「at testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

In this performance testing device 10, a fixing frame 12 and a guide frame 13 are erected vertically and oppositely in parallel at a prescribed interval on a horizontal base plate 11, and a clamp means 14 of one of upper and lower face plates 5a, 5b of the sample piece 1 is installed on an internal surface upper part of the fixing frame 12.例文帳に追加

性能試験装置１０は、水平なベースプレート１１上に、所定の間隔を隔てて固定フレーム１２とガイドフレーム１３とが平行で、かつ相対向して鉛直に立設され、固定フレーム１２の内壁面上部には、供試体１の上下面板５ａ，５ｂの一方のクランプ手段１４が設けてある。 - 特許庁

The test transistors A, B that have at least two kinds or more of insulating films 13, 15 and different configurations are manufactured, and the electrostatic capacity film can be guaranteed with the easy measurement using a testing method for determining whether insulating films 13, 15 have been formed normally from the difference of the sub-threshold characteristics of two kinds of test transistors.例文帳に追加

少なくとも２種類以上の絶縁膜１３，１５の構成が異なるテスト用トランジスタＡ，Ｂを製造し、２種類のテスト用トランジスタのサブスレッショルド特性の差から、絶縁膜１３，１５が正常に形成されたか否かを判定するというテスト方法を用いて、簡単な測定で静電容量膜の保証が行える。 - 特許庁

A test apparatus for testing vibration characteristics of a tire includes a drum, rotation drive means for rotatably supporting the drum, tire supporting means for rotatably supporting a test tire while bringing the test tire into contact with the outer peripheral surface of the drum at a required ground contact load, and measurement means for measuring a change in axial force of the test tire during the rotation.例文帳に追加

ドラムと、このドラムを回転可能に保持する回転駆動手段と、前記ドラムの外周面に試験タイヤを所要の接地荷重で接触させながら該試験タイヤを回転可能に保持するタイヤ保持手段と、前記回転時の試験タイヤの軸力の変動を測定する測定手段とを具える。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which generation of leakage current is prevented while making available a pad of an IO block selected from at least two selection IO blocks, and to provide a testing method of the semiconductor integrated circuit, and semiconductor integrated circuit package in which the semiconductor integrated circuit is mounted.例文帳に追加

少なくとも２つの選択ＩＯブロックから選択したＩＯブロックのパッドの利用を可能にしながらリーク電流の発生が防止された半導体集積回路、その半導体集積回路の試験方法、およびその半導体集積回路が搭載された半導体集積回路パッケージを提供する。 - 特許庁

A test device of testing a device under test includes: a plurality of capacitors charged at predetermined respective prescribed voltages; a switching part for performing the switching from which of the capacitors charged at the prescribed voltages the power source voltage is to be supplied to the device under test; and a determination part determining the quality of the device under test on the basis of the operation result of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、それぞれ予め定められた所定の電圧で充電される複数のコンデンサと、所定の電圧に充電されたコンデンサのうち、いずれから被試験デバイスに電源電力を供給するかを切り替える切替部と、被試験デバイスの動作結果に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

The plastic composition containing an IR-reflecting component has a reflectance increased by at least about 300% in the spectrum of the wavelengths of about 750-about 2,500 nm and a ΔT of at least about 15°C measured according to the procedure described in ASTM specification D4803-97 testing method, each compared with a color-matched plastic composition not containing the IR-reflective pigment.例文帳に追加

赤外線反射成分を含むプラスチック組成物は、赤外線反射顔料を含まない等色プラスチック組成物と比較して、約７５０ｎｍ〜約２５００ｎｍ波長のスペクトルにおける反射率が少なくとも約３００％増加し、赤外線反射顔料を含まない等色プラスチック組成物と比較して、ＡＳＴＭ規格Ｄ４８０３−９７試験法に記載の手順に従って測定したデルタＴが少なくとも約１５℃である。 - 特許庁

A heated platen assembly for use in a biological testing device is disclosed, having a heated platen defining a plurality of optical openings configured to permit radiation to pass through the heated platen, a light-transmissive slip cover configured to cover at least one of the plurality of optical openings, and a means for retaining the slip cover over the at least one of the plurality of optical openings.例文帳に追加

