「at testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

This testing device energizes the specimen at zero voltage, keeping the voltage between the terminals of the voltage accumulating circuit constant by the switching on/off of the switching element for bias stabilization.例文帳に追加

バイアス安定化スイッチング素子のオン，オフによって該電圧蓄積回路の端子間電圧を一定に保持してゼロ電圧被試験体を通電する。 - 特許庁

At this time, the PLL counter copy uses a resistor incorporated into a test route including test facilitating means for testing the LSI by a scan path method.例文帳に追加

このとき、ＰＬＬカウンタコピーは、ＬＳＩをスキャンパス法により試験するための試験容易化手段を含む試験経路に組み込まれたレジスタを用いる。 - 特許庁

At the time of testing, the signal SA is retained by the FF33 through the selectors 31, 32, and therefore the signal path between the circuit blocks 10A, 10B can be tested.例文帳に追加

テスト時に、信号ＳＡはセレクタ３１，３２を介してＦＦ３３に保持されるので、回路ブロック１０Ａ，１０Ｂ間の信号経路がテストできる。 - 特許庁

The scan chain comprises one ring from each of a plurality of devices, and each ring 25 comprises, or inserted, at least one status resistor for testing the scan chain.例文帳に追加

スキャンチェーンは、複数の装置の各々からの1つのリングを備えており、各リング25はスキャンチェーンをテストするための1つ以上の介在するステータスレシ゛スタを有する。 - 特許庁

The antenna 10 for testing is rotated on a circular orbiting path with the antenna 90 to be measured as a center each time when the antenna 90 to be measured is rotated at a specific angle.例文帳に追加

被測定アンテナ９０を所定角度回動する毎に試験用アンテナ１０を被測定アンテナ９０を中心とした円軌道上を回転させる。 - 特許庁

To provide a material testing apparatus enabling a load to be easily applied to a material test piece at a desired rate of change by operation of a remote control device.例文帳に追加

リモートコントロール装置を操作して簡単に、材料試験片に負荷を所望の変化速度で加えることができる材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test system for a fire detector which makes it enables testing and alarming of the fire detector at the best time respectively.例文帳に追加

火災検知器の試験と移報との両方を、それぞれ最適な時間に行なうことを可能にする、火災検知器の試験システムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a connector insertion-pull out testing device enabled to perform an insertion-pull out test of a pair of connectors in the temperature ranging from low temperature to high temperature, having small size, at low cost.例文帳に追加

低温から高温の温度範囲で被試験コネクタ対の挿抜試験が実施可能な小型且つ安価なコネクタ挿抜試験装置を提供する。 - 特許庁

(ii) To carry out at the testing laboratory, etc., to be deemed as having the technical basis to properly conduct toxicity investigation with respect to the organization, facilities, etc. 例文帳に追加

二　組織、設備等に関し有害性の調査を適正に行うため必要な技術的基礎を有すると認められる試験施設等において行うこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In the device, a shaft 2 and a lower supporting device 4 support a wind tunnel testing model 50 at the space of a measuring section 71 between a wind tunnel forward end 70 and a wind tunnel rear end 72.例文帳に追加

風洞前部７０と風洞後部７２間の計測部７１の空間に支持棒２、下方支持装置４で風試模型５０を支持する。 - 特許庁

The life testing method is applied to the ball bearing having at least an orbital ring which is made of a steel for bearings and whose orbital surface is subjected to a hardening process.例文帳に追加

少なくとも軌道輪が軸受用鋼よりなり、軌道輪の軌道面に硬化処理が施された転がり軸受の寿命試験方法である。 - 特許庁

To provide a percussive penetration testing apparatus for investigating a bed structure at a hammering point and the strength of a ground by penetrating a rod into the ground by hammering.例文帳に追加

本発明は、ロッドを打撃して地中に貫入し、そのポイントの地層構造や地盤強度を調査する打撃貫入試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a system between data communication equipment for performing an operation confirmation test of the entire system without arranging a person at the opposite party side.例文帳に追加

対向側に人員を配置することなく、システム全体の動作確認試験を行うデータ通信装置間システム試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

To increase the number of chips, which are in parallel, and to efficiently test semiconductor chips on a wafer by testing wafer levels at the same time without using a CS signal.例文帳に追加

ＣＳ信号を用いずにウェハレベルのテストを同時に行うことを可能とし、チップの並列数を増やして効率よくウェハ上の半導体チップをテストする。 - 特許庁

For the testing purpose of the relay, the safety relay comprises a key member 12 which is disposed at the housing cover and operates on the lever 38 mounted rotatably inside the housing.例文帳に追加

リレーの試験のため、安全リレーは、ハウジングカバーに配置され、ハウジング内部に回転可能に実装されたレバー３８上で作動するキー部材１２を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of eliminating waste in storage capacity in a pattern memory, as well as detecting an error at a high speed by hardware.例文帳に追加

パターンメモリにおいて記憶容量の無駄を廃すると共に、ハードウェアによって高速にエラー検出をすることが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To test parts which generate simple signals at high speeds by hardware and parts which generate complicate signals by software in testing asynchronous LSIs.例文帳に追加

