「at testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

Further, the splice protecting tool 30 is applied for the splice 390 by positioning the splint 370 at the splice 390 and testing the resistance of the splice 390, and then thermally setting the spring 390 around the splice 390.例文帳に追加

さらにスプライス保護用具３０のスプライス３９０への適用方法は、スプリント３７０をスプライス３９０に位置決めし、スプライス３９０を耐性試験し、この後スプライス３９０のまわりのスプリント３７０を熱硬化するというステップで構成されている。 - 特許庁

To prevent shock on control mode switching and at the same time to prevent an actuator from starting operation unexpectedly immediately after the control mode switching even when an actuator drive signal generation means includes an integral element in a feedback control type material-testing machine.例文帳に追加

フィードバック制御式材料試験機において、アクチュエータ駆動信号発生手段が積分要素を含んでいる場合でも、制御モード切換時のショックを防止すると共に、制御モード切換直後にアクチュエータが意図しない動作を開始するのを防止する。 - 特許庁

A test signal infiltration preventive circuit 6 is provided between an input buffer 3 and the integrated circuit 1, and prevents the output signal coming from the 3-state buffer 4 from being fed to the integrated circuit 1 at testing the integrated circuit 1.例文帳に追加

テスト信号回り込み防止回路６は、入力バッファ３と集積回路１との間に配置され、集積回路１のテスト時に、スリーステートバッファ４からの出力信号が集積回路１に帰還されるのを防止するようになっている。 - 特許庁

When the control data for checking data are set, the testing data stored in data ROMs 124-1 to 3 are read out to check to see whether the data ROMs 124-1 to 3 are placed at the correct positions using the read out data and the data for confirmation.例文帳に追加

データチェック用の制御データが設定されると、データＲＯＭ１２４−１〜３に記憶されたテストデータが読み出され、これと確認用データとを用いて、データＲＯＭ１２４−１〜３が正しい位置に搭載されているか否かをチェックする。 - 特許庁

The testing member for optical films 10 is equipped with a base material 11 and a jointing material 12, laminated on one face 11a of the base material 11, characterized in that, at least either one of these base material 11 and the jointing material 12 has masking effect.例文帳に追加

光学フィルム用検査部材１０は、基材１１と、基材１１の一方の面１１ａに積層された接着部材１２とを備えており、基材１１および接着部材１２の少なくとも一方が遮光性を有することを特徴とする。 - 特許庁

A probe head for testing the properties of a semiconductor device (10) under test includes a dielectric film (24) supporting at least one semiconductor device (10) under test with a support frame (26) tautly supporting the dielectric film (24).例文帳に追加

テストを受ける半導体装置（１０）の特性をテストするためのプローブヘッドがテストを受ける少なくとも一つの半導体装置（１０）を支持する誘電体フィルム（２４）を含み、この誘電体フィルム（２４）を支持フレーム（２６）がぴんと張って支持する。 - 特許庁

The scanning tester 10 for printed circuit boards capable of performing a test at a location with a tight space on a printed circuit board 16 can be three-dimensionally moved and includes a desktop robot 12 with a testing head 14 provided over the circuit board 16.例文帳に追加

プリント回路板１６上の間隔が密な試験位置を試験することができるプリント回路板用走査テスタ１０は、３次元で移動でき、回路板の上方に設けられた試験ヘッド１４を有しているデスクトップのロボット１２を含む。 - 特許庁

To obtain a hose-mounting tool in a hydraulic shock pressure-testing machine for easily changing the mounting angle of a hose, at the same time easily performing angle adjustment operation, and improving the accuracy of a hydraulic shock test.例文帳に追加

ホースの取付け角度の変更を容易に行うことが出来ると共に、角度調整作業も容易に行うことが出来、油圧衝撃試験の精度を向上させることが出来る油圧衝撃圧力試験機におけるホース取付け治具を提供する。 - 特許庁

To execute an improved test with higher precision at higher speed, concerning a testing device of a semiconductor integrated circuit including an A/D conversion circuit or a D/A conversion circuit and a test method of the semiconductor integrated circuit using the device.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換回路またはＤ／Ａ変換回路を含んだ半導体集積回路の試験装置およびこれを用いた半導体集積回路の試験方法において、試験を、より高精度、より高速度で実行できるよう、改良する。 - 特許庁