放射線が、加熱プラテンを通過すことを可能にするように構成される複数の光学的開口部を規定する加熱プラテンと、この複数の光学的開口部のうち少なくとも１つを覆うように構成される光透過型スリップカバーと、この複数の光学的開口部のうち少なくとも１つを覆ってスリップカバーを保持するための手段とを有する、生物学的試験デバイスにおいて使用するための加熱プラテンアセンブリが開示される。 - 特許庁

The heated platen assembly for use in a biological testing device is disclosed having a heated platen defining a plurality of optical openings configured to permit radiation to pass through the heated platen, a light transmissive slip configured to cover at least one of the plurality of the optical openings, and a means for retaining the slip cover over at least one of the plurality of the optical openings.例文帳に追加

放射線が、加熱プラテンを通過すことを可能にするように構成される複数の光学的開口部を規定する加熱プラテンと、この複数の光学的開口部のうち少なくとも１つを覆うように構成される光透過型スリップカバーと、この複数の光学的開口部のうち少なくとも１つを覆ってスリップカバーを保持するための手段とを有する、生物学的試験デバイスにおいて使用するための加熱プラテンアセンブリが開示される。 - 特許庁

To provide a part transport device capable of transfer-loading parts at high speed from a part feed passage to a rotor without a complicated transfer loading mechanism and easily testing the part in the course of transporting the part by the rotor.例文帳に追加

複雑な移載機構を用いることなく、部品供給路から回転体に対して高速に部品を移載することができるとともに回転体によって部品を搬送している途中でも容易に部品の検査を行うことができる部品搬送装置を提供し、また、このような搬送装置を簡単に且つ低コストで製造することができる構造を実現する。 - 特許庁

An invention related to a claim 2 includes a buffer means which, relating to the collision testing device described in the claim 1, is arranged in front of the truck and at the projection barrier and, when the collision means operates, deforms by such amount as the frame of a vehicle where the cab is mounted deforms, to cause the cab to collide with the projection barrier.例文帳に追加

そして、請求項２に係る発明は、請求項１に記載の衝突試験装置に於て、前記台車の前方と前記突起バリアとに配置され、前記衝突手段の作動時に、前記キャブが搭載される車両のフレームの変形量だけ変形して前記突起バリアに前記キャブを衝突させる緩衝手段を有することを特徴とする。 - 特許庁

An apparatus of the present invention includes a probe card for testing a die on a wafer and an energy transmissive element located adjacent to the probe card at a portion of the probe card, wherein the energy transmissive element utilizes energy transmitted to selectively deflect a portion of the probe card to selectively control the geometric planarity of the probe card.例文帳に追加

本発明の装置は、ウエハ上のダイをテストするプローブカードと、前記プローブカードの一部において該プローブカードに隣接して配置されたエネルギー伝達要素とを含み、前記エネルギー伝達要素が伝達されたエネルギーを利用して前記プローブカードの一部分を選択的に撓曲させることにより前記プローブカードの幾何学的平面性を制御する。 - 特許庁

At testing, external input instruction of a plurality of number of times is inputted to a decoder circuit, selected results of each of external input instruction of the plurality of number of times inputted to the decoder circuit are held in a holding circuit, first selection lines to be selected out of a plurality of first selection lines in accordance with holding contents are selected in parallel.例文帳に追加

テスト時において、複数回の外部入力指示をデコーダ回路に入力し、デコーダ回路に対して入力された複数回の外部入力指示それぞれにおける選択結果を保持回路で保持し、保持内容に応じて複数の第１の選択線のうち選択対象とされた第１の選択線を並列に選択する。 - 特許庁

The testing system includes: a summation circuit to sum voltage signals and to output a summation signal indicating the sum of the received analog voltage signals; and an analyzer circuit to digitize the summation signal and to detect to compare the digitized summation signal with an error tolerance range to detect whether at least one of the DAC/amplification circuits is experiencing an operating error.例文帳に追加

このテスト・システムは、電圧信号を加算し、受け取ったアナログ電圧信号の加算を示す加算信号を出力する加算回路及び前記加算信号をディジタル化し、このディジタル化加算信号をエラー許容値範囲と比較して少なくとも１つの前記ディジタル・アナログ変換／アンプ回路が動作エラーにあるかを検出するアナライザー回路を含んでいる。 - 特許庁

