「at testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To solve the problem that tests require time and labor as the tests are performed by activating only one clock when testing an integrated circuit operated by a plurality of clock signals at normal operation.例文帳に追加

通常動作において、複数のクロック信号によって動作する集積回路をテストするとき、１つのクロックだけを起動することによってテストするため、テストにかかる手間および時間がかかる。 - 特許庁

To provide an internal pressure fatigue testing machine capable of performing a more accurate test by suppressing fluctuation of a test pressure at the driving/stopping time of an auxiliary oil pressure source regardless of the pressure of an internal pressure test.例文帳に追加

内圧試験の圧力に係わらず、補助油圧源の駆動／停止時における試験圧力の変動を抑制し、より正確な試験を行うことのできる内圧疲労試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加

信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁

A delay characteristic by edge search is detected with no time for stabilization of the delay characteristic in order to stabilize a test, and is stored in a memory, in a testing-objective chip for conducting the function test at first.例文帳に追加

最初にファンクション試験を行なう試験対象チップで、試験を安定させるためにエッジサーチによる遅延特性を、遅延特性が安定するのにかかる時間をおかずに検出してメモリに保持する。 - 特許庁

To test one item of test data by one pattern when inputting test data at the testing of combinational circuits, to simplify the circuit configuration of a test circuit, and to shorten test time.例文帳に追加

組合わせ回路をテストする際のテストデータの入力に際し、１つのテストデータを１パターンでテストすることを可能とし、テスト回路の回路構成を簡略化し、かつテスト時間の短縮を可能にする。 - 特許庁

To provide a tire testing machine capable of measuring dynamic characteristics of a plurality of tires at once, and capable of enhancing precision of a result of the dynamic characteristic of the measured tire.例文帳に追加

一度に複数個のタイヤの動的特性の測定を行うことができるとともに、測定されたタイヤの動的特性の結果の精度を向上することができるタイヤ試験機を提供すること。 - 特許庁

In a solid cancer testing method, subjects are determined to suffer from solid cancers in the case that α1-antitrypsin (α1-AT^52) having a molecular weight of 52KDa has been detected in their urine.例文帳に追加

本発明は、分子量５２ＫＤａのα１−アンチトリプシン（α１−ＡＴ^５２）が尿中に検出された場合に固形癌に罹患していると判定する、固形癌の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a compact apparatus for testing a material, which can apply a sufficient load to a minute object to be tested being sampled from an actual equipment structure and carry out a test at the site where the object to be tested is sampled.例文帳に追加

実機構造物において採取したより微小な供試体に対して十分な荷重を負荷でき、供試体を採取した現地で試験が行える小型材料試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a command transmission control device for transmitting a command to a sound reproduction device at optional timing, and to provide an integrated circuit device, a sound reproduction evaluation system and a testing method of the sound reproduction device.例文帳に追加

音再生装置に対して、任意のタイミングでコマンドを送信することが可能なコマンド送信制御装置、集積回路装置、音再生評価システム及び音再生装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an IC test system for testing IC functioning at high speed in real functioning speed using a general-purpose tester with low functioning frequency without reducing the functioning frequency.例文帳に追加

高速動作するＩＣを、動作周波数の低い汎用テスタを用いて、その動作周波数を低減させることなく、実動作速度にて試験を行なうことが可能なＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lamp for testing weather and light resistant property capable of reducing estrangement between deterioration due to sunlight including energy of a visible area with 500 nm as a center and a result of the weather and light resistant property test, at the weather and light resistant property test of a sample.例文帳に追加

試料の耐候光性試験において５００ｎｍを中心とした可視域のエネルギーを含む太陽光による劣化と耐候光性試験の結果との乖離を低減することができること。 - 特許庁

An in- communication detecting means 3b decides whether the network terminating device specified by the means 3a is in the middle of communication at that time and notifies it to a testing means 3c.例文帳に追加

通信中検出手段３ｂは、対象特定手段３ａによって特定された網終端装置がその時点において通信中であるか否かを判定し、試験手段３ｃに通知する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing semiconductor device by which the reliability parameters of wiring can be found individually and accurately at conducting of reliability evaluation tests on the wiring in the state of a wafer.例文帳に追加

ウェハ状態での配線の信頼性評価試験において、配線の信頼性パラメータを個別にかつ正確に求めることができる半導体装置の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

Integrity testing stations 24 examine the contents at plural locations along the distribution channel 16, and determine whether or not the integrity of the digital contents has been tempered with, by using the embedded applet 18.例文帳に追加

