「at testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a vehicle traction mechanism of a collision testing device, capable of preventing a wire rope from being projected to a camera set inside a pit and suppressing the traveling speed change of a test vehicle at and after a point of time when its being cut off from the wire rope.例文帳に追加

ピット内にセットしたカメラにワイヤロープが映ることを防止し、ワイヤロープから切り離した時点以降のテスト車両の走行速度変化を抑制することが可能な衝突試験装置の車両牽引機構を提供する。 - 特許庁

The fibrils extending from the fibrillated rayon are interlaced with at least either of other fibril and other fiber, and the fiber sheet has a dry surface-friction strength of ≥3 times when measured by the JIS P-8136 abrasion resistance testing method.例文帳に追加

前記フィブリル化レーヨンから延びるマイクロファイバーが、他のマイクロファイバーと他の繊維の少なくとも一方に交絡して、繊維シートはＪＩＳ Ｐ８１３６の耐摩耗強さ試験方法における乾燥時の表面摩擦強度が３回以上である。 - 特許庁

To perform a strength test by a testing device with a simple configuration, which loads pressure at a state close to a situation that a gate is actually used to a flat plate structure which receives hydraulic pressure of a gate, etc. in a water gate, a sluice gate, and a sluice pipe.例文帳に追加

水門、樋門、樋管におけるゲート等の水圧を受ける平板構造体に対し実際にゲートが使用される状況に近い状態での圧力を載荷する簡易な構成の試験装置により強度試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device wherein a control means which is substantially equivalent to a control signal to be stored in a WCS memory which controls the generation of a test pattern provided at an ALPG is provided outside the WCS memory.例文帳に追加

ＡＬＰＧが備える試験パターンの発生を制御するＷＣＳメモリに格納すべき制御信号と、実質的に等価な制御手段を、当該ＷＣＳメモリ外に備えるＡＬＰＧとする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a urine testing device that is of simple constitution, can be fitted to an existing toilet stool that has become widely used at homes, and prevents storage liquid from leaking, from a storage liquid container when a sensor is to be dipped into the storage liquid, when no measurement is being made.例文帳に追加

簡易な構成で、また家庭に一般的に普及している既存の便器に装着可能で、センサを非測定時に保存液に浸漬させられるときに保存液が保存液容器から漏れない尿検査装置を提供する。 - 特許庁

The method of testing the superconductive cable line comprises: continuously energizing a direct current of a prescribed energization pattern by a power supply 60 to the superconductive cable line having joints 30A-30C; and evaluating the integrity of each joint by measuring temperatures at each joint.例文帳に追加

接続部30A〜30Cを有する超電導ケーブル線路に電源60により連続的に所定の通電パターンの直流電流を通電し、各接続部における温度を測定することにより各接続部の健全性を評価する。 - 特許庁

Also, a reference level is fixed and a pulse potential given to a plate line PL is adjusted by a potential generating circuit 2 at the testing time, and the quantity of read-out electric charges from a memory cell is reduced, so that the read-out margin of a memory cell is reduced intentionally.例文帳に追加

または、リファレンスレベルを固定して、テスト時に電位発生回路２によりプレート線ＰＬに与えるパルス電位を調整し、メモリーセルからの読み出し電荷量を小さくして、メモリーセルの読み出しマージンを意図的に少なくする。 - 特許庁

To provide a means capable of easily executing sampling of the impoved soil located at a required positon of an improved column body and easily making a spciment to be used for testing the improved soil without changing any condition of the improved soil.例文帳に追加

改良柱体の所望の位置にある改良土のサンプリングを簡便に行い、また、改良土の状態を変化させることなく改良土の試験に用いるべき供試体を容易に作製することができる手段を提供する。 - 特許庁

The test voltage 32 for testing the reliability of defect recognition at a predetermined level, duration, and frequency is applied to a fixed spark gap, and the pulse driving test voltages are generated by the high voltage generator 30 of the discharge tester.例文帳に追加

所定のレベルと持続時間と周波数での欠陥認識の信頼性を試験する試験電圧３２を固定スパークギャップに印加し、これらのパルス駆動試験電圧を放電試験器の高電圧発生器３０により生成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing apparatus for generating a pulse (application waveform or the like) at a different period without using a number of timing memories for storing a timing set to a DUT having a plurality of ports of a different period (frequency).例文帳に追加