Besides, this testing method performs steps of: mounting, on the shaft, a base material to which deposition substances are applied, immersing a film coated base material in a solution housed inside a container, utilizing the drive system for rotating the shaft and the film coated base material at a given rotating speed, and determining an amount of the deposition substances removed from the base material.例文帳に追加

この試験方法はさらに、堆積物質が塗布されている基材をシャフトに載置するステップと、その塗膜基材を容器に収容された溶液内に沈浸するステップと、シャフトと塗膜基材とを所定回転速度で回転させるために駆動システムを利用するステップと、基材から除去された堆積物量を決定するステップとを含んでいる。 - 特許庁

A reference voltage generating circuit 110 for supplying each driver IC 100 with a reference voltage VREF at LED head mounting is prepared previously in the TEG chip 310 formed on a wafer 300 together with a plurality of the driver ICs 100 for driving an LED array in addition to a circuit for testing each driver IC 100.例文帳に追加

ウェハ３００上に、ＬＥＤアレイを駆動するための複数のドライバＩＣ１００と共に形成したＴＥＧチップ３１０内に、各ドライバＩＣ１００を試験するための回路に加えて、ＬＥＤヘッド実装時に各ドライバＩＣ１００に基準電圧ＶＲＥＦを供給するための基準電圧発生回路１１０を作り込んでおく。 - 特許庁

For the ceramic plate for semiconductor manufacturing/testing device having a heating resistor on its surface or inside, a protruded part for fitting a semiconductor wafer is formed at its outer rim part, and many convex bodies, contacting with the semiconductor wafer, are formed inside the protruded part.例文帳に追加

その表面または内部に抵抗発熱体が形成された半導体製造・検査装置用セラミック基板であって、その外縁部には、半導体ウエハを嵌合させるための突部が形成され、上記突部の内側には、上記半導体ウエハと接触する多数の凸状体が形成されていることを特徴とする半導体製造・検査装置用セラミック基板。 - 特許庁

To provide an insulation test method for a solar battery module and an insulation test apparatus for testing the insulation of the solar battery module easily even in manufacturing test, construction test or after-construction test and capable of specifying any defective position in insulation for the solar battery having defective insulation at a position thereof.例文帳に追加

製造検査時、施工時、施工後のいずれにおいても、太陽電池モジュールの絶縁不良検査を容易に、確実かつ安全に行うことができ、また任意の場所で絶縁不良が発生している太陽電池モジュールにおいても、絶縁不良場所を特定することが可能な太陽電池モジュールの絶縁試験方法及び絶縁試験装置を提供する。 - 特許庁

To solve such a problems of a conventional radar testing device that a failure detection time is long because the test item order is determined in the descending order of MTBF(Mean Time Between Failure) values of components at the time of a test object design and therefore the test order reflecting a failure record in actual operation of the test body can not be selected.例文帳に追加

従来のレーダ用試験装置では、被試験体設計時の構成品のＭＴＢＦ（Ｍｅａｎ Ｔｉｍｅ Ｂｅｔｗｅｅｎ Ｆａｉｌｕｒｅ）値の降順にて試験項目順序を決定しており、被試験体の実運用における故障実績を反映させた試験順序を選択することができないため、故障検出時間が長い。 - 特許庁

In an LSI test system for testing a plurality of LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 at one sitting, between the signal lines connecting the LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 and the LSI tester 100, each of delay units DLY1 through DLY4 with different delay times is provided to each LSY devices DUT1 through DUT4.例文帳に追加

複数の被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４を一度にテストする半導体集積回路装置のテストシステムにおいて、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４とＬＳＩテスタ１００とを結ぶ信号線の間に、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４ごとにそれぞれ遅延時間の異なる遅延ユニットＤＬＹ１〜ＤＬＹ４を設ける。 - 特許庁

An acoustic emission (AE) sensor is arranged at the center part of the lengthwise direction of a flexible solar battery cell, the flexible solar battery cell is installed in a tensile testing machine to be pulled in the lengthwise direction, an acoustic emission (AE) generated resulting from the damage generated in pulling is detected by the AE sensor to be converted into the acoustic emission (AE) signal.例文帳に追加

