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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > at testingの意味・解説 > at testingに関連した英語例文

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at testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 872



例文

To provide a temperature correcting circuit capable of automatically correcting temperature in the case of changes in temperature at each part of a transmission system line constituted of integrated circuits and transmission lines in a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置において、集積回路や伝送路などで構成される伝送系路の各部分で温度変化があった場合に、自動的に温度補正をすることができる温度補正回路を提供する。 - 特許庁

A testing or verifying device of suspension has a first track section having a first rugged section for displacing the wheel of a vehicle by a first predetermined amount when the wheel overcomes at least a part of the rugged section.例文帳に追加

サスペンションの試験あるいは実証装置は、車両の車輪がその少なくとも一部を乗り越えるとき第1の所定量だけ上記車輪を変位させる第1の起伏部を有する第1の軌道セクションを備える。 - 特許庁

A hybrid vibration testing device for structure excites an actual model 6 imitating the part of the structure and, at the same time, analyzes the vibration response of a numerical model imitating the rest of the structure by using the computer 10.例文帳に追加

構造物のハイブリッド振動試験装置は、構造物の一部を摸擬した実物モデル6を加振するとともに、構造物の残りを摸擬した数値モデルの振動応答を計算機10を用いて解析する。 - 特許庁

An experiment is conducted on the sucking performance of the electrostatic chuck by using a testing sample with the known magnitude and pattern of warping to find out a critical application voltage at which the sucking state is changed from "bad" to "good".例文帳に追加

反りの大きさ及び反りのパターンが既知の検定用試料を用いて静電チャックに対する吸着実験を行い、吸着状態が「不良」から「良好」に変化するときの臨界印加電圧を求める。 - 特許庁

例文

To provide a vibration testing device generating vibration by feeding a vibration signal, with a vibration exciting means excited at the prescribed level, and capable of reducing power consumption.例文帳に追加

加振手段を所定レベルに励磁した状態で振動信号を供給することにより振動を発生させる振動試験装置に関し、消費電力を低減できる振動試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁


例文

To provide a bearing testing device capable of performing a bearing performance test or a noise test of a low noise level in the tilted state at an optional angle, and performing the bearing performance test fit to an actual using condition.例文帳に追加

任意の角度に傾けられた状態で、軸受性能試験や低騒音レベルの騒音試験を可能として、実使用条件に合った軸受性能試験を行なうことができる軸受試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set.例文帳に追加

携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。 - 特許庁

A detection circuit 5 is provided for detecting the electrical load factors, affecting test results occurring at testing of a semiconductor device 4 from the electrical signal applied to input/output terminals of the semiconductor device 4.例文帳に追加

半導体装置4の試験時に発生する試験結果に影響を与える電気的負荷要因を、半導体装置4の入出力端子に印加する電気信号から検出する検出回路5を設ける。 - 特許庁

At least one dilution chamber can be disposed adjacent to chambers, used for testing a patient sample that are provided on the immunodiagnostic test card or can be provided separately.例文帳に追加

少なくとも1つの希釈チャンバーは、免疫診断テストカードに提供されるか、または別々に提供されることができる、患者サンプルを試験するために使用されるチャンバーに隣接して配置されることができる。 - 特許庁

例文

To surely perform transfer to sample grip parts, grip operations of a test sample, and removal and disposal of a rupture test sample after test without large space, and automate material testing with simple construction and at small costs.例文帳に追加

簡単な構成で且つ低コストで試験サンプルのサンプル把持部への移送,把持作業及び試験後の破断試験サンプルの除去及び廃棄を場所を取らず確実に行うことができ、材料試験の自動化を図る。 - 特許庁

例文

To provide a locking device which prevents damage on itself, an opening/closing portion or a casing body of an electronic-component testing apparatus, and which enables the opening/closing portion to be kept opened at an optional angle.例文帳に追加

ロック装置自体や開閉部或いは電子部品試験装置の筐体本体が損傷することなく、しかも開閉部を任意の角度で開いた状態を維持することが可能なロック装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for restoring the state of algorithmic control at that by returning a branch to a proper position in a test program when an error occurs within a DUT during testing the DUT by a memory tester.例文帳に追加

メモリテスタでのDUTの試験中にDUT内でエラーが生じた場合に、テストプログラム中の適正な位置に分岐を戻し、アルゴリズム的制御のその時点の状態を回復するための方法を提供する。 - 特許庁

To realize a probe card and a method of testing a semiconductor device, capable of obtaining satisfactory contact with chips and electrode pads of a CSP at all times, when the chips and the CSP are tested in the form of a wafer.例文帳に追加