周期（周波数）の異なる複数ポートを持つＤＵＴに対して、タイミングセットを格納するタイミングメモリを多数使用することなく、異なる周期のパルス（印加波形等）が発生可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the transmission time of parameters to respective semiconductor devices to be tested in a semiconductor device testing apparatus setting parameters of different values to individual semiconductor devices to be tested to test a plurality of the semiconductor devices to be tested at the same time.例文帳に追加

被試験半導体デバイスの各個に異なる値のパラメータを設定して同時に複数の被試験半導体デバイスを試験する半導体デバイス試験装置において、各被試験半導体デバイスにパラメータを転送する時間を短縮する。 - 特許庁

The on-chip circuit and the testing method can evaluate deterioration of a cell transfer device by a MOSFET deterioration mechanism that becomes active at the time of electric charge transfer or storage in an operating state or burn-in state.例文帳に追加

このオン・チップ回路およびテスト方法は、電荷転送の際および動作状態またはバーン・イン状態のもとでの記憶の際にアクティブになるＭＯＳＦＥＴ劣化メカニズムによるセル転送デバイスの劣化を評価することを可能にする。 - 特許庁

To provide a method for deciding necessity for exchanging a dialysis device by testing clearance of the dialysis device in a simple and reliable at- home blood dialysis system requiring minimum labor of a patient by automating all processes.例文帳に追加

全過程を自動化し最小の患者労力で簡単で信頼性のある在宅用血液透析システムにおいて透析器のクリアランス試験を行い前記透析器の交換の必要性を決定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a data transmission device and an input/output interface circuit with a jitter transmission circuit, capable of testing for jitter tolerance in data transmission/reception at the time of a mass production test and of improving a fault detection rate.例文帳に追加

量産試験時にデータ送受信におけるジッタトレランスについて試験することができ、故障検出率の向上を図ることができるデータ送信装置およびジッタ送信回路を備える入出力インタフェース回路を提供する。 - 特許庁

To provide a signal measuring device capable of simultaneously achieving, at high levels, a plurality of items of performance such as DC performance, noise performance, strain performance or spurious performance, and a semiconductor testing device with the signal measuring device.例文帳に追加

ＤＣ性能、ノイズ性能、歪み性能、スプリアス性能等の複数の性能を高いレベルで同時に満足することができる信号測定装置、及び当該信号測定装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Further, since an immersion testing ultrasonic probe 6 is provided, the thickness when a normal echo is generated is obtained from a CRT monitor 13 of an ultrasonic thickness meter 8, and data obtained from the RFEC method at its position is constituted.例文帳に追加

さらに、水浸法超音波探触子６を設けてあるので、超音波厚み計８のＣＲＴモニタ１３から、正常なエコーが生じているときの厚みをもとめ、その位置でＲＦＥＣ法から得られるデータを構成する。 - 特許庁

To provide a method and a device for insulation testing, which make it possible to inspect all defect parts where sounding winging coils are abnormally close to laminate coarse (at intervals of <1 mm) through nondestructive inspection in a mass-production process.例文帳に追加

健全な巻線コイルがラミネートコアに異常接近（１ｍｍ以内）した状態にある欠陥部分を、非破壊検査により量産工程で全数検査を可能にした絶縁試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The coating amount of the microcapsules is in the range of 1-50 g/m^2, and the smoothness of the surface coated with the microcapsules is set at 20-600 sec when tested by a smoothness testing method using a Beck tester described in JIS-P8119.例文帳に追加

マイクロカプセルの塗工量は１ｇ／ｍ^2から５０ｇ／ｍ^2の範囲にあり、マイクロカプセルの塗工面の平滑度がＪＩＳ−Ｐ８１１９記載のベック試験器による平滑度試験方法で２０〜６００秒の範囲に設定する。 - 特許庁

In an apparatus and a method in which a tilted strand connection part 22 in a small electric component 23 is tested, a testing tool 21 which can be moved simultaneously along two mutually orthogonal exes in a direction at right angels to the direction of a strand is provided.例文帳に追加

小型電気素子における傾斜したストランド接続部を試験するための装置および方法は、ストランドの方向に直交する方向に互いに直交する２軸に沿って同時に移動可能な試験工具を備えている。 - 特許庁