フレキシブル太陽電池セルの長さ方向の中心部においてアコースティック・エミッション（ＡＥ）センサを配置し、フレキシブル太陽電池セルを引張試験機に設置して長さ方向に引張り、その際に生じた損傷に起因して発生したアコースティック・エミッション（ＡＥ）をＡＥセンサで検知してアコースティック・エミッション（ＡＥ）信号に変換する。 - 特許庁

Aiming at a urinary fat globule and a fat granule contained in an oval fat body observed in relation to nephropathy, it is found that the amount of lipoprotein or its analogue contained in them or a constituent contained in them suggests significant relevance to nephropathy, and this finding brings this nephropathy testing means to realization.例文帳に追加

腎障害に関連してみられる尿中脂肪球及び卵円形脂肪体が含有する脂肪顆粒に着目し、それらに含有されるリポタンパク質若しくはその類縁体、またはこれらに含有される成分の量が有意に腎障害との関連性を示唆するものであることを見出し、本発明の腎障害の検査手段を完成した。 - 特許庁

The microbiological testing chip 10 has a substrate and a microorganism detection part 18 attached to the substrate and containing a microorganism detection flow channel 181, the microorganism detection part 18 is formed of a light-transmitting material, and at least 90° of the circumference of the microorganism detection part is exposed in the chip 10.例文帳に追加

基板と、該基板に装着され内部に微生物検出用流路１８１を有する微生物検出部１８とを有する微生物検査チップ１０であって、前記微生物検出部１８は、光透過性の材料によって形成され、前記微生物検出部の周囲の少なくとも９０度の範囲は露出されているチップ１０。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit has a memory 41, a BIST main circuit 10 testing the memory 41, and a BIST sub-circuit 20, in the BIST sub-circuit 20, at least either of the row or column address of the memory 41 has a boundary address generating circuit 21 generating alternately the most significant address and the least significant address.例文帳に追加

半導体集積回路は、メモリ４１と、メモリ４１のテストをするＢＩＳＴメイン回路１０、ＢＩＳＴサブ回路２０とを有し、ＢＩＳＴサブ回路２０は、メモリ４１のロウアドレス又はカラムアドレスの少なくとも一方は、当該メモリ４１の最上位アドレスと最下位アドレスを交互に生成する境界アドレス生成回路２１を有する。 - 特許庁

To solve the problem of a conventional system testing apparatus wherein, when a faulty module has been adjusted, replaced or repaired to remove a fault, the fact that the fault has been removed is not taken into account at all, resulting in low accuracy with which priority is determined next time and a difference with the priority with which faults must be actually dealt with.例文帳に追加

従来のシステム試験装置においては、故障モジュールに対し、調整、交換、修理を施し故障が解消した場合、その故障が解消したことに対して何ら考慮されないため、次に優先順位を決定する場合の精度が低くなり、実際に対処しなければならない優先順位とでは相違が発生する。 - 特許庁

The device 10 contains a plurality of load generation mechanisms for testing the strength of a material under pressure, in which each mechanism simultaneously operates independently of other mechanisms and each load mechanism applies a load to simulate a pressure condition with at least one method from among deformation, in-plane shear, a cyclic load, gas permeability, layer or film delamination.例文帳に追加

複数の負荷発生機構を含み圧力下での材料の強度をテストする装置１０であって、機構のそれぞれは互いに他の機構から独立して同時に動作し、各負荷発生機構は、変形、面内せん断、周期的負荷、気体透過性、層又はフィルム剥離のうち少なくとも一つの形式で、圧力状態をシミュレートする負荷を加える装置１０。 - 特許庁

An electromagnetic interference (EMI) shield of a load substrate in an electronic testing system included in an embodiment of the invention is a substantially flat structure (140) which comprises an outer edge trim (145) on a first surface, and at least one opening (141), extending through the flat structure (140) that extends penetrating the structure (140).例文帳に追加

本発明の実施態様に含まれる電子試験システムにおける負荷基板電磁妨害（ＥＭＩ）遮蔽は、実質的に平坦な構造（１４０）であって、第１面上の外縁リム（１４５）と、前記平坦な構造（１４０）を貫通して延長する少なくとも１つの開口（１４１）と、を具備する実質的に平坦な構造（１４０）、を有する。 - 特許庁