チップやCSPをウエハ状態で試験する際に、各チップやCSPの電極パッドと常に良好なコンタクトの得られるプローブカード及び半導体装置の試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

An adhesive strength testing machine is provided with a pressure sensitive adhesive tape sticking member, a constant temperature part for holding the sticking member at an optional temperature and a temperature sensing part for detecting a temperature of a contact part of the sticking member and a pressure sensitive adhesive tape.例文帳に追加

粘着力試験機に、粘着テープ貼り付け部材、該貼り付け部材を任意の温度に保持する恒温部、及び貼り付け部材と粘着テープとの接触部の温度を検知する感温部を設けた。 - 特許庁

To obtain the method and device for transmission line capacitance measurement of a packet switching network which can measure the capacitance of a transmission line at a distance from a testing device sending test packets, specially, transmission capacitance of the line beyond a bottleneck.例文帳に追加

テストパケットを送信する試験装置から離れた伝送路の容量、特に、ボトルネック以遠の伝送路容量も測定可能なパケット交換網の伝送路容量測定方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for operation control for low-voltage load capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる低圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

To provide a bonding method for the production of a transparent material having thin thickness, producible at a low cost and exhibiting excellent adhesiveness, impact resistance, penetration resistance, temperature cycle testing resistance, transparency, anti-crime property, or the like.例文帳に追加

厚みが薄く、かつ安価で接着性、耐衝撃性、耐貫通性、耐温度サイクル性、透明性、防犯性等に優れる等の特徴をもつ透明材料を作製する際に用いられる接着方法を提供する。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test, while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time, in a comparatively narrow footprint.例文帳に追加

比較的狭い設置面積で、衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic, convenient, and small-sized polishing machine in which, in a pretreatment process requiring grinding and polishing by means of various testing methods, the grinding and polishing are performed even at a narrow part and a high location work and the like.例文帳に追加

各種検査手法で研削及び研磨を必要とする前処理過程において、狭隘部及び高所作業等においても研削及び研磨が実施できる自動、小型、簡便な研磨機を提供する。 - 特許庁

In the method for testing or calibrating the lithographic device or the part thereof, a measurement point is individually excluded at each field of view or each substrate by using a predetermined objective criterion such as a Chauvenet's criterion.例文帳に追加

リソグラフィ装置又はその一部を検定又は較正する方法において、チョーベネットの判定基準などの所定の客観的判定基準を使用して、視野毎に、又は基板毎に個々に測定ポイントが除外される。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit is provided with a data collecting section for fetching a flip-flop setting value at a time of turning on a power source from a plurality of flip-flops connected to a scan chain set as a pass for testing an integrated circuit, such as, LSI.例文帳に追加

LSIなどの集積回路のテスト用パスとして設定されたスキャンチェーンに接続された複数のフリップフロップから、電源投入時のフリップフロップ設定値を入力するデータ収集部を設けた。 - 特許庁

To provide a maintenance method that allows the online maintenance (testing) of a computer system having two groups (active system and standby system) of peripheral devices that cannot be operated at the same time while being connected to a CPU.例文帳に追加

CPUに接続して同時には動作させることができない2組(運用系と待機系)の周辺機器群を有するコンピュータシステムにおいて、オンラインでの保守(試験)を可能とする保守方法を提供する。 - 特許庁

Systems are implanted by testing external or implantable devices at different tissue sites, observing physiologic and device responses, and selecting sites with preferred performance for implanting the systems.例文帳に追加

システムは異なる組織部位で外部または移植可能なデバイスを試験し、生理学的な反応およびデバイスの反応を観察し、システムを移植するための好ましい性能を有する部位を選択することにより移植される。 - 特許庁

Because the number of passengers did not meet the target estimate, the administration of the Yawata City North-South Bus Route decided to extend the test operation period until the end of June 2009, although the administration decided to discontinue the route after this testing period without re-launching the route as a regular service ('The Asahi Shinbun (Newspaper)' South Kyoto Edition: The announcement by the Yawata City administration office posted at Yawata City City Hall on March 5, 2009). 例文帳に追加

乗客数が目標に達しなかったため、6月まで運行を継続して廃止予定(『朝日新聞』南京都版 2009年3月5日付、八幡市役所の案内看板) - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a hardness testing machine constituted so as to perform an accurate hardness test even in such a case that the center position of the dent displayed on an observation screen is shifted from the center position of the observation screen at changeover to the observation screen.例文帳に追加

観察画面に切り換えた時に観察画面上に表示される圧痕の中心位置と観察画面上の中心位置とがズレている場合であっても、正確な硬さ試験を行うことを可能にする。 - 特許庁