配布経路１６上の複数の場所で、一貫性検査ステーション２４がコンテンツを検査し、埋め込まれたアプレット１８を利用してディジタルコンテンツの一貫性が改ざんされているか否かを判断する。 - 特許庁

The method for testing the canceration comprises utilizing the nucleic acid for measurement, wherein the nucleic acid hybridizes with specified two kinds of base sequences or at least one of base sequences complementary to the above under a stringent condition.例文帳に追加

本癌化検定方法は、特定の２種の塩基配列、又は少なくともその一方に相補的な塩基配列に対し、ストリンジェントな条件下でハイブリダイズする測定用核酸を利用する。 - 特許庁

To provide a microcompression testing machine capable of sequentially and automatically performing a compression test with respect to the granular sample scattered on a lower pressure plate at random and reducing the load of an operator.例文帳に追加

下部圧盤上にランダムにばら撒かれた粒状試料に対し、逐次自動的に圧縮試験行うことができ、オペレータの負担を軽減することのできる微小圧縮試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a hologram print tester in which a plurality of hologram images can be viewed at the same time from one observing direction, upon testing a hologram print in which different images emerge depending on the direction of sight.例文帳に追加

見る方向によって異なる像が浮かび上がるホログラム印刷を検査する際に、ひとつの視線方向から同時に複数のホログラム像を観察できるシンプルなホログラム印刷検査器を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can reduce a damage to a circuit under a pad at a wafer testing time without impairing bondability of a wire in a layout structure in which the circuit exists under the pad.例文帳に追加

パッド下に回路が存在するレイアウト構造において、ワイヤのボンディング性を損なうことなく、ウェハテスト時のパッド下回路へのダメージを減らすことのできる半導体装置を提供することにある。 - 特許庁

The testing machine 300 for pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 to test the durability of the pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4, can test the durability of a plurality of pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 at the same time.例文帳に追加

ピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験を実行可能なピックアップ装置１，２，３，４の試験機３００であって、複数のピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験が同時に実行可能とされた。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method for testing the semiconductor device for accurately measuring the life of wiring at the time of evaluating the reliability of the wiring by an electromigration test.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション試験により配線部の信頼性を評価する際に、配線部の寿命を正確に測定することができる半導体装置および半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

Even when the semiconductor chip size changes, the testing bonding pad within the semiconductor chip region can be disposed at the same position and the same probe card can be shared when the semiconductor wafer is tested.例文帳に追加

半導体チップサイズが変化する場合でも、半導体チップ領域内の試験用ボンディングパッドを同じ位置に配置することが可能になり、半導体ウエハ試験時に同じプローブカードを共用することができる。 - 特許庁

. Type F: Self-reactive substances that, in laboratory testing, neither detonate in the cavitated state nor deflagrate at all, and show only a minimal or no effect when heated under confinement, as well as low or no explosive power.例文帳に追加

タイプF：実験室の試験において、気泡の存在下で爆轟せず、また全く爆燃もすることなく、密封下の加熱でも反応が弱いかまたは無い、または爆発力が弱いかもしくは無い。 - 経済産業省

The definitions of R50, R51 and R52 correspond to those of Acute 1, Acute 2 and Acute (GHS classification). However, the former differ from the latter in that Crustacea refers to Daphnia only, and that the testing time for algae is fixed at 72 hours.例文帳に追加

Ｒ５０、５１、５２の定義はそれぞれGHSの急性１、２、３に対応するが、甲殻類がミジンコ類に限られていること、藻類の試験時間が７２時間のみに決められていることがGHSと異なる。 - 経済産業省

To provide a semiconductor device that is capable of executing, at high frequencies, a disturb test which requires a long time for testing, when a burn-in tester which can supply only clocks with low frequencies is used.例文帳に追加

低周波数のクロックしか供給できないバーンインテスタを用いた場合であっても、テストに長時間を要するディスターブテストを、高周波数で実行可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

A testing method for peracetic acid ESC resistance includes forming the member into a testpiece being narrow at its center, securing the testpiece at one end to the lower part of a container holding the solution of peracetic acid and to a weight at the other, dipping the testpiece in the solution, and measuring breaking time until the testpiece breaks.例文帳に追加

洗浄殺菌機用部材を中央部で幅が狭い被試験片に成形し、被試験片の端を過酢酸溶液の入った容器の下部に固定し、他の端を重りに固定し、被試験片を過酢酸溶液に浸し、被試験片の破断するまでの破断時間を測定する耐過酢酸ＥＳＣ性試験方法を提供する。 - 特許庁