非同期ＬＳＩ試験を行う際に、高速で単純な信号を出す部分をハード的な構成で行い、複雑な信号についてはソフト的に行うこと。 - 特許庁

Regarding stress testing, stock prices as measured by the Nikkei Average at the end of September was down more than 16% compared with the end of June this year. 例文帳に追加

ストレス・テストというお尋ねですが、例えば9月末時点で株価、これは日経平均で捉えてみますと、本年6月末と比べて16％強下落しております。 - 金融庁

Concerning other substantive testing procedures, cases were identified at each firm wheresufficient and appropriate audit evidences were not obtained because audit procedures were not sufficient. 例文帳に追加

実証手続について、各法人ともに、手続不十分なために十分かつ適切な監査証拠が入手されていない事例が認められる。 - 金融庁

At the time of performing an arithmetic operation by an electronic circuit in an equivalence testing device, an Euler method and a backward Euler method are alternately performed in each micro-sampling time interval ΔT.例文帳に追加

等価試験装置内の電子回路による演算を、微小サンプリング時間間隔ΔT毎にオイラー法と後退オイラー法を交互に行うものである。 - 特許庁

In one aspect, the air permeability is at least 0.01 cubic feet per minute (CFM) per square foot as determined by ASTM D 737 testing.例文帳に追加

１つの態様では、空気透過度は、ＡＳＴＭ Ｄ ７３７試験で決定して、１平方フィート当たり０．０１立方フィート毎分（ＣＦＭ）以上である。 - 特許庁

One or more verifying scenarios are provided for testing configuration and performance of the management software at a simulated environment of the client end.例文帳に追加

１個または数個の検証シナリオがクライアントエンドのシミュレートされた環境においてマネージメントソフトウェアの構成および性能をテストするために提供される。 - 特許庁

To shorten the test time without using an expensive tester at the time of testing a semiconductor storage device.例文帳に追加

半導体記憶装置の検査を行うに際し、高価なテスターを用いることなく検査時間の短縮を図ることができるようにすることを目的とする。 - 特許庁

Each semiconductor chip region is provided with a testing bonding pad 3 in at least any side out of the sides of the polygons adjacent to each other, respectively.例文帳に追加

各半導体チップ領域はそれぞれ互いに隣接する多角形の辺のうちの少なくともいずれかの辺に試験用ボンディングパッド３を備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of preventing increase in cost and degradation in signal waveform, by preventing crossing of connection wires at a test head.例文帳に追加

テストヘッドにおける接続線の交差を解消することで、コストの上昇や信号波形の劣化を防止することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To display a large quantity of measured data to be observed when testing traveling of a train in comparison with at least one of the position and speed of the train.例文帳に追加

列車の走行試験に当たり観測すべき多数の計測データと列車の位置及び速度の少なくとも一方とを対比して表示する。 - 特許庁

At the time of testing power source voltage variation, the sequence circuit 8 transmits a power source voltage change request signal to the power source voltage control circuit 10, and stops a test.例文帳に追加

電源電圧変動テスト時には、シーケンス回路８が電源電圧制御回路１０に電源電圧変更要求信号を伝達し、テストを中断する。 - 特許庁

This IC tester is configured so as to carry out testing on test objects by mounting them on at least two or more test heads.例文帳に追加

本発明は、少なくとも２以上のテストヘッドに、被試験対象が取付けられ、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

A rod for checking the ground of a research testing machine having a tip member at its tip is pressed into the ground down to predetermined depth by applying predetermined vertical load to the rod.例文帳に追加

先端に先端部材を有する調査試験機の地盤調査用ロッドに所定の鉛直荷重を与えて所定深度まで圧入する。 - 特許庁

To correct the loading effect not by the presence or absence of a circuit pattern or by its shape, but only by one-time film formation testing, and per 25 sheets of tested wafers or fewer, at a time.例文帳に追加

回路パターンの有無や形状によらず、テスト成膜１回のみで、且つテストウエハの枚数を２５枚程度以下で、ローディング効果を補正可能とする。 - 特許庁

To provide a pattern control device for a game machine, for which the variable configurations of patterns of a pattern display means can be easily and inexpensively changed, and at the same time, the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.例文帳に追加

図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern control device for a game machine, which can easily and inexpensively change variation configurations of a pattern of a pattern display means, and at the same time, for which the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.例文帳に追加

図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する - 特許庁

To provide an acceleration climatic testing device concentrating solar radiation to at least one sample and immersing, having at least one supporting member and an operation part operatably connected to at least one supporting member.例文帳に追加

少なくとも一つの支持部材と、少なくとも一つの支持部材に動作可能に接続された動作部とを有する、少なくとも一つの試料に対して太陽放射を集中し、浸漬する促進耐候試験装置を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor testing device for storing pieces of pattern data of predetermined channel numbers and bits for controlling jumps of patterns at different addresses of a pattern memory, and testing DUTs, the testing device includes a mask control unit which masks the bits for controlling jumps read out from the pattern memory, when only the pieces of pattern data of predetermined channel numbers are used and no pattern jumps are performed.例文帳に追加