The testing system executes a ground fault test on the plurality of ground fault direction relays 135_1-135_3 by opening at least one of the first-third switches 11_1-11_3 to break the balance of anti-ground electrostatic capacity of the plurality of power distribution lines 102_1-102_3.例文帳に追加

第１乃至第３のスイッチ１１_1〜１１_3の少なくとも１つを開いて複数の配電線１０２_1〜１０２_3の対地静電容量のバランスを崩すことにより、複数の地絡方向継電器１３５_1〜１３５_3の地絡試験を行う。 - 特許庁

Thus, it is possible to perform the diversion of an equipment side cable 11 or a case body itself at the time of updating the monitor controller main body 30, and to reduce any design work, job site installing work, or control testing work or the like.例文帳に追加

これにより、監視制御装置本体３０の更新時における機器側ケーブル１１や筐体そのものの流用を可能すると共に、設計作業、現地据付け作業及び調整試験作業等が削減できるようにする。 - 特許庁

To provide an analysis method of optical path characteristics, a test system of an optical path, and a monitoring system of an optical path test, capable of highly precisely evaluating losses at optical path connections even by optical pulse testing from one-end sides.例文帳に追加

片側端からの光パルス試験でも光線路の接続点の損失を高精度で評価することができる光線路特性の解析方法及び光線路試験システム及び光線路試験監視システムを提供する。 - 特許庁

In the vibration testing method, a head part of a rail at a joint part where rail bonds are together joined is beaten by a beat part so as to cause a vibration approximating to a vibration occurring in the joint part to repetitively occur in the rail when a train passes thereover.例文帳に追加

この振動試験方法は、レールボンドを接合した継目部におけるレールの頭部を連打部によって、列車通過時に前記継目部で発生する振動と近似した振動をレールに繰り返し発生させるように連打する。 - 特許庁

To provide a bus-bar protection relay device which reduces a power interruption range smaller than that of a conventional device at the occurrence of a bus-bar accident when the bus-bar protection relay device of a power plant is not in use because of maintenance and testing, and a bus-bar protection method.例文帳に追加

変電所の母線保護継電装置を点検や試験のため不使用中における母線事故発生時に従来より停電範囲を縮小する母線保護継電装置と母線保護方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing semiconductor integrated circuits capable of measuring the frequency characteristics of the power current of an object to be measured at any timing regardless of whether a test pattern is impressed onto the object to be measured or not.例文帳に追加

被測定対象に対して試験パターンを印加しているか否かに拘わらず、任意のタイミングで被測定対象の電源電流の周波数特性を測定することができる半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

At the time of testing a circuit 40, test control information is inputted externally to a test interface circuit 14 and set in the scan register 41 of circuit modules 21-24 to be tested through a test signal chain 20.例文帳に追加

被テスト回路（４０）のテストを行なうとき、外部からテストインタフェース回路（１４）にテスト制御情報を入力し、テスト対象回路モジュール（２１〜２４）のスキャンレジスタ（４１）にテスト信号チェーン（２０）を介してテスト制御情報をセットする。 - 特許庁

A testing means is directly connected to two auxiliary electrodes arranged at a predetermined distance from the pylon, and an electric current measuring means installed around the footings of the pylon for measuring electric currents flowing along the footings.例文帳に追加

試験用手段は、鉄塔から所定の距離をおいて配置された２つの補助電極と、基礎に沿って流れる電流を測定するために鉄塔の基礎の周りに設置された電流測定手段とに直接接続される。 - 特許庁

To solve the problem that in a conventional self test, AD and DA converting circuits to be tested are used for testing and calibrating them at a low cost, while whether the self test method has a desired linearity or not can not be decided correctly when the converting circuits have opposite error characteristics mutually.例文帳に追加

ＡＤ変換回路およびＤＡ変換回路のテストおよび較正を低コストに実施するため、被測定対象であるＡＤ変換回路とＤＡ変換回路を互いに利用したセルフテスト方式が提案されている。 - 特許庁

At the stage of testing, research and technological development, collaborations with central and local government- affiliated industry support organizations are common, which can be explained by the fact that industry support organizations serve as the initial contact, enabling companies to locate partners that are most suitable for product development.例文帳に追加

次に試験研究・技術開発といった段階では、国や自治体の産業支援機関との連携が多い。このことは、まず、産業支援機関が窓口となり、商品開発に最適な相手を見つけている可能性がある。 - 経済産業省

