「at testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

clinical testing designed to identify the presence of a specific cancer in an asymptomatic individual or population thought to be at risk of that specific cancer. 例文帳に追加

特定のがんのリスクがあると考えられる無症状の個人または集団において、その特定のがんの存在を同定するために計画される臨床検査。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

Profile an entire application, or a subset, under a realistic workload.You can do load testing by starting JMeter scripts at the beginning of a profiling session.例文帳に追加

アプリケーションの全体または一部を、実際の作業条件下でプロファイルできます。 プロファイルセッションの開始時に JMeter スクリプトを実行することで、負荷テストを実行できます。 - NetBeans

Although the Community Bus Yawata Route was at first established for testing purpose to conduct a real-world evaluation for the period of one year, the operation period of the route was later extended for another year from the first expiration date of the test in 2006, and again another year from the second expiration date of the test in 2007. 例文帳に追加

この経路は、当初は1年間の試験運行とされていたが、現在はその期間を1年延長し、2007年に更に1年延長している。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

Water quality, water temperature, bacteria testing and other functions are strictly controlled on a 24 hour basis, they grow up eating natural feed, and harvesting is restricted to the period when they are at their most delicious, between January and July.例文帳に追加

水質、水温、細菌検査などを24時間態勢で厳格に管理し、自然の餌だけで育て、また収穫も最も美味しい時期である1～7月に絞っている。 - 経済産業省

If the data of testing based on OECD TG431 (human skin model Epidermis), TG430 (skin electric conductivity test) is available; the substance is classified in accordance with the decision criteria with which it is validated at each of the tests.例文帳に追加

OECD ＴＧ431（ヒト皮膚モデル Epiderm）、ＴＧ430（皮膚電気伝導度試験）に基づき試験されたデータがあれば、その試験ごとにバリデートとされた判定基準に従って分類。 - 経済産業省

Honda Motor Company recently started testing the latest model of its famous humanoid robot, ASIMO, at the National Museum of Emerging Science and Innovation known as the Miraikan in Tokyo.例文帳に追加

本田技研工業(ホンダ)は先日，同社の有名な人型ロボット｢アシモ｣の最新型の実験を，｢未来館｣として知られる東京の日本科学未来館で開始した。 - 浜島書店 Catch a Wave

An overall image of a substrate S is formed by composing the image provided at each of the image pick-up positions by driving the camera 1 mounted on a head end of an arm part 3 by positioning it at a plurality of the positions above the testing objective substrate S.例文帳に追加

アーム部３の先端に取り付けられたカメラ１を、検査対象の基板Ｓの上方の複数位置に位置決めして駆動し、各撮像位置で得られた画像を合成して、基板Ｓの全体像を生成する。 - 特許庁

The water absorption speed testing method: including putting 0.5 g water absorbing resin into a 100 ml container at 20°C followed by putting 50 g tap water thereinto at one time, and measuring a time (s) until the whole gels by 10 seconds.例文帳に追加

吸水速度試験法：２０℃において、吸水性樹脂０．５ｇを１００ｍｌ容器に入れ、その中に水道水５０ｇを一度に入れ、全体がゲル化するまでの時間（秒）を１０秒単位で測定する。 - 特許庁

The carrier tape is produced from a sheet of a lactic acid based polymer having a storage elastic modulus E' at 120°C of at least 100 MPa in the testing method on temperature dependence of dynamic viscoelasticity based on JIS K 7198.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ７１９８に基づく動的粘弾性の温度依存性に関する試験方法における１２０℃での貯蔵弾性率Ｅ’が、１００ＭＰａ以上である乳酸系重合体からなるシートから製造する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a control method of a semiconductor memory device by which a testing time can be shortened at the time of a test, while keeping low current consumption operation at the time of normal access operation.例文帳に追加

通常のアクセス動作時における低消費電流動作を維持しながら、試験時において、試験時間を短縮することが可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法を提供すること - 特許庁