To provide a circuit and a method for testing a semiconductor integrated circuit, which can easily test a limitation of an operation cycle, i.e., a delay characteristic of the semiconductor integrated circuit device at an arbitrary cycle in a function test pattern of the semiconductor integrated circuit, by using the function test pattern and a relatively slow clock signal input from the outside.例文帳に追加

半導体集積回路の機能試験パタンと、外部からの比較的遅いクロック信号とを用いて、機能試験パタンの任意のサイクルでの動作周期の限界、つまり本半導体集積回路装置の遅延性能を容易に試験することができる半導体集積回路の試験回路およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

In a test mode for testing whether output voltage OUT at a predetermined output current is within a standard or not, operation of an internal circuit 1 is stopped, and switches 15 and 17 are set to off-state and on-state, and only current carried to PMOS transistors 13_1, 13_2 and 13_3 of a current supply circuit 13 is supplied to a resistance element 16.例文帳に追加

所定の出力電流時における出力電圧_ＯＵＴが規格内にあるか否かのテストを行なうテストモードにおいて、内部回路１の動作を停止するとともにスイッチ１５，１７をオフ状態，オン状態に設定し、電流供給回路１３のＰＭＯＳトランジスタ１３＿１，１３＿２，１３＿３に流れる電流のみ抵抗素子１６に供給する。 - 特許庁

a) All individuals must first understand that it is possible for hepatitis to progress to serious diseases such as cirrhosis and liver cancer, which severely affects their health keeping, if left untreated, and must understand the importance of undergoing hepatitis testing at least once and to be informed regarding their own hepatitis infection status, given the importance of treatment of the disease in the early stages.例文帳に追加

ア 国民一人一人が、肝炎は放置すると肝硬変や肝がんという重篤な病態へと進展する可能性があり、各人の健康保持に重大な影響をもたらし得る疾病であることを理解した上で、少なくとも一回は肝炎ウイルス検査を受検し、自身の肝炎ウイルス感染の有無について、早期に認識を持つよう努めること。 - 厚生労働省

At least either sidewall of a tire manufactured in the mold 2 has a surface having a surface glossiness of more than 10 as measured under a 60° gloss reading per the specular gloss designation D523-89 of American Society for Testing and Materials.例文帳に追加

この金型２を用いて製造されたタイヤの少なくとも１つのサイドウォールは、米国材料試験協会（Ａｍｅｒｉｃａｎ Ｓｏｃｉｅｔｙ ｆｏｒ Ｔｅｓｔｉｎｇ ａｎｄ Ｍａｔｅｒｉａｌｓ）の鏡面光沢度規定Ｄ５２３−８９による６０°光沢度を使用して計測したときの表面光沢度が１０よりも大きい表面を備えている。 - 特許庁

The method of testing further includes: a step of attaching a substrate coated with deposit material to the shaft; a step of immersing the coated substrate in a solution contained in the vessel; a step of using the drive system to rotate the shaft and coated substrate at a predetermined velocity; and a step of determining an amount of deposit material removed from the substrate.例文帳に追加

この試験方法は、さらに、堆積物質が塗布されている基材をシャフトに載置するステップと、その塗膜基材を容器に収容された溶液内に沈浸するステップと、シャフトと塗膜基材とを所定回転速度で回転させるために駆動システムを利用するステップと、基材から除去された堆積物量を決定するステップとを含んでいる。 - 特許庁

The molding method for the alicyclic structure-containing thermoplastic resin is characterized in using the injection molding machine made of a material showing a contact angle of 77 to 87 degrees with water, and peeling strength of not more than 127 N when 10 to 30 mg of the alicyclic structure-containing thermoplastic resin is melted for 30 minutes at 350°C and peeled by a compression testing machine.例文帳に追加

水との接触角が７７〜８７度の範囲にあり、且つ、脂環式構造含有熱可塑性樹脂１０〜３０ｍｇを３５０℃、３０分間溶融し、圧縮試験機によって剥離した時の剥離強度が１２７Ｎ以下の材質を有する射出成形機を用いた該脂環式構造含有熱可塑性樹脂の成形方法。 - 特許庁