Then, a test target data matching the additional correct answer data pattern differing from the correct answer data pattern because of slight difference in timing at the time of testing but supposed to be test OK under normal circumstances is to be test OK.例文帳に追加

従って、検証時に、タイミングの微妙なずれにより、正解データパターンと異なるものになってしまったが、本来検証OKとなるべき追加正解データパターンと一致する検証対象データは検証OKとなる。 - 特許庁

However, at that point one is no longer being a scientist, since the moment one moves from the world of physical models, predictions, observable testing, and so on, into the realm of God's purposes one is moving outside of science, 例文帳に追加

しかし、人がもはや科学者であることを止める地点では、人は物理的モデル、予測、観察可能な検証等々の世界から神の目的の領域へと移る瞬間から、人は科学の外部へと出るんだ。 - Ian Johnston『科学のカリキュラムで創造説?』

To provide a plating device where the variation of electric current flowing through a workpiece at the inside of a drum therein and the state of a plating liquid at the inside of the drum are reproduced, and testing can be performed regarding the influence of them on the formation of a plating film.例文帳に追加

バレルめっき装置のドラム内部の被処理物に流れる電流の変動、および、バレルめっき装置のドラム内部のめっき液の状態を再現して、これらがめっき皮膜の形成に及ぼす影響について試験を行うことができるめっき装置を提供する。 - 特許庁

To relieve the potential fluctuation of power sources and GNDs in the vicinity of a package which occurs in the case of a test at high frequencies at the time of testing an LSI with an extremely large number of input/output signals and power source and GND electrodes especially in the case of performing the test in a package state.例文帳に追加

LSIの入出力信号や、電源及びGND電極が非常に多いLSIをテストするに際し、特にパッケージの状態でテストする場合において、高周波でテストする場合に起こるパッケージの近傍での電源及びGNDの電位変動を緩和する。 - 特許庁

To provide a portable telephone testing device capable of measuring a voice signal gain such as relation between a sound pressure level at the microphone end of the portable telephone set and a signal level at the input end of a voice encoder without incorporating a level measuring instrument and a circuit to display a level measurement result.例文帳に追加

レベル測定器やレベル測定結果を表示する回路を内蔵することなく、携帯電話機のマイク端における音圧レベル及び音声符号化器の入力端における信号レベルの関係等の音声信号利得を測定できる携帯電話試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing bending strength of a power generation cell for excluding a power generation cell, having low bending strength by evaluating not only bending strength at the center but also bending strength at a periphery by adding a uniform load to a disk-like power generation cell.例文帳に追加

円板状の発電セルに均一な荷重を付加することにより、中央部分の曲げ強度だけでなく、周縁部の曲げ強度も評価して、曲げ強度の低い発電セルを排除することができる発電セルの曲げ強度験方法および曲げ強度試験装置を提供する。 - 特許庁

The method entails testing the write strategies first at the maximum possible write speed and if necessary, at successively lower speeds until a write strategy that achieves the minimum acceptable write quantity is identified or until the minimum write speed is achieved.例文帳に追加

本方法は最初に、とり得る最高の書き込みスピードで、及び必要なら、最低限の許容可能な書き込み品質を達成する書き込み戦略が特定されるまで又は最低のスピードが到達されるまで、引き続いてより低いスピードで書き込み戦略をテストすることを必要とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and its test method for preventing the deterioration of reliability due to any pad crack, by changing a test method for testing a wafer and the layers of pads to be connected at the time of test and the layers of pads to be used at the time of completing all processes in the middle of a metal diffusion process.例文帳に追加

メタル拡散工程の途中段階で、ウェハを試験するテスト手法及びテスト時に接続するパッドと全ての工程完了時に使用するパッドの層を変更し、パッドクラックによる信頼性劣化を防ぐ半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a health management support system and a health management support method, capable of facilitating support of health management and a medical examination at home, exhaustively testing health condition of a person taking a test over a lot of items without exception, and performing it at low cost.例文帳に追加

在宅での健康管理、健康診断の支援を容易ならしめ、テストを受ける者の健康状態を網羅的に多数の項目にわたってもれなくテストし、しかもこれを低廉な費用で行うことのできる健康管理支援システム及び健康管理支援方法を提供する。 - 特許庁

This micrcomputer is provided with a flash memory(memory part) 110, a CPU(logical part) 120, a test ROM 130 for storing a test program for testing at least a logic part and recording means 150 and 112 for storing the test result of at least one of the memory part and the logic part as a flag.例文帳に追加