The testing circuit also comprises a flip-flop 6 inputting at its data input terminal the output signal from the gate 5 and inputting at its clock signal input terminal the signal frequency divided by 1/n by the divider 2.例文帳に追加

更に、ＡＮＤ回路５からの出力信号がデータ入力端子に入力され分周器２により１／ｎ分周された信号がクロック入力端子に入力されるフリップフロップ６が設けられている。 - 特許庁

To provide an LSI testing probe card which can materialize an electric conduction with an electrode at a low load without damaging the electrode and a structure thereunder even when the electrode on an LSI becomes at a narrow pitch.例文帳に追加

ＬＳＩ上の電極が狭ピッチになった場合にも、電極およびその下の構造体に損傷を与えることなく低荷重で電極との電気的導通を実現できるＬＳＩ検査用のプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a dynamic load-testing device for eliminating the need for incorporating a spindle unit into the machine and exchanging a work and for testing the dynamic load of a rotor extremely easily and economically, and at the same time performing the dynamic load test while a load is being applied for a long time.例文帳に追加

主軸ユニットの本機への組み込みやワークの交換が不要で、非常に容易に、かつ経済的に回転体の動的負荷試験を行うことができるとともに、長期間負荷を加えた状態で動的負荷試験をすることも可能な動的負荷試験装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus for testing an LCD driver comprises a memory map for previously designating an address for storing the data at each output pin and step voltage of the LCD driver to store the data in the address corresponding to the memory map irrespective of the capturing order of the pins and the steps of the test data.例文帳に追加

ＬＣＤドライバを試験する半導体試験装置において、ＬＣＤドライバの出力ピンとステップ電圧毎にデータを格納するアドレスの番地をあらかじめ指定したメモリマップを設け、試験データのピンとステップの取り込み順に関係無く、該メモリマップの対応するアドレスの番地に格納する。 - 特許庁

Arranging a conductive pad 10p for testing to determine the right or wrong of the conductive state of a microcomputer chip 2 and a memory chip 4 at the outside of a conductive pad 9p for external input/output shortens a path of a wiring for connecting the microcomputer chip 2 and the memory chip 4 to the conductive pad 10p for testing.例文帳に追加

マイコンチップ２とメモリチップ４の導通状態の良否を判定するためのテスト用導電パッド１０ｐを外部入出力用導電パッド９ｐの外側に配置し、マイコンチップ２およびメモリチップ４をテスト用導電パッド１０ｐに接続する配線の経路を短縮する。 - 特許庁

To provide an electrical testing method for printed-wiring boards capable of providing an effect that resistance values which a 4-terminal inspection originally has are measured in an electrical testing process, ensuring high inspection efficiency, and performing a stable inspection at an inexpensive cost.例文帳に追加

電気検査工程において４端子検査が元々有する抵抗値を高精度で測定するという効果を発揮すると同時に、高い検査効率を確保し、安定した検査を安価で行うことができるプリント配線板の電気検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a portable discarded water testing device which shortenes a time period necessary for water quality testing and discarding water in a discarded water pipe in a service water piping network, eliminates a wasteful amount of discarded water, and carries out water discarding work at a number of points in the service water piping network efficiently and in a short time.例文帳に追加

本発明は、水道配水管網の捨水配水管部における水質検査と捨水時間とを短縮して、無駄な捨水量をなくし多数の水道配水管網での捨水作業を効率的に短時間で行うことが可能な可搬型捨水検査装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently supply order receiving information and a test schedule related to an entrusted test to be provided at a testing place, to facilitate ordering of the entrusted test and work management and further to speedily report or disclose the test schedule and work progress conditions to a client or testing place.例文帳に追加

試験所が提供する受託試験に係る受注情報、試験計画を顧客に効率的に供給し、受託試験の発注と作業管理を容易なものとし、さらに試験計画と作業進捗状況を顧客または試験所に迅速に報告又は公開することを可能とする。 - 特許庁

