「at testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a system capable of testing usability with high reliability at a low cost in a short time.例文帳に追加

低コストで短期間に信頼性の高いユーザビリティテストを行えるシステムの提供。 - 特許庁

To achieve a high speed and high functionalization of an existing testing device at a low cost by means of an addition circuit.例文帳に追加

付加回路を用いて既存の試験装置を低コストで高速および高機能化する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for reducing power consumption at testing.例文帳に追加

本発明は、テスト時における消費電力を小さくする半導体装置を提供する。 - 特許庁

3. Centrifugal balancing machines capable of testing at 5,000 rounds per minute or more 例文帳に追加

（三）　一分につき五、〇〇〇回転を超える回転数で試験することができるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

It means that this performance was aimed at singing about the lighting of the fire as well as testing the skills of musical performance. 例文帳に追加

つまり火をたきつける所作について歌うだけでなく試奏の意味があった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

which was testing about 34 billion keys per second at its peak. 例文帳に追加

このコンテストに参加した全世界のコンピュータ群は、ピーク時に秒速340億鍵をためしていた。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

To provide a method of testing an A-D conversion circuit for testing a high-resolution (multi-bit) A-D conversion circuit in a short time and at low cost, and the A-D conversion circuit suitable for implementing the testing method.例文帳に追加

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。 - 特許庁

The cold thermal shock testing device 1 stops fans 11, 16 at the time of a change in test environment and stops air circulation inside the high-temperature testing laboratory 2 and inside the low-temperature testing laboratory 3.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替え時に送風機１１，１６を停止し、高温試験室２内および低温試験室３内における空気の循環流を停止させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a total testing period by carrying out a determination processing at a side of measurement module rather than conventionally at a side of control device.例文帳に追加

従来は制御装置側で行なっていた判定処理を計測モジュール側で行なえるようにして、トータルのテスト時間を短縮できるようにした半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a structure and testing method for suppressing peak power consumption at the time of testing an integrated circuit device.例文帳に追加

集積回路装置のテスト時におけるピークの消費電力を抑制するための構造，テスト方法，設計方法及び設計用データベースを提供する。 - 特許庁

To provide a testing method of the end part of a plate glass capable of easily testing at low cost the end part of a plate glass housed in a plate glass holder.例文帳に追加

板ガラス保持体に収容された板ガラスの端部を安価且つ容易に検査することができる板ガラスの端部の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a low-power-consumption testing circuit that can reduce power consumption at the time of testing semiconductor devices by using scanning F/Fs.例文帳に追加

この発明は、スキャンＦ／Ｆを使用した半導体装置のテストにおいて、消費電力を低減した低消費電力テスト回路を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a multiple-test-item continuous testing device which can continuously test a plate-shaped metallic material on a plurality of test items by using one test piece at the time of testing the metallic material.例文帳に追加

板状金属材料の材料試験において複数の試験項目の試験を１枚の試験片を使用して連続的に行なう。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing magnetic recording characteristics of a magnetic card, realizing a stable running speed of the magnetic card and testing magnetic recording characteristics at a high precision.例文帳に追加

安定した磁気カードの走行速度が得られ、高精度な磁気記録特性の検査ができる磁気カードの磁気記録特性検査装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, the indicator of the important information is located at a position close to a testing space for ease of reading, and a testing operation can be made rapidly and appropriately.例文帳に追加

したがって、試験空間に近い位置にこれら重要な情報の表示器があり見やすく、試験操作を迅速かつ適格に行なうことができる。 - 特許庁

To enhance testing reliability and accuracy by simplifying mechanism, miniaturizing size, and reducing cost and at the same time, making testing conditions uniform for each cassette.例文帳に追加

機構の単純化，小型コンパクト化及びコストダウンを図るとともに、カセット毎の試験条件の均一化により、試験の信頼性及び精度を高める。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method capable of properly evaluating cleanliness of lubrication oil for an internal combustion engine at a piston under a crown in a laboratory.例文帳に追加