National and local government shall request the relevant parties, including personnel in charge of health care at work sites, health care insurers and business operators, to continuously recommend hepatitis testing to workers in cooperation with other relevant parties.例文帳に追加

あわせて、職域において健康管理に携わる者や、医療保険者、事業主等の関係者の理解と協力の下、引き続き、これらの関係者から、労働者に対する受検勧奨が行われるよう要請する。 - 厚生労働省

However, this sharpness is only demonstrated by cutting with the optimal angle, so, setting aside testing sharpness by bringing Katana down to a body at rest, it is virtually impossible to cut always with the optimal angle against someone moving around in an actual fight. 例文帳に追加

尤も、この切れ味は最適な角度で切り込んでこそ発揮できるもので、静止物に刀を振り下ろす試し斬りならともかく、実戦で動き回る相手に対し常に最適の角度で切り込むのは至難の業である。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a cutting testing machine capable of producing a result efficiently in the shortest period of time even when enormous manhours cannot be secured to provide an optimum working condition of a working surface small in surface roughness and clean and at the lowest cost.例文帳に追加

表面粗さが小さい、きれいな加工面の最適加工条件を得るために、膨大な工数が確保できなくても効率良く最短の時間で、かつ、最小のコストで結果を出すことができる切削試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a seal mechanism which makes seal mechanisms at both ends of a fuel cladding tube have wide gaps so as to be remotely controlled when attaching the fuel cladding tube to a testing machine by remote control, and capable of closing the gaps and allows the slide of the fuel cladding tube on a sealing surface at the time of a high-temperature and a high-pressure test.例文帳に追加

燃料被覆管を遠隔操作により試験機に装着する際は、燃料被覆管の両端部のシール機構は遠隔操作が可能なように広い間隙を有し、高温高圧試験時には当該間隙が閉じるとともにシール面での燃料被覆管の摺動を許容するシール機構を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for evaluating material separation resistance at the fresh time of high fluidity concrete capable of easily performing quantitative evaluation with only simple equipment and a device at both of a working site and a laboratory.例文帳に追加

簡単な器具ないし装置を用いるだけで、試験室及び工事現場のいずれにおいても容易に実施することができ、コンクリートの材料分離抵抗性に関する定量的な特性評価が可能な、高流動コンクリートのフレッシュ時における材料分離抵抗性を評価するための試験方法を提供する。 - 特許庁

The ion conductive polymer composition whose value of scorching T5 (min) at 130.0°C±0.5°C is 1.5 to 20 in a Mooney scorch test in an unvulcanized rubber physical testing method mentioned in JIS K6300, and also, whose Mooney viscosity ML(1+4) at 100°C is 5 to 95 is extruded from an extrusion machine and continuously vulcanized.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ６３００記載の未加硫ゴム物理試験方法中のムーニースコーチ試験において１３０．０℃±０．５℃におけるスコーチＴ５（分）の値が１．５以上２０以下であり、かつ、１００℃におけるムーニー粘度ＭＬ（１＋４）が５以上９５以下であるイオン導電性ポリマー組成物を、押出機から押し出しながら連続加硫する。 - 特許庁

To quickly and flexibly narrow down any problematic operation and an object being the factor of the problematic operation without depending on the source code of an object mounted on a system and the hardware and OS of the system at the time of tracking an object being the factor of any problematic operation at the time of testing this system.例文帳に追加

システムの試験時に、問題となる動作を起こしたオブジェクトを追跡する場合において、システムに実装されたオブジェクトのソースコードおよびシステムのハード、ＯＳ等に依存せずに、問題となる動作および問題となる動作の原因となるオブジェクトの迅速かつ柔軟な絞り込みを可能とすること。 - 特許庁

To improve reliability of laminated PTC thermistors, and stabilize changes with the passage of time of its resistance at room temperature in an electrification testing, in the laminated PTC thermistor, where an external electrode is formed at the opposite ends of a ceramic base structure obtained by alternately laminating and integrally calcining an internal electrode and a semiconductor ceramic layer.例文帳に追加

