the configuration data received is transferred to at least one additional document processing device via a computer network.例文帳に追加

ドキュメント処理装置によるテスト結果次第で、受け取った設定データを、コンピュータ・ネットワークを介して、少なくとも１つの他のドキュメント処理装置に転送する。 - 特許庁

To provide a salt damage testing method for an ventilating air filter unit, allowing objective salt damage test at any site in a short time, and to provide its device.例文帳に追加

任意の場所において短時間で客観的な塩害試験を行うことができる換気用エアフィルタユニットの塩害試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To carry out a test, without generating a power voltage variation at an alternating testing of a device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスの交流試験時に電源電圧変動を発生させずに試験を行うことができる半導体試験装置用バイアス電源回路を提供する。 - 特許庁

The testing device 100 monitors the number of held balls and not-winning balls generated at the game machine 200 with a sensor 602 of the held balls and a sensor 603 of the number of the not-winning balls.例文帳に追加

試験装置１００は、また、持ち玉数センサ６０２、外れ玉数センサ６０３により、遊技機２００で生じた持ち玉と外れ玉の数をモニタする。 - 特許庁

To provide a vibration testing system that applies two-axis vibration, where vibration of high-frequency region up to at least 1,000 Hz can be applied in one axis.例文帳に追加

２軸の振動を与え、１軸は少なくとも１０００Ｈｚまでの高周波領域の振動を与えることができる振動試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test system that uses one measurement device at a comparatively low rate to generate a high rate burst traffic required for testing an ATM transmitter or the like.例文帳に追加

比較的低速の１台の測定器を使用し、ＡＴＭ伝送装置等の試験に必要な高速バーストトラヒックを生成する試験システムを提供する。 - 特許庁

Therefore, an address of a memory IC can be directly made in one-dimension, at the time of testing a high speed memory IC, the circuit delay and expansion of circuit scale can be prevented.例文帳に追加

そのため、メモリＩＣのアドレスを直接的に一次元化でき、高速のメモリＩＣ試験の際、回路遅延、回路規模の拡大を防ぐことができる。 - 特許庁

The strain-inducing plates 5 are arranged at positions corresponding to testing portions of the subject inside the sheet body and fixed to the sheet body 2.例文帳に追加

起歪板５は、シーツ本体１の内部における被験者の被験部位に対応する位置に、シーツ本体２に対して固定された状態で配置されている。 - 特許庁

To provide a memory-device testing apparatus by which a fail signal is transferred at high speed to a memory defect relief analysis part from a defect analysis memory part.例文帳に追加

不良解析メモリ部１００からメモリ不良救済解析部２００に、フェイル信号を高速で転送するメモリデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a method of manufacturing semiconductors, in which a semiconductor manufacturing apparatus operates its boat efficiently by allowing the boat to handle two types of testing wafers at the same time and independently.例文帳に追加

半導体製造装置のボートにおいて２種類のテストウェーハを同時に独立して能率的に運用できる半導体製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a low-temperature engine testing apparatus capable of achieving the maintenance of the inner environment of a low-temperature test room and control of the wall deterioration at the same time.例文帳に追加

低温試験室の内部環境の維持と壁の劣化の抑制を同時に達成することができるエンジンの低温試験装置を提供する。 - 特許庁

By arranging the receiver at a required location or carrying it, it is thus possible to automatically know the test result data, even if one is away from the automatic testing device.例文帳に追加

したがって、受信機を必要な場所に配置、あるいは、携帯すれば自動試験装置から離れていても試験結果データを自動的に知ることができる。 - 特許庁

To provide a circuit test device capable of testing at a higher speed than change of a range through software by controlling the change of the range through hardware.例文帳に追加

レンジの変更をハードウェアで制御することで、ソフトウェアによるレンジの変更よりも高速にテストを行うことができる回路テスト装置を提供する。 - 特許庁

The encoder is rotated by a motor at a prescribed rate, and an A-phase signal and a B-phase signal are input to a measuring unit 36 of a system for testing the encoder.例文帳に追加

モータによってエンコーダを所定の速度で回転させ、Ａ相信号及びＢ相信号をエンコーダ検査装置の計測ユニット３６に取り込む。 - 特許庁