at testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 872件
To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing at desired timing a delay time or an operation speed of an internal circuit without being affected by a floating capacity or the like in a measuring system.例文帳に追加
測定系における浮遊容量等の影響を受けずに、内部回路の遅延時間又は動作速度を所望のタイミングで試験することができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
To provide a method for testing an integrated circuit capable of accurately performing an operation test of the integrated circuit even when the integrated circuit operates at a low voltage or a high frequency.例文帳に追加
集積回路の動作が低電圧化や高周波数化した場合でも、当該集積回路の動作テストを正確に行うことができる集積回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a testing instrument with an upper plate having matched impedance circuit trace to transmit a test signal to a tester in a test at a position with high frequency in a printed board.例文帳に追加
プリント回路基板にある高周波数の場所におけるテストで、テスタにテスト信号を伝送するため、整合インピーダンス回路トレースを有する上端プレートを含むテスト用器具である。 - 特許庁
To provide a diversity evaluation signal generating device capable of testing receiving diversity at low cost by enabling generation of test signals of a plurality of systems with one signal generator.例文帳に追加
1台の信号発生器で複数系統の試験信号を発生可能とすることにより、受信ダイバーシティの試験を低コストで行えるダイバーシティ評価信号発生装置を提供すること。 - 特許庁
The voltage regulator circuit, capable of regulating voltages at a plurality of voltage sources has a testing control unit, a multiplexer, a comparator and a BIST (built-in self test) unit.例文帳に追加
電圧調整回路として、試験制御装置とマルチプレクサとコンパレーターとBIST装置とを備える、複数の電圧源の電圧を調整できる電圧調整回路を用いる。 - 特許庁
To provide a system and a method for automatically testing an apparatus which can automatically judge whether a relay or a breaker in grounding direction has operated normally at occurrence of grounding in a wireway.例文帳に追加
電線路における地絡発生時などに地絡方向継電器や遮断器が正常に動作したか否かを自動的に判定できる機器自動試験システムおよび方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for testing the toxicity of cells, in which the cell activity of cultured cells is directly, singly and accurately measured and the quantification of the toxicity of chemical substances to be subjected to toxicity test is carried out at high precision.例文帳に追加
培養細胞の細胞活性を直接、1個1個、正確に計測し、被毒性試験化学物質の毒性を高い精度で定量化できる細胞毒性試験方法を提供する。 - 特許庁
To achieve a highly reliable test by enabling to test at the most suitable operating ratio to a circuit margin of an circuit to be tested with an excellent efficiency against an electric power source noise in a short testing period of time.例文帳に追加
電源ノイズに対応して効率良く、短い試験時間で、被検査回路の回路マージンに最適な動作率で試験を行うことを可能とし、信頼性の高い試験を実現する。 - 特許庁
To provide a suction device for an electronic component testing device capable of ensuring a uniform pushing pressure at the time of pressing an electronic component to be tested in an adhered state by suction against the contact part of a test head.例文帳に追加
被試験電子部品を吸着した状態でテストヘッドのコンタクト部へ押し付ける際の押圧力を均一化できる電子部品試験装置用吸着装置を提供する。 - 特許庁
To prevent deviation of a wind test model from a wind tunnel measuring part, to mitigate restriction of a test range, and to reduce a transient phenomenon at the free flight shifting time, concerning a dynamic wind runnel testing device and a method.例文帳に追加
動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁
To prevent an overvoltage from being applied to a load and facilitate wire connection work at the time of testing by detecting a state of phase interruption of a neutral line extending from a power source to a load connection point.例文帳に追加
電源から負荷接続点に達する中性線路の欠相状態を検出して、負荷への過電圧印加を防止すると共に、試験する際の結線作業を容易にする。 - 特許庁