Both ends of the covered electric wire 3 inserted freely with a bellows tube 2 are fixed to a support frame 4 with the wire kept at a nearly horizontal attitude, and vibrations in the axial directions P and Q are applied to the covered electric wire 3 for testing by a vibrator 5 in this state by this abrasion testing method of the covered electric wire.例文帳に追加

この被覆電線の摩耗試験方法は、蛇腹チューブ２が遊挿された被覆電線３を略水平姿勢に保った状態でその両端を支持架台４に固定し、その状態で振動機５により被覆電線３に線軸方向Ｐ，Ｑの振動を付与して試験するものである。 - 特許庁

The electronic equipment is provided with a rear case 61, the circuit board 101 housed inside the rear case 61, and a testing terminal 102 disposed on a substrate, wherein the rear case 61 has an opening forming part 106 for forming an opening 109 at a part in the rear case 61, facing the testing terminal 102.例文帳に追加

リアケース６１と、リアケース６１の内部に収納された回路基板１０１と、基板に配設された試験用端子１０２とを備え、リアケース６１は、リアケース６１における試験用端子１０２に対向する部位に、開口部１０９を形成する開口形成部１０６を有する。 - 特許庁

By the memory 3 of 2nd specification, a chip select signal CS of a 2nd activation control signal is activated at the effective timing, and the read or the write is executed by catching the testing address given to the partially shared address bus while operating by using the aforementioned testing clock as reference.例文帳に追加

第２の仕様のメモリ３は、第２の活性化制御信号チップセレクト信号ＣＳが有効のタイミングにおいて活性化され、前記と同じテスト用クロックを基準に動作して、一部共有のアドレスバスに与えられたテスト用アドレスをとらえてリードまたはライトを実行する。 - 特許庁

This semiconductor device 1 having a testing circuit 2 operating at a high speed, internally stores a high speed pattern generating circuit 3 for coverting a low speed test pattern of a reference clock, an input signal and an output expected value signal inputted from the low speed LSI tester into a test pattern of a speed adapted to the testing circuit 2 operating at a high speed.例文帳に追加

高速動作する試験回路２を有する半導体装置１において、低速ＬＳＩテスター１２から入力する基準クロック，入力信号及び出力期待値信号の低速テストパターンを、高速動作する試験回路２に適応する速度のテストパターンに変換するための高速パターン発生回路３を内蔵したものである。 - 特許庁

A test device 10 for testing an information processor using test data generated at random and test commands includes a program generating means which generates a test procedure made by mixing at random the test commands selected at random from the plurality of test commands and command patterns constituted by combining the plurality of test commands and creates a test program for testing the test procedure and the test data.例文帳に追加

ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置１０であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段を備える。 - 特許庁

This rubber crawler constitutes its characteristic feature of using a rubber composite a value of a complex elastic modulus (E*) of which is less than 30 MPa at -35°C and its temperature at which a value of tanδ measured by a viscoelastic testing machine shows the maximum value is equal to or less than -35°C.例文帳に追加

粘弾性試験機で測定されたｔａｎδの値が最大値を示す温度が−３５℃以下で、−３５℃での複素弾性率（Ｅ＊）の値が３０ＭＰａ以下であるゴム組成物を用いたことを特徴とするゴムクローラである。 - 特許庁

An optical fiber measurement system 1 comprises: an optical fiber sensor line 2; a position display module 3 provided at at least one position on the optical fiber sensor line 2; and a light pulse testing device 10 for making test light incident on the optical sensor line 2.例文帳に追加

光ファイバセンサ線路２と、光ファイバセンサ線路２の少なくとも１箇所に設けられた位置表示モジュール３と、光ファイバセンサ線路２に試験光を入射する光パルス試験器１０と、を備えた光ファイバ計測システム１。 - 特許庁