The device and method for testing the integrated circuit comprised of at least two circuit parts operated by at least two different clock signals at normal operation are provided, and the circuit operated by the plurality of clock signals is tested for a minimum time by minimum test vectors.例文帳に追加

通常動作において、少なくとも２つの異なるクロック信号によって動作する少なくとも２つの回路部分からなる集積回路をテストするための装置および方法を提供し、さらに、複数のクロック信号によって動作する回路を、最小限の時間で、かつ、最小限のテストベクトルによってテストする。 - 特許庁

A direct current voltage for testing the short-circuited pixel, generated at a direct current source 18B, is impressed between a plurality of positive electrodes 13 exposed at the side end part of the organic EL panel 11 and a plurality of negative electrodes 17 with a polarity reversed from that at the light emission, namely, the voltage is impressed by reversing the positive side and negative side.例文帳に追加

有機ＥＬ表示パネル１１の側端縁に露出された複数の陽極１３と、複数の陰極１７に対し短絡画素検査用の直流電源１８Ｂからの直流電圧を、発光用の直流電圧の印加方向とは逆に、即ちプラス側とマイナス側とを逆にして電圧を印加する。 - 特許庁

This conveying carrier tool for the semiconductor device testing device includes at least one first linear support part extending along a first direction, and at least one second linear support part extending along a second direction orthogonal to the first direction.例文帳に追加

半導体装置試験装置用搬送キャリア冶具は、第１の方向に沿って延在する少なくとも一つの第１の線状支持部と、第１の方向に直交する第２の方向に沿って延在する少なくとも一つの第２の線状支持部とを備える。 - 特許庁

In the testing apparatus for the temperature characteristic of the electronic component, the characteristic of the electronic component is tested in a state that the electronic component is maintained at a prescribed temperature, the electronic component is brought into contact with a temperature control unit which is maintained at the prescribed temperature, and the temperature of the electronic component is controlled.例文帳に追加

電子部品を所定温度に維持した状態で該電子部品の特性を試験する電子部品の温度特性試験装置において、前記電子部品を所定温度に維持された温度調節ユニットに接触させ、該電子部品の温度を制御する。 - 特許庁

The environmental testing device 1 includes: a sample arrangement part 2 at which a heat generation sample body W generating heat is arranged; an air blower 12; a heating means 13; an air replacement means 21 capable of replacing heated air with outside air; and at least one cooling means.例文帳に追加

環境試験装置１は、発熱する発熱試料体Ｗが配置される試料配置部２と、送風機１２と、加熱手段１３と、加熱された空気を外部の空気と置換可能な空気置換手段２１と、少なくとも１つの冷却手段とを有している。 - 特許庁

In the method of identifying the transparent object or testing the authenticity of the transparent object utilizing an absorption spectrum, the object to be identified is formed of material containing at least one, preferably at least two light absorbing substances (coloring agents).例文帳に追加

吸収スペクトルを利用して透明物体を同定する、又は透明物体の真偽を試験する方法において、同定される物体は、少なくとも一つのそして好ましくは少なくとも二つの光吸収物質（着色剤）を含有する材料から成る。 - 特許庁

The film has at least 0.6 N/15 mm of a T-peel strength when a cellophane pressure-sensitive adhesive tape having a rubber-based pressure- sensitive adhesive layer is stuck on the film and is then peeled off the film at the speed of 300±30 mm/min by using a tensile testing machine.例文帳に追加

ゴム系粘着剤層を有するセロハン粘着テープを該フィルムに貼着し、引張試験機を用いて同テープをフィルムから速度３００±３０ｍｍ／ｍｉｎで引き剥がしたときのＴ形剥離強度が０．６Ｎ／１５ｍｍ以上であるフィルムである。 - 特許庁

To provide a materials testing machine capable of always performing an accurate material test without requiring skills, without performing trial and error, or without requiring a long time when setting a control gain, and dispensing with setting of initial speed of a load mechanism at a test starting time, concerning the materials testing machine using a motor as a driving source of the load mechanism.例文帳に追加

モータを負荷機構の駆動源とする材料試験機において、制御ゲインの設定に際して熟練を要したり、試行錯誤を行ったり、あるいは長時間を要することなく、常に正確な材料試験を行うことができ、しかも、試験開始時における負荷機構の初期速度の設定をも不要とした材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a testing circuit and a testing method which have function capable of conducting a contact test or the like of terminals of a semiconductor device mounted on a board at a low cost, and capable of starting with a simple starting sequence without needing exclusive terminals, and preventing an easy start-up in the state of usual application in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