Two timings are generated at a prescribed interval n2 which is shorter than 1/2 of a minimum cycle as the lower limit of an operating cycle so as to correspond to the operating cycle of this semiconductor testing apparatus.例文帳に追加
半導体テスト装置の動作周期のそれぞれに対応させて、動作周期の下限である最少周期nの1/2より短い所定間隔n2で2つのタイミングを発生させる。 - 特許庁
To provide a high-function semiconductor device testing jig at low cost even if the number of pins of the device is increased, and capable of minimizing decline of measuring accuracy caused by mutual interference of wiring.例文帳に追加
デバイスのピン数が増加しても、低コストで、配線の相互干渉による測定精度の低下を最小限にとどめることのできる、高機能半導体デバイス試験治具を提供する。 - 特許庁
The cylindrical actuator 50 elevates a working body 40 being provided at the lower portion of the movable base 20, and applies a load for testing to an aircraft leg being mounted to the lower surface of the working body 40.例文帳に追加
シリンダー式アクチュエータ50は、可動ベース20の下方に設けられた作動体40を昇降させ、作動体40の下面に取り付けられた航空機脚に試験用の荷重を付加する。 - 特許庁
The BIST unit receives the selection commanding signal and outputs the enable signal, and at the same time, regulates the output voltage of the testing voltage source to a predetermined level, on the basis of the compared result.例文帳に追加
BIST装置は選択指示信号を受信してイネーブル信号を出力にすると共に、比較結果に基づいてテスト電圧源の出力電圧を所定の電圧に調整する。 - 特許庁
To provide an electromagnetic excitation fatigue testing device targeting a mold material of a ground coil in a superconducting magnetically levitated railroad and utilizing a superconducting magnet magnetic field that is excited at an optional frequency.例文帳に追加
超電導磁気浮上式鉄道の地上コイルのモールド材を対象に、任意の周波数での加振が可能な超電導磁石磁場を利用した電磁加振疲労試験装置を提供する。 - 特許庁
To collect a series of test data from the start to the end of a test at a fixed sampling rate irrespective of length of testing time.例文帳に追加
試験時間の長さに関係なく、試験開始から終了までの試験データを、一定のサンプリングレートで収集することが可能な試験装置及び試験データの収集方法を提供する。 - 特許庁
This semiconductor integrated circuit 201 mounted on the board 100 comprises a normal circuit part composed of an internal logic part 113 and a circuit part 231 operating at the time of testing.例文帳に追加
基板100に実装された半導体集積回路201は、内部ロジック113からなる通常の回路部分とテスト時に動作する回路部分231から構成されている。 - 特許庁
At this stage, you are introduced to GlassFish testing functionality that is available from the IDE.Finally, you create a Java application that connects to the web service to display the images in an album created from Swing components.例文帳に追加
この段階では、IDE から利用できる GlassFish のテスト機能を紹介します。 最後に、Web サービスに接続して、Swing コンポーネントから作成されるアルバムのイメージを表示する Java アプリケーションを作成します。 - NetBeans
This tire testing device 1 can detect the occurrence of exfoliation in the tread splice part 3b, at a stage prior to burst through of the detection of the temperature change in the surface temperature of the tread part 3a.例文帳に追加
タイヤ試験装置1は、トレッド部3aの表面温度の温度変化を検出することで、バーストする前の段階でトレッドスプライス部3bの剥離の発生を検出することができる。 - 特許庁
To provide a vane shear testing device attaining measurement of high accuracy by providing a torque meter at a part uninfluenced by the load of a rod.例文帳に追加
本発明は、ロッドの荷重に影響を受けない個所にトルクメーターを設けることにより精度の高い測定を可能とするベーンせん断試験装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁
To obtain a method for monitoring and testing plural output signals from a circuit to be tested at the same time without switching by using one pattern monitor circuit and plural data comparing circuits.例文帳に追加
一つのパターン監視回路と複数のデータ比較回路を使用することにより、被試験対象回路からの複数出力信号を切替えなしで同時に監視・試験する方法を得る。 - 特許庁
White-box testing strategies include designing tests such that every line of source code is executed at least once, or requiring every function to be individually tested. 例文帳に追加
ホワイトボックス法の戦略には、ソースコードのすべての行が最低一回実行されるようにテストを設計する、またはすべての関数が独立にテストされることを要する、ということが含まれる。 - コンピューター用語辞典