所定チャンネル数のパターンデータとパターンのジャンプを制御するビットをパターンメモリの異なるアドレスに記憶させてＤＵＴの試験をする半導体試験装置において、所定チャンネル数のパターンデータのみを使用してパターンのジャンプを行わない場合に、パターンメモリから読み出されたジャンプを制御するビットをマスクするマスク制御部を設ける。 - 特許庁

Article 65 (1) A person who carries on the business of product testing at its testing laboratory located in a foreign country may apply to the competent minister to have the laboratory Accredited for each Division of the Testing Method pursuant to the provisions of the applicable Ordinance of the competent ministry. In this case, the procedures required to be taken for the Accreditation shall be specified in the Ordinance of the competent ministry. 例文帳に追加

第六十五条　外国にある試験所において製品試験の事業を行う者は、その試験所について、試験方法の区分ごとに、主務省令で定めるところにより、主務大臣に申請して、登録を受けることができる。この場合において、登録に関して必要な手続は、主務省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

This testing method is pref. performed by a flowability testing apparatus having the trough-shaped member 2 equipped with marks at least at two places in the length direction thereof, a support structure 3 for holding the trough-shaped member 2 to an angularly adjustable inclined posture and a sample container 22 housing a predetermind vol. of the liquid material being the sample.例文帳に追加

この試験方法は、長さ方向の少なくとも２箇所に標点を備える樋状体と、これを角度調節可能な傾斜姿勢に維持する支持構造体と、試料である所定容量の液状材料を収容する試料容器とを有する流動性試験装置によって、好適に実施することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor crystal defect testing method, etc. which uses cathode luminescence (CL) that enables checking of the measurement position at a high spacial resolution, and a sample analysis at a high spacial resolution.例文帳に追加

高空間分解能で測定位置の確認ができ、且つ高空間分解能で試料分析ができるカソードルミネッセンス（ＣＬ）を用いた半導体結晶欠陥検出方法等を提供する。 - 特許庁

The test technique comprises a memory cell, a built-in self-testing cell, a comparing cell and a signature cell, and the signature cell contains one set of first conductive paths at a first level and one set of second conductive paths at a second level.例文帳に追加

メモリセルと、内蔵自己テストセルと、比較セルと、シグナチャセルとを有し、該シグナチャセルは、第一レベルの１組の第一導電性経路と、第二レベルの１組の第二導電性経路と包含している。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit 1 comprises at least one memory 21 for storing data, and at least one BIST (Built-In Self Test) circuit 10 for testing the memory 21.例文帳に追加

半導体集積回路１は、データを記憶する少なくとも１つのメモリ２１と、メモリ２１をテストする少なくとも１つのＢＩＳＴ（Ｂｕｉｌｔ−Ｉｎ Ｓｅｌｆ Ｔｅｓｔ）回路１０と、を備える。 - 特許庁

To provide an electronic component testing apparatus which can correctly control a temperature of an electronic part even when the electronic component generates heat by itself at a test time, and can test the electronic component at a desired test temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

A circulation type apparatus 2, which is a circulation type nano-filtration testing apparatus, reproduces the income and outgo of at least one membrane element at an optional point in a one-way type multi-stage nano-filtration facility.例文帳に追加

循環型ナノろ過試験装置である循環型装置２は、一過型多段ナノろ過実施設の任意の箇所の少なくとも１つの膜エレメント周りの水量収支を再現したものである。 - 特許庁

A probe card 18 is equipped with a relay 38 for connecting a probe 16A to a voltage source of a tester 14 at the wafer 12 testing time, and grounding the probe 16A at the contact resistance measuring time of the probe.例文帳に追加

プローブカード１８は、ウェハ１２の試験時にはプローブ１６Ａをテスタ１４の電圧源と接続し、プローブの接触抵抗測定時にはプローブ１６Ａを接地するリレー３８を備えている。 - 特許庁

To provide a strength testing apparatus having a configuration for obtaining the stagnation of work and an experimental result as the result at a work field by achieving the strength experiment at an actual bar arrangement field.例文帳に追加

実際の配筋現場での強度実験を可能にすることにより作業の停滞や実験結果を作業現場での結果として得られる構成を備えた強度試験装置を提供すること。 - 特許庁

The electronic circuit has the at least one test module 30 provided for testing the electronic circuit, and connected to at least one wire 38, 40 and/or one terminal of the electronic circuit.例文帳に追加

この電子回路は、電子回路を試験するために提供され、電子回路の、少なくとも１つの線（３８、４０）および／または１つの端子と接続される、少なくとも１つの試験モジュール（３０）を有する。 - 特許庁

As the pin 5 and the pin 7 directly contact at the slopes 5a and 5b, the electrodes of the semiconductor device electrically contact the electrode 11 of the testing substrate 9 at a shortest distance.例文帳に追加

ピン５とピン７は斜面５ａ及び斜面５ｂで直接接触しているので、半導体装置の電極は、ピン５，７を介して、最短距離で試験基板９の電極１１と電気的に接続される。 - 特許庁