実験室で内燃機関用潤滑油のピストンアンダークラウンでの清浄性を適正に評価することができる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine, capable of reliably recovering a test piece after testing, regardless of the state of the test piece at the completion of the test.例文帳に追加

試験終了時における試験片の状態に係わらず、試験後の試験片を確実に回収することのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

At this time, the primality testing unit uses a reconstruction unit to change the representation of prime candidates and the primality testing unit performs a primality test using the representation after change.例文帳に追加

このとき、再構成ユニットを使用して素数候補の表現が変換され、変換された表現形態を用いて素数性判定テストユニットが判定する。 - 特許庁

The output impedance of the semiconductor device at the terminal for test is matched to the impedance of a transmission system at testing time.例文帳に追加

試験用端子における半導体デバイスの出力インピーダンスを、試験時の伝送系のインピーダンスにマッチングさせる。 - 特許庁

To inexpensively perform operation verification of a test program at higher speed at low cost in offline simulation environment of a testing device.例文帳に追加

試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、テストプログラムの動作検証をより高速かつ低コストで実現する。 - 特許庁

To shorten a delivery date while enabling a through-hole 76 to be formed at a required position in a constant temperature bath 1 keeping the interior of a testing chamber 35 at least at a predetermined temperature, the constant temperature bath having a testing chamber 35 for housing a test specimen, and at least one through-hole 76 communicating the outside of the testing chamber 35 with the inside thereof.例文帳に追加

供試体が収容される試験室３５と、試験室３５の内外を連通させる少なくとも１の導通孔７６と、を有し、試験室３５内を少なくとも所定の温度に保つ恒温槽１において、所望の位置に導通孔７６を形成可能にしつつも、その納期を短縮する。 - 特許庁

(2) This scratchability testing device comprises the testing machine according to claim 1 or 2, the floor material horizontally placed on a mounting base; a traveling inclined passage for the testing machine set at an angle of 10-20° to the floor material, and a stopper mechanism for stooping the testing machine provided on the inclined passage at a traveling start point.例文帳に追加

（２）請求項１又は２記載の試験機、載置台上に水平に載置された床材、該床材に対し１０〜２０°の角度で設置された前記試験機の走行用傾斜路、該傾斜路に設けられた前記試験機を走行開始点に停止させておくストッパー機構よりなることを特徴とする床材用傷付き性試験装置。 - 特許庁

To provide an electronic device being tested at high speeds through the use of a conventional testing apparatus.例文帳に追加

従来の試験装置を用いて高速の試験を行うことができる電子デバイスを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a secondary battery by which the secondary battery can be tested safely at low cost.例文帳に追加

安全かつ低コストで二次電池を検査できる二次電池の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a network load testing system capable of improving the workability at job sites of measurements.例文帳に追加

測定現場での作業性を向上させることができるネットワーク負荷試験システムを提供する。 - 特許庁

To make a perfect automated operation possible at night by increasing the number of devices capable of automatic testing.例文帳に追加

自動試験ができるデバイスの個数を多くして、夜間完全無人運転を可能にすること。 - 特許庁

To measure humidity distribution in a testing chamber S at low cost and high precision.例文帳に追加

試験室Ｓ内における湿度分布の測定をする際に、低コストで、且つ、精度良く測定する。 - 特許庁

To provide an apparatus for the testing of coke which apparatus is capable of measuring the load distribution that the coke at high temperatures affects on the furnace walls.例文帳に追加

高温のコークスが炉壁に及ぼす荷重分布を測定できるコークス試験装置を得る。 - 特許庁

In some cases, individuals who require treatment after testing positive for hepatitis fail to present for such treatment at medical institutions.例文帳に追加

肝炎ウイルス検査の結果、診療が必要と判断された者が医療機関で受診しない、 - 厚生労働省

At the current time, most model testing and validation studies must rely on a limited data base.例文帳に追加