If a semiconductor integrated circuit 3 under test has a less required number of terminals for tests, a plurality of testers corresponding to the semiconductor integrated circuit 3 under test one to one are used for testing a plurality of semiconductor integrated circuits 3 at once.例文帳に追加

試験対象となる半導体集積回路の、試験で必要とされる端子が少なかった場合に、半導体集積回路と一対一に対応づけられた複数の試験装置を用いて、複数の半導体集積回路を同時に試験する。 - 特許庁

The method and the device for data analysis according to various aspects are so constituted that a statistical outlier which includes a local outlier for showing an outlier in a subset of larger data population at testing data of a component can be identified.例文帳に追加

様々な局面に従ったデータ解析のため方法および装置は、より大きなデータ母集団のサブセットの中の外れ値を表す、局所的外れ値を含む、コンポーネントの試験データの中の統計的外れ値を識別するように構成される。 - 特許庁

To provide a technique for improving maintenance and inspection practices of a suction nozzle changing device which selectively positions one of a plurality of suction nozzles at a normal use position, and surface mounting equipment and component testing equipment equipped with the same device.例文帳に追加

複数の吸着ノズルのうちの１つを選択的に通常使用位置に位置決めする吸着ノズル変更装置、同装置を装備する表面実装機および部品試験機において、保守点検性を向上させる技術を提供する。 - 特許庁

Because of acquiring the measurement data from the existing measuring devices, the testing scenario and sequence can be easily produced at low cost with various communication protocols as targets without needing to construct a mechanism for acquiring measurement data of the various communication protocols.例文帳に追加

既存の測定器から測定データを取得するので、さまざまな通信プロトコルの測定データを取得するしくみを構築する必要はなく、さまざまな通信プロトコルを対象として、安価で容易に試験用シナリオおよびシーケンスを作成できる。 - 特許庁

Output of the write data DO 1 to 8 to the flash memory 1 is performed by using the input/output terminals IO 1 to 8 of the testing equipment 2, and the completion signal BUSY outputted from the flash memory 1 is monitored at the input/output terminal IO 9.例文帳に追加

フラッシュメモリ１に対する書込みデータＤＯ１〜８の出力は、試験装置２の入出力端子ＩＯ１〜８を使って行い、入出力端子ＩＯ９ではフラッシュメモリ１から出力される完了信号ＢＵＳＹを監視する。 - 特許庁

To provide a semiconductor IC contact structure suitable for testing a high frequency characteristic because its signal path is shorter than that of a conventional one, manufacturable at a low cost, and sufficiently applicable for a fine-pitch arrangement solder ball.例文帳に追加

従来よりも信号経路が短くて高周波特性の検査に適し、しかも安価に製作することができ、さらに、半田ボールの配列ピッチが微細なものでも十分に対応することができる半導体ＩＣのコンタクト構造を提供する。 - 特許庁

To provide an operation control method and a device which is provided with a semiconductor switching means for low-voltage load, capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and is capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる半導体開閉手段を備えた低圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

With this, by a simple operation of plugging in the change-over plug into the bridge connector, the connection of the second electronic part and the first electronic part is cut off, and at the same time, a third electronic part such as a testing device can be connected there with the second electronic part.例文帳に追加

これによって、切替えプラグをブリッジコネクタに差し込む簡単な操作により、第２の電子部と第１の電子部との接続を切り離すと共に、そこに試験装置などの第３の電子部を第２の電子部と接続することができる。 - 特許庁

This lightfast testing machine is constituted so that a plurality of light sources are provided to four wall surfaces of the chamber, a sample placing stand is provided in the chamber and reflecting mirrors are installed at four corners constituted by four wall surfaces so as to be turned to the central part of the chamber.例文帳に追加

チャンバーの４壁面に複数の光源を設け、チャンバー内に試料置き台を有する耐光性試験機において、４壁面が構成する４隅に反射鏡をチャンバー中央に向けて設置したことを特徴とする耐光性試験機。 - 特許庁

This rice ball packaging film is composed of a polylactic acid based polymer and has a storage elastic modulus E' at 120°C by the testing method relating to the temperature dependence of viscoelasticity on the basis of JIS K7198 of ≥100 MPa, and a coefficient of dynamic friction of 0.15-0.5.例文帳に追加

ポリ乳酸系重合体からなり、ＪＩＳ Ｋ７１９８に基づく動的粘弾性の温度依存性に関する試験方法における１２０℃での貯蔵弾性率Ｅ’は、１００ＭＰａ以上であり、動摩擦係数が０．１５〜０．５とする。 - 特許庁