Contracting Parties which do not have a nuclear installation in their territory, insofar as they are likely to be affected in the event of a radiological emergency at a nuclear installation in the vicinity, shall take the appropriate steps for the preparation and testing of emergency plans for their territory that cover the activities to be carried out in the event of such an emergency.例文帳に追加

自国の領域内に原子力施設を有しない締約国は、近隣の原子力施設における放射線緊急事態の影響を受けるおそれがある限りにおいて、自国の領域に係る緊急事態計画（緊急事態の際に実施される活動を対象とするもの）を準備し及びその試験を行うため、適当な措置をとる。 - 経済産業省

Since the Asia Common Skill Standard Initiative for IT technicians proposed by Mr.Takeo Hiranuma, Minister of Economy, Trade and Industry, was adopted at the October 2000 ASEAN Meeting of Economic Ministers and the Ministers of People’s Republic of China, Japan and Republic of Korea, Japan has been practicing mutual accreditation with testing agencies in Asian countries based on standardization of skills tested(Fig.3.2.28).Further expansion of member countries is expected in the future.例文帳に追加

2000年10月のASEAN+日中韓経済閣僚会議で、平沼経済産業大臣が提案を行ったアジアITスキル標準化イニシアティブが採択されたことを受け、これまでアジア各国の試験実施機関と試験のスキル標準ベースでの相互認証を行ってきており（第3-2-28表）、今後も締結国の更なる拡大が期待されるところである。 - 経済産業省

The testing device includes a test signal supply circuit 20, a comparison circuit 30 for comparing an output signal output from the output terminal with a reference voltage, a reference voltage setting part 40 for setting the reference voltage at a voltage of a high level side or a low level side, and a load voltage supply circuit 50 for supplying a load voltage to the output signal when the control signal is applied.例文帳に追加

試験装置は、テスト信号供給回路２０と、出力端子から出力された出力信号と基準電圧とを比較する比較回路３０と、基準電圧をハイレベル側またはローレベル側の電圧に設定する基準電圧設定部４０と、制御信号が印加されたとき、出力信号に負荷電圧を供給する負荷電圧供給回路５０とを有する。 - 特許庁

To provide an electrified filter medium, which is obtained by combining a polyester fiber with a polyolefin fiber and exhibits high particle collecting efficiency at a low pressure loss, the combustive classification of which is self-extinguishing according to JIS D 1201(1977): a combustibility testing method of organic materials in a cabin of an automobile and which does not generate dioxins when incinerated.例文帳に追加

ポリエステル系繊維とポリオレフィン系繊維との組合せで、低圧力損失で高い粒子捕集効率を発現できる帯電濾材を提供するものであり、さらには、「ＪＩＳ Ｄ １２０１（１９７７）自動車車室内用有機資材の燃焼性試験方法」による燃焼性区分が自消性であり、かつ焼却処分時にダイオキシン類を発生しない帯電濾材をも提供する。 - 特許庁

An alignment device used in the testing device includes: a first pusher mechanism and a first positioning mechanism arranged on one and the other of a pair of opposing sides of a panel receiving face, at an interval along respective extending directions of the corresponding sides; and a second pusher mechanism and a second positioning mechanism arranged on one and the other of the other pair of opposing sides of the panel receiving face.例文帳に追加

試験装置で得用いるアライメント装置は、パネル受け面の対向する一対の辺の一方及び他方に、それぞれ、対応する辺の延在方向に間隔をおいて配置された第１のプッシャー機構及び第１の位置決め機構と、パネル受け面の対向する他の一対の辺の一方及び他方に、それぞれ、配置された第２のプッシャー機構及び第２の位置決め機構とを含む。 - 特許庁

To obtain a gaseous corrosion testing device capable of performing a gaseous corrosion test, while performing a hygrothermal cycle test without forming dew on a wall surface of a test tank, capable of improving the gas concentration stability in the test tank and the reproducibility of test results, and capable of performing the hygrothermal cycle test under an atmosphere where gas concentration is controlled at all times.例文帳に追加

この発明は、試験槽内の壁面に結露を生じることなく温湿度サイクル試験を行いながらガス腐食試験を行うことができ、試験槽内のガス濃度の安定性および試験結果の再現性を向上することができ、常にガス濃度を管理されているガス雰囲気下で温湿度サイクル試験を行うことができるガス腐食試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