This is an adhesive tape for fixing a semiconductor wafer that melts at a testing temperature of 190 °C and test load of 21.18 N in the testing method shown in "the flow testing method of thermoplastics" Japanese Industrial Standards K 7210, wherein MFR by the method is 0.1-3, and a resin layer B and adhesive layer A are laminated that includes a carboxyl group as a polymeric constituent.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ ７２１０「熱可塑性プラスチックの流れ試験方法」に示される試験方法における試験温度１９０℃、試験荷重２１．１８Ｎで溶融するとともに前記方法によるＭＦＲが０．１〜３で、かつ重合体の構成成分としてカルボキシル基（−ＣＯＯＨ）を有する構成成分を含む樹脂層Ｂと粘着剤層Ａとが積層されてなることを特徴とする半導体ウエハ固定用粘着テープ。 - 特許庁

Electron beam is irradiated on a substrate 7 mounted on a mounting table 38 installed in a chamber 31 of the charged particle beam device, and a prescribed process like testing is carried out at the inside of the device.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置のチャンバー３１内の載置台３８に載置された基板７には電子ビームが照射され、当該装置内にて検査等の所定の工程が実施される。 - 特許庁

To provide a thermoplastic resin composition for a molded article having excellent shape-holding properties with a small deformation degree at thermal cycle testing as well as excellent molding processability, appearance, and impact resistance.例文帳に追加

成形加工性、成形外観、耐衝撃性及び冷熱サイクルにおける変形の度合が小さく形状保持性に優れた成形体を与える熱可塑性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

In the printed wiring board having a surface layer pattern, an internal layer pattern and a through-hole for connecting the surface layer pattern and internal layer pattern, the testing pad is disposed at a position for connecting the through-hole and pattern.例文帳に追加

表層パターンと、内層パターンと、表層パターンと内層パターンを接続するスルーホールとを備えたプリント配線板であって、前記スルーホールとパターンとの接続部位にパッドを設けた。 - 特許庁

An inclined stage of this permeability testing device is provided with structure for supporting an upper plate 5 and a lower plate 6 in the state of inclining at a specified angle from a horizontal direction in vertical section.例文帳に追加

透過性試験装置の傾斜ステージは、上部プレート５及び下部プレート６を垂直断面において水平方向から所定角度傾斜させて支持する構造を備える。 - 特許庁

It is determined within an LSI that a terminal which can not have Hi-Z (high impedance) during normal use by a user has Hi-Z (high impedance) at the time of testing and then the LSI goes into a test mode.例文帳に追加

通常ユーザーが使用時にはＨｉ−Ｚになり得ない端子が、検査時にＨｉ−ＺであることをＬＳＩ内部で判別してテストモードに移行するように構成したものである。 - 特許庁

To provide a testing device for rotational bodies for automotive use that can reduce the time taken to reach a target temperature and hold the temperature in a constant temperature tank during an evaluation test at the target level.例文帳に追加

目標温度に達するまでの時間の短縮化、及び評価試験時における恒温槽内の温度を目標温度に保持可能な自動車用回転体の試験装置を提供する。 - 特許庁

In the trestle 2, a plurality of weather resistance-testing objects 9 and a plurality of solar cell modules 3 are installed side by side, and at the same time, the temperature-measuring instrument 4 and the moisture-measuring instrument 5 are installed.例文帳に追加

架台２には、複数の耐候性試験物９及び複数の太陽電池モジュール３を並べて設置するとともに、温度測定器４及び湿度測定器５を設置する。 - 特許庁

A connection part 30 of the testing device is connected to a connection part 10 on the side of the heat sensor and an adjusting screw 34 is threaded into an adjusting chamber 33 at a predetermined speed by an electric driver 50.例文帳に追加

試験装置の接続部３０を熱感知器側の接続部１０に接続し、電動ドライバ５０によって調整ねじ３４を調整室３３内に所定の速度でねじ込む。 - 特許庁

Based on a timing analysis under the logic BIST mode, a scan flip-flop with a selector is arranged with insertion at a place where a testing error occurs, and the path where the timing error occurs is pipelined.例文帳に追加