To provide an in-plane shearing testing method for a rubbery elastic laminate capable of easily performing the laborary test of shearing fatique durability at a member level by a relatively simple tester to evaluate the same, and in-plane shearing test equipment therefor.例文帳に追加

部材レベルでの剪断疲労耐久性を比較的簡単な試験装置により室内試験で容易に行うことが出来ると共に、その評価をすることが出来るゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device which is provided with semiconductor switching means for calculation control for high-voltage load, capable of precisely and continuously tracking the load control value, without using industrial water and is capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる半導体開閉手段を備えた高圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

A line type environment tester 40 comprises a low- and high- temperature test tanks 42, 43 for testing a plurality of boards 1 with adapters at once during transporting of the boards housed in a transport box 20 via the test tanks.例文帳に追加

ライン型環境試験装置４０は低温試験槽４２および高温試験槽４３を備え、アダプタ付き基板１は一度に複数枚が搬送ボックス２０に収納された状態でこれらの試験槽を経由して搬送され、試験が行われる。 - 特許庁

When an external circuit is connected to the outside balls 2 of IC 1 by IC socket and testing is performed, a plurality of contact terminals 3 made of spherical conductive material are provided at the IC socket and these contact terminals 3 are disposed to press the outside ball.例文帳に追加

ＩＣソケットによってＩＣ１の外部ボール２に外部回路を接続し、試験を行なう際、ＩＣソケットに球形の導電材で作られた複数の接触端子３を設け、この接触端子３が外部ボール２に接圧されるよう構成する。 - 特許庁

Since the period of bubble economy, 'Kanji of the Year,' one Chinese character representing the social conditions of the year, have been announced every year at Kiyomizu-dera Temple under the auspices of The Japan Kanji Aptitude Testing Foundation on December 12, 'the day for Kanji' (however, the day may be shifted according to circumstances). 例文帳に追加

バブル期より毎年漢字の日の12月12日（ただし事情によりずれる場合もある）に、財団法人日本漢字能力検定協会主催によりその年の世相を漢字一字で表現する「今年の漢字」が清水寺で発表される。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To efficiently judge whether a semiconductor device is good or not without depending on the number of comparator pins provided at a tester regarding the semiconductor device having a structure which is suitable for efficiently testing a plurality of semiconductor devices.例文帳に追加

本発明は複数の半導体装置の試験を効率的に行う上で好適な構造を有する半導体装置に関し、テスターが備えるコンパレータピンの数に依存することなく、効率的な良否判定の実行を可能とすることを目的とする。 - 特許庁

The route of infection of the hepatitis virus varies and it is difficult to determine which individuals may possibly be infected. Therefore, everyone should undergo hepatitis testing at least once.例文帳に追加

肝炎ウイルスの感染経路は様々であり、個々人が肝炎ウイルスに感染した可能性があるか否かを一概に判断することは困難であることから、全ての国民が、少なくとも一回は肝炎ウイルス検査を受検する必要があると考えられる。 - 厚生労働省

To provide an electro-optical device and its test method, and electro-optical equipment, for easily testing an auxiliary wiring line at a low cost, and displaying a clear image for a long period of time without causing faults such as lighting unevenness.例文帳に追加

補助配線の検査を簡便かつ低コストにて行うことができ、点灯ムラ等の不具合が生じる虞が無く、鮮明な画像を長時間表示することができる電気光学装置及びその検査方法並びに電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can accurately correct skew at a DUT end, enabling complete skew for calibrating an input signal/output signal to all pins to be skew calibrated of a DUT and further confirm the timing accuracy of the input signal from a semiconductor testing unit, in a state in which the integrated circuit device is actually tested by the testing unit.例文帳に追加

ＤＵＴ端でのスキューを正確に補正可能とし、ＤＵＴのスキュー・キャリブレーション実施対象となる全ピンに対して入力信号／出力信号ともに完全なスキュー・キャリブレーションを可能とし、更に実際に半導体試験装置でテストをしている状態で半導体試験装置からの入力信号のタイミング精度の確認も可能とする半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for business mediation which comply with both demands of the manufacturing maker of semiconductor integrated circuit testing devices which wants to expand the business at 2 low cost while preventing technical information from flowing out to other companies of the same business and demands of an organization which wants to expand new business by improving the technical level while accumulating technologies regarding the semiconductor integrated circuit testing devices.例文帳に追加