The IC tester for inspecting the output resistance value of each output pin of the under testing device equipped with a plurality of output pins is provided with reference resistors, connected to each output pin, a reference voltage impressing means for impressing the prescribed reference voltage via these reference resistors, and a voltage measurement means for measuring the voltage generated at each output pin.例文帳に追加

複数の出力ピンを有する被試験デバイスの前記各出力ピンの出力抵抗値を検査するＩＣテスタにおいて、 前記各出力ピンに接続された基準抵抗と、 これらの基準抵抗を介して前記各出力ピンに所定の基準電圧を印加する基準電圧印加手段と、 前記各出力ピンに発生する電圧を測定する電圧測定手段と、を備える。 - 特許庁

This method for testing the computer system by applying a load includes: receiving of a load specification which identifies at least one resource of the system and specifies the load applied to the resource(s); and applying of the corresponding and specified load to the resource specified by the load specification.例文帳に追加

本発明にかかる負荷を適用することによってコンピュータシステムをテストする方法は、負荷仕様を受け取ることであって、当該負荷仕様が、システムの少なくとも１つの資源を特定し、かつ、当該資源に適用される負荷を指定する、負荷仕様を受け取ることと、および負荷仕様で特定された各資源について、対応する指定された負荷を当該資源に適用することとを含む。 - 特許庁

To enable accurate test data to be generated at the time of testing semiconductors, mutual conversion between simulation data and test data to be easily performed and the accuracy verification of simulation data and of a tester for semiconductors and the verification of indeterminate events and I/O dead band to be carried out.例文帳に追加

半導体装置のテスト時に正確なテストデータの生成及びシュミレーションデータとテストデータとの相互間の変換が容易に可能であり、シュミレーションデータ精度と半導体装置用テスタ精度との検証，不確定イベント及びＩ／Ｏデットバンドの検証を行なうことが可能となる半導体試験用データ処理装置及び方法並びに半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An element testing device 1 which evaluates the electrical characteristic of a semiconductor element 20 has a support 11 whereon the semiconductor element 20 is laid so that a collector electrode of the element 20 comes into contact with it, an electroconductive resin 30 which comes into contact with an emitter electrode of the element 20, and at least one contact 30g which comes into contact with a gate electrode 20g of the element 20.例文帳に追加

半導体素子２０の電気的特性を評価する素子試験装置１は、半導体素子２０のコレクタ電極が接するように、半導体素子２０を載置する支持台１１と、半導体素子２０のエミッタ電極に接触する導電性樹脂３０と、半導体素子２０のゲート電極２０ｇに接触する、少なくとも一つの接触子３０ｇと、を有することを特徴とする。 - 特許庁

This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.例文帳に追加

テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁

A semiconductor testing apparatus comprises: a plurality of waveform shapers that shapes a driver waveform on the basis of a pattern signal and an edge signal; a driver timing generator that outputs the edge signal to each of the waveform shapers at specified timing; and a formatter that instructs the driver timing generator on the output timing of the edge signal and outputs the pattern signal independently to the plurality of waveform shapers.例文帳に追加

パタン信号とエッジ信号とに基づいてドライバ波形を整形する複数個の波形整形器と、指定されたタイミングでエッジ信号を各波形整形器に出力するドライバタイミング発生器と、ドライバタイミング発生器にエッジ信号の出力タイミングを指示するとともに、複数個の波形整形器に独立にパタン信号を出力するフォーマッタとを備えた半導体試験装置。 - 特許庁

This method for detecting the gene comprises a gene-amplifying step of carrying out a PCR by using an extract of a sample extracted from the testing sample according to a polynucleotide extraction method, and a primer for detecting the gene and for amplifying the target base sequence, and a gene-detecting step for detecting the PCR product obtained at the step by the DNA microarray.例文帳に追加

遺伝子検出方法は、ポリヌクレオチド抽出法に従って検査試料より抽出された試料抽出物及び目的とする塩基配列を増幅するための遺伝子検出用プライマーを用いてＰＣＲ反応を行う遺伝子増幅工程と、その工程で得られたＰＣＲ反応物をＤＮＡマイクロアレイにより検出する遺伝子検出工程とからなる。 - 特許庁