フラッシュメモリ(メモリ部)110と、CPU(ロジック部)120と、少なくともロジック部をテストするためのテストプログラムを格納したテストROM130と、メモリ部とロジック部の少なくとも一方のテスト結果をフラグとして格納可能な記録手段150,112とを備える。 - 特許庁

A semiconductor test device 100 determines pass/fail by applying a test signal from a data generator 12 to a DUT 40 and comparing the output signal and an expected value at a comparator 51, and improves testing efficiency by performing burst transfer of the fail data obtained at this time to a collection memory 18.例文帳に追加

半導体試験装置100は、データジェネレータ12からDUT40に対して試験信号を印加し、その出力信号と期待値とをコンパレータ51で比較してパス/フェイルを判定するが、このとき得られるフェイルデータを収集メモリ18にバースト転送して試験効率を向上する。 - 特許庁

To provide colloid aqueous solution including defectless protein particles and usable instead of the human blood at the testing time of a medical tool or the like or at the experimental training time of a medical diagnosis action or the like, and model blood wherein the protein particles are allowed to simulate erythrocyte in human blood.例文帳に追加

医療用具等の試験、あるいは医療診断行為の実験実習などの際にヒトの血液の替わりに使用でき、欠点のないタンパク質粒子を含むコロイド水溶液、およびそのタンパク質粒子をヒト血液中の赤血球に擬した模擬血液を提供する。 - 特許庁

An inspection device comprises: at least one socket for mounting an object to be inspected; a plurality of circuit boards each including the at least one socket, for testing the object to be inspected; and a tester head connected electrically to the plurality of circuit boards, for supplying a signal to the object to be inspected.例文帳に追加

検査装置は、被検査対象を搭載するための少なくとも1つのソケットと、ソケットを有し、被検査対象を試験するための複数の回路基板と、複数の回路基板と電気的に接続され、被検査対象に信号を供給するためのテスタヘッドと、を備える。 - 特許庁

To provide a terminal resistance circuit capable of stabilizing the level of an input-output terminal at the input mode time, even when the input/output terminal unconnected to a testing terminal of an LSI tester exists, and reducing the through-current at the output mode time.例文帳に追加

LSIテスターのテスト用端子に接続されていない入出力端子が存在する場合であっても、入力モード時における、その入出力端子のレベルが安定し、出力モード時の貫通電流を低減させることができる終端抵抗回路を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing a fuel cladding tube capable of accurately obtaining the behavior of the fuel cladding tube in abnormal transient changes, by reproducing high power in the abnormal transient variation and a core environment at a high temperature, at high pressure, and in a high corrosive atmosphere.例文帳に追加

異常過渡変化時の高出力、高温・高圧及び高腐食雰囲気にある炉心環境を実験室レベルにおいて再現することにより、異常過渡変化時における燃料被覆管の挙動を正確に把握することができる燃料被覆管の試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

A control signal outputted to command a test from communication equipment arranged at the receiving point side of the communication path to be tested is received and decoded by an installation type testing device, and a control instruction corresponding to the control signal is transmitted to a communication controller arranged at a transmitting side.例文帳に追加

被試験通信路の受信ポイント側に配置された通信機から試験を指令するために発出された制御信号は、設置型試験装置により受信解読され、その制御信号に対応する制御命令が送信側に配置された通信制御装置に伝達される。 - 特許庁

One method may comprise the steps of: saving existing network configuration settings for at least one network interface of the network-capable device; receiving network configuration parameters from at least one configuration server; testing at least one network interface utilizing received network configuration parameters; and restoring the existing saved network configuration settings, if the step of testing determines that the received network configuration parameters are incorrect.例文帳に追加

1つの方法は、ネットワーク対応機器の少なくとも1つのネットワーク・インタフェースについての既存のネットワーク環境設定を保存するステップと、少なくとも1つの環境設定サーバからネットワーク環境設定パラメータを受け取るステップと、受け取ったネットワーク環境設定パラメータを利用して少なくとも1つのネットワーク・インタフェースをテストするステップと、テストするステップで受け取ったネットワーク環境設定パラメータが誤っていると判断された場合に、保存されている既存のネットワーク環境設定値に復旧するステップを含む。 - 特許庁

When a pulse rising time of an inverter pulse testing power source used when inspecting or diagnosing a motor is different from a rising time of a surge voltage observed in a motor terminal of an inspection diagnosis object at an inverter driving time, the magnitude ΔV of the surge voltage of the inverter pulse testing power source is heightened or lowered as much as a value necessary for applying a peak voltage Vm generated at the inverter driving time between motor winding turns.例文帳に追加