genetic testing designed to identify individuals in a given population who are at higher risk of having or developing a particular disorder, or carrying a gene for a particular disorder. 例文帳に追加
ある集団内で、特定の障害の保有または発生リスク、あるいは特定の障害に関する遺伝子の保有リスクが高い個人を同定するために計画される遺伝学的検査。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
A photosensor 5 is rotatably provided at a sample stand 4 in a light stability-testing apparatus, and a signal from the photosensor 5 is transmitted to a control section by a conductor being mounted to the photosensor 5.例文帳に追加
光安定性試験装置における試料台4に光センサー5を回転可能に設け、光センサー5からの信号を光センサー5に取り付けた導線により制御部に伝達する。 - 特許庁
In November 2011, this process was selected for the Japan Atomic Energy Agency Decontamination Technology Verification Testing Project and trial works began in December at two locations inside the prefecture. 例文帳に追加
2011 年11月には、独立行政法人日本原子力研究開発機構の除染技術実証試験事業に採択され、同年12月に県内2か所で試験工事を始めている。 - 経済産業省
In this IC testing system, the chip arrayals to be tested at one time in a wafer prober 200 are made to correspond to the positions on rectangular coordinates for transmitting respective coordinates as character string data to an IC testing device 300, where the location data comprising the character string data are converted into the chip map data to generate the chip map using these chip map data.例文帳に追加
ウェハプローバにおいて一度に試験するチップの配列を直交座標上の位置に対応させ、各座標を文字列データとしてIC試験装置に伝送させ、IC試験装置ではチップマップ変換手段により文字列データから成るロケーション・データをチップマップデータに変換し、このチップマップデータを使ってチップマップを作成する。 - 特許庁
In a tire wear test method using a wear testing device 10 making an inspected tire 14 run on an infinite running surface 16, the wind below the temperature of the circumference of this tire wear testing device 10 is sent in at least one direction toward the tread surface of the running inspected tire 14 from a blower device 20.例文帳に追加
被験タイヤ14を無限走行面16上に走行させるタイヤ摩耗試験機10を使用して行うタイヤ摩耗試験方法において、送風装置20から走行する被験タイヤ14のトレッド表面に向かって、該タイヤ摩耗試験機10の周辺の温度以下の風を少なくとも一方向より送る。 - 特許庁
A low-temperature testing device for testing a sample in vacuum or low-temperature state is composed, so that at least a part where a sample 1 is placed in a sample stage 2 in that the sample 1 is placed is formed by a light-transmitting material and light 10 is applied fro the side of the sample stage to the sample.例文帳に追加
真空中かつ低温状態で試料の試験を行う低温試験装置において、上記試料1が載置される試料ステージ2の少なくとも試料が載置される部分を透光性材料で形成し、上記試料に上記試料ステージ側から光10を照射するように構成した。 - 特許庁
Also, by attaching the bar-code labels 3 to materials used in respective works or containers for them, a tool, testing equipment or a device and reading the bar-code labels 3 in working, the manufacturing method for the electric rotary machine coils (including at least either the materials to be used, the manufacturing method, a testing method or work conditions) is recorded and managed.例文帳に追加
また、各作業で用いられる使用材料若しくはその容器,工具、又は試験器具若しくは装置にもバーコードラベル3を付け、作業の際にそれらのバーコードラベル3を読み取り、電気回転機コイルの製作手法(使用材料,製作方法,試験方法又は作業状況の少なくとも何れか含む)を記録管理する。 - 特許庁
The pin holes are arranged at positions where their heights in the optical axis directions of the illuminating optical system and the light-receiving optical system from the testing surface differ from each other, and a scanning arrangement (15b) for moving the relative positions of the testing surface with respect to the pin holes in a predetermined direction vertical to the optical axis directions is provided.例文帳に追加
前記ピンホールは、前記被検面からの前記照明光学系および前記受光光学系の光軸方向の高さが互いに異なる位置に配置され、前記被検面と前記ピンホールとの相対位置を、前記光軸方向と垂直な所定の方向に移動させる走査装置(15b)を備える。 - 特許庁
