「at testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To enhance measurement accuracy of radio waves transmitted/received to/from a transmitter/receiver, at testing in a microwave darkroom.例文帳に追加

電波暗室における試験に際し、送受波機器において送受される電波の測定精度を向上することができる。 - 特許庁

To provide a test system and heater structure capable of testing respective integrated circuits at respective different temperatures.例文帳に追加

それぞれの集積回路をそれぞれ異なるテスト温度によって、テスト可能に処置するテストシステムとヒータ構造を提供する。 - 特許庁

This circuit is provided with a test circuit 24 for delaying transmission data to be inputted to a driver 4 at the testing time.例文帳に追加

この発明は、テスト時にドライバ４に入力する送信データを遅延させるテスト回路２４を備えるようにした。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor integrated circuit device capable of screening according to a power source current at the time of standing still.例文帳に追加

静止時、電源電流によるスクリーニングが可能な半導体集積回路装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

After testing the product at Gunzesports' gyms this summer, Gunze wants to put the undershirt on the market in 2017.例文帳に追加

今夏にグンゼスポーツのスポーツクラブで同製品を試験導入した後，グンゼは2017年にその肌着を販売したいと考えている。 - 浜島書店 Catch a Wave

Article 57 (1) A person who carries on the business of product testing at its testing laboratory located in Japan may apply to the competent minister to have the testing laboratory accredited for each division of the testing method as specified in the Ordinance of the competent ministry (hereinafter simply referred to as the "Division of the Testing Method") pursuant to the provisions of the Ordinance of the competent ministry. In this case, the procedures necessary to be taken for the Accreditation shall be specified in the Ordinance of the competent ministry. 例文帳に追加

第五十七条　国内にある試験所において製品試験の事業を行う者は、その試験所について、主務省令で定める試験方法の区分（以下単に「試験方法の区分」という。）ごとに、主務省令で定めるところにより、主務大臣に申請して、登録を受けることができる。この場合において、登録に関して必要な手続は、主務省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

An obtained supporting element provides a minimum residual pressure of at least 4 psi for holding the brittle structure within the housing after testing at 900°C, at 200 cycles.例文帳に追加

得られた支持要素は、９００℃で２００サイクルの試験後に前記ハウジング内に前記脆弱構造体を保持するために少なくとも４ｐｓｉの最小残留圧力を提供する。 - 特許庁

To provide a horizontal load testing method of a pile capable of more accurately grasping the behavior of the pile in the actual on-the-spot ground and capable of performing a test at a low cost without making a testing machine large-scaled.例文帳に追加

実際の現地地盤中での杭の挙動をより正確に把握できると共に、試験装置が大掛かりにならず低コストで実施可能な杭の水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

A method for testing a magnetic recording medium provided on a non-magnetic substrate with at least a magnetic layer for surface characteristics by using a testing head possessing a heat sensitive element is provided.例文帳に追加

非磁性基板上に、少なくとも磁性層を有する磁気記録媒体を、感熱素子を有する検査ヘッドを用いて表面特性を検査する磁気記録媒体の検査方法であって、以下の方法からなる。 - 特許庁

To test a semiconductor circuit, first, a basic format for test pattern including at least one argument and a test program for testing a semiconductor circuit to be tested is created and stored in a testing device.例文帳に追加

半導体回路のテスト方法は、まず、少なくとも１つの引数と、テスト対象の半導体回路のテストを行うためのテストプログラムとを含むテストパタンの基本フォーマットを生成し、テスト装置内に記憶する。 - 特許庁

The melt flow rate of each of the ethylene oxide-propylene oxide copolymer and the water-soluble resin composition measured at a testing temperature of 125C° and a testing load of 21.18 N is 0.1-100 g/10 min.例文帳に追加

試験温度１２５℃及び試験荷重２１．１８Ｎで測定されたエチレンオキサイド−プロピレンオキサイド共重合体及び水溶性樹脂組成物のメルトフローレートが、いずれも０．１〜１００ｇ／１０ｍｉｎである。 - 特許庁