ボード等に実装された半導体装置の端子のコンタクト試験等を安価に行う機能を備えた試験回路およびその試験方法、および半導体集積回路に関し、専用の端子を必要とせずに簡単な起動シーケンスで起動し、かつ、通常の使用状態では容易に起動しないようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a moving picture distribution testing device for testing video quality of each client in accessing a moving picture distribution server on a packet switching network at the same time, implementing simulation needing less calculation amounts for propagation of a defect by inter-frame reference, and simplifying inspection of a packet loss and a header so as to obtain video quality under conditions closer to actual conditions.例文帳に追加

パケット交換ネットワーク上の動画配信サーバに同時アクセスするときの各クライアントの映像品質を試験する装置において、フレーム間参照による欠損の波及を計算量の少ないシミュレーションで行い、パケット損失とヘッダ検査を簡易にして、より実際に近い条件で映像品質を求める動画配信試験装置を提供する。 - 特許庁

In this testing method for testing a short circuit in the connecting end 2 of the semiconductor electronic device arranged inside a housing 1 and fixed on the conductor board, the level of each connecting end 2 is set to a level different from that of the adjacent connecting end at least once, and current inflow of the semiconductor electronic device is monitored while the respective connecting ends are set.例文帳に追加

ハウジング１内に配置され，導体板上に固定される半導体電子デバイスの接続端２の短絡を検査する方法であって，−各接続端２のレベルを，少なくとも一度，隣接する接続端と異なるレベルにセットし；かつ−各接続端２のセット間に，半導体電子デバイスの電流流入が監視される。 - 特許庁

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

Looking at the example of the impact on the automobile industry, the EU member states agreed to implement certification testing for entire automobiles rather than for each component (full-body certification testing) and, as a result, an automobile which has been certified as having marketing authorization in any one EU country is automatically permitted to be sold in all the other member states.例文帳に追加

自動車産業への影響を例に挙げると、EU加盟国が、部品単位ではなく車一台ごとの認定検査（全型認定検査）を実施することに合意したことによって、EUのいずれかの国で販売許可の認定を受けた自動車は、自動的に他のすべての加盟国において販売することを許可されるようになった。 - 経済産業省

To provide a method and device for operation for high-voltage load capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる高圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

To provide a testing device, for a prescribed item with reference to an apparatus to be measured, by which a noise is detected in real time and at once and which can urge the early solution of a problem when a test result is affected.例文帳に追加

ノイズをリアル・タイムに、又即時に検知し、試験結果に影響が出てくる際には、問題を早期に解決することを促すことができる被測装置に対する所定試験項目の試験測定装置を提供する。 - 特許庁

To reduce costs for testing by carrying out a performance test at a high speed when data are serially transmitted to/from the outside, and are transmitted in parallel for reading/writing them from/in memory cells.例文帳に追加

本発明は、外部とのデータの受け渡しを直列データで行い、メモリセルへのデータの読み書きを並列データで行う半導体集積回路に関し、動作試験を高速に行い、試験コストを低減することを目的とする。 - 特許庁

This vibration testing device 1 is constituted so that acceleration data (test data) is collected by fetching the acceleration data at every fixed time and successively storing the fetched acceleration data in a storage area of a storage device 11.例文帳に追加

一定時間毎に加速度データ（試験データ）を取り込み、該取り込んだ加速度データを順次記憶装置１１の記憶領域に記憶していくことによって加速度データを収集可能な振動試験装置１である。 - 特許庁

To provide a power clip and a testing device enabled to surely perform an power feed and discharge and signal detection at one time without giving damage to electrodes of electronic component as a body to be tested.例文帳に追加

被試験体としての電子部品の電極に傷をつけることなく、又、複数個の電子部品の給放電、信号検出を同時に確実に行うことができる通電用クリップと試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an automatic testing system of communication resources in a mobile communication system, which detects abnormal resources by observing the traffic of communication resources, automatically performs a test and finds the abnormality in hardware on software at an early stage.例文帳に追加

通信リソースのトラヒックを観測して異常リソースを検出し、自動的に試験を行ない、ハードあるいはソフトの異常を早期に発見する移動通信システムの通信リソース自動試験方式を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor integrated circuit device testing system, an input signal conversion circuit is installed at the prestage of an analog/digital conversion circuit on a probe card, thus achieving precise measurement, in agreement with the measurement purpose.例文帳に追加

本半導体集積回路装置テストシステムにおいては、プローブカード上のアナログデジタル変換回路の前段に入力信号変換回路を設置し、測定目的に合致して且つ高精度な測定を可能としている。 - 特許庁