内部電極と半導体セラミック層とを交互に積層して一体焼成して得られるセラミック素体の両端面に外部電極が形成されてなる積層型ＰＴＣサーミスタにおいて、積層型ＰＴＣサーミスタの信頼性の向上、具体的には通電試験における室温抵抗の経時変化を安定させる。 - 特許庁

The gaseous corrosion testing device is such that each set value of temperature, humidity and corrosion gas concentration, at which dew is not formed on the wall surface of the test tank, is set in at least one condition, and the hygrothermal cycle test is performed in which the tests under the set condition are repeated, at each predetermined temperature transition time once or in combination of a plurality of number of times.例文帳に追加

この発明は、ガス腐食試験機において、試験槽の壁面に結露を発生させないようにする温度と、湿度と、腐食ガスの濃度との設定値を各々少なくとも１つの条件で設定し、設定した条件の試験を１回または複数回組合せて所定の温度移行時間ごとに繰り返す温湿度サイクル試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁

Further, in the glossy paper constituted by providing a gloss developing layer at least on one side of a sheetlike base material, "the friction force measured under a specific condition using the abrasion testing machine" of the surface of the gloss developing layer is 2.5 gf or below.例文帳に追加

また、本発明の光沢紙は、シート状の基材の少なくとも片面に光沢発現層を有する光沢紙において、該光沢発現層の表面の「上記摩耗試験機を用いて特定条件下で測定した摩擦力」が２．５ｇｆ以下である。 - 特許庁

In addition, oil removed from the transmission, after testing moves the oil pan is always stored at a fixed side to a lower part of the transmission to be fixed, and attachment and detachment of the oil pan adhering oil are enabled in a simple manner, in a short time.例文帳に追加

また、試験後の変速機からの油抜きも、常時固定側に収納されたオイルパンを変速機の下部に移動させて固定することで可能となり、油の付着したオイルパンの取り付け、取外しも短時間で簡単に可能となるものである。 - 特許庁

To improve the arithmetic precision of an equivalent operation in a control amplifier equivalence testing device for performing the same action as that at the time of driving an induction motor by a VVVF inverter, and for outputting an equivalent electric signal to the control amplifier of a VVVF inverter.例文帳に追加

ＶＶＶＦインバータで誘導電動機を駆動する時と同じ作用を行い、等価な電気信号をＶＶＶＦインバータの制御アンプに出力する制御アンプ等価試験装置において、等価動作の演算精度を向上させる事にある。 - 特許庁

To provide an in-situ permeability testing device which can measure in-situ coefficients of permeability of a rolled ground stratum quickly, easily, and at multiple points, and can control water permeability necessary for earth materials with good accuracy, and to provide an in-situ permeability measuring system.例文帳に追加

圧地盤層の透水係数を原位置で迅速・簡易かつ多点的に計測することができ、材料の要求される透水性能を精度良く管理することができる原位置透水試験装置および原位置透水性計測システムを提供する。 - 特許庁

In a material testing machine body 100, a load is applied to a specimen by a load device 101a, and a test force or a displacement at that time is detected by a load cell 101b and a displacement gage 101c, and the detection result is outputted to a control device 103.例文帳に追加

材料試験機本体１００は、負荷装置１０１ａによって供試体に負荷を与え、そのときの試験力あるいは変位量をロードセル１０１ｂおよび変位計１０１ｃで検出し、検出結果を制御装置１０３へ出力する。 - 特許庁

To provide a biological testing apparatus which makes a living tissue minimize to attenuate a light intensity and an elastic wave, can irradiate an object at a high efficiency with light energy below MPE, and can detect an elastic wave in a high S/N ratio.例文帳に追加

生体組織による光強度と弾性波の減衰を最小限に抑え、被検体にＭＰＥを超えない光エネルギーを高効率に照射することができ、高いＳ／Ｎで弾性波が検出可能となる生体検査装置を提供する。 - 特許庁

In processes IV, V, a bar code of a component a is read in with bar code reading means 4d, 4e, and at the same time, a characteristics test is made with a characteristics testing means 7a, 7b, whose result is registered in the data base DB in coordination with an ID shown in the bar code.例文帳に追加

工程IV、Ｖでは、バーコード読取手段４ｄ，４ｅで部品ａのバーコードを読み取るとともに、特性検査手段７ａ，７ｂで特性検査を行い、その検査結果をバーコードで示されるＩＤに対応付けて、データベースＤＢに登録する。 - 特許庁