To provide a ground fault relay testing device capable of accurately measuring ground electrostatic capacitance and bus ground fault characteristics when testing a ground fault relay installed at a distributed reactor earth system.例文帳に追加

分散リアクトル接地系統に設置されている地絡継電器の試験を行う際に対地静電容量および母線地絡特性を確実に測定することができる地絡継電器試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a PCS testing apparatus and a PCS testing method in which an operation test of a communication device can be performed in the case that a frame is transmitted and received at a specific inter-frame gap.例文帳に追加

本発明は、特定のフレーム間ギャップでフレームを送受信した場合における通信機器の動作試験を可能にするＰＣＳ試験装置及びＰＣＳ試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a technology for conducting probe testing of a die without degrading reliability of wire bond connection, and for conducting secure probe testing of the die with small bond pads and at fine pitches between the bond pads.例文帳に追加

ワイヤボンド接続の信頼性を低下させることなくダイをプローブ検査でき、小さいボンドパッドおよびボンドパッド間の微細なピッチ間隔でダイについての確実なプローブ検査が行える技術の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a calibration technique of the semiconductor testing apparatus, correcting accidental errors due to dispersion of properties of a print circuit board and waveform distortion so as to make timing calibration at high speed.例文帳に追加

プリント基板の特性のばらつきや波形のなまりによる誤差を補正して高速にタイミング校正を行うことができる半導体試験装置および半導体試験装置の校正方法を実現する。 - 特許庁

Article 58 (1) When a person who received the Accreditation of Paragraph 1 of the preceding Article (hereinafter referred to as the "Accredited Testing Laboratory Operator") has conducted product testing pertaining to Division of the Testing Method that has been accredited at an accredited testing laboratory, he/she may issue a certificate on which the matters as specified in the Ordinance of the competent ministry are entered and the accreditation symbol as designated by the Ordinance of the competent ministry is affixed. 例文帳に追加

第五十八条　前条第一項の登録を受けた者（以下「登録試験事業者」という。）は、登録を受けた試験所において登録を受けた試験方法の区分に係る製品試験を行つたときは、主務省令で定める事項を記載し、主務省令で定める標章を付した証明書を交付することができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In this semiconductor integrated circuit test device having a test station 21 and a test station 31, when the test station 31 is in the standby state of being ready for testing during testing of the test station 21, testing of the test station 21 is forcibly ended, and then testing at the test station 21 and the test station 31 is simultaneously started.例文帳に追加

テストステーション２１とテストステーション３１とを備える半導体集積回路試験装置において、テストステーション２１が試験を行っている最中にテストステーション３１がテストをすることが可能な待機状態になった場合に、テストステーション２１のテストを強制的に終了した後で、テストステーション２１及びテストステーション３１における試験を同時に開始する。 - 特許庁

As for data to be recorded in a CD-R disk, the testing of conversion into a recording format is carried out, and based on the result of this testing, data to be recorded at a high speed applicable to the disk and data to be recorded at a low speed are discriminated from each other (S2 to S6).例文帳に追加

ＣＤ−Ｒディスクに記録しようとするデータについて記録フォーマットへの変換テスト処理を行い、そのテスト結果からそのディスクに適応可能な高速記録可能なデータと低速記録すべきデータとを判別する（Ｓ２〜Ｓ６）。 - 特許庁

The precipitated fluorinated urethane polymer material provides oil and contaminating agent resistance of at least a number 6 by AATCC 188 testing and an air permeability of at least 0.20 CFM per square foot by ASTMD 737 testing.例文帳に追加

析出フッ素化ウレタンポリマー材料は、ＡＡＴＣＣ１８８試験による少なくとも数６の耐油性及び汚染剤に対する耐性、並びにＡＳＴＭＤ７３７試験による、１平方フィート当たり少なくとも０．２０ＣＦＭの通気性を与える。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method and an apparatus, having a high S/N ratio and capable of detecting micro defects at a surface layer part of a material to be inspected having a coarse surface, such as a slab via immersion testing (full immersion testing, partial immersion testing, and a water-column ultrasonic method).例文帳に追加