競業他社への技術情報の流出を防いだ上で、低コストで事業展開の拡大を図りたい半導体集積回路試験装置の製造メーカの要求と、半導体集積回路試験装置に関する技術を蓄積しつつ技術レベルを向上させ新たな事業の展開を図りたい組織の要求とを両立することができるビジネス仲介システム及び方法を提供する。 - 特許庁

The testing device carrying out charge- or discharge testing for a sample includes first memory for sequentially overwriting oldest data with state information to execute loop recording if the state information acquired at given sampling time does not exceed a preset threshold value, and a second memory for sequentially recording state information if the state information exceeds a preset threshold value.例文帳に追加

試料に対して充電試験または放電試験を遂行する試験装置において、一定のサンプリングタイムで取得した状態情報が予め設定された閾値を超えない場合に、最も古いデータに対して状態情報を順次上書きしてループ記録する第一メモリと、状態情報が予め設定された閾値を超えた場合に、状態情報を順次記録する第二メモリとを備える試験装置とする。 - 特許庁

Communication which is established based on data communication between a mobile terminal and a mobile electric communication network is audited passively, so that precisely accurate correction can be realized, and an information signal being the base of the communication is at least partially sampled and evaluated by a testing device, and it is proposed that a reference frequency unit integrated into the testing device should be corrected based on this evaluation.例文帳に追加

きわめて正確な較正を実現するために、本発明は、移動端末と移動電気通信網との間のデータ通信に基づいて確立された通信を受動的に聴取し、通信の基礎となる情報信号を、試験装置によって少なくとも部分的にサンプリングして評価し、この評価に基づいて、試験装置に組み込まれた基準周波数ユニットを較正することを提案する。 - 特許庁

An MPU 8 watches the state of an ejecting button 5 under the condition that a test compact disk is not loaded at startup, and when it is detected that the ejecting button 5 is pushed continuously or multiply within a prescribed period of time, the optical disk device 1 is laid under a testing operation.例文帳に追加

ＭＰＵ８は起動時にテスト用のコンパクトディスクが搭載されていない状態でイジェクト釦５の状態を監視し、所定時間内に連続又は多重にイジェクト釦５が押されたことが検出されると、光ディスク装置１は試験動作状態となる。 - 特許庁

A solder wettability testing apparatus comprises a holding member 3 inserted into an inner cylinder of a cylindrical component 2 and having a central hole 3a and a slit 3c provided as gassing passages so as not to store a gas of the flux in the component 2 at the time of dipping in the solder tank.例文帳に追加

筒状部品２の内筒に挿入されて当該部品を保持する保持部材３において、はんだ槽への浸漬時に筒状部品２の内部にフラックスのガスが溜まらないように、ガス抜き用通路としての中心孔３ａ、スリット３ｃを設ける。 - 特許庁

The hot-cold shock testing device includes first control means for stopping at least one of the refrigerator, the first heater and the second heater to start a test interruption before starting the next hot-cold cycle operation after the end of the high temperature exposure state.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置は、高温さらし状態が終了した後、次の冷熱サイクル動作を開始する前に、冷凍機、第１加熱器および第２加熱器のうちの少なくとも１つを停止させて試験の中断を開始する第１制御手段を備える。 - 特許庁

In the LSI tester for testing whether an LSI for outputting an analog signal waveform is good or not, at least a part of an arithmetic processing part for processing an output signal from an LSI to be tested (DUT) is configured by logical synthesis based on an FPGA.例文帳に追加

アナログ信号波形を出力するＬＳＩの良否をテストするＬＳＩテスタにおいて、被測定対象ＬＳＩ(ＤＵＴ)の出力信号を処理する演算処理部の少なくとも一部がＦＰＧＡによる論理合成で構成されたことを特徴とするもの。 - 特許庁

To conduct tests continuously for reduction in testing time by identifying a dummy test signal at the time of operational test of an electronic circuit breaker formed so as to incorporate energization heat history properties into overcurrent tripping properties, thereby temporarily releasing the energization heat history properties.例文帳に追加

過電流引外し特性に通電熱履歴特性を取り入れるようにした電子式回路遮断器の動作テスト時に擬似テスト信号であることを検知して一時的に通電熱履歴特性を解除して、連続テストを可能してテスト時間の短縮をはかる。 - 特許庁