ロジックＢＩＳＴモードにおけるタイミング解析に基づいてタイミングエラーの発生箇所に、セレクタ付きスキャンフリップフロップを挿入配置することで、そのタイミングエラー発生パスをパイプライン化する。 - 特許庁

To provide an abrasion test method and an abrasion testing device allowing the abrasion quantity of an elastic body in indoor evaluation to correspond accurately to the abrasion quantity at an actual car traveling time.例文帳に追加

室内評価での弾性体の摩耗量を実車走行時の磨耗量に精度よく対応させることの可能な摩耗試験方法および摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

To perform at low cost the durability test of a test target, in a durability testing method for performing the durability test of the test target arranged between a drive body and the load and that receives twisting.例文帳に追加

本発明は、駆動体と負荷との間に配置されて、ねじりを受ける被試験体の耐久試験を行なう耐久試験方法等に関し、被試験体の耐久試験を安価に行なう。 - 特許庁

To prevent overheating so as to prevent quality degradation of packed food or transported liquid by making planned sterilization conditions determined in a retort testing machine, usable almost as they are at a production site.例文帳に追加

レトルト試験機で決定された計画殺菌条件をほぼ、そのまま生産現場で使えるようにして、過加熱を防止し、包装食品や輸液等の品質劣化を防止すること。 - 特許庁

To provide a data driver whose operating test can be performed easily and surely at a manufacturing stage and also whose testing time can be shortened and a display device in which the driver is used.例文帳に追加

本発明は、製造段階において容易で確実な動作試験が行えると共に、試験時間を短縮することができるデータドライバ及びそれを用いた表示装置を提供する。 - 特許庁

The composite film has also a suitable Δb* value (15 degree light-receiving angle) of ≤6.0 by accelerated damp heat testing in the dark under the atmosphere at 85°C and 85% relative humidity.例文帳に追加

また、複合フィルムは、さらに、暗所における８５℃、相対湿度８５％雰囲気下での促進耐湿熱性試験におけるΔｂ＊値（受光角度１５度）が６．０以下であることが好ましい。 - 特許庁

To provide an electronic component thrusting apparatus capable of quickly contacting a test objective electronic component with a testing socket at an appropriate pressure, and an IC handler provided with the thrusting apparatus.例文帳に追加

検査対象とする電子部品を検査用ソケットに対して適正な圧力で迅速に当接させることのできる電子部品の押圧装置、及び該押圧装置を備えるＩＣハンドラを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a driving noise of road paving materials, which can measure the driving noise for a plurality of test samples of the road paving materials in a short time at low cost.例文帳に追加

複数の道路舗装材の試験サンプルに対して短時間で、かつ低コストで走行騒音の測定を行なえるようにした道路舗装材の走行騒音試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a temperature-testing device, capable of quickly performing an operation confirming test at the accurate temperature by directly setting a part of an object to be tested to the predetermined temperature.例文帳に追加

試験対象の部品を直接、所定の温度にすることができ、正確な温度での動作確認試験をしかも速く行うことが可能な温度試験装置を提供すること。 - 特許庁

At the time of testing, a signal directing the test is inputted from the test signal input pin 205, and an edge detection circuit 211 detects the signal to latch signals inputted from respective input pins 102.例文帳に追加

テスト時にはテスト信号入力ピン２０５からテストを指示する信号が入力し、エッジ検出回路２１１がこれを検出して各入力ピン１０２から得られた信号をラッチする。 - 特許庁

To provide a controller of a material testing machine constituted so as to dispense with an operator at the time of the electrical calibration of the amplifier of a strain gauge type detector and capable of automating calibration.例文帳に追加

歪みゲージ式検出器のアンプの電気的校正に際してオペレータが介在する必要がなく、校正を自動化することのできる材料試験機の制御装置を提供する。 - 特許庁