水浸法（全没水浸法、局部水浸法、水柱超音波法）を用いて、スラブのように表面が粗い検査材の表層部にある微小欠陥を高いＳ／Ｎで探傷することが可能な超音波探傷方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method and a device therefor, capable of detecting with a high S/N ratio, micro defects at a surface layer part of a material to be inspected having a coarse surface like a slab, by using immersion testing (full immersion testing, partial immersion testing, and a water-column ultrasonic method).例文帳に追加

水浸法（全没水浸法、局部水浸法、水柱超音波法）を用いて、スラブのように表面が粗い検査材の表層部にある微小欠陥を高いＳ／Ｎで探傷することが可能な超音波探傷方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a closed vessel that a pinhole test (i.e., gas leakage test) is accurately carried out using a small quantity of testing gas and that a filling process of contents and the testing gas and a testing process of pinhole can be carried out continuously at the same place, and to provide a pinhole detecting method using the closed vessel.例文帳に追加

少量の検査用ガスによってピンホール検査（ガス漏れ検査）を正確に行うことができ、また、内容物・検査用ガスの充填工程とピンホールの検査工程とを同じ場所で連続的に行うことのできる密閉容器と、該密閉容器を用いたピンホール検出方法を提供する。 - 特許庁

An outlet, formed at the second end of the hollow body, is adapted for coupling a testing device to an interior volume of the hollow body.例文帳に追加

中空体の第２の端に形成される出口が、試験装置を中空体の内容積部に結合するようになっている。 - 特許庁

To realize a testing function at the same speed as that in an actual use on a semiconductor integrated circuit by means of a comparatively low speed tester.例文帳に追加

比較的低速のテスタにより高速の半導体集積回路について実使用と同じスピードでのテスト機能を実現する。 - 特許庁

To provide a device testing equipment capable of constantly maintaining a contact pressure for a device as a test object at an optimal value.例文帳に追加

被試験対象のデバイスに対するコンタクト圧力を、常に最適値に維持することが可能なデバイス試験装置を実現する。 - 特許庁

To execute high-speed testing of an LSI at low cost by preparation in a short time without using an expensive high-speed LSI tester or measuring jig.例文帳に追加

高価な高速ＬＳＩテスタや測定冶具を用いず且つ、短時間の準備で安価にＬＳＩの高速テストを実施すること。 - 特許庁

To provide a device that can erect testing pole corresponding to various diameters of the poles, and at the same time, can surely maintain the erected state.例文帳に追加

種々の柱径に対応して試験柱を立設することができ、かつ、立設状態を確実に維持できる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of detecting instantly abnormality occurrence of a power source, corresponding to various states at a test time.例文帳に追加

試験時の様々な状況に対応して電源の異常発生を即時に検出できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a temperature testing device capable of dealing with wide a temperature range, and excellent in temperature changing efficiency at the time of changing measurement temperature.例文帳に追加

広い温度範囲に対応することができ、また、温度切換え時の変温効率に優れた温度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sensor and a tester in which a test signal at a good reliability and good efficiency can be detected upon testing a substrate.例文帳に追加

基板の検査に当たり、信頼性良くかつ効率の良い検査信号が検出できるセンサ及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing hormone action of a substance, capable of simply and rapidly determining the action with excellent reliability and sensitivity at a low cost.例文帳に追加

物質のホルモン作用に関し、信頼性、感度に優れ、簡単で廉価かつ迅速に判断可能な方法を提供する。 - 特許庁

To provide a TCP handling device suitable for testing a TCP provided with contact portions for tests (test pads) at desired positions of leads.例文帳に追加

リードの所望の位置に試験用接触部（テストパッド）を設けたＴＣＰの試験に好適なＴＣＰハンドリング装置を提供する。 - 特許庁

To process a network testing system at high speed with a rate near the maximum data transfer rate of a network path or a network device.例文帳に追加