In an SDRAM chip 60, two signal generating circuits 63, 64 are provided corresponding to two testing circuits 61, 62 provided at both ends of a rectangular semiconductor substrate 60a, and the circuits 63, 64 are respectively provided near the circuits 61, 62.例文帳に追加

ＳＤＲＡＭチップ６０において、長方形の半導体基板６０ａの両端部に設けられた２つのテスト回路６１，６２に対応して２つの信号発生回路６３，６４を設け、信号発生回路６３，６４をそれぞれテスト回路６１，６２の近傍に設ける。 - 特許庁

The metallic microsphere preferably shows a deformation resistance of ≤3,500 mN for a displacement magnitude of 10% when measured at room temperature using a micro compression testing machine comprising an upper trapezoid diamond indenter and a lower pressure plate made of an SKS plate.例文帳に追加

また、本発明の金属微小球は上部台形型ダイアモンド圧子とＳＫＳ平板である下部加圧板とからなる微小圧縮試験器を用い、室温において測定した際の変位量１０％における変形抵抗が３５００ｍＮ以下であることが好ましい。 - 特許庁

To provide an inspection system which stores SPD data stored in a personal computer to an inspection device which cannot be connected to the personal computer in a short time, to improve the operation efficiency in testing a substrate such as DIMM, and which can be constructed at low cost.例文帳に追加

パソコンに保存されたＳＰＤデータをパソコンに接続できない検査装置に保存する作業を短時間で簡単に行い、ＤＩＭＭ等の基板検査の作業効率を向上させることができる低コストで構築可能な検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a driving testing apparatus capable of accurately conforming phase synchronization of a rotary driving unit with that of an object driving apparatus to surely collide, with a high success rate, a projection object with specified one out of a plurality of objects rotated at high speed.例文帳に追加

回転駆動装置と物体打込機器の位相同期を正確に合わせることができ、これにより高速回転する複数の対象物のうち特定の１つに、投射物を高い成功率で確実に衝突させることができる打込み試験装置を提供する。 - 特許庁

In the filter holder 6, the inner diameter of a gas flow passage is gradually increased from the upstream side to the downstream and is throttled to a small diameter near the downstream for generating turbulence in the high-temperature gas flow, and at least a filter 81 for testing is set to the region where the turbulence cannot be extinguished.例文帳に追加

フィルタホルダ６では、上流から下流にかけてガス流通路の内径を順次大きくし下流近傍で小径に絞って高温ガス流に乱流を起こし、その乱流の消滅しない領域に少なくとも前記試験用フィルタ８１をセットする。 - 特許庁

The apparatus for testing the model structure, for example, measures a variation in pressure occurring when the model mobile object 1 passes through the model structure 2 and also measures a stream of air occurring at the aperture 2e when the model mobile object 1 passes through the model structure 2.例文帳に追加

試験装置は、例えば、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに発生する圧力変動を測定したり、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに開口部２ｅから発生する気流を測定したりする。 - 特許庁

To provide a high-reliability IC testing device by using a semiconductor relay, and to provide a semiconductor integrated circuit enabling a high speed test by applying a voltage to terminals to suppress the capacity between output terminals at the off-time of the semiconductor relay.例文帳に追加

半導体リレーを用いることで、信頼性の高いＩＣ試験装置を提供すること及び、半導体リレーがＯＦＦ時に端子に電圧を印加し、出力端子間容量を抑えることで、高速な試験を可能とする半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

This red-corpuscle reagent for testing blood-group antibodies in blood is characterized in that red corpuscles are suspended in an aqueous medium including a gelatinizer, and gelated by being refrigerated to keep a solid form while returning to a liquid state at use temperatures.例文帳に追加

血液中の血液型抗体を試験するための赤血球試薬であって、ゲル化剤を含む水性媒質中に赤血球を懸濁させ、冷蔵保存によりゲル化して固形を維持する一方、使用時の温度では液状に復帰することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a belt-type tire testing machine of a simple constitution, capable of performing tests even at large steering angles and forming snow and ice surfaces in a short time by a reduced amount of energy for cooling, in tests on snow and ice surfaces.例文帳に追加

本発明は、簡素な構成で、大きな操行角度でも試験が行うことができ、また、氷雪面での試験においても、冷却するためのエネルギーが少なく、且つ短時間で氷雪面を形成できるベルト式タイヤ試験機を提供することを目的とする。 - 特許庁