モータを検査又は診断する際に用いるインバータパルス試験電源のパルス立ち上がり時間が、インバータ駆動時に検査診断対象のモータ端子で観測されるサージ電圧の立ち上がり時間と異なる際には、モータ巻線ターン間にインバータ駆動時に発生するピーク電圧Vmを印加するのに必要な値だけ、前記インバータパルス試験電源のサージ電圧の大きさΔVを高くあるいは低くすることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a biaxial tensile testing device capable of tensile test in four directions along two axes intersecting with each other at right angles by a monoaxial tensile testing machine, performing its tensile motions synchronously in the four direction, and eliminating the need for complicated alignment along the four directions of the two axes as in a mechanism using four oil hydraulic cylinders.例文帳に追加

単軸の引張試験機によって直交する二軸に沿った四方向への引っ張り試験が可能となり、かつその引っ張り動作を四方向について互いに同期させて行うことができるとともに、従来のような、4台の油圧シリンダを用いた機構のように二軸の四方向に沿う面倒な軸合わせが不要となる二軸引張試験装置を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor testing device for logically comparing the plurality of outputs of a DUT with each expected value at the same timing and testing them, a solving means is provided with a latch means to latch and output the plurality of output of the DUT, a multiplexeer means for receiving the latched outputs and selectively output them, and a logical comparison means to logically compare the selected output with the expected value.例文帳に追加

DUTの複数出力と、各期待値とを同一タイミングで論理比較して試験する半導体試験装置において、DUTの複数出力をそれぞれラッチ出力するラッチ手段と、該ラッチ出力を受けて選択出力するマルチプレクサ手段と、該選択出力と期待値とを論理比較する論理比較手段とを設けた解決手段。 - 特許庁

The reference rotating speed SR is the rotating speed at which the DC motor cannot be rotated when the reference voltage SE is applied to the DC motor in a state of hot and cold water existing in the bathtub, and is the rotating speed lower than the testing rotating speed TR.例文帳に追加

基準回転数SRは、浴槽内に湯水がある状態で直流モータに基準電圧SEを印加した場合、直流モータが回り得ない回転数であって、試験回転数TRよりも低い回転数である。 - 特許庁

At the time of testing the communication path of a portion incorporated in the integrated circuit, a first communication path is formed in the communication path and the test is performed by making prescribed data to flow to the formed first communication path.例文帳に追加

集積回路における組込み部の通信路をテストする場合、所定の組込み部の通信路に第1の通信路を作成し、この作成された第1の通信路に所定のデータを流し、組込み部の通信路をテストするものである。 - 特許庁

To provide a wafer level packaging cap and its manufacturing method for preventing the damage of the connection part of a connection bar and a cap substrate at the time of testing temperature-proof performance, and for easily machining the connection hole of a wafer having a high cross-section rate.例文帳に追加

本発明は耐温度性能の実験時に接続棒とキャップ基板との連結部分の破損が発生せず、高断面比を有するウエハーの連結穴の加工が容易なウエハーレベルパッケージングキャップおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a unit module testing method, with which a setting error at the time of preparing test data to be used for a unit module test can be decreased and the visibility of the result of the unit module test can be improved.例文帳に追加

単体モジュール試験に使用する試験データの作成時における設定ミスを減少させることができ、かつ、単体モジュール試験の結果の視認性を向上させることができる単体モジュール試験方法を提供すること。 - 特許庁

例文

For recognizing or testing securities, a row vector (ZV) is generated on at least one face from a belonging section and the component of the row vector forms one synthetic value considering all the scanning values of sections (2.1 and 2.2).例文帳に追加

有価証券を認識しかつテストするために、少なくとも1つの面に所属の区間から、行ベクトル(ZV)を発生し、この行ベクトルの成分が、区間(2.1,2.2)の列のすべての走査値を考慮するそれぞれ1つの総合値をなす。 - 特許庁




  
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原題:”Creationism in the Science Curriculum?”

邦題:『科学のカリキュラムで創造説?』
This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide.

本翻訳は Ian Johnston : Creationism in the Science Curriculum? を日本語訳したものです。
翻訳は http://www.mala.bc.ca/~johnstoi/essays/creationism.htm に基づいています。
なお、この文書は著者によりパブリック・ドメインとして公開されています。
Copyright on Japanese Translation (C) 2004 Ryoichi Nagae 永江良一
本翻訳は、原著作を明示し、かつこの著作権表示を付すかぎりにおいて、訳者および著者に一切断ることなく、商業利用を含むあらゆる形で自由に利用し複製し配布することを許諾します。翻訳の改変を行うことも許諾しますが、その場合は、この著作権表示を付すほか、著作権表示に改変者を付加し改変を行ったことを明示してください。
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