ネットワーク検査システムにおいて、ネットワーク経路またはネットワーク装置の最大転送速度に近い速度で処理できるようにする。 - 特許庁

To shorten the inspection time required for acceleration test at the time of testing a semiconductor integrated circuit including a novolatile memory element.例文帳に追加

不揮発性記憶素子を含む半導体集積回路の試験において、加速試験に要する検査時間を短縮させる。 - 特許庁

To improve efficiency of operation in a test of a vehicular relay testing device, and to eliminate an accident at the same time.例文帳に追加

車両用継電器試験装置の試験における操作の効率化を図ると同時に事故を排除することを目的とする。 - 特許庁

To provide a substrate unit for reliability test capable of testing the reliability of a plurality of array light sources, at low cost.例文帳に追加

低コストで複数のアレイ光源の信頼性を試験することを可能とする信頼性試験用基板ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a mixed-signal-IC testing apparatus by which the noise test of a mixed-signal IC can be executed at a high speed with a small software amount.例文帳に追加

少ないハードウエア量でミックスドシグナルＩＣのノイズ試験を高速に実行するミックスドシグナルＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁

The Bank of Tokyo-Mitsubishi UFJ has recently announced that it will start testing a robot receptionist at one or two of its Tokyo branches this spring.例文帳に追加

三菱東京UFJ銀行は，この春に都内の１，２店舗で接客ロボットの試験運用を開始すると先日発表した。 - 浜島書店 Catch a Wave

This sample substrate for use in biological testing has a first member, defining at least one sample well and a second member including at least one sample well closure element.例文帳に追加

本発明のサンプル基板は、少なくとも１つのサンプルウェルを規定する第１の部材、および少なくとも１つのサンプルウェル閉鎖要素を備える第２の部材を有する。 - 特許庁

By extruding the test paper by the arm and testing it at the location and determining that the test paper is taken out when a sensor provided at an output opening is on, it is possible to take out the test paper accurately piece by piece.例文帳に追加

その位置でアームが試験紙を押出し、試験し取出し口に設けたセンサがオンすれば試験紙が出たと判断し、正確に一枚ずつ取出すことが出来る。 - 特許庁

A recording control circuit 50 stops renewal of the memory content of the memory, at the stoppage of the test program of the semiconductor testing machine and at operation of the output control circuit 14.例文帳に追加

記録制御回路５０は、半導体試験装置のテストプログラムの停止時及び出力制御回路１４の動作時、メモリ４２の記憶内容の更新を停止する。 - 特許庁

In the apparatus, transfer bias applied to a transfer roll is turned on at (-) polarity when printing and cleaning is carried out and then testing voltage is applied at the same (-) polarity without turning it off.例文帳に追加

転写ローラに印加する転写バイアスは、プリント開始時に（−）極性でＯＮして、クリーニングを行い、その後ＯＦＦせず、同（−）極性で試験電圧を印加する。 - 特許庁

The method further comprises the steps of calling a subroutine (S2), and calculating an air force to be applied to the test model at next testing position and a deflecting amount of a supporting unit at this position from the air force.例文帳に追加

そして、サブルーチンが呼び出され（Ｓ２）、次の試験位置で試験模型に加わる空気力、この空気力から当該位置での支持装置の撓み量を算出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspecting device capable of testing a substrate for holding a contact shoe at high temperatures and at low temperatures with preventing an occurrence of a distortion and an expansion caused by the temperature.例文帳に追加

この発明は、接触子を保持する基板を温度による歪や膨張を発生させなくして高温や低温の試験を行える半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To prevent occurrence of cracks at solder joint portions caused by 1,000 cycle heat shock testing at -40 to 150°C in a mounted structure using a lead-free solder.例文帳に追加

鉛フリーはんだを用いた実装構造体において、−４０〜１５０℃のヒートショック×１０００サイクル試験によってはんだ接合部分にクラックが発生するのを防止する。 - 特許庁