To provide a variable speed three-point bending impact testing device having a small-sized simple structure, capable of performing a test from a static breaking test up to an impact test at high displacement speed of 20 m/s by one testing machine, and detecting a load behavior, a displacement behavior or the like in a test piece breaking process.例文帳に追加
1台の試験機で静的破壊試験から20m/sといった高変位速度での衝撃試験までを行うことができるとともに、試験片破壊過程における荷重挙動、変位挙動などの検出が可能な、小型かつシンプルな構造の可変速三点曲げ衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁
The semiconductor integrated circuit is provided with a plurality of I/O cells 9, and each of the I/O cells 9 is provided therein with at least part of a test circuit comprising a selector 2 for testing and the like so that test information such as control signals for testing can be supplied in parallel through signal wires 10 to the I/O cells 9.例文帳に追加
複数のI/Oセル9を備えた半導体集積回路において、各I/Oセル9内部にテスト用セレクタ2等からなるテスト回路の少なくとも一部を設け、各I/Oセル9へ信号線10を介してテスト用制御信号等のテスト情報を並列に供給し得るように構成した。 - 特許庁
While there has been previous surveys conducted to determine the number of individuals undergoing hepatitis testing, new surveys and further research are required to determine the true extent of hepatitis testing at the current time.例文帳に追加
しかしながら、肝炎ウイルス検査体制の整備及び普及啓発を効果的に実施するためには、施策を行う上での指標が必要であり、このため、従前から実施している肝炎ウイルス検査の受検者数の把握のための調査に加えて、肝炎ウイルス検査の受検率について把握するための調査及び研究が必要である。 - 厚生労働省
To provide a sanitary washing device, having excreta determination functions for preventing functional/performance troubles from occurring in the sanitary washing device by integrating an excreta testing device and the sanitary washing device, and at the same time efficiently branching water, required fro maintaining the functions of the excreta testing device by the sanitary washing device.例文帳に追加
排泄物測定装置と衛生洗浄装置を一体化すると共に、排泄物測定装置の機能維持のために必要な水を衛生洗浄装置より効率的に分岐することにより、衛生洗浄装置に機能・性能的な弊害が発生しない排泄物測定機能付き衛生洗浄装置を提供する。 - 特許庁
In this connection, a system is indicated, where an overpressurized container equipped with an inlet port aperture which can be closed for storing at least one package, and a device for setting and maintaining a gas inlet port for feeding the testing gas, a gas outlet port for evacuating the testing gas, and for setting and maintaining overpressuring.例文帳に追加
本発明による装置は、この点に関し、閉鎖可能な入口開口部を備えた少なくとも1個のパッケージを収容するための過圧容器、ならびに試験気体を供給するための気体入口、試験気体を排出するための気体出口、および過圧を設定し維持するための装置を示す。 - 特許庁
The polyimide film is continuously manufactured at a width of at least 1,000 mm and gives a distortion ratio of a specified value or less over the entire width when subjected to a trouser tear testing in the MD direction.例文帳に追加
幅1000mm以上で連続的に生産されるポリイミドフィルムであり、MD方向のトラウザー引き裂き試験を行った場合、全幅においてずれ率が一定の値以下となるようなポリイミドフィルムの製造方法により得られるポリイミドフィルムを提供する。 - 特許庁
The joining strength of respective fillets 14 are quantitatively estimated by measuring the height of respective fillets 14 or the like depending on the image of respective fillets 14 obtained by receiving the testing light at a light receiving part 5 installed at the other side of the connecting structure 10.例文帳に追加
連接構造体10の他方の側で受光部5により検査光を受光して得られる各フィレット14の画像に基づいて、各フィレット14の高さなどを測定し、各フィレット14の接合強度を定量的に評価する。 - 特許庁
The sensors are elongate test strips 32 for in vitro testing, each having a substrate 34, at least one electrode 42, 44, an embossed channel 54 in the electrode, and lidding tape 38 covering at least a portion of the embossed channel 54.例文帳に追加
センサは、インビトロ試験のための細長い試験ストリップ32であり、基板34と、少なくとも1つの電極42、44と、電極内にエンボス加工されたチャネル54と、エンボス加工されたチャネル54の少なくとも一部分をカバーする蓋テープ38とを含む。 - 特許庁
To provide a switching power supply circuit capable of preventing electric elements of the circuit from burning at testing safety standards for electric apparatuses because of a simple configuration using resisters consuming large power.例文帳に追加