現在，たいていのモデルの試験・確証研究は，限定されたデータベースに頼らなくてはならない。 - 英語論文検索例文集

To provide a waterproof test device capable of testing the waterproof performance of a waterproof case at low cost.例文帳に追加

防水ケースの防水性能試験を低コストで行える防水試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device, in which the optimal drive performance can be selected at testing and at normal usage time, to realize low power consumption at normal usage time.例文帳に追加

テスト時と通常使用時で最適なドライブ能力を選択でき、通常使用時に低消費電力化を図る半導体装置を得ることである。 - 特許庁

Further, a junction temperature Tj at the time of testing is obtained by a formula of (Tj (tch)) = Ta + thermal resistance × Power) from the temperature Ta at the time of the real testing and the predetermined power Power.例文帳に追加

さらに、実試験時の周囲温度Ｔａと一定電圧Ｐｏｗｅｒとから、式（Ｔｊ（Ｔｃｈ）=Ｔａ＋熱抵抗×Ｐｏｗｅｒ）より、試験時のジャンクション温度Ｔｊを求める。 - 特許庁

The testing cells opening drains for all bit lines of the memory cell array are provided on the testing cell array as an open cell, and the open cell is arranged on at least a place at every bit line.例文帳に追加

テスト用セルアレイにはメモリセルアレイのビット線の全てに対してドレインをオープンにするテスト用セルがオープンセルとして備えられており、オープンセルはビット線毎に少なくとも一か所配置されている。 - 特許庁

An alarm is generated when an output of the testing indicates at least one identified address that is not associated with safe site data in accordance with an output of the testing.例文帳に追加

照合テストによって、安全サイト・データに関連付けられていない少なくとも１つの識別されたアドレスが存在すると判断されたときに、アラームが生成される。 - 特許庁

Then, the core 5 is installed in triaxial testing cell 25 of a water permeable testing device 7 by flow velocity control, and side pressure is applied to the core 5 to be restricted at restriction pressure σc equivalent to rock pressure.例文帳に追加

次に、流速制御による透水試験装置７の三軸試験セル２５内にコア５を設置し、コア５に側圧を印加して地圧相当の拘束圧σｃで拘束する。 - 特許庁

Article 50 (1) Appointment and dismissal of the officers engaged in the testing procedures at the designated testing agency shall not become effective without the approval of the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism. 例文帳に追加

第五十条　指定試験機関の試験事務に従事する役員の選任及び解任は、国土交通大臣の認可を受けなければ、その効力を生じない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a testing tip for evaluating a connection resistance value between a connection electrode and an outside conductor for the testing chip at each connection part.例文帳に追加

試験用チップの接続電極と外部導電体との間における接続抵抗値を個々の接続箇所毎に評価することができる試験用チップを提供する。 - 特許庁

This circuit 24 is preferably capable of delaying the transmission data by an optical time at testing.例文帳に追加

このテスト回路２４は、テスト時に、送信データを任意の時間だけ遅延できるようにするのが好ましい。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus is verified whether the defective elopements are detected at an intended place.例文帳に追加

そして意図する位置で不良素子が検出されたかによって半導体試験装置の検証を行う。 - 特許庁

CONFIRMATION METHOD FOR DEFICIENCY MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AT THE TIME OF INITIALIZATION WHICH IS NOT VERIFIED AND TESTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

検証しない初期化時の光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びテスト装置 - 特許庁

An optical testing apparatus comprises an optical fiber having a first numerical aperture at the front end part of the optical fiber.例文帳に追加

光学テスト装置は、光ファイバの第１の端部に第１の開口数を有する光ファイバを含む。 - 特許庁

To provide a socket which can make testing or evaluation of a semi conductor package at a high-frequency region.例文帳に追加

高周波領域で半導体パッケージの試験又は評価を行うことが可能なソケットを提供する。 - 特許庁

To obtain a bridge connector unnecessary to take-off at each time when testing a second electronic part.例文帳に追加

第２の電子部の試験等をする際にその都度コネクタを外す必要が生じないブリッジコネクタを得る。 - 特許庁