消費電力の大きい抵抗体を用いる簡単な構成により、電気製品の安全規格試験時に回路の電気素子が焼損する問題を回避し得るスイッチング電源回路を提供する。 - 特許庁
To improve sensor testing method so as to use a signal for expressing a parameter to be measured at a very short time interval even when inspecting a sensor without interruption or relatively large interruption.例文帳に追加
センサが中断なしでまたは比較的に大きな中断なしで検査される場合でも、非常に短い時間間隔で、測定すべきパラメータを表す信号が使用されるように改善することである。 - 特許庁
To provide a method of measuring OTF of a lens at some spatial positions, spatial frequencies, orientations, and defocus positions, a lens testing system using one chart, and to provide a method of generating the test chart.例文帳に追加
1枚のチャートにより、いくつかの空間位置、空間周波数、方向及びデフォーカス位置でレンズのOTFを測定する方法、レンズ試験システム、更に、テストチャートを生成する方法を開示する。 - 特許庁
In the testing device, a sample stage 3 is mounted slidably on a board 12, and the sample stage 3 is moved or rotated by movement of at least one of both ends of the sample stage 3.例文帳に追加
本発明は、定盤12上にスライド可能に試料載置台3を載置し、この試料載置台3の両端部の双方又は一方の可動により、試料載置台3を移動させ、また回転させる。 - 特許庁
The reactor 20 for power includes an iron-core main leg 24 wound with the testing wiring 26 in the reactor wiring 21, an iron core-side leg 22 and a yoke 23 retained at a common end of each of these legs.例文帳に追加
電力用リアクトル20は、リアクトル巻線21に試験用巻線26を巻き込んである鉄心主脚24と、鉄心側脚22と、これらの脚の共通の端部に保持される継鉄23とを備える。 - 特許庁
To perform highly accurate quality determination in measurement at high pushing-down speed during a line application time, concerning a quality determination method of a button of an electronic apparatus, a method for manufacturing the electronic apparatus, and an electronic apparatus button testing device.例文帳に追加
電子機器のボタンの良否判定方法、電子機器の製造方法及び電子機器ボタン試験装置に関し、ライン適用時に高速の押下速度による測定で精度の高い良否判定を行う。 - 特許庁
To provide an elevator and its emergency stop testing method capable of making sure the sheave idling condition of a hoist easily even if an operator etc. is in a position apart from the hoist at the time of performing an emergency stop test.例文帳に追加
非常止め試験時に、作業者等が巻上機から離れた位置にいても、巻上機のシーブ空転状態を容易に確認することができるエレベーター及び非常止め試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a drop impact testing device, capable of carrying out precisely a natural drop impact test dropped under identical conditions, from a fixed height each time, and accurately dropped at the same spot.例文帳に追加
一定高さから毎回同じ条件で落下させ、同一箇所に正確に落とすといった自然落下衝撃試験を精度良く行うことができる落下衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁
A crack is produced in the test piece 2 by an increase in the load and the thin film pattern is cut but the cutting of the thin film pattern is detected by the material testing machine 1 and the displacement and the test load at this point of time are measured.例文帳に追加
荷重の増加によって試験片2にクラックが入り薄膜パターンが切断されるが、前記材料試験装置1により切断が検知され、この時点の変位、試験荷重が測定される。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing the conversion characteristics artificially in the case of a high speed operation of an ADC (analog to digital converter) without actually operating the ADC at high speed, and to provide its test method.例文帳に追加
実際にADCを高速動作させることなく、その高速動作時の変換特性を疑似的にテストすることができる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
Accordingly, by only adjusting the area ratio of the high-friction ink material 13 in the geometric pattern, the carry-testing medium 10 of the desired friction coefficient can be easily manufactured at a low cost.例文帳に追加
したがって、幾何学的模様における高摩擦インク材13の面積比率を調整するだけで、摩擦係数が所望の大きさである搬送テスト用媒体10を簡単且つ安価に製造できる。 - 特許庁
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